JPH0571136B2 - - Google Patents

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JPH0571136B2
JPH0571136B2 JP2756786A JP2756786A JPH0571136B2 JP H0571136 B2 JPH0571136 B2 JP H0571136B2 JP 2756786 A JP2756786 A JP 2756786A JP 2756786 A JP2756786 A JP 2756786A JP H0571136 B2 JPH0571136 B2 JP H0571136B2
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JP
Japan
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wafer
wafers
boat
chamber
main body
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JP2756786A
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Japanese (ja)
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JPS62185323A (en
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Hisanori Sato
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PLASMA SYSTEM
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  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、集積回路等の半導体の製造工程にお
いて、半導体ウエハー(以下、ウエハーという。)
に対しプラズマアツシング処理やプラズマエツチ
ング処理等を行うプラズマ処理装置に関し、更に
詳しくは、ウエハーをウエハーカセツトよりウエ
ハーボートに自動搬送移載する機構を備えた全自
動プラズマ処理装置に関するもので、本発明は、
このプラズマ処理装置の外、同様のウエハー熱処
理工程等のウエハー処理装置にも広く実施し得る
ものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention is applied to semiconductor wafers (hereinafter referred to as wafers) in the manufacturing process of semiconductors such as integrated circuits.
The present invention relates to a plasma processing apparatus that performs plasma ashing processing, plasma etching processing, etc., and more specifically relates to a fully automatic plasma processing apparatus equipped with a mechanism for automatically transferring wafers from a wafer cassette to a wafer boat. teeth,
In addition to this plasma processing apparatus, the present invention can be widely applied to wafer processing apparatuses such as similar wafer heat treatment processes.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、半導体の製造工程は、従来のウエツトプ
ロセス方式からドライプロセス方式へと転換して
きており、このドライプロセス方式の中でも、バ
レル型(円筒型チヤンバー)を用いたバツチ処理
方式は一度に多数枚のウエハーを同時処理できる
ことから重用されている。
In recent years, the semiconductor manufacturing process has shifted from the conventional wet process method to a dry process method. Among these dry process methods, the batch processing method using a barrel type (cylindrical chamber) is capable of processing a large number of semiconductors at once. It is widely used because it can process several wafers at the same time.

ところで、従来のバレル型プラズマ処理装置
は、処理室であるチヤンバーが1処理装置に1台
装備された構造であつた。
By the way, conventional barrel-type plasma processing apparatuses have a structure in which one chamber, which is a processing chamber, is provided in one processing apparatus.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

このため、生産量を増加させるためには、これ
ら処理装置を多数のクリーンルームに設置する必
要があつた。
Therefore, in order to increase production volume, it has been necessary to install these processing devices in a large number of clean rooms.

しかし、クリーンルームはその目的上、単位ス
ペース当りの建設費は非常に高価で、その高価な
クリーンルームのスペースを生産量増加のために
広げることは、製品のコストアツプの原因となつ
ており、また、装置の台数が増えることで作業者
を増員せねばならず、これも製品のコストアツプ
の一因となつているという問題点があつた。
However, due to its purpose, clean rooms are extremely expensive to construct per unit space, and expanding the expensive clean room space to increase production increases product costs. The problem was that as the number of machines increased, the number of workers had to be increased, which also caused an increase in the cost of the product.

また、バレル型プラズマ処理装置は多数枚のウ
エハーを同時処理できるという大きな利点がある
反面、この処理装置でウエハーのエツチング処理
を行うとウエハーに対するエツチングの均一性が
悪いという問題点があつた。最近の回路の高集積
度化に伴い益々微細パターンの形成が必要とさ
れ、バツチ処理方式の装置での均一性向上が望ま
れていた。
Furthermore, although the barrel type plasma processing apparatus has the great advantage of being able to simultaneously process a large number of wafers, it has the problem that when etching wafers with this processing apparatus, the uniformity of etching on the wafers is poor. With the recent increase in the degree of integration of circuits, it has become necessary to form increasingly finer patterns, and it has been desired to improve uniformity in batch processing type devices.

本発明は、このような従来の問題点に鑑みてな
されたもので、その目的とするところは、高価な
クリーンルームに占める処理装置の占有面積を増
大させずに、単位スペース当りの基板処理の生産
性を向上させる経済性に優れたプラズマ処理装置
を提供することにある。
The present invention was made in view of these conventional problems, and its purpose is to increase the production of substrate processing per unit space without increasing the area occupied by processing equipment in an expensive clean room. It is an object of the present invention to provide a plasma processing apparatus which is excellent in economical efficiency and improves performance.

また、本発明のもう一つの目的は、ウエハー処
理の均一性をより高め得て、歩留まりが良く、生
産性の高いプラズマ処理装置を提供することにあ
る。
Another object of the present invention is to provide a plasma processing apparatus that can further improve the uniformity of wafer processing, has a high yield, and is highly productive.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この目的を達成するため、本発明は、装置本体
内に上下2段に配設されたプラズマ処理室である
2つの横形管状チヤンバーと、前記装置本体に左
右および上下方向に往復動可能として設けられ、
該装置本体のステージ上に定置されたウエハーカ
セツトに収納されているウエハーを下方から押し
上げるプツシヤー機構と、該プツシヤー機構によ
り押し上げられたウエハーを適宜の間隔でクラン
プし、かつ前記プツシヤー機構と連動して前記本
体ステージ上のボートに移載するチヤージヤー機
構と、ウエハーが移載されたボートを水平にクラ
ンプして前記いずれかの横形管状チヤンバーの高
さまで引上げ、該横形管状チヤンバーの開閉蓋に
設けられているラツク上に定置し、またプラズマ
処理が終了して前記横形管状チヤンバー内より引
き出された前記ラツク上のボートを引き上げて再
び前記本体ステージ上の定位置に置くリフター機
構とを具備した構成を特徴とするものである。
In order to achieve this object, the present invention includes two horizontal tubular chambers, which are plasma processing chambers, arranged in upper and lower stages in the apparatus main body, and two horizontal tubular chambers, which are plasma processing chambers, arranged in the apparatus main body so as to be able to reciprocate in the horizontal and vertical directions. ,
A pusher mechanism that pushes up wafers stored in a wafer cassette fixedly placed on a stage of the apparatus main body from below; and a pusher mechanism that clamps the wafers pushed up by the pusher mechanism at appropriate intervals, and that operates in conjunction with the pusher mechanism. a charger mechanism for transferring the wafer to the boat on the main body stage; and a charger mechanism for horizontally clamping the boat on which the wafer has been transferred and lifting it up to the height of one of the horizontal tubular chambers; and a lifter mechanism that lifts up the boat on the rack that is pulled out from the horizontal tubular chamber after plasma processing is completed and places it again in the fixed position on the main body stage. That is.

〔作用〕[Effect]

上記のように構成されたプラズマ処理装置にお
いて、装置本体のステージ上のスタート位置に定
置のウエハーカセツトに収納のウエハーはプツシ
ヤー機構による押し上げを介してチヤンバー機構
にてクランプされて、プツシヤー機構と共にリフ
ト位置まで移動し、該位置に定置のボートにプツ
シヤー機構との連携動作によりクランプされてい
るウエハーが移載され、次いで、チヤジヤー機構
が待機位置まで移動し、待機する。
In the plasma processing apparatus configured as described above, the wafers stored in the wafer cassette fixed at the start position on the stage of the apparatus main body are pushed up by the pusher mechanism, clamped by the chamber mechanism, and moved together with the pusher mechanism to the lift position. The clamped wafer is transferred to a boat fixed at that position in cooperation with the pusher mechanism, and then the charger mechanism moves to a standby position and waits.

移載されたウエハーはボートと共にリフター機
構の作動を介して持ち上げられて上下2段に配設
の横形管状チヤンバーの開いている蓋のラツク上
に定置され、次いで、蓋が閉じられてチヤンバー
内でウエハーのプラズマ処理がなされる。
The transferred wafers are lifted together with the boat through the operation of the lifter mechanism and placed on the rack of the open lid of the horizontal tubular chamber arranged in upper and lower stages.Then, the lid is closed and the wafers are placed inside the chamber. The wafer is plasma treated.

処理が終了すると、蓋が開いてボートが引き出
され、前記と同じように処理済ウエハーはチヤン
バー内より自動搬出され、以下同様に2つのチヤ
ンバー内で交互にウエハーのプラズマ処理がなさ
れる。
When the processing is completed, the lid is opened and the boat is pulled out, and the processed wafers are automatically carried out from the chamber in the same manner as described above, and the wafers are then subjected to plasma processing alternately in the two chambers in the same manner.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に
説明する。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図は本発明装置の一例での概要を示す一部
切欠の正面図、第2図は側面図、第3図は平面図
で、本装置は本体1に設けられている半導体ウエ
ハー(以下、ウエハーという。)2のプラズマ処
理室であるそれぞれ独立構成された上下2段の横
形管状チヤンバー(以下、チヤンバーという。)
3と、本体ステージ4上に定置されたウエハーカ
セツト(以下、カセツトという。)5に収納のウ
エハー2を、下方よりステージ開口部6を介して
押し上げるプツシヤー機構7と、該プツシヤー機
構7によつて押し上げられたウエハー2をクラン
プしてステージ4上のウエハーボート(以下、ボ
ートという。)9に移載するチヤジヤー機構8と、
該チヤージヤー機構の移動機構10およびボート
9をチヤンバー3内に搬入し、またチヤンバー3
内より搬出するリフター機構11とを具備し、こ
れらは相互に連結されて構成されている。
Fig. 1 is a partially cutaway front view showing an outline of an example of the device of the present invention, Fig. 2 is a side view, and Fig. 3 is a plan view. (hereinafter referred to as wafer) 2 horizontal tubular chambers (hereinafter referred to as chambers) consisting of two independently configured horizontal tubular chambers (upper and lower).
3, a pusher mechanism 7 for pushing up the wafer 2 stored in a wafer cassette (hereinafter referred to as cassette) 5 placed on the main stage 4 from below through the stage opening 6; a charger mechanism 8 that clamps the pushed-up wafer 2 and transfers it to a wafer boat (hereinafter referred to as boat) 9 on the stage 4;
The moving mechanism 10 of the charger mechanism and the boat 9 are carried into the chamber 3, and the
It is equipped with a lifter mechanism 11 that carries out transport from the inside, and these are configured to be interconnected.

チヤンバー3は石英製であつて、上下2段に配
設されている。
The chamber 3 is made of quartz and is arranged in two stages, upper and lower.

各チヤンバー3は自動制御される前面開閉蓋を
備え、その内側には、ボート9をチヤンバー内周
壁と非接触状態で載置するためのラツク12が設
けられ、開閉蓋の閉動作によりウエハー2がチヤ
ンバー3内に挿入されてプラズマ処理がなされ、
また開閉蓋の開動作により処理済ウエハーがチヤ
ンバー3内より引き出されるようになつている。
Each chamber 3 is equipped with an automatically controlled front opening/closing lid, and a rack 12 is provided inside the chamber 3 for placing the boat 9 in a non-contact state with the inner circumferential wall of the chamber. It is inserted into the chamber 3 and subjected to plasma treatment,
Further, the processed wafer is pulled out from the chamber 3 by the opening operation of the opening/closing lid.

第1図に示すように、クランプ機構8はプツシ
ヤー機構7の上部に位置して設けられると共に、
両機構は相互に連結されて、数字400で示す実線
矢印方向に往復動可能となつている。
As shown in FIG. 1, the clamp mechanism 8 is located above the pusher mechanism 7, and
Both mechanisms are interconnected and can reciprocate in the direction of the solid arrow indicated by the number 400.

プツシヤー機構7は第1図および第4図A,B
に示すように、左右一対の2組としたプツシヤー
13,13′とこれの昇降機構を含み、プツシヤ
ー13,13′はその上面径方向に多数のウエハ
ー係止スリツト14,14′を有し、左右2本1
組としたポール15,15′の上端に水平に取り
付けられている。
The pusher mechanism 7 is shown in Fig. 1 and Fig. 4 A, B.
As shown in FIG. 1, the pushers 13, 13' include two pairs of left and right pushers 13, 13' and an elevating mechanism thereof, and the pushers 13, 13' have a large number of wafer retaining slits 14, 14' in the radial direction of their upper surfaces. 2 left and right 1
It is horizontally attached to the upper end of the set of poles 15, 15'.

ポール15,15′の下端はベース16に取り
付けられ、ベース16の中心部位にはネジ軸受1
7が設けられると共に、この軸受17を挿通して
1本のネジ杆18が立設されている。ネジ杆18
の上端にはエンコーダ19が設けられており、ま
た下端にはネジ杆18を回転させるためのモータ
20が取り付けられ、このモータ20の正逆回転
によるネジ杆18とネジ軸受17とのネジ運動に
よつてベース16と一体にポール15,15′を
介してプツシヤー13,13′が第1図に数字401
で示す実線矢印方向に上昇(または下降)するよ
うになつている。
The lower ends of the poles 15, 15' are attached to a base 16, and a screw bearing 1 is mounted at the center of the base 16.
7 is provided, and one threaded rod 18 is erected through the bearing 17. screw rod 18
An encoder 19 is provided at the upper end, and a motor 20 for rotating the threaded rod 18 is attached to the lower end. Therefore, the pushers 13, 13' are integrated with the base 16 through the poles 15, 15', and are designated by the number 401 in FIG.
It is designed to rise (or fall) in the direction of the solid arrow shown by.

プツシヤー機構7と連結され、これによつて押
し上げられたウエハー2を適宜の間隔毎にクラン
プするチヤジヤー機構8は第4図Bから第8図に
例示するように、ウエハーハンガー21,21′、
ウエハーストツパー22,22およびこのストツ
パー22,22′の駆動手段を含んでいる。
The charger mechanism 8, which is connected to the pusher mechanism 7 and clamps the wafers 2 pushed up by the pusher mechanism 7 at appropriate intervals, includes wafer hangers 21, 21', and wafer hangers 21, 21', as illustrated in FIGS.
It includes wafer stoppers 22, 22 and driving means for the wafer stops 22, 22'.

ウエハーハンガー21,21′は左右一対であ
つて、それぞれのやや下部長手方向には、ウエハ
ーストツパー22,22′が出没するための横長
孔23,23′が所要の幅をもつて貫設されると
共に、それぞれの対向する内側面の縦方向にはウ
エハー2(または処理済ウエハー2′)を係止す
るスリツト24,24′が等間隔で多数設けられ、
このウエハーハンガー21,21′は前記プツシ
ヤー13,13′と対応させてその下方に配設さ
れると共に、ベースプレート25にネジ着固定さ
れている。
The wafer hangers 21, 21' are a pair of left and right, and in the slightly lower longitudinal direction of each are horizontally elongated holes 23, 23' with a required width for the wafer stoppers 22, 22' to enter and retract. At the same time, a large number of slits 24, 24' for locking the wafer 2 (or the processed wafer 2') are provided at equal intervals in the vertical direction of each opposing inner surface.
The wafer hangers 21, 21' are disposed below the pushers 13, 13', and are screwed to the base plate 25.

ウエハーハンガー21,21′の外側には、両
端に後述の横杆にネジ着固定するためのアーム部
27,27′を有し、かつこれらアーム部27,
27′の下部間に平板部28,28′を一体に有す
る左右一対のアーム26,26′が配設されると
共に、平板部28,28′の下端には帯板状のウ
エハーストツパー22,22′がそのウエハーガ
イド面を有した先端部をウエハーハンガー21,
21′の横長孔23,23′から内側に臨ませた状
態で直交状に固着されている。
On the outside of the wafer hangers 21, 21', arm parts 27, 27' are provided at both ends for screwing and fixing to horizontal rods, which will be described later.
A pair of left and right arms 26, 26' integrally having flat plate parts 28, 28' are disposed between the lower parts of the wafer stoppers 27', and a band-like wafer stopper 22, 22' connects the tip end with the wafer guide surface to the wafer hanger 21,
They are fixed in a perpendicular manner so as to face inward from the horizontally elongated holes 23, 23' of 21'.

対向せるウエハーストツパー22,22′の先
端部には、第8図に示すように、その長手方向に
亘つてウエハー2,2′の1ピツチ分ずつずらし
てスリツト29,29′が設けられている。
As shown in FIG. 8, slits 29 and 29' are provided at the tips of the opposing wafer stoppers 22 and 22' at intervals of one pitch between the wafers 2 and 2' in the longitudinal direction. There is.

すなわち、左側のウエハーストツパー22のス
リツト29と右側のウエハーストツパー22′の
スリツト29′とは互いにウエハー2,2′の1ピ
ツチ分ずつずらして設けられ、かつ各スリツト2
9,29′はウエハーハンガー21,21′のスリ
ツト24,24′に対応してウエハー2,2′の1
ピツチ分ずつずらして設けられ、これによりプツ
シヤー13,13′にて押し上げられたウエハー
のうち1枚間隔でウエハーを左側のウエハーハン
ガー21と右側のウエハーストツパー22′(ま
たは右側のウエハーハンガー21′と左側のウエ
ハーストツパー22)とでクランプできるように
なつている。
That is, the slits 29 of the left wafer stopper 22 and the slits 29' of the right wafer stopper 22' are offset from each other by one pitch of the wafers 2, 2', and each slit 2
9, 29' correspond to the slits 24, 24' of the wafer hangers 21, 21', and 1 of the wafers 2, 2'.
The wafers pushed up by the pushers 13 and 13' are arranged at intervals of one wafer between the left wafer hanger 21 and the right wafer stopper 22' (or the right wafer hanger 21'). It can be clamped with the wafer stopper 22) on the left side.

第5図および第6図に示すように、一対のアー
ム26,26′は、その両端アーム部27,27,
27′,27′がプレート25に軸支された一対の
横杆30,30′にネジ着されることによつて垂
下固定されている。横杆30,30′の端部はベ
アリング31,31′を介してプレート25の外
方に延びると共に、プレート25にブラケツト3
2,32′を介して固着した軸受33,33′に回
動可能として支承されている。
As shown in FIGS. 5 and 6, the pair of arms 26, 26' has arm portions 27, 27,
27', 27' are fixedly suspended by being screwed to a pair of horizontal rods 30, 30' which are pivotally supported by the plate 25. The ends of the transverse rods 30, 30' extend outward from the plate 25 via bearings 31, 31', and the brackets 3 are attached to the plate 25.
It is rotatably supported by fixed bearings 33, 33' via 2, 32'.

横杆30,30′におけるプレート25と軸受
33,33′間の杆部には、左右一対のクランク
34,34′が対向して固着されると共に、クラ
ンク34,34′の自由端は、プレート25にそ
れぞれ取り付けられたシリンダ35,35′と連
結され、このシリンダ35,35′の駆動による
クランク34,34′の可動を介して左右の横杆
30,30′が第5図に数字402で示す実線矢印方
向に回動すると共に、この横杆30,30′に固
着のアーム26,26′と一体にウエハーストツ
パー22,22′が第7図に数字403で示す実線矢
印方向に揺動して、平面的に説明した第8図に数
字404で示す実線矢印方向に可動し、ウエハー2,
2′をクランプし、またその解除を行うようにな
つている。
A pair of left and right cranks 34, 34' are fixed to the rod portions of the horizontal rods 30, 30' between the plate 25 and the bearings 33, 33' facing each other, and the free ends of the cranks 34, 34' are connected to the plates. The left and right horizontal rods 30, 30' are connected to the cylinders 35, 35' attached to the cylinders 25, 35', respectively, and the left and right horizontal rods 30, 30' are connected to the cylinders 35, 35' attached to the cylinders 35, 35', respectively. At the same time, the wafer stopper 22, 22' swings in the direction of the solid line arrow shown by the numeral 403 in FIG. The wafers 2 and 2 move in the direction of the solid arrow shown by the number 404 in FIG.
2' is clamped and released.

なお、シリンダ35,35′の駆動はセンサー
(図示しない。)による感知手段によつて自動制御
される。
Incidentally, the driving of the cylinders 35, 35' is automatically controlled by a sensing means including a sensor (not shown).

前記したように、チヤージヤー機構8とプツシ
ヤー機構7は上下に連結され、第1図に数字400
で示す実線矢印方向に往復動するが、その移動機
構10の一例としてベルト駆動方式が用いられて
いる。
As mentioned above, the charger mechanism 8 and the pusher mechanism 7 are connected vertically, and are indicated by the number 400 in FIG.
The moving mechanism 10 is reciprocated in the direction shown by the solid line arrow, and a belt drive system is used as an example of the moving mechanism 10.

すなわち、第4図Aおよび第9図に示すよう
に、プツシヤー機構7におけるプレート36と、
本体プレート37の外側においてチヤージヤー機
構8におけるベースプレート25と連結のプレー
ト38に固定したプレート39は、本体プレート
37に開口した上下2本の横長孔40を挿通して
固着された4本の支柱41によつて相互に連結さ
れている。
That is, as shown in FIGS. 4A and 9, the plate 36 in the pusher mechanism 7,
A plate 39 fixed to a plate 38 connected to the base plate 25 of the charger mechanism 8 on the outside of the main body plate 37 is inserted through two upper and lower horizontally elongated holes 40 opened in the main body plate 37 and attached to four pillars 41 fixed thereto. Therefore, they are interconnected.

第9図に示すように、プレート39の内側面の
上下左右には4個のガイドブロツク42が固定さ
れ、これらブロツク42はそのコ字形溝43が本
体プレート37に固定の上下2本のガイドレール
44に摺動自在として係合しており、プレート3
9がブロツク42の摺動を介して左右方向に往復
動することにより、プレート39を介して相互に
連結されているプツシヤー機構7とチヤージヤー
機構8が共に往復動するようになつている。
As shown in FIG. 9, four guide blocks 42 are fixed to the upper, lower, left and right sides of the inner surface of the plate 39, and the U-shaped grooves 43 of these blocks 42 are connected to two upper and lower guide rails fixed to the main body plate 37. 44, and is slidably engaged with the plate 3.
When the pusher mechanism 7 and the charger mechanism 8, which are connected to each other via the plate 39, reciprocate in the left and right direction through the sliding movement of the block 42, the pusher mechanism 7 and the charger mechanism 8 reciprocate together.

第1図、第4図Aおよび第9図に示すように、
プレート39の下端中間部位にはプレート39等
を可動させるための無端ベルト45が2枚の取付
板46,47によつて一体的に取り付けられてい
る。ベルト45は第10図に示すように、その内
側面縦方向に歯部48を有し、このベルト45は
歯部48と噛合する歯部50を有する一対のプー
リ49間に懸架され、一方のプーリ49に連結さ
れたモータ51の正(または逆)回転力を受けて
プーリ49が正(または逆)回転し、これにより
ベルト45と共にプレート39が可動するように
なつており、モータ51の駆動は他方のプーリ4
9に直結されたエンコーダ52(第1図参照)お
よびセンサー(図示しない。)による感知手段に
よつて自動制御される。
As shown in FIG. 1, FIG. 4A, and FIG. 9,
An endless belt 45 for moving the plate 39 and the like is integrally attached to an intermediate portion of the lower end of the plate 39 by two mounting plates 46 and 47. As shown in FIG. 10, the belt 45 has teeth 48 on its inner surface in the longitudinal direction, and the belt 45 is suspended between a pair of pulleys 49 having teeth 50 that mesh with the teeth 48. The pulley 49 rotates forward (or reverse) in response to the forward (or reverse) rotational force of the motor 51 connected to the pulley 49, which causes the plate 39 to move together with the belt 45, thereby driving the motor 51. is the other pulley 4
9 is automatically controlled by sensing means including an encoder 52 (see FIG. 1) and a sensor (not shown), which are directly connected to the encoder 52 (see FIG. 1).

チヤージヤー機構8によりクランプされた所定
間隔毎のウエハー2はステージ4上の開口部75
を跨いでステージ4上に定置されているウエハー
ボート9に移載され、このボート9はリフター機
構11によつてチヤンバー3内に自動搬入され
る。
The wafers 2 clamped at predetermined intervals by the charger mechanism 8 are placed in an opening 75 on the stage 4.
The wafer is transferred to a wafer boat 9 fixedly placed on the stage 4, and this boat 9 is automatically carried into the chamber 3 by a lifter mechanism 11.

リフター機構11は公知の構造であつて、その
概要が第1図に示してある。
The lifter mechanism 11 has a known structure, and its outline is shown in FIG.

同図において、本体1におけるリフターベース
53の両側縦方向に相対向する一対のガイドレー
ル54が固定され、このレール54の下端は本体
ステージ4の下方に延び、上端は上方のチヤンバ
ー3のやや上部まで延びている。
In the figure, a pair of guide rails 54 are fixed on both sides of the lifter base 53 in the main body 1 and are opposed to each other in the vertical direction.The lower ends of these rails 54 extend below the main stage 4, and the upper ends are slightly above the upper chamber 3 It extends to

本体ステージ4の下方に位置した左右のガイド
レール54,54間にはシヤフト55を介して大
小2つのプーリ56,57が回転自在として設け
られ、またガイドレール54の上端間にも小プー
リ57に対応したプーリ58がシヤフト59を介
して回転自在に軸支され、これら上下のプーリ5
8,57間には無端ベルト60が懸架されてい
る。
Two large and small pulleys 56 and 57 are rotatably provided between the left and right guide rails 54 and 54 located below the main stage 4 via a shaft 55, and a small pulley 57 is also provided between the upper ends of the guide rails 54. A corresponding pulley 58 is rotatably supported via a shaft 59, and these upper and lower pulleys 58
An endless belt 60 is suspended between 8 and 57.

ガイドレール54の下方には取付板(図示しな
い。)を介してモータ61が設けられると共に、
このモータ61と直結のプーリ62と大プーリ5
6間に無端ベルト63が懸架され、モータ61の
正(または逆)回転力がベルト60に伝達されて
上動(または下動)するようになつている。
A motor 61 is provided below the guide rail 54 via a mounting plate (not shown), and
A pulley 62 and a large pulley 5 directly connected to this motor 61
An endless belt 63 is suspended between the belts 6 and 6, and the forward (or reverse) rotational force of the motor 61 is transmitted to the belt 60 to move it upward (or downward).

なお、ベルト60,63は前記ベルト45と同
一構造であり、またプーリ56,57,58,6
2は前記プーリ49と同一構造である。
The belts 60, 63 have the same structure as the belt 45, and the pulleys 56, 57, 58, 6
2 has the same structure as the pulley 49.

ベルト60の外側面にはハンガー取付板64が
固定され、この取付板64はその内側溝が両ガイ
ドレール54と係合し、ベルト60の上下動に伴
いこれと一体的にレール54をガイドとして第1
図に数字406で示す実線矢印方向にハンガー取付
板64が上下動するようになつている。
A hanger mounting plate 64 is fixed to the outer surface of the belt 60, and the inner groove of this mounting plate 64 engages with both guide rails 54, and as the belt 60 moves up and down, it integrally functions with the rails 54 as a guide. 1st
The hanger mounting plate 64 is designed to move up and down in the direction of the solid arrow indicated by the number 406 in the figure.

ハンガー取付板64には、左右一対のアーム6
6(第1図では一方のアーム66のみを示し、他
方は省略してある。)を有するハンガー65が取
り付けられ、この左右のアーム66でボート9を
水平に支持し、ベルト駆動を介しての上昇によつ
てチヤンバー蓋のラツク12上にボートを定置
し、またラツク12上よりボート9を水平に支持
し、ベルト駆動を介しての下降によりステージ4
上にボート9を定置するようになつている。
A pair of left and right arms 6 are attached to the hanger mounting plate 64.
6 (only one arm 66 is shown and the other is omitted in FIG. 1), the left and right arms 66 horizontally support the boat 9, and the boat 9 is horizontally supported by a belt drive. The boat is placed on the rack 12 of the chamber lid by rising, and the boat 9 is horizontally supported from above the rack 12, and the stage 4 is lowered by lowering via a belt drive.
A boat 9 is placed on top.

以上説明した本実施例の動作は次のとおりであ
る。
The operation of this embodiment described above is as follows.

プラズマ処理を施すウエハー2を並べ収納した
ウエハーカセツト5を本体ステージ4における開
口部6を跨いで定置しセツトする。
A wafer cassette 5 in which wafers 2 to be subjected to plasma processing are arranged is placed and set across the opening 6 in the main stage 4.

この時、プツシヤー13,13′はステージ開
口部6の真下に位置している。この状態は第1図
に示してある。
At this time, the pushers 13, 13' are located directly below the stage opening 6. This situation is shown in FIG.

この状態においてモータ20、エンコーダ19
等に通電されると、モータ20の正回転によるネ
ジ杆18とネジ軸受17とのネジ運動によつてポ
ール15,15′に固定のプツシヤー13,1
3′が開口部6を通つてそのスリツト14,1
4′にウエハー2の部分を係止した状態でウエハ
ーハンガー21,21′がクランプできる高さま
で押し上げ上昇する。
In this state, the motor 20 and encoder 19
When energized, the pushers 13, 1 fixed to the poles 15, 15' are caused by the screw movement of the screw rod 18 and the screw bearing 17 due to the forward rotation of the motor 20.
3' through the opening 6 and its slit 14,1.
The wafer hangers 21, 21' are pushed up and raised to a height where they can be clamped while the wafer 2 is held on the wafer 4'.

すると、ウエハーハンガー21,21′がその
シリンダ35,35′の駆動によつて押し上げら
れたウエハー2をクランプする。
Then, the wafer hangers 21, 21' clamp the wafer 2 pushed up by the driving of the cylinders 35, 35'.

次いで、プツシヤー13,13′はモータ20
の逆回転を受けてステージ開口部6より下降して
最初の位置にて停止すると共に、モータ51の正
回転によるベルト45の駆動と共にこれとプレー
ト39を介して連結されているプツシヤー機構7
とウエハー2をクランプしているチヤージヤー機
構8がガイドレール44に沿つて第1図に示すウ
エハー2をボート9に移載する位置(リフト位
置)まで移動する。
Next, the pushers 13, 13' are connected to the motor 20.
The pusher mechanism 7 descends from the stage opening 6 and stops at the initial position in response to the reverse rotation of the motor 51, and the belt 45 is driven by the forward rotation of the motor 51, and the pusher mechanism 7 is connected to the belt 45 via the plate 39.
The charger mechanism 8 that clamps the wafer 2 moves along the guide rail 44 to a position (lift position) where the wafer 2 is transferred to the boat 9 shown in FIG.

リフト位置にはそのステージ開口部6を跨いで
ボート9が定置されている。
A boat 9 is placed at the lift position, straddling the stage opening 6.

ウエハー2がクランプされた状態でリフト位置
に達すると、プツシヤー機構7におけるプツシヤ
ー13,13′が開口部6を介して上昇し、クラ
ンプされているウエハー2をそのスリツト14,
14′により係止して支持する。
When the wafer 2 reaches the lift position in a clamped state, the pushers 13, 13' in the pusher mechanism 7 rise through the opening 6 and lift the clamped wafer 2 through its slit 14,
It is locked and supported by 14'.

ウエハー2がプツシヤー13,13′により支
持され、かつクランプが解除されると、プツシヤ
ー13,13′は再び降下し、ウエハー2がボー
ト9に収納される。
When the wafer 2 is supported by the pushers 13, 13' and the clamps are released, the pushers 13, 13' are lowered again and the wafer 2 is stored in the boat 9.

次いで、チヤジヤー機構8はプツシヤー機構7
と共に待機位置まで移動し、待機する。
Next, the charge mechanism 8 is connected to the pusher mechanism 7.
move to the standby position and wait.

次いで、リフター機構11によりボート9をチ
ヤンバー3のやや上方まで引き上げる。
Next, the boat 9 is lifted up slightly above the chamber 3 by the lifter mechanism 11.

すなわち、モータ61の回転によるベルト60
の駆動によつて、これと一体的のハンガー65が
下降してその左右一対のアーム66でボート9を
水平にクランプ支持し、次いで、モータ61、ベ
ルト60等の逆駆動によつてボート9を支持した
チヤンバー3のやや上方まで上昇する。
That is, the belt 60 due to the rotation of the motor 61
When the hanger 65 is driven, the hanger 65 integrated with the hanger 65 is lowered to horizontally clamp and support the boat 9 with its left and right arms 66, and then the boat 9 is moved by the reverse drive of the motor 61, belt 60, etc. It rises to slightly above Chamber 3, which supported it.

ハンガー65が上昇し停止すると、上部(また
は下部)のチヤンバー3の蓋が開いてこれと共に
ラツク12がチヤンバー3内より引き出されると
共に、ハンガー65が下降してラツク12上にボ
ート9を定置し、次いで、再び元位置まで上昇
し、待機する。
When the hanger 65 rises and stops, the lid of the upper (or lower) chamber 3 is opened and the rack 12 is pulled out from inside the chamber 3, and the hanger 65 is lowered to position the boat 9 on the rack 12. Then, it rises again to its original position and waits.

すると、開いていたチヤンバー蓋は閉じられ、
チヤンバー3内が十分な真空状態になると、処理
ガスが導入されてウエハー2に対するプラズマ処
理がなされる。ウエハーのプラズマ処理が終了す
ると、チヤンバー3の蓋が開き、ラツク12上の
ボートが引き出される。すると、ハンガー65が
下降して処理済ウエハー2′が収納されているボ
ート9を支持して上昇し、開いていたチヤンバー
3の蓋が閉じた後再び下降してリフター位置にボ
ート9を定置し、次いで、チヤージヤー機構8に
干渉しない位置まで上昇し、待機する。次いで、
プツシヤー機構7とチヤージヤー機構8が共に待
機位置からリフト位置まで移動して停止すると、
プツシヤー13,13′が上昇し、ボート9上の
処理済ウエハー2′をそのスリツト14,14′で
支持してウエハーハンガー21,21′がクラン
プできる高さまで押し上げる。
Then, the open chamber lid was closed,
When the inside of the chamber 3 reaches a sufficient vacuum state, a processing gas is introduced and the wafer 2 is subjected to plasma processing. When the plasma processing of the wafer is completed, the lid of the chamber 3 is opened and the boat on the rack 12 is pulled out. Then, the hanger 65 descends and rises to support the boat 9 containing the processed wafers 2', and after the open lid of the chamber 3 is closed, it descends again and fixes the boat 9 at the lifter position. Then, it rises to a position where it does not interfere with the charger mechanism 8 and waits. Then,
When the pusher mechanism 7 and the charger mechanism 8 both move from the standby position to the lift position and stop,
The pushers 13, 13' rise, support the processed wafers 2' on the boat 9 with their slits 14, 14', and push them up to a height where the wafer hangers 21, 21' can clamp them.

次いで、左右一対のウエハーハンガー21,2
1′が押し上げられたウエハー2′をクランプする
と、プツシヤー13,13′は再び元位置まで下
降し、プツシヤー機構7と共にウエハー2でクラ
ンプしたままチヤージヤー機構8は元の待機位置
に移動して停止する。
Next, a pair of left and right wafer hangers 21, 2
When the wafer 1' clamps the pushed up wafer 2', the pushers 13, 13' descend again to their original positions, and the charger mechanism 8 moves to the original standby position and stops while still clamping the wafer 2 together with the pusher mechanism 7. .

待機位置に停止すると、プツシヤー13,1
3′が上昇し、クランプされているウエハー2′を
そのスリツト14,14′で支えたまま降下して
カセツト5にウエハー2′を収納する。処理済ウ
エハー2′が収納されたカセツト5は次の工程の
ため移動され、空のカセツト5が再び定置され、
以下同様に前記一連の動作が繰り返されて上下2
つのチヤンバー3内で交互にウエハーの全自動に
よるプラズマ処理がなされる。
When it stops at the standby position, the pusher 13,1
3' rises and descends while supporting the clamped wafer 2' with its slits 14, 14' to store the wafer 2' in the cassette 5. The cassette 5 containing the processed wafers 2' is moved for the next process, and the empty cassette 5 is placed again.
Below, the above series of operations is repeated in the same way, and the upper and lower 2
Fully automatic plasma processing of wafers is performed alternately within the two chambers 3.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

しかして、本発明によれば、ウエハー処理チヤ
ンバーの上下2段搭載構造としたから、クリーン
ルームの占有面積を増大させずに、単位スペース
当りのウエハー処理量をほぼ倍増することがで
き、ウエハーの生産コストを引き下げることがで
きる。
However, according to the present invention, since the wafer processing chamber is mounted in two stages, upper and lower, it is possible to almost double the amount of wafers processed per unit space without increasing the area occupied by the clean room. Costs can be reduced.

また、1人の作業者が複数の処理装置を操作す
ることが容易となり、人員の増加を抑制できるの
で、この面からも半導体ウエハーの生産コストを
引き下げることができる。
Further, it becomes easier for one worker to operate a plurality of processing devices, and an increase in the number of personnel can be suppressed, so that the production cost of semiconductor wafers can be reduced from this point of view as well.

また、1台の処理装置に2台のウエハー処理チ
ヤンバーを搭載したことで、1チヤンバーの装置
を2台製作する場合に比し装置の原価を節減でき
る。
Furthermore, by installing two wafer processing chambers in one processing apparatus, the cost of the apparatus can be reduced compared to the case where two apparatuses each having one chamber are manufactured.

更にまた、クリーンルームは上方ほど清浄度が
高いので、チヤンバーを2段構造としたことで、
上段のチヤンバーのウエハー生産歩留を向上する
ことができる。
Furthermore, since cleanliness is higher in the upper part of a clean room, we designed the chamber to have a two-tiered structure.
The wafer production yield of the upper chamber can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明装置の概要を示す一部切欠の正
面図、第2図は側面図、第3図は平面図、第4図
はAは一部を断面して示すプツシヤー機構部分の
側面図、第4図Bは一部を断面して示すチヤージ
ヤー機構部分の側面図、第5図はチヤージヤー機
構の一例での一部断面の側面図、第6図は同上一
部省略の平面図、第7図は第6図の100−10
0線に沿つた断面図、第8図はウエハーガイド板
とストツパーとの関係を示す平面的説明図、第9
図はプツシヤー機構とチヤージヤー機構を左右方
向に往復動させるための機構を示す一部省略の斜
視図、第10図はベルトとプーリとの関係を示す
一部省略の斜視図である。 1……装置本体、2,2′……ウエハー、3…
…横形管状チヤンバー、4……本体ステージ、5
……ウエハー収納カセツト、7……プツシヤー機
構、8……チヤージヤー機構、9……ウエハーボ
ート、10……移動機構、11……リフター機
構、12……ラツク、13,13′……プツシヤ
ー。
Fig. 1 is a partially cutaway front view showing an overview of the device of the present invention, Fig. 2 is a side view, Fig. 3 is a plan view, and Fig. 4 is a side view of the pusher mechanism section with A partially shown in cross section. FIG. 4B is a side view of the charger mechanism part shown partially in section, FIG. 5 is a partially sectional side view of an example of the charger mechanism, and FIG. 6 is a partially omitted plan view of the same as above. Figure 7 is 100-10 of Figure 6.
8 is a cross-sectional view taken along line 0, FIG. 8 is a plan view showing the relationship between the wafer guide plate and the stopper, and FIG.
The figure is a partially omitted perspective view showing a mechanism for reciprocating the pusher mechanism and charger mechanism in the left-right direction, and FIG. 10 is a partially omitted perspective view showing the relationship between the belt and the pulley. 1...Device main body, 2, 2'...Wafer, 3...
...Horizontal tubular chamber, 4...Main stage, 5
... Wafer storage cassette, 7 ... Pusher mechanism, 8 ... Charger mechanism, 9 ... Wafer boat, 10 ... Moving mechanism, 11 ... Lifter mechanism, 12 ... Rack, 13, 13' ... Pusher.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 装置本体1内に上下2段に配設されたプラズ
マ処理室である2つの横形管状チヤンバー3と、
前記装置本体1に左右および上下方向に往復動可
能として設けられ、該装置本体1のステージ4上
に定置されたウエハーカセツト5に収納されてい
るウエハー2を下方から押し上げるプツシヤー機
構7と、 該プツシヤー機構7により押し上げられたウエ
ハー2を適宜の間隔でクランプし、かつ前記プツ
シヤー機構7と連動して前記本体ステージ4上の
ボート9に移載するチヤージヤー機構8と、 ウエハー2が移載されたボート9を水平にクラ
ンプして前記いずれかの横形管状チヤンバー3の
高さまで引上げ、該横形管状チヤンバー3の開閉
蓋に設けられているラツク12上に定置し、また
プラズマ処理が終了して前記横形管状チヤンバー
3内より引き出された前記ラツク12上のボート
9を引き上げて再び前記本体ステージ4上の定位
置に置くリフター機構11とを具備した構成を特
徴とする半導体ウエハーのプラズマ処理装置。
[Claims] 1. Two horizontal tubular chambers 3, which are plasma processing chambers, arranged in upper and lower stages in the apparatus main body 1,
a pusher mechanism 7 which is provided on the apparatus main body 1 so as to be capable of reciprocating in the horizontal and vertical directions and pushes up from below the wafers 2 stored in the wafer cassette 5 fixed on the stage 4 of the apparatus main body 1; A charger mechanism 8 that clamps the wafers 2 pushed up by the mechanism 7 at appropriate intervals and transfers them to the boat 9 on the main body stage 4 in conjunction with the pusher mechanism 7; and a boat on which the wafers 2 are transferred. 9 horizontally and pulled up to the height of any of the horizontal tubular chambers 3, and placed on the rack 12 provided on the opening/closing lid of the horizontal tubular chamber 3, and after the plasma treatment is completed, the horizontal tubular A plasma processing apparatus for semiconductor wafers, comprising a lifter mechanism 11 that lifts the boat 9 on the rack 12 pulled out from inside the chamber 3 and places it again in a fixed position on the main stage 4.
JP2756786A 1986-02-10 1986-02-10 Plasma treatment device for semiconductor wafer Granted JPS62185323A (en)

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