JPH0572163A - 半導体式ガスセンサー - Google Patents

半導体式ガスセンサー

Info

Publication number
JPH0572163A
JPH0572163A JP19682991A JP19682991A JPH0572163A JP H0572163 A JPH0572163 A JP H0572163A JP 19682991 A JP19682991 A JP 19682991A JP 19682991 A JP19682991 A JP 19682991A JP H0572163 A JPH0572163 A JP H0572163A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor
gas
diamond
sensor
group
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP19682991A
Other languages
English (en)
Inventor
Isamu Yashima
勇 八島
Nobuyuki Kitahara
暢之 北原
Masayuki Notoya
正之 能登谷
Hiroshi Sato
博 佐藤
Katsumitsu Tatsumoto
克充 辰元
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui Mining Co Ltd
Original Assignee
Mitsui Mining Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsui Mining Co Ltd filed Critical Mitsui Mining Co Ltd
Priority to JP19682991A priority Critical patent/JPH0572163A/ja
Priority to EP19910120490 priority patent/EP0488352A3/xx
Publication of JPH0572163A publication Critical patent/JPH0572163A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/02Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
    • G01N27/04Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
    • G01N27/12Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body in dependence upon absorption of a fluid; of a solid body in dependence upon reaction with a fluid, for detecting components in the fluid
    • G01N27/125Composition of the body, e.g. the composition of its sensitive layer

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 従来検知困難であった半導体製造用原料ガス
等を酸化性、還元性、腐食性雰囲気中で測定する。 【構成】 基板2上にダイヤモンド半導体層3を積層
し、電極4,5を取付ける。電極材料を選択することに
より、検出ガスに対する感度に選択性を持たせる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はガスの検知部にダイヤモ
ンド半導体を用いた半導体式ガスセンサーに関し、更に
詳述すれば従来の半導体式ガスセンサーでは検知が難し
いシラン、アルシン、ホスフィン等の半導体製造用ガス
等を検知することのできる半導体式ガスセンサーに関す
る。
【0002】
【従来の技術】ガスセンサーは、一般家庭での都市ガス
から、半導体製造工場などで製造する特殊ガスまで、各
種のガスの検出用に広く使用されている。これらのガス
センサーの中で、ガスの検知部に半導体を使用し、これ
に特定のガスが接触した際に半導体の表面に生じる電気
的特性の変化等によりガスの検出を行う半導体式ガスセ
ンサーが、小型化が可能で、比較的低濃度のガスを検出
できるなどの特長を有することから、広く研究され、ま
た、実用化もされている。半導体式ガスセンサーのガス
検知部に用いられる半導体としては次のような材料が知
られている。酸化錫、酸化亜鉛、酸化バナジウム等の
ような酸化物で、カチオンの価数が変化するため、ドー
プすることなしに半導体特性を示す酸化物真性半導体、
真性半導体特性を示さない酸化物半導体で、不純物を
添加することにより、格子間原子、空孔、原子の置換、
またはそれらの欠陥の対を形成し、イオンの電荷補償の
ため、電子やホールが発生して、半導体特性を示す不純
物酸化物半導体、シリコン、ガリウム砒素、窒化バナ
ジウムなどに代表され、これらに不純物をドープするこ
とにより半導体特性を示す非酸化物半導体。
【0003】前記又はの半導体は、通常酸化物粉体
の成形、燒結のプロセスにより製造し、多結晶体として
使用する場合が多い。しかしながら、多結晶の場合は、
フォトリソグラフィやエッチングの技術が使いにくいた
め、今日要望されているセンサーの小型化、回路との一
体化、及びハイブリッド化が難しいという問題があっ
た。
【0004】また、従来の半導体式ガスセンサーは、半
導体材料に酸化物を用いてこれを熱処理により非化学量
論組成酸化物とし、半導体特性を付与して製造してい
る。これらのセンサーは、被検ガスが半導体に吸着する
と半導体中のバンド構造が変化し、電気抵抗、電気容量
が変化することを利用して、その電気特性の変化から被
検ガスを検知する。しかしながら、これらの半導体式ガ
スセンサーは再現性、信頼性の点で問題がある。例え
ば、V23 、TiO2 などの酸化物半導体の場合は、
これらは本来半導体ではないため、真空中または水素中
で500℃程度の温度で熱処理して非化学量論組成酸化
物となし、半導体特性を付与している。従って、原理上
酸素分圧に大して敏感であり、検知ガスのみならず酸素
分圧の変動によっても電気抵抗、電気容量が変化するた
め、酸素が存在しその分圧が変化するような環境下で
は、ガスセンサーとしての信頼性に問題がある。
【0005】一方、の半導体については、半導体プロ
セスを利用することにより、小型化、回路との一体化及
びハイブリッド化を比較的容易になし得るが、の半導
体は比較的酸化、還元に弱い化合物であるため、酸化
力、還元力が強い雰囲気下、あるいは粉塵や腐蝕性のあ
る雰囲気下ではできないという問題点があった。また、
バンドギャップが狭いため加熱すると電気的に飽和して
しまい半導体特性を示さなくなるので、素子を加熱して
使用できないという問題があり、従って、センサーの感
度を上げるために加熱することができず、また高温雰囲
気下で使用できないという問題点があった。
【0006】特にSiを基材として用いて、これにイオ
ンを打ち込み、または気相成長でドープすることにより
半導体化したセンサーは、酸化物の半導体ではないた
め、原理上は酸素分圧の変動に対して影響を受けない
が、被検ガスがSi半導体に直接接触しないと原理上ガ
スの検知が困難である。このように被検ガスがSi半導
体に直接接触する場合、酸素が存在する環境下では、S
i半導体と酸素の化学反応は室温でも容易に起こるた
め、Si半導体は徐々に酸化されてSiOx を形成す
る。このためSi半導体が劣化していき、いずれのガス
に対しても長期的に安定した再現性を得ることはできな
い。更に、Si半導体を加熱した状態で使用する場合に
は、電極とSi半導体との界面で化学反応が起こり、徐
々にシリサイドを形成するため、経時安定性に問題があ
る。同様に、Si半導体、水蒸気、ハロゲンなどの環境
中でも劣化し易い。また、Si半導体はバンドギャップ
が1.1eVと狭いため、特にN型Si、PN接合Si
ガスセンサーについては、光に対しても敏感であり、フ
ォトコンダクティビティと呼ばれる光による電気抵抗の
変化現象が生じるため、遮光する必要があり、素子構造
が複雑になるなどの問題がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明者らは、上記問
題を解決するために半導体センサー材料について種々検
討した結果、ガスセンサー材料としてダイヤモンド半導
体を使用することにより、従来の半導体式ガスセンサー
では検出が難しかったジボラン、ホスフィン、アルシ
ン、などの各種のガスを広範囲の条件下で検出できる高
性能なセンサーを作製し得ることを知得した。
【0008】しかし、ダイヤモンド半導体をガスセンサ
ー材料として用いる場合でも、用いるダイヤモンド半導
体に、ドープ材料以外に不純物が存在するとセンサー特
性に悪影響を与えることがあり好ましくないことを発見
した。特に気相合成法によりダイヤモンド半導体を合成
する場合、得られるダイヤモンド半導体中には、不純物
としての環状二重結合炭素、共役2重結合炭素、ポリエ
ン炭素等の二重結合を有する炭素(二重結合炭素)が存
在することがある。このような二重結合炭素は、電気的
には金属的振舞いをするため、ダイヤモンドの半導体特
性を損失させ、ガスセンサーとしての感度の低下、再現
性の低下、ゼロベースラインやスパンドリフトの変動等
の問題を生じさせる。また、このようなダイヤモンドを
構成しない二重結合炭素は、空気中の酸素と容易に反応
するため、特に100℃以上の温度雰囲気での使用に対
して安定したセンサー特性が得られない等の問題があ
る。これらの問題を解決するために更に検討した結果、
ガスセンサー材料として二重結合炭素を含まないダイヤ
モンド半導体を用い、電極材料として特定の金属または
合金を用いることにより、シラン、ホスフィン、アルシ
ン、ジボラン、などのドープガスをはじめ、フッ化水素
ガス、塩素ガス、塩化水素ガスなどのハロゲンガス等の
従来のガスセンサーでは検知が困難であったガスを広範
囲の条件下において検出できるセンサーを作製できるこ
とを見いだし、本発明を完成した。
【0009】従って、本発明の目的は、前記従来技術の
問題点を解決し、小型化や回路との一体化が可能で、酸
化性、還元性雰囲気下でも広い温度範囲において使用可
能な半導体式ガスセンサーを提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、半導体表面に電極に所定数形成してなる
半導体式ガスセンサーにおいて、前記半導体をダイヤモ
ンド半導体で構成するもので、ダイヤモンド半導体が気
相成長法により形成したダイヤモンド薄膜であること、
ダイヤモンド半導体が二重結合炭素を含まない単結晶又
は多結晶ダイヤモンド半導体であること、電極の材料が
Pt、Pd、Ir、Ru、Rh、Re、Ag、Os、A
uからなる金属群(A群)から選ばれる1種の金属、A
群の中から選ばれる2種以上の金属の合金、又はA群か
ら選ばれる1種以上の金属とCu、P、Co、Ni、C
eからなる金属群(B群)の中から選ばれる1種以上の
金属との合金であり、ガスセンサーとしての電気特性が
オーミック特性であることを含む。
【0011】以下、本発明を図面を参照して詳細に説明
する。
【0012】図1は本発明の半導体式ガスセンサーの一
例を示すもので、図中1はセンサーである。このセンサ
ー1は基板2の上面にドーピング剤を加えて半導体化し
たダイヤモンドからなるダイヤモンド半導体層3を積層
し、更に半導体層3の上面に所定数(本例においては2
箇)の電極4,5を形成している。更に、このセンサー
の下部にはヒーター等の加熱手段6を必要により設ける
ことができる。
【0013】本発明のガスセンサーに用いるダイヤモン
ド半導体層3の材料としては、B、P、NaあるいはL
i等のドーピング剤をドープさせて半導体化したダイヤ
モンドが用いられるが、特にBをドープさせたものが好
ましい。ドープ量としては5〜500ppm とすることが
好ましい。このようなダイヤモンド半導体としては、天
然にごく僅かにブルーダイヤモンドとして産出され、ま
た、高温高圧で合成されるBドープダイヤモンド結晶バ
ルクも使用できるが、価格やBの含有量の制御などに問
題がある。
【0014】また、ダイヤモンド半導体中に、環状二重
結合炭素、共役二重結合炭素、ポリエン炭素等の二重結
合炭素が不純物として存在すると、これらの二重結合炭
素に起因する電気的なノイズが出たり、経時安定性が悪
い等の問題がある。このような問題を起こさないため、
本発明で使用するダイヤモンド半導体は、ラマン分光に
よる分析(分解能0.5cm-1)で前記不純物のラマンス
ペクトルが観察されないダイヤモンドを使用するもので
ある。
【0015】このようなダイヤモンドは、例えば水素プ
ラズマエッチング工程を製造工程に加えることにより作
製できる。CVD等を用いる堆積工程でダイヤモンドが
成長(堆積)していく段階で、ダイヤモンドになってい
ない炭素は水素プラズマエッチングにより除去でき、従
ってダイヤモンドのみが堆積していく。この繰り返しに
より、不純物の存在が観察されないダイヤモンド半導体
が基板上に形成される。このようにして作製した、二重
結合炭素を含まないダイヤモンドを半導体として使用す
ることにより、センサー信号は安定したものとなり、電
気的なノイズを受けにくく、またセンサーの経時安定性
も優れたものになる。
【0016】ダイヤモンド半導体層は、ガスセンサーの
小型化の面からはできるだけ薄い方が好ましい。しか
し、薄すぎるとセンサーとしての信頼性が低下すると共
に、特性のばらつきを生じやすくなるので、0.1〜1
0μmとすることが好ましい。
【0017】しかし、0.1μm未満の厚みであって
も、ガスに対する感度は十分にあるため、素子の抵抗に
対するばらつきを補償する回路等を組み込むことによ
り、ガスセンサーとしての機能を持たせることができる
ので、0.1μm未満の厚みを否定するものではない。
このような薄膜状ダイヤモンド半導体は、例えば気相成
長方により、結晶質基板上にダイヤモンド半導体を成長
させて作成することができる。しかし、10μmより厚
くなると生産性が低下するので好ましくない。
【0018】ダイヤモンド半導体層3を成長させる基板
2としては、ダイヤモンドが気相成長可能なものであれ
ば特に制限はなく、シリコン、アルミナ、マグネシア、
ふっ化カルシウム、窒化アルミニウム等が使用できる。
中でもダイヤモンド単結晶基板が特性のすぐれた半導体
層を得易いので特に好ましい。Bドープダイヤモンド半
導体層3の好適な製造方法の例としては、高温高圧法で
製造したダイヤモンド基板上に、メタン、水素およびジ
ポランガスを原料として、プラズマCVD法によりダイ
ヤモンドの薄膜を成長させるものがある。
【0019】このようにして得られたダイヤモンド半導
体層3上に電気抵抗の変化を出力として測定するための
電極を形成する。電極の形成方法としては、電極材料を
蒸着等の公知の手段で形成する方法がある。電極材料と
しては、特に制限はないが導電性金属が好ましい。測定
感度を高めるためには一方の電極をショットキー電極と
し、他方をオーミック電極とするのが好ましい。ショッ
トキー電極としてはダイヤモンドを接触した界面におい
て整流特性を示す材料を使用すればよいが、特にタング
ステン、アルミニウム、チタンが好ましい。また、オー
ミック電極の材料としては導電性のある材料であれば特
に制限はないが、センサーを酸化性あるいは腐食性など
の過酷な雰囲気で使用できるようにするためには金、白
金等を用いることが好ましい。これらの電極から取り出
される信号を外部に伝えるための外部出力端子との接続
方法としては、銅線等の導電線を用いて、ハンダ付け等
の方法によって接着させればよい。
【0020】また、後述する方法等でダイヤモンド半導
体層の表面を多孔質体とすると、ガスの吸着能が向上
し、素子の性能を向上させることができるので好まし
い。
【0021】このセンサーに被検知ガスが接触すると、
両電極間の半導体層の電気的特性が変化し、その変化の
大きさを適当な手段により、電気伝導度あるいは電気容
量の変化として検出することにより濃度を測定すること
ができる。このセンサーの作動原理の詳細は明らかでは
ないが、ダイヤモンド半導体の表面には雰囲気ガスが吸
着し、平衡状態を保っているが、これに被検知ガス、特
に吸着されているガスと反応性を有するガスが接触する
と平衡状態が変化し、それによって半導体の電気的特性
が変化するものと考えられる。
【0022】本発明の半導体式ガスセンサーは、低温で
使用することもできるが、使用温度が高い方がガスの反
応速度が早くなり、センサーの応答速度も早くなる。従
って、センサー内に加熱装置を設置しておき、それぞれ
の測定条件に応じて適切な温度で測定ができるようにし
ておくことが好ましい。測定温度は60〜400℃が好
ましい。
【0023】上記半導体式ガスセンサーは、ガス検知半
導体としてダイヤモンド半導体を使用しているので、ダ
イヤモンドの表面に化学吸着し易い水素、酸素、炭素、
塩素、よう素、ふっ素等を含む雰囲気中において、これ
らの化合物と反応性を有し、ダイヤモンド半導体上に吸
着した化合物の量を変化させることのできる水素、ジボ
ラン、アルシン、ホスフィン等のガスの検出及び含有量
の測定に好適である。また、ダイヤモンドは、化学的に
きわめて安定であり、通常の酸やアルカリに侵されな
い。更に、バンドキャップが5.4eVと大きく、B、
P、Na、Liなどをドープすることにより良好な半導
体特性を示し、20〜200℃の温度範囲で、酸化性雰
囲気においてもその半導体特性は損なわれない。このダ
イヤモンド半導体を使用した本発明のガスセンサーは、
酸化性、腐食性の雰囲気下においても広い温度範囲内で
使用することができ、工業的利用価値の大きいものであ
る。
【0024】本発明においては、更に電極4,5の材料
を選択することにより、異なる効果を生じさせることが
できる。即ち、本発明のガスセンサーは電極材料として
用いる金属の種類により、検出するガスに対する応答特
性(感度)が異なり、更に印加電圧に対して電流が比例
するオーミック特性を有するようにすることができるも
のである。
【0025】この場合、ガス検出機構、及び各ガスに対
する応答特性が異なる理由については必ずしも明らかで
はないが、次のように考えられる。即ちダイヤモンド半
導体層の界面でガスの吸着が起こり、このことによっ
て、ダイヤモンド半導体のバンドの曲がりに変化が生
じ、ガス吸着前後での電気的な平衡を変化(電気抵抗や
電気容量の変化)させるため、電極間の抵抗値が変化
し、この変化量をとらえることにより、用いた電極の種
類に応じた特定のガスを検出、定量できると考えられ
る。
【0026】また、現在検出ガスによって定まる特定の
印加電圧以上に電圧を印加した状態で検出ガスに触れる
と電流が急激に流れることを利用してガスを検知(また
は定量)するショットキー特性を有するガスセンサーは
ある。この方式では、あるガスを検知(または定量)し
ようする場合、センサーの印加電圧がそのガスの検知に
必要な一定の印加電圧以下の場合は識別ができない。こ
れに対して本発明のセンサー素子は、前記のようなショ
ットキー方式ではなく、印加電圧に対して電流がリニア
ーに変化するオーミック特性を有するものであることが
判明した。このことはショットキー方式のように特定の
印加電圧を選定することなく、あらゆる印加電圧でガス
に対して感度を有するため、ショットキー方式で識別で
きなかった低濃度域のガス濃度の測定が可能となり、ま
た回路の設計も容易となることを意味する。
【0027】この場合、ガスセンサーの基本的な模式構
造は、前記の構造と基本的に同じもので、例えばダイヤ
モンド半導体層を成長させる基板の上に、適当なドープ
剤を添加したダイヤモンド半導体層を形成させ、このダ
イヤモンド半導体層表面上に適当な間隔を設けて1対の
電極を取りつけたものであり、また必要により基板の下
部に加熱用のヒーターを取りつけたものである。また、
1つの基板上に適当な間隔を設けて、数個の前記ダイヤ
モンド半導体層を形成させることができるため、それぞ
れのダイヤモンド半導体層表面上に適当な間隔を設け
て、検出または定量しようとするガスに最も適した電極
材料を選定して取りつければ、数個のセンサーが1つの
基板上に配設された、数種類のガスを検知または定量で
きるセンサーとなる。本発明においては、このように電
極材料として用いる金属の種類によりガスに対するセン
サーとしての応答特性が異なることを利用できる。また
基板は所望の大きさとすることができるので、基板上に
形成するセンサーの個数に対しては制限がなく、所定の
間隔を隔てて必要個数の電極を形成すればよい。また、
適当な論理回路等を組み込むことにより、ガスの判別が
可能となる。
【0028】用いる基板の材料は、ダイヤモンド半導体
が成長し、基板との密着性が良く、水素プラズマと反応
しないものであれば特に制限はなく、例えば、ダイヤモ
ンド、窒化珪素、炭化珪素、炭化タングステン、サイア
ロン、高配向性熱分解黒鉛、無定形炭素等の例をあげる
ことができる。
【0029】また、センサーとしての応答速度を向上さ
せるために、外部ヒーターを設けてこれで素子を加熱し
てもよいが、素子への印加電圧を上げることにより自己
加熱ができるため、ヒーターを設けることについては必
ずしも必要とはしない。
【0030】電極材料は、Pt、Pd、Ir、Ru、R
h、Re、Ag、Os、Auからなる金属群(A群)か
ら選ばれる1種の金属、A群の中から選ばれる2種以上
の金属の合金、又はA群から選ばれる1種以上の金属と
Cu、P、Co、Ni、Ceからなる金属群(B群)の
中から選ばれる1種以上の金属との合金である。これら
の合金の具体例としてはAu−Pd(4:1)合金等が
ある。これらの電極材料は、ガスの種類により、それぞ
れ応答特性が違うため、検知および含有量を測定しよう
とするガスに応じて、そのガスに適した電極材料を適宜
選定すればよい。
【0031】電極材料のガス種に対する感度の違いの例
として、Auを電極として用いた場合は、PH3 ガスに
対して最も感度よく、次いでSiH4 、H2 S、AsH
3 ガスにほぼ同等の感度を有しており、次いでCOガス
というような順位となる。
【0032】このような感度の順位を不等号を用いて表
現すれば、Au電極では、PH3 >SiH4 、H2 S、
AsH3>COとなる。また、PtやAu−Pd合金を
電極に用いた場合のガス種に対する感度は、次のとおり
である。
【0033】Pt 電極:H2 S>CO、SiH4
>PH3 、AsH3 Au−Pd電極:H2 S>CO>AsH3 >PH3>S
iH4 Pd 電極:PH3 >SiH4 >H2 S>AsH3 Ir 電極:H2 S>CO>SiH4 Ag 電極:H2 S≫PH3 >SiH4 >AsH3 例えば、ジボランガスの検知およびその含有量を測定し
ようとする場合は、電極材料としてパラジウム(Pd)
を用いればよい。
【0034】ダイヤモンド半導体ガスセンサーとして
は、低濃度のシラン、フォスフィン、アルシン、ジボラ
ン、CO、CO2 、O2 、H2 S、SO2 、NH3 、プ
ロピレン、C24 、1−ブテン、1,3−ブタジエ
ン、アセチレン、HCl、HF、Cl2 等のガスを検知
し、またその含有量を測定できる。これらの化合物はダ
イヤモンド半導体中のバンド構造を変化させるものであ
る。
【0035】また、これらの化合物の検出は電極材料と
ダイヤモンド半導体の界面に吸着しやすい水素ガス、水
素化物ガス、ハロゲンガス、ハロゲン化物ガス、酸化物
ガス、硫化物ガス等の雰囲気中や大気中で行なうことが
できる。
【0036】従って、例えば半導体製造工程で使用され
ている水素ガス(キャリアガス)中のシランガスの検
知、定量、あるいは大気中に漏洩したシランガスの検
知、定量等に使用できる。
【0037】図7は上記のようにして作製したガスセン
サーを接続してガス濃度を検出する計測装置の回路の一
例を示すものである。なお、図中8はワイヤーボンディ
ングを示す。この場合には、定電流電源(1F)を用い
て一定の電流を回路に流しておき、ガスセンサーがガス
と接触することにより生じるガスセンサーの抵抗値変化
を電圧変化としてペンレコーダーに記載し、これらガス
濃度を定量するものである。
【0038】
【実施例】以下実施例により本発明をさらに具体的に説
明する。 (実施例1)天然ダイヤモンドの(100)面、大きさ
2×1.5×0.5mmの基板上に、マイクロ波プラズマ
CVD法によりメタン2%、水素98%、ジボラン10
0ppm のガス濃度で、流量150SCCM、圧力40To
rr、温度900℃で8時間の条件でBドープダイヤモン
ド半導体層を成長させた。このダイヤモンド層はエピタ
キシャル成長しており、顕微ラマンの評価では1.8cm
-1と基板のダイヤモンドの2.1cm-1に比べて半値幅は
狭く、高品質のものであった。このダイヤモンド半導体
層の表面に、スパッタリング法によりタングステン及び
金を蒸着させ、それぞれ100μm2の面積の電極を形成
させ半導体センサー素子とした。得られたセンサー素子
の模式的概略図を図1に示す。この電極にタングステン
カーバイド製のプローブを接触させて電気物性を測定し
た。空気雰囲気下での室温における比抵抗値は0.8Ω
・cmであった。また、ヒーターにより基板を400℃に
加熱して測定した比抵抗値は4.1Ω・cmであった。素
子の抵抗値が充分安定したところで、電気雰囲気中に2
00ppm のジボランガスを添加したところ、比抵抗値は
43Ω・cmに増加した。この場合の90%応答時間は5
秒であり、このセンサー素子は、従来検知が難しかった
ジボランガスの検知素子として充分な実用性を有するこ
とがわかった。
【0039】また、電極材料として、チタンあるいはア
ルミニウムを使用しても同様の結果が得られた。 (実施例2)実施例1と同様にして得たダイヤモンド半
導体層を、空気の流量が10SCCM、マイクロ波の投
入電力150W、圧力15Torr、基板温度560℃、1
5分間の条件で空気プラズマエッチングした。この場
合、電極をつける部分はエッチングされないようにシリ
コンでマスキングし、多孔質となる部分だけがエッチン
グされるようにした。次いでエッチングした表面を水素
プラズマで150W、15Torrの条件で15分間処理し
た後、実施例1と同じ条件でマイクロ波プラズマCVD
法により1時間処理してBドープダイヤモンド半導体層
を成長させ、さらに前記と同一の条件で空気プラズマエ
ッチングした。これによりダイヤモンド表面は多孔質化
し、約1μmのピットが無数にあいた状態となった。こ
の場合エッチングした部分はマスキングした部分に比べ
てダイヤモンド層の成長が早く、約0.2μm高くなっ
た。これに、実施例1と同様な方法でタングステン及び
金を蒸着して電極を形成し、比抵抗を測定した。空気雰
囲気下、400℃での比抵抗値は50Ω・cmであり、こ
れに200ppm のジボランを流したところ比抵抗は大幅
に変化し500Ω・cmまで増加した。この結果から、ダ
イヤモンド半導体層の上部に多孔質層を設けることによ
りガスセンサー特性が大幅に向上することがわかった。
実施例2のセンサー素子の模式的概略図を図2に示す。 (実施例3)天然ダイヤモンド(IIa 型)の(100)
面、大きさ1.5×2.0×0.5mmの基板上に、マイ
クロ波プラズマCVD法を用いて、メタン6%、水素9
4%、ジボラン100ppm のガス濃度で、流量200S
CCM、圧力5.33KPa(40mmHg)、温度90
0℃で1時間の条件で、Bドープダイヤモンド半導体層
を成長させた。このダイヤモンド層は基板と同じ方位で
成長するエピタキシャル成長をしていた。このようにし
て成長させたダイヤモンド半導体のラマンスペクトルを
ラマン分光装置(日本分光(株)製、NR−1100、
分解能0.5cm -1)を用いて分析した結果を図3に示
す。図3から観察されるピークは、1333(cm-1)の
ダイヤモンドのピークだけで、1次元共役2重結合炭素
の1450〜1550(cm-1)のピーク、環状2重結合
炭素の1600と1360(cm-1)のピーク、およびポ
リエン構造の1150(cm-1)のピーク(以下、これら
を総称して二重結合炭素のピークという。)は観察され
なかった。また、1333(cm-1)のダイヤモンドのピ
ークの半値幅を図4に示す。成長層の半値幅は基板に用
いた天然ダイヤモンド(IIa 型)と同じ2.2(cm-1
であった。これらの結果から、得られたダイヤモンドは
二重結合炭素を実質的に含まない純度の高い、高品質の
ダイヤモンドであることがわかった。また、紫外〜近赤
外の吸収スペクトルを測定した結果、得られたダイヤモ
ンドの吸収スペクトルは、500nm以上で光の吸収が増
加する天然の半導体ダイヤモンド(IIb 型)の吸収スペ
クトルと同じであり、得られたダイヤモンドはBがドー
プされ半導体化していることを確認した。
【0040】次に、マイクロ波CVDにより水素プラズ
マで300W、5.33KPa、1時間の処理を行な
い、ダイヤモンド成長層表面のグラファイト成分を除去
して表面を清浄にした。電極の装着は、ターゲットにP
dを用いて、スパッタ装置を用いて、真空度0.133
Pa(10-3mmHg)、プラズマ出力10mA、10分
間の条件で行なった。スパッタ時には金属マスクを用い
て、所定の面積で電極を形成させた。この電極にワイヤ
ーボンディング装置を用いて、4μmの金のリード線を
取りつけ、センサー特性評価装置を用いてセンサーとし
ての特性を測定した。センサーの模式的概念図を図5に
示す。なお、図中参照番号は図1と同じ構成部分を示
す。
【0041】大気中、室温でのセンサーの抵抗は定電流
電源による電圧値から算出した結果、24.0Ωであっ
た。また、このセンサーはオーミック特性を有してい
た。
【0042】次にシランガスを用いてセンサー素子の特
性を調べた。空気中でのセンサーの抵抗値をRb、空気
中に所定濃度のシランガスが含まれている場合のセンサ
ーの抵抗値をRaとすれば、シランガス濃度1ppm に対
して、100℃でのRa/Rbは、1.0203であ
り、電圧としては9.4mVの変化があった。ところ
で、シランガスの時間荷重平均限界値(TWA)の濃度
は5ppm であるので、本センサーは、その許容濃度値以
下の検知ができる特性を有することがわかる。また、セ
ンサーの応答特性も十分に速く、90%応答時間は、1
00℃で30秒、200℃で18秒程度であった。ま
た、信頼性の確認試験として、シランガス5ppm の3回
繰り返し試験を行なった結果、抵抗値の変動係数は0.
2%と小さく、高い信頼性があることがわかった。ま
た、通常、半導体製造工程等でキャリアガスとして使用
されている水素ガスについて、本発明のセンサーに対す
る干渉性を調べた。水素ガス濃度5ppm に対しては、シ
ランガス5ppm の場合に比較して、その抵抗値の変化は
1/47程度であり、本発明のセンサーは水素ガスが干
渉ガスになりにくいことがわかった。なお、この抵抗値
の変化が小さい程、水素ガスが干渉ガスになりにくいこ
とを示す。ここで、水素ガスが干渉ガスになりにくいと
は、この実施例でいえば、水素ガスがシランガスの検知
に対して影響を与えにくい、あるいはその影響を無視で
きるほど小さいということを意味する。
【0043】上記結果から、本センサーは十分に実用性
のあるセンサーであることがわかる。以上の条件、結果
等を表1に示す。 (実施例4〜5)実施例3の操作手順に準じて、表1に
示す条件でセンサーを作製し、その特性、信頼性等を調
べた結果を表1に示す。
【0044】得られたダイヤモンドはいずれも、基板と
同じ方位で成長するエピタキシャル成長をしており、天
然の半導体ダイヤモンド(IIb 型)と同じ吸収スペクト
ルを示す半導体化したダイヤモンドであった。ラマン分
光法による分析の結果、観察されるピークは1333
(cm-1)のダイヤモンドのピークだけで、不純物は観察
されなかった。
【0045】なお、実施例4でセカンダリーイオンマス
スペクトロスコピー(SIMS)を用いてBの含有量を
測定した結果、B(ホウ素)/C(ダイヤモンド)で
0.3ppm であり、実施例3でエリプソメーターによる
膜厚測定の結果、ダイヤモンド半導体成長層の厚みは4
0nmであった。また、いずれのセンサーもオーミック特
性を有していた。
【0046】また、水素ガスのセンサーに対する干渉性
については、実施例4の場合、水素ガス濃度5ppm に対
しては、シランガス濃度5ppm の場合に比較して、その
抵抗値の変化は1/120程度であり、実施例5では水
素ガス濃度1%に対しても、Ra/Rb値は1.032
7と変化が小さく、いずれのセンサーも水素ガスが干渉
ガスになりにくいことがわかる。これらの結果から本発
明のセンサーは十分に実用性のあるセンサーであること
がわかる。 (実施例6)マイカガラスセラミックス、大きさ1.5
×2.0×0.5mmの基板をダイヤモンド砥粒(平均粒
径0.3μm)を用いて、30分間傷つけ処理を行な
い、次いで超高純度水で30分間、4回洗浄したあと、
150℃の温度で1時間乾燥した。微分干渉顕微鏡を用
いてえられた基板表面を観察した結果、その表面には汚
れがないことを確認した。以下、実施例3の操作手順に
準じて、表1に示す条件でセンサーを作製し、その特
性、信頼性等を調べた結果を表1に示す。
【0047】基板上には厚さが約0.5μmの多結晶ダ
イタモンドが成長しており、このダイタモンド半導体の
ラマン分光法による分析の結果、観察されるピークは1
333(cm-1)のダイヤモンドのピークだけで、二重結
合炭素は観察されなかった。図6にえられた多結晶ダイ
タモンドのラマンスペクトルの結果を示す。また、形成
させたPd電極の厚みを水晶振動式膜厚計を用いて測定
した結果、約50nmの厚みであった。このセンサーはオ
ーミック特性を有していた。
【0048】これらの結果から、多結晶ダイタモンド半
導体を用いたセンサーは十分に実用性のあるセンサーで
あることがわかる。
【0049】
【表1】
【0050】
【発明の効果】本発明の半導体式ガスセンサーは、酸化
性、還元性、腐食性などの過酷な雰囲気下においても、
20〜900℃という広い温度範囲において使用が可能
なガスセンサーであり、従来の半導体式ガスセンサーで
は検知が難しかったシラン、アルシン、ホスフィンなど
のドーブガスをはじめ、CF4 ガスなどの広い分野にわ
たって応用が可能であり、高感度で、信頼性の高いガス
センサーであるため、極めて大きな工業的価値を有する
ものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るガスセンサーの一例を示す模式的
概略図で、(a)は側面図、(b)は平面図である。
【図2】本発明に係るガスセンサーの他の例を示す模式
的概略側面図である。
【図3】本発明に係るダイヤモンド半導体のラマンスペ
クトル図である。
【図4】本発明に係るダイヤモンド半導体、及びダイヤ
モンド基板の1333cm-1のピークを示すラマンスペク
トル図である。
【図5】本発明に係るガスセンサーの更に他の例を示す
模式的概略側面図である。
【図6】本発明に係る多結晶ダイヤモンド半導体のラマ
ンスペクトル図である。
【図7】本発明に係るガスセンサーに接続する計測装置
の一例を示す回路図である。
【符号の説明】
1 半導体式ガスセンサー 2 基板 3 ダイヤモンド半導体層 4 電極 5 電極 6 ヒーター 7 多孔質ダイヤモンド半導体層 8 ワイヤーボンディング
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 博 栃木県栃木市国府町1番地 三井鉱山株式 会社中央研究所内 (72)発明者 辰元 克充 栃木県栃木市国府町1番地 三井鉱山株式 会社中央研究所内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体表面に電極を所定数形成してなる
    半導体式ガスセンサーにおいて、前記半導体がダイヤモ
    ンド半導体であることを特徴とする半導体式ガスセンサ
    ー。
  2. 【請求項2】 ダイヤモンド半導体が気相成長法により
    形成したダイヤモンド薄膜である請求項1記載の半導体
    式ガスセンサー。
  3. 【請求項3】 ダイヤモンド半導体が二重結合炭素を含
    まない単結晶又は多結晶ダイヤモンド半導体である請求
    項1又は2記載の半導体式ガスセンサー。
  4. 【請求項4】 電極の材料がPt、Pd、Ir、Ru、
    Rh、Re、Ag、Os、Auからなる金属群(A群)
    から選ばれる1種の金属、A群の中から選ばれる2種以
    上の金属の合金、又はA群の中から選ばれる1種以上の
    金属とCu、P、Co、Ni、Ceからなる金属群(B
    群)の中から選ばれる1種以上の金属との合金である請
    求項1又は2記載の半導体式ガスセンサー。
  5. 【請求項5】 電極の材料がPt、Pd、Ir、Ru、
    Rh、Re、Ag、Os、Auからなる金属群(A群)
    から選ばれる1種の金属、A群の中から選ばれる2種以
    上の金属の合金、又はA群の中から選ばれる1種以上の
    金属とCu、P、Co、Ni、Ceからなる金属群(B
    群)の中から選ばれる1種以上の金属との合金であり、
    ガスセンサーとしての電気的特性がオーミック特性を有
    する請求項3記載の半導体式ガスセンサー。
JP19682991A 1990-11-30 1991-08-06 半導体式ガスセンサー Pending JPH0572163A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19682991A JPH0572163A (ja) 1990-11-30 1991-08-06 半導体式ガスセンサー
EP19910120490 EP0488352A3 (en) 1990-11-30 1991-11-29 Semiconductor gas sensor

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33056090 1990-11-30
JP17264491 1991-07-12
JP2-330560 1991-07-12
JP3-172644 1991-07-12
JP19682991A JPH0572163A (ja) 1990-11-30 1991-08-06 半導体式ガスセンサー

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0572163A true JPH0572163A (ja) 1993-03-23

Family

ID=27323656

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19682991A Pending JPH0572163A (ja) 1990-11-30 1991-08-06 半導体式ガスセンサー

Country Status (2)

Country Link
EP (1) EP0488352A3 (ja)
JP (1) JPH0572163A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003142743A (ja) * 2002-08-06 2003-05-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 素 子
JP2010509599A (ja) * 2006-11-14 2010-03-25 イーエイーディーエス、ドイチュラント、ゲゼルシャフト、ミット、ベシュレンクテル、ハフツング 化学戦争薬剤を検出するための検出器、製造方法、および戦争薬剤検出器としての基材の使用
JPWO2008136259A1 (ja) * 2007-04-27 2010-07-29 独立行政法人産業技術総合研究所 ダイヤモンド半導体素子におけるショットキー電極及びその製造方法
JP2014202478A (ja) * 2013-04-01 2014-10-27 理研計器株式会社 ホスフィン検出用半導体ガスセンサ

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4310914A1 (de) * 1993-04-02 1994-10-06 Siemens Ag Methansensor
US5386715A (en) * 1993-12-06 1995-02-07 Motorola, Inc. Gas vapor sensor
SE503265C2 (sv) * 1994-09-23 1996-04-29 Forskarpatent Ab Förfarande och anordning för gasdetektion
US5767388A (en) * 1995-04-26 1998-06-16 Siemens Aktiengesellschaft Methane sensor and method for operating a sensor
DE19642453C2 (de) * 1996-10-15 1998-07-23 Bosch Gmbh Robert Anordnung für Gassensorelektroden
SE523918C2 (sv) 1999-01-25 2004-06-01 Appliedsensor Sweden Ab Förfarande för framställning av integrerade sensorgrupper på ett gemensamt substrat samt en mask för användning vid förfarandet

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59131152A (ja) * 1983-01-16 1984-07-27 Esutetsuku:Kk 還元性ガスセンサ
JPS61117443A (ja) * 1984-11-14 1986-06-04 Mitsui Toatsu Chem Inc ガス状水素化物の検知方法
JPS6415646A (en) * 1987-07-09 1989-01-19 Junkosha Co Ltd Volatile liquid detecting element and volatile liquid discriminating apparatus
JPS6459149A (en) * 1987-08-31 1989-03-06 Junkosha Co Ltd Oil leak sensor
GB2210980A (en) * 1987-10-14 1989-06-21 Draegerwerk Ag Gas sensors

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003142743A (ja) * 2002-08-06 2003-05-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 素 子
JP2010509599A (ja) * 2006-11-14 2010-03-25 イーエイーディーエス、ドイチュラント、ゲゼルシャフト、ミット、ベシュレンクテル、ハフツング 化学戦争薬剤を検出するための検出器、製造方法、および戦争薬剤検出器としての基材の使用
JPWO2008136259A1 (ja) * 2007-04-27 2010-07-29 独立行政法人産業技術総合研究所 ダイヤモンド半導体素子におけるショットキー電極及びその製造方法
JP5344484B2 (ja) * 2007-04-27 2013-11-20 独立行政法人産業技術総合研究所 ダイヤモンド半導体素子におけるショットキー電極及びその製造方法
JP2014202478A (ja) * 2013-04-01 2014-10-27 理研計器株式会社 ホスフィン検出用半導体ガスセンサ

Also Published As

Publication number Publication date
EP0488352A2 (en) 1992-06-03
EP0488352A3 (en) 1994-10-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Ogawa et al. Electrical properties of tin oxide ultrafine particle films
EP0262601B1 (en) Thermistor and method for producing the same
Gordillo et al. Preparation and characterization of SnO2 thin films deposited by spray pyrolysis from SnCl2 and SnCl4 precursors
US4835059A (en) Thin film conductor which contains silicon and germanium as major components and method of manufacturing the same
Yim et al. Vapor‐Phase Epitaxial Growth and Some Properties of ZnSe, ZnS, and CdS
Pizzini et al. Thermodynamic and transport properties of stoichiometric and nonstoichiometric nickel oxide
GB2237145A (en) "diamond thin film thermistor"
US5512873A (en) Highly-oriented diamond film thermistor
JPH0572163A (ja) 半導体式ガスセンサー
Chu et al. Preparation and properties of boron arsenide films
Von Muench et al. Preparation of pure and doped silicon carbide by pyrolysis of silane compounds
JPH05891A (ja) ダイヤモンド−金属接合体
JPS6170716A (ja) シリコン薄膜ピエゾ抵抗素子の製造法
KR940002511B1 (ko) 산화주석 박막 가스 센서 소자
Yim et al. Vapor growth and properties of ScAs and ScP
Lilley et al. The epitaxial growth of zinc sulphide on silicon by forced vapour transport in hydrogen flow
JP3549227B2 (ja) 高配向性ダイヤモンド薄膜
JPH07311171A (ja) 半導体式ガスセンサ
Suzuki et al. Thickness dependence of H 2 gas sensor in amorphous SnQ x films prepared by ion-beam sputtering
JPH11326257A (ja) 薄膜ガスセンサ
CN111710750A (zh) 基于六方氮化硼厚膜的深紫外光电探测器及制备方法
JP2773219B2 (ja) 半導体装置
JP2000351615A (ja) 炭化珪素体
Alam et al. Electrical characteristics of aluminum-CVD diamond-silicon structures
CN117587381A (zh) 一种纳米草金刚石膜的制备方法及作为高灵敏度电化学电极应用