JPH0574388A - 蛍光表示管 - Google Patents
蛍光表示管Info
- Publication number
- JPH0574388A JPH0574388A JP23755191A JP23755191A JPH0574388A JP H0574388 A JPH0574388 A JP H0574388A JP 23755191 A JP23755191 A JP 23755191A JP 23755191 A JP23755191 A JP 23755191A JP H0574388 A JPH0574388 A JP H0574388A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- fluorescent display
- display tube
- inspection
- display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】ＩＣ内蔵型蛍光表示管の陽極基板製造工程での
導通検査を簡便に実施できるようにして製品での良品率
を高め、コスト低減を図る。 【構成】ＩＣ接続用電極７に接続された検査用電極Ａ，
Ｂ４，１２上の絶縁層を設けない露出した構造とするこ
とにより陽極基板加工のほぼ最終時点で、導通検査を従
来の一般の蛍光表示管と同様簡便な治具にて行なうこと
ができる。
導通検査を簡便に実施できるようにして製品での良品率
を高め、コスト低減を図る。 【構成】ＩＣ接続用電極７に接続された検査用電極Ａ，
Ｂ４，１２上の絶縁層を設けない露出した構造とするこ
とにより陽極基板加工のほぼ最終時点で、導通検査を従
来の一般の蛍光表示管と同様簡便な治具にて行なうこと
ができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は蛍光表示管に関し、特に
駆動用ＩＣチップ内蔵型蛍光表示管に関する。
駆動用ＩＣチップ内蔵型蛍光表示管に関する。
【０００２】
【従来の技術】蛍光表示管の陽極基板は、通常、次に説
明するような構造となっている。
明するような構造となっている。
【０００３】図５に示すように、絶縁基板１上に陽極配
線３が設けられ、外部リード１０と接続する外部リード
接続用電極９と外部接続用電極９と表示電極５とをスル
ーホールを介して接続する陽極配線３と陽極配線３を被
覆する絶縁層２が設けられ、表示電極５上に蛍光体層６
が設けられている。
線３が設けられ、外部リード１０と接続する外部リード
接続用電極９と外部接続用電極９と表示電極５とをスル
ーホールを介して接続する陽極配線３と陽極配線３を被
覆する絶縁層２が設けられ、表示電極５上に蛍光体層６
が設けられている。
【０００４】陽極基板の製造工程では、陽極配線３の欠
陥，絶縁層２のピンホール，表示電極５形成時の不具合
による電極間短絡や導通不良を検出するため、外部リー
ド１０と接続する外部リード接続用電極９と、表示電極
５間で電気的な導通，絶縁検査を行なっている。
陥，絶縁層２のピンホール，表示電極５形成時の不具合
による電極間短絡や導通不良を検出するため、外部リー
ド１０と接続する外部リード接続用電極９と、表示電極
５間で電気的な導通，絶縁検査を行なっている。
【０００５】蛍光表示管駆動用ＩＣ素子内蔵型蛍光表示
管（以下、ＩＣ内蔵型蛍光表示管と記す。）では、外部
リード接続用電極９に相当する電極が図６に示すよう
に、ＩＣチップ１１の出力電極１３と同等の０．２〜
０．３ｍｍの小さいピッチのＩＣ接続用電極７となって
いる。このＩＣ接続用電極７と、ＩＣチップ１１の電極
とがＡｌワイヤ８で接続されている。
管（以下、ＩＣ内蔵型蛍光表示管と記す。）では、外部
リード接続用電極９に相当する電極が図６に示すよう
に、ＩＣチップ１１の出力電極１３と同等の０．２〜
０．３ｍｍの小さいピッチのＩＣ接続用電極７となって
いる。このＩＣ接続用電極７と、ＩＣチップ１１の電極
とがＡｌワイヤ８で接続されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】この従来のＩＣ内蔵型
蛍光表示管では、ＩＣ接続用電極のピッチが０．２〜
０．３ｍｍと小さいため、従来の蛍光表示管のように、
１．５〜２．５４ｍｍのピッチとなっている外部リード
接続用電極を利用した簡単な電気的検査が行ないにくい
という問題点があった。
蛍光表示管では、ＩＣ接続用電極のピッチが０．２〜
０．３ｍｍと小さいため、従来の蛍光表示管のように、
１．５〜２．５４ｍｍのピッチとなっている外部リード
接続用電極を利用した簡単な電気的検査が行ないにくい
という問題点があった。
【０００７】この問題点を解決するため、陽極配線に陽
極配線検査用の間隔の大きい電極を設け陽極配線加工完
了時点で電気的検査を実施できる構造としていた。しか
しながら、この構造では、検査後絶縁層や表示電極の形
成を行なうため図７（ａ），（ｂ）に示すように、検査
用電極２１が絶縁層２でおおわれてしまい、陽極配線の
欠陥は検出できるが絶縁層２のピンホールや表示電極間
の短絡は検出できないという問題点があった。そのた
め、不具合を有する陽極基板が製品として組立てられ、
製品での不具合を作り込むため良品率を低下させ、製造
コストが高くなっていた。 本発明の目的は、陽極配線
の欠陥や絶縁層のピンホールや表示電極間の短絡が容易
に検出でき、不具合を有する陽極基板が製品として組立
てられるのを防止し、良品率を高め製造コストを低減で
きる蛍光表示管を提供することにある。
極配線検査用の間隔の大きい電極を設け陽極配線加工完
了時点で電気的検査を実施できる構造としていた。しか
しながら、この構造では、検査後絶縁層や表示電極の形
成を行なうため図７（ａ），（ｂ）に示すように、検査
用電極２１が絶縁層２でおおわれてしまい、陽極配線の
欠陥は検出できるが絶縁層２のピンホールや表示電極間
の短絡は検出できないという問題点があった。そのた
め、不具合を有する陽極基板が製品として組立てられ、
製品での不具合を作り込むため良品率を低下させ、製造
コストが高くなっていた。 本発明の目的は、陽極配線
の欠陥や絶縁層のピンホールや表示電極間の短絡が容易
に検出でき、不具合を有する陽極基板が製品として組立
てられるのを防止し、良品率を高め製造コストを低減で
きる蛍光表示管を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、絶縁基板と、
該絶縁基板上に形成された絶縁層と蛍光体層が塗布され
た表示電極と、該表示電極の電位を制御するＩＣチップ
と、前記表示電極に結線されたＩＣ接続用電極とを有す
る蛍光表示管において、前記ＩＣ接続用電極に結線され
た別個の検査用電極を有し、かつ、該検査用電極が露出
している。
該絶縁基板上に形成された絶縁層と蛍光体層が塗布され
た表示電極と、該表示電極の電位を制御するＩＣチップ
と、前記表示電極に結線されたＩＣ接続用電極とを有す
る蛍光表示管において、前記ＩＣ接続用電極に結線され
た別個の検査用電極を有し、かつ、該検査用電極が露出
している。
【０００９】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
説明する。
【００１０】図１は本発明の一実施例の陽極基板の要部
斜視図、図２は本発明の一実施例の要部断面図である。
斜視図、図２は本発明の一実施例の要部断面図である。
【００１１】図１に示すように、まず、絶縁基板１にＡ
ｌ膜をスパッタリング法で形成し、ホトエッチングプロ
セスにて陽極配線３と検査用電極Ａ４を同時に形成す
る。
ｌ膜をスパッタリング法で形成し、ホトエッチングプロ
セスにて陽極配線３と検査用電極Ａ４を同時に形成す
る。
【００１２】次に、シルクスクリーン法にて絶縁層２を
設けるが、このとき、表示電極５へのコンタクトスルー
ホールと外部リード接続用電極９，ＩＣ接続用電極７の
他に、検査用電極Ａ４に絶縁層２が被覆されていない基
板を得る。
設けるが、このとき、表示電極５へのコンタクトスルー
ホールと外部リード接続用電極９，ＩＣ接続用電極７の
他に、検査用電極Ａ４に絶縁層２が被覆されていない基
板を得る。
【００１３】次に、コンタクトスルーホールに表示電極
５と検査用電極Ａ４とに金属ピンを当てて導通検査を行
ない、ホトエッチングプロセスでの欠陥による陽極配線
３の切れや他配線との短絡、また、表示電極５間の短絡
を検査し、不具合のある基板を排除する。この時使用し
た治具は、検査用電極Ａ４の間隔が広いため、比較的安
価なものが選択できる。この検査済の基板にＩＣチップ
１１を専用樹脂にて接着し、Ａｌワイヤ８を用い超音波
ボンディング法にてＩＣ接続用電極７とＩＣ出力電極１
３とを接続し、陽極基板を得る。
５と検査用電極Ａ４とに金属ピンを当てて導通検査を行
ない、ホトエッチングプロセスでの欠陥による陽極配線
３の切れや他配線との短絡、また、表示電極５間の短絡
を検査し、不具合のある基板を排除する。この時使用し
た治具は、検査用電極Ａ４の間隔が広いため、比較的安
価なものが選択できる。この検査済の基板にＩＣチップ
１１を専用樹脂にて接着し、Ａｌワイヤ８を用い超音波
ボンディング法にてＩＣ接続用電極７とＩＣ出力電極１
３とを接続し、陽極基板を得る。
【００１４】次に、図２に示すように、陽極基板と、フ
ィラメント１７，グリット１８，外部リードからなる電
極部分と表示面ガラス１９スペーサガラス２０からなる
カバーガラスとを組み合わせ、封入，排気，リード処理
枯化からなる所定の蛍光表示管製造プロセスを経て、本
実施例の蛍光表示管を得る。これを所定の条件にて検査
したところ、従来陽極基板製造工程での不具合がある割
合で混入していたものが観られなくなった。
ィラメント１７，グリット１８，外部リードからなる電
極部分と表示面ガラス１９スペーサガラス２０からなる
カバーガラスとを組み合わせ、封入，排気，リード処理
枯化からなる所定の蛍光表示管製造プロセスを経て、本
実施例の蛍光表示管を得る。これを所定の条件にて検査
したところ、従来陽極基板製造工程での不具合がある割
合で混入していたものが観られなくなった。
【００１５】図３（ａ），（ｂ）は図１の検査用電極Ａ
部の部拡大断面図及びその平面図、図４（ａ），（ｂ）
は図１の検査用電極Ｂ部分の部分拡大断面図及びその平
面図である。
部の部拡大断面図及びその平面図、図４（ａ），（ｂ）
は図１の検査用電極Ｂ部分の部分拡大断面図及びその平
面図である。
【００１６】また、本実施例では、図３（ａ），（ｂ）
に示すように、陽極配線でＡｌ膜による検査用電極Ａ４
を設けていたが、Ａｌによる検査用電極Ａ４の表面の光
沢による反射が問題となる部位では、図４（ａ），
（ｂ）に示すように、グラファイト層による検査用電極
Ｂ１２とすることでこの反射の問題を回避することがで
きる。
に示すように、陽極配線でＡｌ膜による検査用電極Ａ４
を設けていたが、Ａｌによる検査用電極Ａ４の表面の光
沢による反射が問題となる部位では、図４（ａ），
（ｂ）に示すように、グラファイト層による検査用電極
Ｂ１２とすることでこの反射の問題を回避することがで
きる。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ＩＣ接続
用電極につながる電気的検査用電極を設け、電極を露出
させた構造としたことにより、配線上の絶縁層の欠陥や
表示電極形成時の絶縁層の位置ずれ、だれ込み等による
埋まり、その他の不具合の有無検査を容易に行なうこと
ができるという効果を有する。このことにより、不具合
を有する陽極基板を製品として、組み立てることが無
く、良品率を向上させる効果を有する。
用電極につながる電気的検査用電極を設け、電極を露出
させた構造としたことにより、配線上の絶縁層の欠陥や
表示電極形成時の絶縁層の位置ずれ、だれ込み等による
埋まり、その他の不具合の有無検査を容易に行なうこと
ができるという効果を有する。このことにより、不具合
を有する陽極基板を製品として、組み立てることが無
く、良品率を向上させる効果を有する。
【図１】本発明の一実施例の陽極基板の要部斜視図であ
る。
る。
【図２】本発明の一実施例の要部断面図である。
【図３】図１の検査用電極Ａ部の部分拡大断面図及びそ
の平面図である。
の平面図である。
【図４】図１の検査用電極Ｂ部の部分拡大断面図及びそ
の平面図である。
の平面図である。
【図５】従来の蛍光表示管の陽極基板の一例の要部斜視
図である。
図である。
【図６】従来のＩＣ内蔵型蛍光表示管の陽極基板の一例
の要部斜視図である。
の要部斜視図である。
【図７】図６の検査用電極部の部分拡大断面図及びその
平面図である。
平面図である。
１ 絶縁基板 ２ 絶縁層 ３ 陽極配線 ４ 検査用電極Ａ ５ 表示電極 ６ 蛍光体層 ７ ＩＣ接続用電極 ８ Ａｌワイヤ ９ 外部リード接続用電極 １０ 外部リード １１ ＩＣチップ １２ 検査用電極Ｂ １３ ＩＣ出力電極 １７ フィラメント １８ グリット １９ 表示面ガラス ２０ スペーサガラス ２１ 検査用電極 ２２ ＩＣシールド
Claims (1)
- 【請求項１】 絶縁基板と、該絶縁基板上に形成された
絶縁層と蛍光体層が塗布された表示電極と、該表示電極
の電位を制御するＩＣチップと、前記表示電極に結線さ
れたＩＣ接続用電極とを有する蛍光表示管において、前
記ＩＣ接続用電極に結線された別個の検査用電極を有
し、かつ、該検査用電極が露出していることを特徴とす
る蛍光表示管。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23755191A JPH0574388A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | 蛍光表示管 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23755191A JPH0574388A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | 蛍光表示管 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0574388A true JPH0574388A (ja) | 1993-03-26 |
Family
ID=17017011
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23755191A Pending JPH0574388A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | 蛍光表示管 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0574388A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0997580A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-08 | Nec Kagoshima Ltd | 蛍光表示管 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02262224A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-25 | Nec Corp | 蛍光表示管 |
-
1991
- 1991-09-18 JP JP23755191A patent/JPH0574388A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02262224A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-25 | Nec Corp | 蛍光表示管 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0997580A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-08 | Nec Kagoshima Ltd | 蛍光表示管 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980331 |