JPH0571656B2 - - Google Patents
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- JPH0571656B2 JPH0571656B2 JP23638185A JP23638185A JPH0571656B2 JP H0571656 B2 JPH0571656 B2 JP H0571656B2 JP 23638185 A JP23638185 A JP 23638185A JP 23638185 A JP23638185 A JP 23638185A JP H0571656 B2 JPH0571656 B2 JP H0571656B2
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- iron
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- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 21
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 8
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 8
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 3
- 229910016583 MnAl Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000009749 continuous casting Methods 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 2
- 229910018134 Al-Mg Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018467 Al—Mg Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017827 Cu—Fe Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910009038 Sn—P Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010038 TiAl Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910007880 ZrAl Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910007873 ZrAl3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910000833 kovar Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49579—Lead-frames or other flat leads characterised by the materials of the lead frames or layers thereon
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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Description
「発明の目的」
本発明はリードフレーム用アルミニウム合金に
係り、熱履歴後の強度、硬度ならびに曲げ加工性
が良好で低コストなリードフレーム用アルミニウ
ム合金を提供しようとするものである。 産業上の利用分野 半導体を要素とするIC、LED等の機器におけ
るリードフレーム用アルミニウム合金。 従来の技術 半導体を要素とするIC、LSI、LEDなどの機器
は何れも半導体ペレツト、リード、ボンデイング
ワイヤにより構成されたものを、セラミツクスや
樹脂によつて封止したもので、種々の形式のもの
が用いられている。然してこの種機器に使用され
るリード用フレームは薄板をプレス打抜きして所
定の形状に成形した後、組付けを容易とするため
溶融ハンダ材が被覆されることとなり、このよう
な工程において熱履歴を受ける。ところで従来こ
れらの機器におけるリードフレーム材としては、
鉄系材料としてコバール(Fe−29%Ni−17%
Co)、Fe−42%Ni合金、Fe−Ni合金にAlをクラ
ツドした材料が用いられ、又銅系材料として194
合金(Cu−Fe−Zn−P系)、195合金(Cu−Fe
−Co−Sn−P系)などが使用されて来た。即ち
前記鉄系材料は耐熱性、強度などが優れており、
MOS型IC、LSI等に広く採用され、銅系材料は
良好な熱伝導性や曲げ性を有し、しかも鉄系のも
のに比較して安価であることから近年パワートラ
ンジスタ、ダイオード、サイリスタ等の個別半導
体のリードフレーム材として広く使用されてい
る。近時、高集積化がますます進む中で、電気抵
抗の小さい、高熱伝導度、高強度の銅合金も開発
され、鉄系材料に代つて次第に使用されつつあ
る。 なお一部に銅合金より更に低価格な材料として
アルミニウム合金の使用も考えられているようで
ある。 発明が解決しようとする問題点 しかし前記した鉄系材料のものは相当に高価で
あり、しかも熱伝導性や耐食性に劣る不利があ
る。この点銅系材料によるものは鉄系材料よりは
安価で、熱伝導性や曲げ性に優れたものである
が、耐熱性や強度においては鉄系材料のものより
劣り、しかもやはりそれなりに高価格とならざる
を得ない。 アルミニウム合金によるものは価格的には最も
有利であるが、熱履歴後の硬度、耐繰返し曲げ性
などの機械的性質が低いという問題点を有してい
る。 「発明の構成」 問題点を解決するための手段 Mg:3.0〜5.5wt% を含有し、しかも Mn:0.20〜1.0wt%、Cr:0.10〜0.30wt%、 Zr:0.05〜0.25wt%、V:0.05〜0.20wt% の中の何れか1種又は2種以上を添加し、残部が
Alと不可避的不純物より成ることを特徴とする
リードフレーム用アルミニウム合金。 作 用 Mgを3.0wt%以上含有させることにより、リ
ードフレーム材として必要な強度を得しめること
ができ、又6.0wt%以下とすることによつて曲げ
性が劣化し、しかも応力腐食割れに敏感となるよ
うな傾向を回避させる。 Mn、Cr、Zr、Vの何れか1種又は2種以上を
下限値以上に添加することにより耐熱性を向上
し、結晶粒径を微細化せしめ、しかもその上限以
下とすることにより曲げ性劣化を防止する。 実施例 上記したような本発明について更に説明する
と、本発明では前記のようにMgの適量を含有さ
せることによりリードフレーム材として必要な強
度を高価化を来すことなしに得ようとする。即ち
このMgの適量はAl中に固溶して固溶体強化およ
び加工強化により大きな強度を与えることができ
る。即ちwt%(以下単に%という)で、このMg
が3.0%以下ではこのような効果が充分に得られ
ず、一方6.0%以上の添加では曲げ性が劣化し、
しかも応力腐食割れに敏感となるので、3.0〜6.0
%の範囲とする。 Mn、Cr、ZrおよびVは、耐熱性の向上および
結晶粒径を細かくするために添加される。即ちこ
れらの遷移金属元素はAl中に固溶した状態では
導電率および熱伝導率を低下させる。又これらの
元素はMnAl6、AlMnSi、CrAl7、ZrAl3、VAl10
などの化合物として微細な粒子状態としてマトリ
ツクスに分散しているときに最も耐熱性が高くな
る。 Mnが0.20%以下では上記のような耐熱性が有
効に得られず、一方1.0%以上となると粗大な
MnAl6粒子が生じて曲げ性を劣化する。 Crも0.10%以下では耐熱性に対する上記効果が
不充分であり、一方0.30%を超えると粗大な
CrAl7粒子が生じて曲げ性を劣化する。 Zrは、このもので上記のような耐熱性を得る
には0.05%以下では効果が乏しく、又0.25%以上
となると粗大なZrAl3粒子が生じて曲げ性を劣化
させるので、0.05〜0.25%とした。 Vは、0.05%以下では充分な耐熱性が得られ
ず、又0.20%以上では粗大なVAl10粒子が生じて
曲げ性を劣化する。 なお本発明によるものは上記成分以外に鋳造割
れ防止および結晶粒微細化のために一般的に添加
されているTi、Bの何れか一方又は双方を含有
させてもよい。特に本発明合金においてはこれら
の成分が前述した耐熱性向上元素の均一な分布を
図るという効果があり、それらの効果はTiが0.01
%未満、Bが0.001%未満では充分でなく、又Ti
が0.15%を超え、Bが0.01%を超えると、TiAl3、
TiB2、AlB2などの粗大粒子を生じ、曲げ性を害
するので、Ti:0.01〜0.15%およびB:0.001〜
0.01%が適当な添加範囲である。 又不純物としてFe≦0.3%、Zn≦0.3%の範囲で
あれば、本発明の特性を劣化させることがない。 本発明合金によるリードフレーム材の製造は、
通常のアルミニウム合金と同様に溶解され、前記
した結晶微細化剤のTiとBが溶解炉中、又は鋳
造機への溶湯移送樋中へ連続的に添加され、次い
で溶湯中の酸化物などの非金属介在物を除去すべ
く濾過され、最後にDC鋳造などの半連続鋳造法
や、ハンター鋳造法などの連続鋳造圧延によつて
鋳塊とされる。次いで鋳塊の均質化処理、熱間圧
延又は冷間圧延によつて所定の厚さの板とし、最
後に熱処理が施される。なお熱処理は圧延の中間
段階でも施されることがある。 本発明によるものの具体的な製造例について説
明すると以下の如くである。 次の第1表に示すような成分組成を有している
本発明1〜9および比較例A〜JのAl−Mg系の
合金を溶解鋳造して鋳塊となし、530℃で4時間
加熱した後、熱間圧延により5mm厚まで圧延し
た。このようにして得られた合金板は次いで0.5
mm厚さまで冷間圧延し、最後に150℃×1hrの安定
化焼鈍を行つた。
係り、熱履歴後の強度、硬度ならびに曲げ加工性
が良好で低コストなリードフレーム用アルミニウ
ム合金を提供しようとするものである。 産業上の利用分野 半導体を要素とするIC、LED等の機器におけ
るリードフレーム用アルミニウム合金。 従来の技術 半導体を要素とするIC、LSI、LEDなどの機器
は何れも半導体ペレツト、リード、ボンデイング
ワイヤにより構成されたものを、セラミツクスや
樹脂によつて封止したもので、種々の形式のもの
が用いられている。然してこの種機器に使用され
るリード用フレームは薄板をプレス打抜きして所
定の形状に成形した後、組付けを容易とするため
溶融ハンダ材が被覆されることとなり、このよう
な工程において熱履歴を受ける。ところで従来こ
れらの機器におけるリードフレーム材としては、
鉄系材料としてコバール(Fe−29%Ni−17%
Co)、Fe−42%Ni合金、Fe−Ni合金にAlをクラ
ツドした材料が用いられ、又銅系材料として194
合金(Cu−Fe−Zn−P系)、195合金(Cu−Fe
−Co−Sn−P系)などが使用されて来た。即ち
前記鉄系材料は耐熱性、強度などが優れており、
MOS型IC、LSI等に広く採用され、銅系材料は
良好な熱伝導性や曲げ性を有し、しかも鉄系のも
のに比較して安価であることから近年パワートラ
ンジスタ、ダイオード、サイリスタ等の個別半導
体のリードフレーム材として広く使用されてい
る。近時、高集積化がますます進む中で、電気抵
抗の小さい、高熱伝導度、高強度の銅合金も開発
され、鉄系材料に代つて次第に使用されつつあ
る。 なお一部に銅合金より更に低価格な材料として
アルミニウム合金の使用も考えられているようで
ある。 発明が解決しようとする問題点 しかし前記した鉄系材料のものは相当に高価で
あり、しかも熱伝導性や耐食性に劣る不利があ
る。この点銅系材料によるものは鉄系材料よりは
安価で、熱伝導性や曲げ性に優れたものである
が、耐熱性や強度においては鉄系材料のものより
劣り、しかもやはりそれなりに高価格とならざる
を得ない。 アルミニウム合金によるものは価格的には最も
有利であるが、熱履歴後の硬度、耐繰返し曲げ性
などの機械的性質が低いという問題点を有してい
る。 「発明の構成」 問題点を解決するための手段 Mg:3.0〜5.5wt% を含有し、しかも Mn:0.20〜1.0wt%、Cr:0.10〜0.30wt%、 Zr:0.05〜0.25wt%、V:0.05〜0.20wt% の中の何れか1種又は2種以上を添加し、残部が
Alと不可避的不純物より成ることを特徴とする
リードフレーム用アルミニウム合金。 作 用 Mgを3.0wt%以上含有させることにより、リ
ードフレーム材として必要な強度を得しめること
ができ、又6.0wt%以下とすることによつて曲げ
性が劣化し、しかも応力腐食割れに敏感となるよ
うな傾向を回避させる。 Mn、Cr、Zr、Vの何れか1種又は2種以上を
下限値以上に添加することにより耐熱性を向上
し、結晶粒径を微細化せしめ、しかもその上限以
下とすることにより曲げ性劣化を防止する。 実施例 上記したような本発明について更に説明する
と、本発明では前記のようにMgの適量を含有さ
せることによりリードフレーム材として必要な強
度を高価化を来すことなしに得ようとする。即ち
このMgの適量はAl中に固溶して固溶体強化およ
び加工強化により大きな強度を与えることができ
る。即ちwt%(以下単に%という)で、このMg
が3.0%以下ではこのような効果が充分に得られ
ず、一方6.0%以上の添加では曲げ性が劣化し、
しかも応力腐食割れに敏感となるので、3.0〜6.0
%の範囲とする。 Mn、Cr、ZrおよびVは、耐熱性の向上および
結晶粒径を細かくするために添加される。即ちこ
れらの遷移金属元素はAl中に固溶した状態では
導電率および熱伝導率を低下させる。又これらの
元素はMnAl6、AlMnSi、CrAl7、ZrAl3、VAl10
などの化合物として微細な粒子状態としてマトリ
ツクスに分散しているときに最も耐熱性が高くな
る。 Mnが0.20%以下では上記のような耐熱性が有
効に得られず、一方1.0%以上となると粗大な
MnAl6粒子が生じて曲げ性を劣化する。 Crも0.10%以下では耐熱性に対する上記効果が
不充分であり、一方0.30%を超えると粗大な
CrAl7粒子が生じて曲げ性を劣化する。 Zrは、このもので上記のような耐熱性を得る
には0.05%以下では効果が乏しく、又0.25%以上
となると粗大なZrAl3粒子が生じて曲げ性を劣化
させるので、0.05〜0.25%とした。 Vは、0.05%以下では充分な耐熱性が得られ
ず、又0.20%以上では粗大なVAl10粒子が生じて
曲げ性を劣化する。 なお本発明によるものは上記成分以外に鋳造割
れ防止および結晶粒微細化のために一般的に添加
されているTi、Bの何れか一方又は双方を含有
させてもよい。特に本発明合金においてはこれら
の成分が前述した耐熱性向上元素の均一な分布を
図るという効果があり、それらの効果はTiが0.01
%未満、Bが0.001%未満では充分でなく、又Ti
が0.15%を超え、Bが0.01%を超えると、TiAl3、
TiB2、AlB2などの粗大粒子を生じ、曲げ性を害
するので、Ti:0.01〜0.15%およびB:0.001〜
0.01%が適当な添加範囲である。 又不純物としてFe≦0.3%、Zn≦0.3%の範囲で
あれば、本発明の特性を劣化させることがない。 本発明合金によるリードフレーム材の製造は、
通常のアルミニウム合金と同様に溶解され、前記
した結晶微細化剤のTiとBが溶解炉中、又は鋳
造機への溶湯移送樋中へ連続的に添加され、次い
で溶湯中の酸化物などの非金属介在物を除去すべ
く濾過され、最後にDC鋳造などの半連続鋳造法
や、ハンター鋳造法などの連続鋳造圧延によつて
鋳塊とされる。次いで鋳塊の均質化処理、熱間圧
延又は冷間圧延によつて所定の厚さの板とし、最
後に熱処理が施される。なお熱処理は圧延の中間
段階でも施されることがある。 本発明によるものの具体的な製造例について説
明すると以下の如くである。 次の第1表に示すような成分組成を有している
本発明1〜9および比較例A〜JのAl−Mg系の
合金を溶解鋳造して鋳塊となし、530℃で4時間
加熱した後、熱間圧延により5mm厚まで圧延し
た。このようにして得られた合金板は次いで0.5
mm厚さまで冷間圧延し、最後に150℃×1hrの安定
化焼鈍を行つた。
【表】
これらの板について、ハンダつけに相当した
275℃で30秒間の加熱をなしてから強度、硬さ、
90°曲げの繰返し曲げ性および導電率を測定した
結果は次の第2表の如くであり、前記繰返し曲げ
性の評価基準は上記のような275℃×30secの加熱
後に90°の繰返し曲げを3回以上行つても割れの
生じないものを良とし、割れの生じたものは不良
とした。総合評価については、強度、硬度、繰返
し曲げ性の全般について判断し評価した。
275℃で30秒間の加熱をなしてから強度、硬さ、
90°曲げの繰返し曲げ性および導電率を測定した
結果は次の第2表の如くであり、前記繰返し曲げ
性の評価基準は上記のような275℃×30secの加熱
後に90°の繰返し曲げを3回以上行つても割れの
生じないものを良とし、割れの生じたものは不良
とした。総合評価については、強度、硬度、繰返
し曲げ性の全般について判断し評価した。
【表】
又LED用リードフレームとして使用する場合、
該フレームは275℃×30secの加熱後の導電率が40
%IACS以下、好ましくは35%IACS以下であるこ
とが求められ、可視光線の全波長域に亘つて良好
な反射率が要求される。従来の銅合金材料や鉄系
材料で銅メツキの施されているものの場合、可視
光線の短波長側で反射率が劣り、そのため銀メツ
キが施されているが、上記のような本発明のもの
は良好な反射特性を有している。即ち0.38〜
0.77μmの波長範囲において普通仕上げ板で65〜
75%、光輝仕上げ板で75〜80%を得ることができ
る。 更に上記した製造例および比較例のものについ
てハンダづけの評価のために、ハンダとしてSn
−Pb系の共晶ハンダを用い、超音波ハンダ付け
およびフラツクスを用いたデイツプ式のハンダ付
けを行い、その評価をなした結果は第3表の如く
である。
該フレームは275℃×30secの加熱後の導電率が40
%IACS以下、好ましくは35%IACS以下であるこ
とが求められ、可視光線の全波長域に亘つて良好
な反射率が要求される。従来の銅合金材料や鉄系
材料で銅メツキの施されているものの場合、可視
光線の短波長側で反射率が劣り、そのため銀メツ
キが施されているが、上記のような本発明のもの
は良好な反射特性を有している。即ち0.38〜
0.77μmの波長範囲において普通仕上げ板で65〜
75%、光輝仕上げ板で75〜80%を得ることができ
る。 更に上記した製造例および比較例のものについ
てハンダづけの評価のために、ハンダとしてSn
−Pb系の共晶ハンダを用い、超音波ハンダ付け
およびフラツクスを用いたデイツプ式のハンダ付
けを行い、その評価をなした結果は第3表の如く
である。
【表】
【表】
「発明の効果」
以上説明したような本発明によれば、この種リ
ードフレームとして要求される耐熱性、特に強
度、硬度および曲げ性において好ましいバランス
を採つて安定状態に優れ、しかもハンダ付け性な
ども良好であるから工業的にその効果の大きい発
明である。
ードフレームとして要求される耐熱性、特に強
度、硬度および曲げ性において好ましいバランス
を採つて安定状態に優れ、しかもハンダ付け性な
ども良好であるから工業的にその効果の大きい発
明である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 Mg:3.0〜5.5wt% を含有し、しかも Mn:0.20〜1.0wt%、Cr:0.10〜0.30wt%、 Zr:0.05〜0.25wt%、V:0.05〜0.20wt% の中の何れか1種又は2種以上を添加し、残部が
Alと不可避的不純物より成ることを特徴とする
リードフレーム用アルミニウム合金。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23638185A JPS6296641A (ja) | 1985-10-24 | 1985-10-24 | リ−ドフレ−ム用アルミニウム合金 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23638185A JPS6296641A (ja) | 1985-10-24 | 1985-10-24 | リ−ドフレ−ム用アルミニウム合金 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6296641A JPS6296641A (ja) | 1987-05-06 |
JPH0571656B2 true JPH0571656B2 (ja) | 1993-10-07 |
Family
ID=16999942
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23638185A Granted JPS6296641A (ja) | 1985-10-24 | 1985-10-24 | リ−ドフレ−ム用アルミニウム合金 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6296641A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6362836A (ja) * | 1986-09-03 | 1988-03-19 | Sky Alum Co Ltd | 高強度耐熱性アルミニウム合金圧延板およびその製造方法 |
JPH0674479B2 (ja) * | 1986-10-09 | 1994-09-21 | スカイアルミニウム株式会社 | リードフレーム、コネクタもしくはスイッチ用導電圧延材料 |
JPH0717982B2 (ja) * | 1986-10-09 | 1995-03-01 | スカイアルミニウム株式会社 | リードフレーム、コネクタもしくはスイッチ用導電圧延材料 |
JP2538183Y2 (ja) * | 1991-02-20 | 1997-06-11 | ナイルス部品株式会社 | 車両用メッセージ装置 |
-
1985
- 1985-10-24 JP JP23638185A patent/JPS6296641A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6296641A (ja) | 1987-05-06 |
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