JPH0573849U - イオン源 - Google Patents

イオン源

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JPH0573849U
JPH0573849U JP1139092U JP1139092U JPH0573849U JP H0573849 U JPH0573849 U JP H0573849U JP 1139092 U JP1139092 U JP 1139092U JP 1139092 U JP1139092 U JP 1139092U JP H0573849 U JPH0573849 U JP H0573849U
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plasma
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ion
ion source
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JP1139092U
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和紀 飛川
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日新電機株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 駆動モータ7に駆動されて回転するディスク
2には、厚さの異なるプラズマ電極部3〜6が略等間隔
で形成されている。制御装置9は、ビーム引き出し時
に、規格化パービアンス(P/Pc )が0.6(引出電極
10の引出電極孔10aを通過したビームの発散角が最
小になる条件)になるように、引出電極移動機構11と
駆動モータ7との動作を制御し、電極ギャップdとプラ
ズマ電極の厚さtとの調整を行う。 【効果】 プラズマ電極の厚さtの調整と電極ギャップ
dとの調整とを併用して、P/Pc =0.6になるように
制御する構成であるため、最小発散角が得られる引出電
流範囲が、従来のイオン源よりも大幅に拡大され、従来
と同じ引出電流条件でも、より大きいターゲットでのビ
ーム電流が得られる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、プラズマを発生させ、プラズマからイオンを引き出してイオンビー ムを生成する、イオン注入装置等に用いられるイオン源に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、元素をイオン化し、イオンビームとして引き出すイオン源は、イオン注 入装置をはじめとして様々な分野に利用されている。
【0003】 このイオン源は、図9に示すように、基本的には、プラズマ生成室51で生成 されたプラズマから、引き出し系の外部電界によりイオンを高真空中に引き出す 構成になっている。
【0004】 上記引き出し系は、高真空状態に保持されたイオン源チャンバ内に配置された 3枚の電極、即ち、プラズマ生成室51に直接接しているプラズマ電極52、イ オンを引き出すための電位が印加されている引出電極53、および引出電極53 よりもビーム下流側に位置し、電子の逆流を防ぐ目的で引出電極53よりも正の 電位が印加されている減速電極54から構成されている。
【0005】 上記引き出し系の高電界により引き出されたイオンビームは、レンズ効果の影 響を受けて発散する。このビームの発散が大き過ぎると、ターゲットまでのビー ムの移送効率が悪化し、ターゲットに照射されるイオンビームのビーム電流が減 少してしまうので、ビームの発散はできるだけ少ない方が望ましい。
【0006】 上記引出電極53に引き出された後のビームの発散角ωは、図7に示すように 、規格化パービアンス(P/Pc )により変化し、P/Pc =0.6で最小発散角 が与えられ、P/Pc が0.6からはなれる程、発散角ωが大きくなる。
【0007】 上記P/Pc は、イオン源引出電圧(プラズマ電極52と引出電極53との電 位差)Ve 、引出電極ギャップ(プラズマ電極52と引出電極53との間の距離 )d、プラズマ電極52の厚さt、引出電流(引き出し系により引き出されるイ オンビームのビーム電流)Ie 、イオン種の実効質量数Meff 等のパラメータに より左右され、以下に示す関係式により表される。
【0008】 P/Pc =k・Meff 1/2 ・Ie (d+t)2 /Ve 3/2 ・・・(1) (kは定数) 引出電圧Ve を高くすればイオンビームの引き出し量(引出電流Ie )は増大 するが、引出電圧Ve をあまり高くし過ぎると絶縁破壊を起こすので、通常、引 出電圧Ve は破壊電圧以下で、できるだけ高く設定されている。
【0009】 上記引出電圧Ve が一定であるイオン源の場合、引出電流Ie は、主に、プラ ズマ生成室51における種々のパラメータ(例えば、フリーマン型イオン源の場 合では、ガス流量、アーク電流、フィラメント電流、ソースマグネット電流など )の設定を変えることにより所定の範囲内で調整される。
【0010】 P/Pc は、引出電流Ie の変化に伴って変わるので、引出電流Ie が設定さ れたとき、P/Pc が0.6前後になるように調整する必要がある。そこで、従来 では、引出電極53をビーム進行方向に可動とし、この引出電極53を移動させ ることにより、プラズマ電極52と引出電極53との間の距離dを調整し、引出 電流Ie が変化しても、常にビームの発散角ωが最小になるような(P/Pc が 0.6前後になるような)制御が行われている。
【0011】
【考案が解決しようとする課題】
上記のように、プラズマ電極52と引出電極53との間の距離dを調整してP /Pc を制御する場合、上式(1)からわかるように、引出電流Ie が大きくな るに従って、dを小さくする(引出電極をプラズマ生成室側に近づける)必要が ある。この場合、プラズマ電極52と引出電極53との間をあまり近づけ過ぎる と、絶縁破壊を起こし易くなり、安定にビームを引き出せなくなる。このため、 引出電極53の可動範囲は、絶縁破壊距離以上に設定する必要がある。
【0012】 上記従来のイオン源は、プラズマ電極52と引出電極53との間の距離dのみ を制御して、引出電流Ie の変化に伴うP/Pc の基準範囲からのずれを調整す る構成であるため、最小発散角が得られる引出電流範囲が、上記の引出電極53 の可動範囲により制限されてしまい、引出電流条件がより大電流になれば、最小 発散角が得られなくなってしまう。これでは、ターゲットまでのビームの移送効 率が悪化し、ターゲットに照射されるイオンビームのビーム電流が減少してしま う。
【0013】 本考案は、上記に鑑みなされたものであり、その目的は、ターゲットに照射さ れるイオンビームのビーム電流を増大させることができるイオン源を提供するこ とにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本考案のイオン源は、上記の課題を解決するために、プラズマを生成するプラ ズマ生成室に設けられ、イオン取出孔が形成されたプラズマ電極と、上記プラズ マ電極と対向して設けられ、イオン通過孔が形成された引出電極とを有し、上記 のプラズマ電極と引出電極との間に所定の電位差を生じさせてプラズマ生成室か らイオンを引き出し、イオンビームを形成するイオン源において、以下の手段を 講じている。
【0015】 即ち、厚さの異なる上記のプラズマ電極を複数有し、引出電極のイオン通過孔 を通過した後のイオンビームの発散角に応じて、この発散角が小さくなるように 、プラズマ生成室に設けられるプラズマ電極の厚さを切り換える切換手段を備え ている。
【0016】
【作用】 上記の構成によれば、イオンビームは、プラズマ電極と引出電極との間の電位 差によりプラズマ生成室から引き出されることより生成される。このイオンビー ムは、引出電極のイオン通過孔を通過した後、レンズ効果の影響を受けて発散す る。このイオンビームの発散角は、プラズマ電極の厚さにより変化する。
【0017】 上記イオン源は、厚さの異なる複数のプラズマ電極を有し、切り換え手段によ り、イオン通過孔を通過した後のイオンビームの発散角が小さくなるように、プ ラズマ電極の厚さが切り換えられるようになっている。したがって、引出電極の 厚さが一定である従来のイオン源よりも発散角の少ないイオンビームが得られる ので、ターゲットまでのビームの移送効率が向上し、ターゲットに照射されるイ オンビームのビーム電流を増大させることができる。
【0018】
【実施例】
本考案の一実施例について図1ないし図7に基づいて説明すれば、以下の通り である。
【0019】 本実施例のイオン源は、フリーマン型イオン源であり、イオン注入装置に具備 されている。尚、本考案は、イオン注入装置のフリーマン型イオン源に限定され るものではなく、例えばECR(Electron Cyclotron Resonance) 型イオン源等 、他の方式のイオン源でもよく、また、イオン注入装置以外の他の装置に用いら れるものでもよい。
【0020】 上記イオン注入装置は、上記イオン源において不純物元素をイオン化してイオ ンビームとして引き出し、質量分離部で所定イオンのみを選別した後、加速管で 加速し、さらに静電レンズによりシャープなビームに整形した後、走査電極によ りビームを走査し、ターゲットチャンバ内にセットされたウエハ等のターゲット にイオンビームを照射するようになっている。
【0021】 上記イオン源は、図1に示すように、プラズマを発生させるプラズマ生成室1 を有している。このプラズマ生成室1の室壁には正電圧が印加されており、その 室内における開口部1a近傍には、負電圧が印加された直線状のフィラメント( 図示せず)が設けられている。また、このプラズマ生成室1の外部にはソースマ グネット(図示せず)が設けられており、上記フィラメントの軸心に平行な外部 磁界が付与されている。
【0022】 また、プラズマ生成室1の室壁には、ガス導入孔1bが形成されており、この ガス導入孔1bには、図示しない金属蒸気発生炉等を有する動作ガス供給手段が 接続されている。そして、上記の動作ガス供給手段は、固体状の不純物を金属蒸 気発生炉によって蒸発させた動作ガスやガスボンベに充填されていた気体状の不 純物からなる動作ガスをプラズマ生成室1に供給するようになっている。
【0023】 上記プラズマ生成室1の開口部1aは、回動可能に設けられたディスク2によ り塞がれている。このディスク2には、図2および図3に示すように、略プラズ マ生成室1の開口部1aと同形状のプラズマ電極部(プラズマ電極)3〜6が略 等間隔で形成されている。このプラズマ電極部3〜6の厚さt3 〜t6 は、図4 および図5に示すように、それぞれ異なっており、t3 <t4 <t5 <t6 とな っている。また、上記プラズマ電極部3〜6には、スリット状のイオン取出孔3 a〜6aがそれぞれ形成されている。
【0024】 上記ディスク2は、高真空状態に保持されたイオン源チャンバ(図示せず)内 に設けられており、駆動モータ7の回転駆動力をディスク2に伝達する駆動軸8 とイオン源チャンバ壁との間に真空シールが施され、大気側に設けられた駆動モ ータ7に駆動されて回転するようになっている。尚、駆動モータ7は正逆両方向 に回転するようになっていてもよい。上記の駆動モータ7の回転動作は、後述の 制御装置9に制御される。これら駆動モータ7および制御装置9により、プラズ マ電極の厚さtを切り換える切換手段が構成されている。
【0025】 上記ディスク2は、1回の回転動作で90°、180°、あるいは270°回 転し、プラズマ電極部3〜6のいずれかが、プラズマ生成室1の開口部1aと合 致する位置で停止するようになっている。
【0026】 上記イオン源チャンバ内には、プラズマ生成室1の開口部1aにセットされた プラズマ電極部3〜6と対向して、引出電極10が配設されている。この引出電 極10には負電圧が印加されており、プラズマ生成室1内で生成されたプラズマ から正電荷を有したイオンを高真空中に引き出すようになっている。この引出電 極10には引出電極孔(イオン通過孔)10aが形成されており、プラズマ生成 室1から引き出されたイオンは、イオンビームとして引出電極孔10aを通過す るようになっている。
【0027】 上記引出電極10は、イオン源チャンバ外に設けられた引出電極移動機構11 に駆動されて、ビーム進行方向に平行移動するようになっている。この引出電極 10の可動範囲は、プラズマ電極部3〜6と引出電極10との間に放電を生じる ことのない絶縁破壊距離以上に設定されている。上記の引出電極移動機構11の 動作は、後述の制御装置9に制御される。
【0028】 また、引出電極10のビーム下流側には、引出電極10と対向して接地された 減速電極12が配設されている。上記引出電極10には負電圧が印加され、減速 電極12よりも負電位であるので、引出電極10よりも下流で発生した電子の逆 流を防ぐことができるようになっている。上記の減速電極12には減速電極孔1 2aが形成されており、引出電極10により引き出されたイオンビームは、減速 電極孔12aを通過して、質量分離部に移送される。
【0029】 ところで、上記引出電極10により引き出されたイオンビームは、レンズ効果 の影響を受けて発散する。引出電極10の引出電極孔10aを通過したビームの 発散角ωは、図7に示すように、規格化パービアンス(P/Pc )が0.6のとき 最小となり、ターゲットまでのビームの移送効率が最もよくなる。
【0030】 そこで、上記制御装置9は、ビーム引き出し時に、 P/Pc =k・Meff 1/2 ・Ie (d+t)2 /Ve 3/2 =0.6 になるように引出電極移動機構11、駆動モータ7の動作を制御し、電極ギャッ プdの調整と、プラズマ電極部3〜6の切り換えを行うようになっている。尚、 上式中のVe は引出電圧(プラズマ電極部3〜6と引出電極10との電位差)、 Ie は引出電流(引出電極10により引き出されるイオンビームのビーム電流) 、Meff はイオン種の実効質量数、tは現在プラズマ生成室1の開口部1aにセ ットされているプラズマ電極部3〜6の厚さ(t=t3 〜t6 )、kは定数であ る。
【0031】 上記の構成において、イオン源の動作を以下に説明する。
【0032】 プラズマ生成室1の開口部1aには、通常、プラズマ電極部4または5がセッ トされている。ここではプラズマ電極部4がセットされているものとする。
【0033】 イオン種(マス値)、ビーム電流、ビームエネルギー等の注入条件が与えられ れば、それに応じてイオン源の各種パラメータ(ガス流量、フィラメント電流、 ソースマグネット電流など)が設定されることになる。フィラメントにフィラメ ント電流が供給されれば、フィラメントが発熱し、この発熱したフィラメントは 、プラズマ生成室1の室壁との電位差によって電子を放出してアーク放電を生じ させる。そして、放出された電子と動作ガスのガス粒子とが衝突することによっ て、不純物イオン、電子、中性ガス粒子からなるプラズマが、プラズマ生成室1 内に生成される。
【0034】 これにより、プラズマ生成室1の開口部1aにセットされているディスク2の プラズマ電極部4のスリット状のイオン取出孔4aには、イオンシースが形成さ れ、イオンは負電圧が印加された引出電極10に引き寄せられ、所定のビーム量 を有したイオンビームとして、高真空状態に保持されたイオン源チャンバ中に放 出される。
【0035】 上記のビーム引き出し動作の際、制御装置9は、引出電極移動機構11、駆動 モータ7の動作を制御し、P/Pc =0.6になるように、電極ギャップdの調整 、並びにプラズマ電極部3〜6の選択を行う。この制御装置9の制御動作を、図 6のフローチャートに基づいて説明する。
【0036】 上記制御装置9は、引出電圧Ve 、引出電流Ie 、イオン種の実効質量数Mef f 、現在プラズマ生成室1の開口部1aにセットされているプラズマ電極部4の 厚さt4 の値を用い、P/Pc =0.6になるような電極ギャップdを演算する( S1)。 次に、制御装置9は、演算により求められた電極ギャップdが、ディスク2か らの距離で表された引出電極10の可動範囲にあるか否かを判断し(S2)、こ の電極可動範囲にあれば、引出電極移動機構11を制御して、求められた電極ギ ャップdになるように引出電極10を移動させる(S7)。
【0037】 一方、求められた電極ギャップdが電極可動範囲から外れている場合、制御装 置9は、電極ギャップdが電極可動範囲の最大値dmax よりも大きければ(S3 )、プラズマ電極部4の厚さt4 よりも薄い、厚さt3 のプラズマ電極部3がプ ラズマ生成室1の開口部1aにセットされるように、駆動モータ7を駆動させる (S4)。また、制御装置9は、求められた電極ギャップdが電極可動範囲の最 小値dmin よりも小さければ(S3)、プラズマ電極部4の厚さt4 よりも厚い プラズマ電極部、即ち、厚さt5 のプラズマ電極部5、あるいは厚さt6 のプラ ズマ電極部6がプラズマ生成室1の開口部1aにセットされるように、駆動モー タ7を駆動させる(S5)。
【0038】 上記S4・5においてプラズマ電極部の厚さtが変更された場合、制御装置9 は、P/Pc =0.6になるような電極ギャップdを再演算し(S6)、この演算 により求められた電極ギャップdになるように、引出電極移動機構11を制御し て引出電極10を移動させる(S7)。
【0039】 このように、本実施例のイオン源は、厚さの異なる複数のプラズマ電極部3〜 6を有し、プラズマ電極部3〜6の切り換え(プラズマ電極の厚さtの調整)と 、電極ギャップdの調整とを併用して、引出電極10の引出電極孔10aを通過 したビームの発散角が最小になるように制御する構成であるため、最小発散角が 得られる引出電流範囲が、従来のイオン源よりも大幅に拡大される。
【0040】 このため、従来では、最小発散角が得られなかったような引出電流条件でも、 本実施例のイオン源では最小発散角が得られるので、ターゲットまでのビーム移 送効率が向上し、ターゲットに照射されるイオンビーム量を増大できる。換言す れば、従来と同じ引出電流条件でも、本実施例のイオン源では、従来より大きい ターゲットでのビーム電流が得られるということであり、イオン源にかかる負担 を軽減でき、イオン源の長寿命化にもつながる。
【0041】 尚、本実施例では、ディスク2に厚さの異なるプラズマ電極部3〜6を形成し 、ディスク2を回転させることによりプラズマ電極の厚さを可変する構成である が、例えば、図8に示すように、ビーム進行方向と直交する方向にスライドする スライド板12に、厚さの異なる複数のプラズマ電極部13〜15を形成し、ス ライド板12をスライドさせてプラズマ電極の厚さを可変する構成にすることも できる。
【0042】 上記の実施例のように、厚さの異なる複数のプラズマ電極を、ディスクやスラ イド板として一体化することにより、プラズマ電極の交換が容易に行なえる。
【0043】
【考案の効果】
本考案のイオン源は、以上のように、厚さの異なるプラズマ電極を複数有し、 引出電極のイオン通過孔を通過した後のイオンビームの発散角に応じて、この発 散角が小さくなるようにプラズマ生成室に設けられるプラズマ電極の厚さを切り 換える切換手段を備えている構成である。
【0044】 それゆえ、プラズマ電極の厚さが一定である従来のイオン源よりも発散角の少 ないイオンビームが得られるので、ターゲットまでのビームの移送効率が向上し 、ターゲットに照射されるイオンビームのビーム電流を増大させることができる という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示すものであり、イオン源
の概略の横断面図である。
【図2】上記イオン源のプラズマ生成室とディスクとを
示す概略の斜視図である。
【図3】上記ディスクをプラズマ生成室と接する側から
みた概略の斜視図である。
【図4】図3のX−X線矢視断面図である。
【図5】図3のY−Y線矢視断面図である。
【図6】上記イオン源の制御装置の制御動作を示すフロ
ーチャートである。
【図7】引出電極に引き出された後のイオンビームの発
散角ωと規格化パービアンス(P/Pc )との関係を示
すグラフである。
【図8】本考案の他の実施例を示すものであり、イオン
源のプラズマ生成室とディスクとを示す概略の斜視図で
ある。
【図9】従来例を示すものであり、イオン源の概略の横
断面図である。
【符号の説明】
1 プラズマ生成室 1a 開口部 2 ディスク 3〜6 プラズマ電極部(プラズマ電極) 3a〜6a イオン取出孔 7 駆動モータ(切換手段) 9 制御装置(切換手段) 10 引出電極 10a 引出電極孔(イオン通過孔) 11 引出電極移動機構 t3 〜t6 プラズマ電極部の厚さ

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】プラズマを生成するプラズマ生成室に設け
    られ、イオン取出孔が形成されたプラズマ電極と、上記
    プラズマ電極と対向して設けられ、イオン通過孔が形成
    された引出電極とを有し、上記のプラズマ電極と引出電
    極との間に所定の電位差を生じさせてプラズマ生成室か
    らイオンを引き出し、イオンビームを形成するイオン源
    において、 厚さの異なる上記のプラズマ電極を複数有し、引出電極
    のイオン通過孔を通過した後のイオンビームの発散角に
    応じて、この発散角が小さくなるようにプラズマ生成室
    に設けられるプラズマ電極の厚さを切り換える切換手段
    を備えていることを特徴とするイオン源。
JP1139092U 1992-03-06 1992-03-06 イオン源 Pending JPH0573849U (ja)

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