JPH057388A - Time switch fault monitor - Google Patents

Time switch fault monitor

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Publication number
JPH057388A
JPH057388A JP3183208A JP18320891A JPH057388A JP H057388 A JPH057388 A JP H057388A JP 3183208 A JP3183208 A JP 3183208A JP 18320891 A JP18320891 A JP 18320891A JP H057388 A JPH057388 A JP H057388A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
address
read
time slot
time switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3183208A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hajime Kawamura
元 河村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3183208A priority Critical patent/JPH057388A/en
Publication of JPH057388A publication Critical patent/JPH057388A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To always monitor a fault of all areas by writing a prescribed time slot as a time switch monitor time slot to a memory at write and reading all addresses of all areas of the memory sequentially and repetitively at read. CONSTITUTION:A signal S1 multiplexed onto a time slot is written sequentially in a memory 14 together with a parity bit generated by a parity bit generating circuit 11 by using a sequential write address string from a counter 19. A time slot generating decoder 21 for time switch fault monitor generates a prescribed time slot at read and a read address for the time slot is repetitively generated by the counter 19 over all areas of the memory 14. Then a parity bit of a read data is discriminated by the parity check circuit 12. Thus, all the areas of the time switch are always monitored for their fault.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、時分割多重化装置およ
び電子交換機の時間スイッチ障害監視装置に利用する。
特に、メモリで構成される時間スイッチの障害監視装置
に関すものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is used in a time division multiplexer and a time switch failure monitor for an electronic exchange.
In particular, the present invention relates to a time switch failure monitoring device including a memory.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3は従来例の時間スイッチ障害監視装
置のブロック構成図である。図4は従来例の時間スイッ
チ障害監視装置のアドレス制御メモリの内容を示す図で
ある。従来、時間スイッチ障害監視装置は、図3に示す
ような構成であった。図3はnタイムスロットの時間ス
イッチングを行う書込シーケンシャル読出ランダムのT
スイッチ1段の時間スイッチである。nタイムスロット
に多重化された入力信号S1はパリティビット生成回路
11で生成されたパリティビットとともに、カウンタ1
9Aで発生されたシーケンシャルな書込アドレス列31
Aによりメモリ14に順に書込まれる。
2. Description of the Related Art FIG. 3 is a block diagram of a conventional time switch failure monitoring apparatus. FIG. 4 is a diagram showing the contents of the address control memory of the conventional time switch failure monitoring device. Conventionally, the time switch failure monitoring device has a configuration as shown in FIG. FIG. 3 shows a write sequential read random T with time switching of n time slots.
This is a one-stage time switch. The input signal S1 multiplexed in the n time slots together with the parity bit generated by the parity bit generation circuit 11 is supplied to the counter 1
Sequential write address sequence 31 generated at 9A
The data is sequentially written in the memory 14 by A.

【0003】スイッチングされた出力信号S3は、アド
レス制御メモリ20Aの内容(図4に示す読出アドレス
列32A)に従って、メモリ14から読出されることに
より生成される。この場合には、読出されたデータのみ
パリティチェック回路12Aで真偽を判定し、障害監視
を行っていた。
The switched output signal S3 is generated by being read from the memory 14 according to the contents of the address control memory 20A (read address string 32A shown in FIG. 4). In this case, the parity check circuit 12A determines whether the read data is true or false and monitors the failure.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来例の時間スイッチ障害監視装置では、アドレス制御メ
モリにより読出を指定されたメモリの領域しか障害監視
が行われていない問題点があった。
However, such a conventional time switch fault monitoring apparatus has a problem that fault monitoring is performed only in the memory area designated for reading by the address control memory.

【0005】また、図4に示すアドレス制御メモリの内
容のように同一メモリ領域を二度読み(読出アドレス列
32Aの中の読出アドレスAD1)を行うスイッチング
もあるためにアドレス制御メモリからの読出アドレスの
みでは必然的に全領域の障害監視は行えない問題点があ
った。
Further, as in the case of the contents of the address control memory shown in FIG. 4, there is also switching for reading the same memory area twice (read address AD1 in the read address string 32A), and therefore there is a read address from the address control memory. There was a problem that failure monitoring inevitably could not be carried out in all areas.

【0006】本発明は上記の問題点を解決するもので、
時間スイッチの全領域の障害監視を常時行うことができ
る時間スイッチ障害監視装置を提供することを目的とす
る。
The present invention solves the above problems.
An object of the present invention is to provide a time switch failure monitoring device capable of constantly performing failure monitoring in all areas of a time switch.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、所定数のタイ
ムスロットに多重化された入力信号のパリティビットを
生成するパリティビット生成回路と、入力する書込アド
レスに基づき上記入力信号およびこのパリティビット生
成回路の出力パリティビットを格納し入力する読出アド
レスに基づきその内容を読出すメモリと、このメモリか
ら読出された出力信号のパリティチェックを行うパリテ
ィチェック回路と、上記メモリに上記書込アドレスおよ
び読出アドレスを与える書込読出手段とを備えた時間ス
イッチ障害監視装置において、上記書込読出手段は上記
メモリに上記入力信号およびパリティビットとともに所
定のタイムスロットを時間スイッチ監視用タイムスロッ
トとして書込む書込アドレスを与え、上記所定のタイム
スロットの読出時に読出アドレスとして上記メモリの全
領域のアドレスを順に繰返し与えて書込読出を行う手段
とを含み、上記パリティチェック回路は上記所定のタイ
ムスロットのパリティチェックを行う手段を含むことを
特徴とする。
According to the present invention, there is provided a parity bit generation circuit for generating a parity bit of an input signal multiplexed in a predetermined number of time slots, the input signal and the parity based on a write address to be input. A memory that stores the output parity bit of the bit generation circuit and reads the contents based on the input read address, a parity check circuit that checks the parity of the output signal read from this memory, and the write address and the write address in the memory. In a time switch failure monitoring device provided with write / read means for giving a read address, the write / read means writes a predetermined time slot into the memory together with the input signal and a parity bit as a time switch monitoring time slot. When an embedded address is given and the above specified time slot is read And means for performing write and read as read addresses by giving repeated addresses of all areas of the memory in order, the parity check circuit is characterized in that it comprises a means for performing a parity check of the predetermined time slots.

【0008】また、本発明は、上記書込アドレスは上記
入力信号をシーケンシャルに上記メモリに書込むアドレ
スであり、上記読出アドレスは上記メモリの内容をラン
ダムに読出すアドレスであることができる。
Further, according to the present invention, the write address may be an address for sequentially writing the input signal in the memory, and the read address may be an address for randomly reading the contents of the memory.

【0009】[0009]

【作用】書込読出手段はメモリに入力信号およびパリテ
ィビットとともに所定のタイムスロットを時間スイッチ
監視用タイムスロットとして書込む書込アドレスを与
え、所定のタイムスロットの読出時に読出アドレスとし
てメモリの全領域のアドレスを順に繰返し与えて書込読
出を行う。パリティチェック回路は所定のタイムスロッ
トのパリティチェックを行う。
The writing / reading means gives the memory a write address for writing a predetermined time slot as a time switch monitoring time slot together with an input signal and a parity bit, and the entire area of the memory is used as a read address when reading the predetermined time slot. The addresses are sequentially repeated and written and read. The parity check circuit checks the parity of a predetermined time slot.

【0010】以上により時間スイッチの全領域の障害監
視を常時行うことができる。
As described above, it is possible to constantly monitor the failure of the entire area of the time switch.

【0011】[0011]

【実施例】本発明の実施例について図面を参照して説明
する。図1は本発明一実施例時間スイッチ障害監視装置
のブロック構成図である。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a time switch failure monitoring apparatus according to an embodiment of the present invention.

【0012】図1において、時間スイッチ障害監視装置
は、(n+1)個のタイムスロットに多重化された入力
信号S1のパリティビットを生成するパリティビット生
成回路11と、入力する書込アドレスに基づき入力信号
S1およびこのパリティビット生成回路11の出力パリ
ティビットを格納し入力する読出アドレスに基づきその
内容を読出すメモリ14と、メモリ14から読出された
出力信号S3のパリティチェックを行うパリティチェッ
ク回路12と、メモリ14に上記書込アドレスおよび読
出アドレスを与える書込読出手段として1/2分周器1
8、セレクタ16、カウンタ19およびアドレス制御メ
モリ20とを備える。
In FIG. 1, the time switch fault monitoring apparatus inputs a parity bit generation circuit 11 for generating a parity bit of an input signal S1 multiplexed in (n + 1) time slots and an input based on a write address to be input. A memory 14 which stores the signal S1 and the output parity bit of the parity bit generation circuit 11 and reads the contents based on the input read address; and a parity check circuit 12 which performs a parity check of the output signal S3 read from the memory 14. , A 1/2 frequency divider 1 as write / read means for giving the write address and read address to the memory 14.
8, a selector 16, a counter 19 and an address control memory 20.

【0013】ここで本発明の特徴とするところは、上記
書込読出手段はメモリ14に入力信号S1とともに所定
のタイムスロットを時間スイッチ監視用タイムスロット
として書込む書込アドレスを与え、所定のタイムスロッ
トの読出時に読出アドレスとしてメモリの全領域のアド
レスを順に繰返し与えて書込読出を行う手段としてセレ
クタ13、15、カウンタ17およびデコーダ21とを
含み、パリティチェック回路12は所定のタイムスロッ
トのパリティチェックを行う手段を含むことにある。
A feature of the present invention is that the writing / reading means provides the memory 14 with a write address for writing a predetermined time slot as a time switch monitoring time slot together with the input signal S1, and a predetermined time. The parity check circuit 12 includes selectors 13 and 15, a counter 17 and a decoder 21 as means for performing writing and reading by sequentially giving addresses of the entire area of the memory as reading addresses when reading the slots, and the parity check circuit 12 is a parity of a predetermined time slot. It is to include a means for checking.

【0014】また、書込アドレスは入力信号S1をシー
ケンシャルにメモリ14に書込むアドレスであり、読出
アドレスはメモリ14の内容をランダムに読出すアドレ
スである。
The write address is an address for sequentially writing the input signal S1 in the memory 14, and the read address is an address for randomly reading the contents of the memory 14.

【0015】このような構成の時間スイッチ障害監視装
置の動作について説明する。図2は本発明の時間スイッ
チ障害監視装置の動作を示す図である。図1はnタイム
スロットの時間スィッチングを行う書込シーケンシャル
読出ランダムのTスイッチ1段の時間スイッチである。
(n+1)タイムスロットに多重化された信号S1はパ
リティビット生成回路11で生成されたパリティビット
とともに、カウンタ19によって発生されたシーケンシ
ャルな書込アドレス列31によってメモリ14に順に書
込まれる。図2に多重化された入力信号S1と書込アド
レス列31との関係を示す。
The operation of the time switch failure monitoring device having such a configuration will be described. FIG. 2 is a diagram showing the operation of the time switch failure monitoring apparatus of the present invention. FIG. 1 is a one-stage time switch of a write sequential read random T switch for performing time switching of n time slots.
The signal S1 multiplexed in the (n + 1) time slot is sequentially written in the memory 14 by the sequential write address sequence 31 generated by the counter 19 together with the parity bit generated by the parity bit generation circuit 11. FIG. 2 shows the relationship between the multiplexed input signal S1 and the write address string 31.

【0016】スイッチングされた出力信号S3は、アド
レス制御メモリ20の内容に基づきメモリ14から読出
されることにより生成される。
The switched output signal S3 is generated by being read from the memory 14 based on the contents of the address control memory 20.

【0017】本実施例は、出力信号S3の所定のタイム
スロット35を時間スイッチ監視用タイムスロットとし
て定義し、時間スイッチ監視用タイムスロット作成用の
デコーダ21で所定のタイムスロットを発生させ、この
所定のタイムスロットの読出アドレスをカウンタ19に
よりメモリ14の全領域のアドレスを順に繰返し生成し
(一例として図2に示す時間スイッチ監視用読出アドレ
ス34)、メモリ14から読出されたデータのパリティ
ビットをパリティチェック回路12で真偽を判定するこ
とにより時間スイッチの全領域の障害監視を行う。
In this embodiment, a predetermined time slot 35 of the output signal S3 is defined as a time switch monitoring time slot, a predetermined time slot is generated by the decoder 21 for creating the time switch monitoring time slot, and this predetermined time slot is generated. The read address of the time slot of is sequentially generated by the counter 19 in order of the addresses of the entire area of the memory 14 (time switch monitoring read address 34 shown in FIG. 2 as an example), and the parity bit of the data read from the memory 14 is parity-checked. The check circuit 12 judges whether the condition is true or false, thereby monitoring the failure of the entire area of the time switch.

【0018】[0018]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、時間ス
イッチの全領域の障害監視を常時行うことができる優れ
た効果がある。
As described above, the present invention has an excellent effect that it is possible to constantly monitor the failure of the entire area of the time switch.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明一実施例時間スイッチ障害監視装置のブ
ロック構成図。
FIG. 1 is a block configuration diagram of a time switch failure monitoring device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の時間スイッチ障害監視装置の動作を示
す図。
FIG. 2 is a diagram showing the operation of the time switch failure monitoring apparatus of the present invention.

【図3】従来例の時間スイッチ障害監視装置のブロック
構成図。
FIG. 3 is a block configuration diagram of a conventional time switch failure monitoring device.

【図4】従来例の時間スイッチ障害監視装置の動作を示
す図。
FIG. 4 is a diagram showing an operation of a conventional time switch failure monitoring device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 パリティビット生成回路 12、12A パリティチェック回路 13、15、16、16A セレクタ 14 メモリ 17、19、19A カウンタ 18、18A 1/2分周器 20、20A アドレス制御メモリ 21 デコーダ 31、31A 書込アドレス列 32、32A 読出アドレス列 33 読出アドレス 34 時間スイッチ監視用読出アドレス 35 時間スイッチ監視用タイムスロット S1 入力信号 S2 パリティチェック回路の出力信号 S3 メモリの出力信号 11 Parity bit generation circuit 12, 12A parity check circuit 13, 15, 16, 16A selector 14 memory 17, 19, 19A counter 18, 18A 1/2 divider 20, 20A address control memory 21 decoder 31, 31A Write address string 32, 32A Read address string 33 Read address Read address for 34 hour switch monitoring 35 hour switch monitoring time slot S1 input signal Output signal of S2 parity check circuit Output signal of S3 memory

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04Q 3/52 101 A 9076−5K ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Internal reference number FI Technical indication H04Q 3/52 101 A 9076-5K

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定数のタイムスロットに多重化された
入力信号のパリティビットを生成するパリティビット生
成回路と、入力する書込アドレスに基づき上記入力信号
およびこのパリティビット生成回路の出力パリティビッ
トを格納し入力する読出アドレスに基づきその内容を読
出すメモリと、このメモリから読出された出力信号のパ
リティチェックを行うパリティチェック回路と、上記メ
モリに上記書込アドレスおよび読出アドレスを与える書
込読出手段とを備えた時間スイッチ障害監視装置におい
て、上記書込読出手段は上記メモリに上記入力信号およ
びパリティビットとともに所定のタイムスロットを時間
スイッチ監視用タイムスロットとして書込む書込アドレ
スを与え、上記所定のタイムスロットの読出時に読出ア
ドレスとして上記メモリの全領域のアドレスを順に繰返
し与えて書込読出を行う手段とを含み、上記パリティチ
ェック回路は上記所定のタイムスロットのパリティチェ
ックを行う手段を含むことを特徴とする時間スイッチ障
害監視装置。
1. A parity bit generation circuit for generating a parity bit of an input signal multiplexed in a predetermined number of time slots, and the input signal and an output parity bit of this parity bit generation circuit based on a write address to be input. A memory for reading the contents based on a read address to be stored and input, a parity check circuit for performing a parity check of an output signal read from the memory, and a write / read means for giving the write address and the read address to the memory. In the time switch failure monitoring apparatus having the above-mentioned, the writing / reading means gives to the memory a write address for writing a predetermined time slot as a time switch monitoring time slot together with the input signal and the parity bit, and the predetermined address. When reading a time slot, the above address is used as a read address. A time switch failure monitoring apparatus comprising: means for performing writing and reading by repeatedly giving addresses of all areas of the memory sequentially, and the parity check circuit includes means for performing a parity check of the predetermined time slot.
【請求項2】 上記書込アドレスは上記入力信号をシー
ケンシャルに上記メモリに書込むアドレスであり、上記
読出アドレスは上記メモリの内容をランダムに読出すア
ドレスである請求項1記載の時間スイッチ障害監視装
置。
2. The time switch fault monitoring according to claim 1, wherein the write address is an address for sequentially writing the input signal in the memory, and the read address is an address for randomly reading the contents of the memory. apparatus.
JP3183208A 1991-06-26 1991-06-26 Time switch fault monitor Pending JPH057388A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07322310A (en) * 1994-05-23 1995-12-08 Nec Corp Time division switch testing system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07322310A (en) * 1994-05-23 1995-12-08 Nec Corp Time division switch testing system

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