JPH056914A - 半導体装置の樹脂封止装置およびその樹脂封止方法 - Google Patents

半導体装置の樹脂封止装置およびその樹脂封止方法

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JPH056914A
JPH056914A JP15634991A JP15634991A JPH056914A JP H056914 A JPH056914 A JP H056914A JP 15634991 A JP15634991 A JP 15634991A JP 15634991 A JP15634991 A JP 15634991A JP H056914 A JPH056914 A JP H056914A
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Hirotaka Sato
裕孝 佐藤
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Fujitsu Ltd
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    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/26Moulds
    • B29C45/27Sprue channels ; Runner channels or runner nozzles
    • B29C45/2701Details not specific to hot or cold runner channels
    • B29C45/2703Means for controlling the runner flow, e.g. runner switches, adjustable runners or gates
    • B29C45/2704Controlling the filling rates or the filling times of two or more mould cavities by controlling the cross section or the length of the runners or the gates
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
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    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
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  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、金型による量産をおこなっても、ポ
ット3からキャビティ8までの距離によらず均一な樹脂
封止を行い、かつ、半導体装置の大きさによらず実施可
能な半導体装置の樹脂封止装置及びその樹脂封止法を提
供することを目的とする。 【構成】金型による量産を行う半導体の樹脂封止装置で
あって、下金型2の上面に主ランナー4が形成され、上
金型の下面に副ランナー6が形成され、主ランナー4と
副ランナー6が接する部分の副ランナー6側に、ポット
3からそれぞれのキャビティ8までの距離が遠いものほ
ど、樹脂の流入抵抗を小さくされた結合部5が形成され
ている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の樹脂封止
装置およびその樹脂封止方法に関する。半導体装置の樹
脂封止は半導体チップの保護を目的に行われ、衝撃や水
分等の外部の環境から半導体チップを保護する役割を果
たしている。このため、樹脂封止の工程は樹脂封止型半
導体装置の製造において重要な位置をしめている。
【0002】半導体装置の使用は多岐にわたっており多
くの量が必要とされ、また、低価格化のためもあり、金
型によって量産されてきた。しかし、樹脂の注入圧力や
注入時間といった樹脂の注入状態のバラツキがあり、不
良品が発生する問題を抱えていた。このため、大量に品
質の安定した半導体装置の樹脂封止が可能な金型が要求
されている。
【0003】
【従来の技術】図6に示すように、従来の樹脂封止型半
導体装置(以降ICという)の製造に用いるトランスフ
ァーモールド装置の金型は、樹脂の供給をするポット3
から複数のランナー4(以降主ランナーという)が延
び、その各々の主ランナー4からゲート7につながるラ
ンナー6(以降副ランナーいう)が複数分岐し、副ラン
ナー6にゲート7を介してキャビティ8がつながる構造
をしており、樹脂がポット3からこの主ランナー4、副
ランナー6を通り、ゲート7を通してキャビティ8へ流
れ込むようになっていた(以降従来例Aという)。
【0004】この金型は多数のICの樹脂封止ができる
という利点があるため広く使われている。しかし、ポッ
ト3から近い順にキャビティ8に樹脂が流れ込むため、
ポット3から遠くなるほどキャビティ8への樹脂の注入
圧力が下がったり、注入時間が短くなる等(以降注入圧
力や注入時間のことを樹脂の注入状態、それらが下がっ
たり短くなることを低下という)が起こり、このため、
ポット3からキャビティ8までの距離によって樹脂の注
入状態は異なり、品質が不均一になっていた。このた
め、最良なICの樹脂封止を行うための、ポット3から
主ランナー4への樹脂供給のときの樹脂の注入圧力や注
入時間、また、主ランナー4や副ランナー6の幅など
(以降樹脂の注入条件という)の設定は各キャビティ8
によって異なるため、各キャビティ8におけるICの樹
脂封止の出来上がり具合のバランスをもとに、全体とし
ての最適な樹脂の注入条件を設定しなくてはならず、設
定した該注入条件が悪くなるキャビティ8にあるICは
不良品になりやすい。従って、一定の割合で不良品がで
ることはさけられなかった。
【0005】この問題点の解決策として図7・図8のよ
うな主ランナー4の変形が考えられる。従来例Aの問題
点は同一の主ランナー4に複数のキャビティがつながる
ため、ポット3からキャビティ8までの距離が一定とな
らず、注入に時間差が生じたことにある。従って、主ラ
ンナー4をトーナメント状(図7)や放射状(図8)に
して、キャビティ8と主ランナーを1対1に対応させ、
かつ各々の主ランナー4を同一長さにすることによって
ポット3とキャビティ8との距離によって樹脂の注入状
態が異なるということが解決できる(以降従来例Bとい
う)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記従来例B
の場合、タブレット9は中央になければならないが、ポ
ット3に比べタブレット9は小さいので挿入時にタブレ
ット9の位置に図7・図8のような偏りが生じやすく、
注入状態をキャビティ8によらず同一にすることが難し
い。
【0007】また、トーナメント状や放射状に限らず、
従来例Bの場合、従来例Aに比べ樹脂封止できるICの
数が減少するといった共通の欠点がある。さらに、トー
ナメント状では主ランナー4の総距離がふえるため、ラ
ンナーに残る不要な樹脂の量が増加し、また、放射状で
は円形のためリードフレームの形成が困難になるなど
の、個々の欠点もあり、有用な金型とはいえない。
【0008】従って、本発明は、多数のICを樹脂封止
でき、かつ、樹脂の注入状態をキャビティ8によらず一
定にすることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】図1のように、本発明
は、同一の主ランナー4から複数の副ランナー6が分岐
する基本構造のもとで、下金型2に形成され、ポット3
から延び、副ランナー6に樹脂を供給する主ランナー4
の上に位置する上金型(図示せず)に、ゲート7を介し
キャビティ8に樹脂を供給する副ランナー6を設け、主
ランナー4と副ランナー6とを異なる金型に形成するこ
とにより、両者を立体的に交差させ、さらに、主ランナ
ー4と副ランナー6を結び、主ランナー4から樹脂供給
され、副ランナー6に樹脂供給する結合部5を、ポット
3からの距離が遠いものほど樹脂が流入しやすい形状に
し、副ランナー6およびゲート7の幅はポット3からの
距離によらず一定にしたものである。
【0010】
【作用】図2を用いて本発明の作用を以下に説明する。
図2において点線は副ランナー6を、矢印は樹脂の流れ
をそれぞれ表している。本発明によれば、図1に示した
ポット3からの距離によって、主ランナー4と副ランナ
ー6を結ぶ部分である結合部5の大きさが変化している
ため、各々のキャビティ8ごとに注入条件を設定するこ
とができる。なぜなら、結合部5を大きくすることで、
主ランナーからの樹脂の流入を妨げる抵抗を小さくで
き、結合部5を小さくすることで、主ランナーからの樹
脂の流入を妨げる抵抗を大きくできるので、樹脂の流入
のしやすさを変化させることができるからである。図2
において、結合部5に向かう矢印の数の変化が結合部5
ごとの樹脂の流入のしやすさを表している。これによ
り、ポット3からキャビティ8までの距離の差によって
生じていた樹脂の注入状態の低下を相殺して一定にする
ことができる。
【0011】また、図1のように、同一の主ランナー4
から複数の副ランナー6が分岐する構造をしているの
で、一度に多量のICの樹脂封止ができるので、量産で
きるという従来例Aの持っていた効果を失わない。さら
に、副ランナー6の幅に対する制限を特に設ける必要が
ないため、ICの大きさによる制限がなくなり、いまま
で樹脂封止可能であったIC全てにおいて、樹脂の注入
状態をポット3からキャビティ8までの距離によらず一
定にすることができる上、副ランナー6の幅をポット3
からの距離によらず一定にできるので、副ランナー6や
ゲート7の幅によって、ICの切り離し工程を従来と変
えなくてよいなど、その後の工程が容易となる。
【0012】そして、主ランナー4と副ランナー6が立
体的に交差しているため、図2において主ランナー4で
の樹脂の流れを表す矢印は直進していることからも分か
るように、主ランナー4内を流れる樹脂は結合部5の形
状が変化することによる妨げは受けていない。従って、
主ランナー4内の樹脂の流れと副ランナー6内の樹脂の
流れは互いに独立しているといえ、副ランナー6(また
は主ランナー4)の形状の変化による主ランナー4(ま
たは副ランナー6)内の樹脂の流れに対する影響が無視
できる。これによって、主ランナー4(または副ランナ
ー6)に与える影響を考慮せずに、副ランナー6(また
は主ランナー4)の形状変化による改良が行える。
【0013】
【実施例】本発明の第一実施例を図1に示す。図1にお
いて、2は下金型、3は主ランナー4に樹脂を供給する
ポット、4はポット3につながり、結合部5に樹脂を供
給する主ランナー、6はゲート7につながり、結合部5
から樹脂を供給される副ランナー、5は主ランナー4と
副ランナー6を結び、主ランナー4から供給された樹脂
を副ランナー6に供給する主ランナー4と副ランナー6
の結合部、7は副ランナー6からキャビティ8への樹脂
注入口となるゲート、8はリードフレームが載置され、
主ランナー4・結合部5・副ランナー6・ゲート7を通
ってポット3から供給される樹脂によって半導体チップ
の樹脂封止を行うキャビティである。
【0014】また、図1に示すように、本発明の第一実
施例の金型は、ポット3から延びる複数の主ランナー4
(代表して一つのみ図示。なお主ランナー4はポット3
からの一部を省略してある)を形成した下金型2と、主
ランナー4からの樹脂の流れ込みが可能となるような位
置に、ポット3からの距離に応じて、主ランナー4との
接合面の面積をポット3から遠いものほど主ランナー4
と結合部5の接合面の面積を大きくするといったように
変えた結合部5と、ゲート7を介してキャビティ8につ
ながり、結合部5から樹脂が供給される副ランナー6と
を複数形成した上金型(図1には示さず)とにより構成
されている。
【0015】これによって、主ランナー4と副ランナー
6とが立体的に交差し、樹脂はポット3から主ランナー
4を通り、結合部5を登って副ランナー6を通り、ゲー
ト7を通じてキャビティ8へ到ることになる。
【0016】このとき、ポット3から遠いほど結合部5
と主ランナー4との接合面の面積が大きくなっているた
め、樹脂の進行を妨げる抵抗が小さくなり、樹脂は結合
部5を登りやすく、また、ポット3から近いほど結合部
5と主ランナー4との接合面の面積が小さくなっている
ため、樹脂の進行を妨げる抵抗が大きくなり、樹脂は結
合部5を登りにくくなっている。これによりポット3か
ら遠いこところでは、樹脂は結合部5を登りやすくなる
ので、ポット3から遠いことによって起こる樹脂の注入
状態の低下を防ぎ、ポット3から近い所では、樹脂は結
合部5を登りにくくなるので、樹脂の流入を妨げること
になる。従って、各結合部5ごとに、樹脂の注入状態の
低下に対する相殺作用が働き、この相殺する割合を、結
合部5と主ランナー4の接合面の面積を適当に選ぶこと
によって調整すれば、キャビティ8によらず樹脂の注入
状態を一定にすることができる。
【0017】具体的な樹脂の流れを図2に示す。図2は
主ランナー4と副ランナー6の結合部5の断面図で、点
線は副ランナー6を、また、矢印は樹脂の流れを表して
いる。後に樹脂が流れ込むほうほど、矢印の数が多くな
っている。このことは、主ランナー4と結合部5との接
合面の面積が大きくなっているため、樹脂の流入を妨げ
る抵抗が少なくなることを示し、また、結合部5に流入
できる樹脂の量が多くなっていることを示しており、後
に樹脂が流れ込む結合部5ほど、樹脂が流入しやすくな
っていることが分かる。
【0018】以上のように、主ランナー4と副ランナー
6とを立体的に交差させ、ポット3からキャビティ8ま
での距離が遠いものほど、主ランナー4と結合部5の接
合面の面積を大きくした金型で樹脂封止を行うと、モー
ルド工程での不良品の発生をおさえることができ、均一
のICを大量に生産することができる。
【0019】次に第二実施例を図3に示す。図3に示す
第二実施例では、基本構造は第一実施例と同じになって
いる。この場合では、結合部5と主ランナー4の接合面
の面積ではなく、結合部5の高さをかえることによって
結合部5への流入しやすさを変化をさせている。結合部
5の樹脂の流入口の面積が同じ場合、高さが高いほど、
つまり、体積が大きいほど、樹脂は流入しやすくなる。
なぜなら、結合部5の体積が大きいほど、結合部5に流
入できる樹脂の量が多いため、樹脂の進行を妨げる抵抗
が小さくなり、樹脂は結合部5を登りやすく、また、結
合部5の体積が小さいほど、結合部5に流入できる樹脂
の量が少ないため、樹脂の進行を妨げる抵抗が大きくな
るからである。従って、第一実施例と基本構造が同じで
あって、結合部5の樹脂の流入口の面積が一定である金
型において、ポット3から遠いほど結合部5の体積を大
きくすることによっても、樹脂の注入状態の低下の相殺
を行い、ポット3からキャビティ8までの距離によら
ず、樹脂の注入状態を一定にすることができる。
【0020】具体的な樹脂の流れを図4に示す。図4は
主ランナー4と副ランナー6の結合部5の断面図で、点
線は副ランナー6を、また、矢印は樹脂の流れを表して
いる。この場合では、ポット3と結合部5の距離によら
ず、主ランナー4と結合部5の接合面の面積は一定なの
で、結合部5に向かう矢印の数は結合部5によらず同じ
になっているが、後から結合部5に樹脂が流入するほう
ほど該矢印が到達できる高さが高くなっている。このこ
とはは、結合部5に流入できる樹脂の量が多いほど、樹
脂が流れ込む余地が多いため、樹脂の流入を妨げる抵抗
が少なくなることを示し、また、結合部5に流入できる
樹脂の量が多くなっていることを示しており、後に樹脂
が流れ込む結合部5ほど、樹脂が流入しやすくなること
がわかる。
【0021】以上のように、主ランナー4と副ランナー
6とを立体的に交差させ、ポット3からキャビティ8ま
での距離が遠いものほど、結合部5の高さを高くして体
積を大きくした金型で樹脂封止を行うことによっても、
モールド工程での不良品の発生をおさえることができ、
均一なICを大量に生産することができる。
【0022】前記二つの実施例は、主ランナー4と副ラ
ンナー6を立体的に交差させた場合であるが、図5のよ
うに、主ランナー4と主ランナー6とが同一平面上にあ
る場合でも、副ランナー6の幅を各キャビティ8毎に変
えることに各キャビティ8によらず樹脂の注入状態を均
一にすることができる。ただし、ゲート7の幅がキャビ
ティ8ごとに異なり、ICの切り離し工程がキャビティ
8ごとに変えなければならないので、各キャビティ8ご
とのゲート7の幅を一定にして主ランナー4につながる
部分の副ランナー6の幅を変えて樹脂の流入抵抗を変化
させてもよい。なお、主ランナー4と副ランナー6が同
一平面上にあるため、副ランナー6の幅の変化が主ラン
ナー4の樹脂の流れに影響を及ぼすので、その影響を考
慮しなくてはならなく、主ランナー4につながる部分の
副ランナー6の幅の設定が容易ではない。
【0023】さらに、当然のことながら、樹脂の流入抵
抗の変化の付け方はこの他に、該接合面の面積および接
合部5の高さの両方を変えて、流入のしやすさを変えて
各キャビティ8への注入状態を一定にして、ICの品質
を均一にしてもよい。結合部5についても、副ランナー
6側に設置する必要はなく、主ランナー4側に設置して
もよいし、両方にあってもよい。この場合、必要とされ
ているのは結合部5の流入しやすさの変化であるので、
図に示すように直方体形やテーパー状をとる必要はな
く、三角柱状でも半球状でもよい。つまり、結合部5の
形状による制限はないのである。
【0024】装置の構成についていうと、必ずしも上記
実施例のような構成を上下金型にする必要はなく、上金
型1にポット3から複数の主ランナー4を、下金型2に
主ランナー4の下にくるよう副ランナー6を配置をする
ことも可能である。しかし、その場合、重力によって樹
脂が主ランナー4から結合部5に流れ込みやすくなるた
め、ポット3に近いほうほど、結合部5への樹脂の流入
をしにくくしたことが意味をなさなくなり、十分な効果
をあげることができない。さらに、同じ大きさのICの
樹脂封止の場合、上金型1に副ランナー6、下金型に主
ランナー4を配置した金型に比べ、必要とされる結合部
5の大きさの変化が大きくなるため、無駄になる樹脂が
増加するため効率が悪くなる。
【0025】また、上記のように上金型1(または下金
型2)に主ランナー4(または副ランナー6)を、下金
型2(または上金型1)に、副ランナー6(または主ラ
ンナー4)を設けた配置をするのではなく、上または下
の金型のいずれか一方に、主ランナー4および副ランナ
ー6の両方を設けた配置をしてもよい。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
同一の主ランナー4から複数の副ランナー6が分岐した
金型を用いて、量産的なモールド形成をおこなっても、
ポット3からの距離に応じて、主ランナー4と副ランナ
ー6の結合部5の大きさが変化しているため、ポット3
からの距離に応じた、主ランナー4から副ランナー6へ
の樹脂流入のしやすさを変化させることが可能となり、
各々のキャビティ8ごとに樹脂の注入条件を設定するこ
とができる。つまり、結合部5の大きさを適当に選ぶこ
とによって、樹脂の注入状態を調整することが可能とな
り、このことを利用すれば、ポット3からキャビティ8
までの距離によらず、樹脂の注入状態を一定にすること
ができる。その結果、樹脂の注入状態の調整を最適に行
えば、均一で質の高い樹脂封止が可能となるので、IC
の品質安定や高信頼性に寄与するところが大きい。
【0027】また、主ランナー4と副ランナー6とを立
体的に交差させ、結合部5の大きさの変化によって樹脂
の注入状態を調整しているため、樹脂の注入状態の調整
のための制限は副ランナーの幅に対して必要ではなくな
る。その結果、樹脂注入が可能な範囲であれば、小型の
ICであっても上記の効果を発揮することができ、均一
の小型のICを大量に生産できるので、ICの小型化に
も寄与するところが大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明におけるICの樹脂封止用モールド金型
の主ランナー4と福ランナー6とを立体的に交差させた
場合の第一実施例図である。
【図2】図1における樹脂の流れを示す主ランナー4及
び結合部5の断面図である。
【図3】本発明におけるICの樹脂封止用モールド金型
の主ランナー4と福ランナー6とを立体的に交差させた
場合の第二実施例図である。
【図4】図3における樹脂の流れを示す主ランナー4及
び結合部5の断面図である。
【図5】本発明におけるICの樹脂封止用モールド金型
の立体交差を用いない場合の実施例図である。
【図6】従来例AにおけるICの樹脂封止用モールド金
型の従来例図である。
【図7】従来例BにおけるICの樹脂封止用モールド金
型の一実施例図である。
【図8】従来例BにおけるICの樹脂封止用モールド金
型の一実施例図である。
【符号の説明】
1 上金型 2 下金型 3 ポット 4 主ランナー 5 結合部 6 副ランナー 7 ゲート 8 キャビティ 9 タブレット

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】樹脂を供給するポット(3)と該ポット
    (3)より供給された樹脂を移送する主ランナー(4)
    と、該主ランナー(4)から分岐し、該主ランナー
    (4)から樹脂を供給される副ランナー(6)と、該主
    ランナー(4)と該副ランナー(6)との結合部(5)
    と、ゲート(7)を介して、該副ランナーと接続され、
    リードフレームを載置して、樹脂封止を行う空間が設け
    られた複数のキャビティ(8)とを有し、該ポット
    (3)からそれぞれのキャビティ(8)までの距離に応
    じて、該結合部(5)における樹脂の流入抵抗を変化さ
    せることによって、各キャビティ(8)への樹脂の流入
    状態を一定にすることを特徴とするモールド金型を有す
    る半導体装置の樹脂封止装置。
  2. 【請求項2】該主ランナー(4)と該副ランナー(6)
    とが異なる面に形成されて接し、該主ランナー(4)と
    該副ランナー(6)との接した面を通って、該主ランナ
    ー(4)から該副ランナー(6)に樹脂を供給すること
    を特徴とする請求項1記載の半導体装置の樹脂封止装
    置。
  3. 【請求項3】該主ランナー(4)から該副ランナー
    (6)への樹脂の流入が、重力に抗するように、該主ラ
    ンナー(4)の上方に該副ランナー(6)が位置するこ
    とを特徴とする請求項2記載の半導体装置の樹脂封止装
    置。
  4. 【請求項4】樹脂の流入が重力に抗するように該副ラン
    ナー(6)を下面に設けた上金型(1)と、該上金型
    (1)の該副ランナーと接する面に該主ランナー(4)
    が設けられ、該上金型(1)と対になってモールドを行
    う下金型(2)とを有することを特徴とする請求項3記
    載の半導体装置の樹脂封止装置。
  5. 【請求項5】該ポット(3)から該主ランナー(4)に
    樹脂を供給する工程と、該主ランナー(4)から該副ラ
    ンナー(6)に樹脂を供給する工程と、該副ランナー
    (6)から該ゲート(7)を介して該複数のキャビティ
    (8)に樹脂を供給する工程と、該副ランナー(6)か
    ら供給された樹脂によって各々のキャビティ(8)に載
    置されたリードフレームを樹脂封止する工程とを有し、
    該主ランナー(4)から、該ポット(3)からそれぞれ
    のキャビティ(8)までの距離に応じて、樹脂の流入抵
    抗を変化させた該結合部(5)を介し、各キャビティ
    (8)への樹脂の流入状態を一定にさせて、該副ランナ
    ー(6)に樹脂を供給する工程を有する半導体装置の樹
    脂封止法。
  6. 【請求項6】該主ランナー(4)から該副ランナー
    (6)へ樹脂が登るように流入する工程を有することを
    特徴とする請求項5記載の半導体装置の樹脂封止法。
JP15634991A 1991-06-27 1991-06-27 半導体装置の樹脂封止装置およびその樹脂封止方法 Withdrawn JPH056914A (ja)

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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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