JPH0568674B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0568674B2
JPH0568674B2 JP59055810A JP5581084A JPH0568674B2 JP H0568674 B2 JPH0568674 B2 JP H0568674B2 JP 59055810 A JP59055810 A JP 59055810A JP 5581084 A JP5581084 A JP 5581084A JP H0568674 B2 JPH0568674 B2 JP H0568674B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
scintillator
radiation detector
scintillators
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59055810A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60200189A (ja
Inventor
Masaji Fujii
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP59055810A priority Critical patent/JPS60200189A/ja
Publication of JPS60200189A publication Critical patent/JPS60200189A/ja
Publication of JPH0568674B2 publication Critical patent/JPH0568674B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2018Scintillation-photodiode combinations

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はCTスキヤナ等に適用して好適な放射
線検出器に係り、特に被検体に含有する複数の物
質の像を得るのに有効である放射線検出器に関す
る。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
複数の再構成画像の比較を行なう画像処理手段
として、CTスキヤナによるエネルギーサブトラ
クシヨン技術がある。即ち、このエネルギーサブ
トラクシヨンは、被検体に含有する物質がX線エ
ネルギーによつてその吸収係数を変えることを利
用し、X線照射エネルギーを変化させて被検体よ
り透過して得られるX線透過データを収集し、複
合体である被検体の各物質を見分ける技術であ
る。
ところで、従来のこの種の技術は、X線発生器
からエネルギーの異なるX線を複数回にわたつて
被検体に照射し、その都度、被検体より得られる
X線透過データを収集して再構成画像処理によつ
て画像データを得、これらの画像データに基づい
てサブトラクシヨンを行なつている。
従つて、以上のような技術は、複数回にわたつ
てデータを収集する必要があるため、X線制御お
よびデータ収集タイミングの煩雑さは否めず、ま
た被検体の検査作業の能率化に欠け、正確なデー
タが得られない不具合があつた。
〔発明の目的〕
本発明は以上のような点に着目してみなされた
もので、一回の放射線照射によつて被検体より透
過して出てくる放射線を複数の波長成分に分けて
変換し、エネルギー範囲の異なる放射線透過デー
タを同時に取得することにより、簡単かつ迅速に
被検体のデータを取得でき、正確なデータによつ
て高精度に例えばサブトラクシヨンを行なわせる
放射線検出器を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、複数のシンチレータの相互間に反射
板を介挿するとともに、これらのシンチレータの
所要個所に光電変換体を設け、各シンチレータで
波長成分の異なる放射線エネルギーを光に変換し
て各光電変換体により電気的なデータに変換する
ことにより、エネルギーバンドの異なる複数のデ
ータを同時に取得する放射線検出器である。
〔発明の実施例〕
次に、本発明の一実施例について第1図を参照
して説明する。同図において11,12は放射線
エネルギーや線量に比例する発光量で発光するシ
ンチレータであつて、これらのシンチレータ1
1,12間にはアルミニウムやステンレス等の材
料の反射板13が介挿されている。この反射板1
3は、直進入射してくる放射線エネルギーをその
厚さに起因して減衰させて後段側のシンチレータ
例えば12へ導き入れ、さらに各シンチレータ1
1,12内では発光せられた光を反射させる機能
をもつている。なお、放射線入出射側を除いてシ
ンチレータ11,12の外周部にも同様に反射板
13′が添着されている。
また、各シンチレータ11,12の表面の反射
板13,13′を除く所要の個所には光電変換体
14,15が設けられている。これらの光電変換
体14,15は、シンチレータ11,12の表面
より外側に透明電極(ネサ電極)14a,15
a、光電変換膜例えばフオトダイオード14b,
15bおよびアルミニウム蒸着膜等で形成された
電極14c,15c等の順序で配置構成されたも
のである。16,16′,17,17′は信号取出
し用リード線、RA,RBは放射線例えばX線の
入射方向を示している。
従つて、以上のような構成の放射線検出器によ
れば、放射線A,Bが図示矢印方向から入射して
くると、長波長成分である低放射線エネルギーA
はシンチレータ11によつて吸収発光され、これ
が光電変換体14の透明電極14aを経て光電変
換膜である例えばフオトダイオード14bによつ
てその発光量に比例する電気的な放射線透過デー
タに変換された後、リード線16,16′により
外部に導出されるようになつている。
一方、短波長成分である高放射線エネルギーB
は反射板13を突き進んで次段のシンチレータ1
2に入射し、ここで放射線エネルギーに比例する
発光量で発光する。この光は前述と同様に透明電
極15aを経て光電変換膜である例えばフオトダ
イオード15bによつて発光量に比例する電気的
な放射線透過データに変換された後、リード線1
7,17′によつて外部に導出される。なお、各
電極14a,15b,14cは薄い放射線の透過
しやすい材料を用いるので、放射線に対しては殆
んど透明に近いものである。
従つて、以上のような放射線検出器としては第
2図のような特性をもつて表わすことができる。
即ち、Aはシンチレータ11より光電変換体14
に入射する長波長帯における放射線のパワースペ
クトルであり、Bはシンチレータ11を通つてシ
ンチレータ12より光電変換体15に入射する短
波長帯における放射線のパワースペクトルであ
る。図中、λは波長、Iは光電変換体14,15
の出力電流である。かかる特性から明らかなよう
に、前段側のシンチレータ11では長波長の放射
線エネルギーを吸収して出力を得、後段側のシン
チレータ12は短波長成分の多い放射線エネルギ
ーを吸収して放射線透過データを取り出すことが
できる。ゆえに、1個の放射線検出器によつてエ
ネルギーの異なる放射線透過データを同時に取り
出すことができる。
なお、本発明の放射線検出器は上記実施例に限
定されずに種々変形して実施できるものである。
上記実施例では2個のシンチレータ11,12の
組合せであるが、2個以上例えば第3図のように
3個のシンチレータ21〜23を組合せたもので
もよい。なお、各シンチレータ21〜23の間に
それぞれ反射板13−1,13−2が介挿される
ものである。24は光電変換体である。従つて、
以上のような構成にすれば、3つの異なる放射線
エネルギーバンドの放射線透過データを取得で
き、被検体のより多くの混合物質の識別用データ
を得ることができる。
また、複数のシンチレータ例えば11,12は
放射線入射方向においてほぼ同じ厚さとしてもよ
いが、各シンチレータ11,12の厚さの比を可
変すれば、放射線エネルギーバンドを調整でき、
混合物質に関する正確なデータを得ることができ
る。なお、放射線検出器に回転機構を取り付け、
人為的又は電気的に180°回転させれば、各シンチ
レータ11,12を全く逆の厚さ比をもつて設定
でき、全く逆のエネルギーバンドのデータを取得
できる。さらに、相隣接するシンチレータ例えば
11,12間に配置する反射板13として着脱自
在に設け、その材質、厚さの異なる反射板13を
選択的に用いて放射線エネルギーバンドを調整す
ることも可能である。また、放射線検出器として
は、第4図のように台形状の形態に形成し、フア
ン状放射線ビームの照射による被検体の放射線透
過データを取得し易くするとともに各シンチレー
タ11,12への放射線入射量を等しくすること
も用意に実現できる。また、第5図のように放射
線入射方向に対してある角度をもつて反射板1
3′を配置し、この反射板13′で仕切れた各シン
チレータ11,12によつて発光せられる光を適
宜な個所に設けた光電変換体14′,15′で各エ
ネルギーバンドの放射線透過データとして取得し
てもよい。その他、本発明の要旨を逸脱しない範
囲で種々変形して実施できる。例えば第6図の如
き複数の放射線検出器を並べてラインセンサとし
て使用してもよいことは言うまでもない。
次に、本発明に係る放射線検出器を例えばCT
スキヤナに適用した一例について説明する。同図
において31はフアン状放射線ビームを照射する
放射線発生器、32は2個のシンチレータ11,
12の組合せによる放射線検出器を横方向に多数
個並べて構成したラインセンサであり、これらの
発生器31とラインセンサ32との間に被検体3
3が設置される。なお、スキヤン方式としてはい
わゆる第1世代から第4世代の何れでもよく、ま
た放射線検出器31、ラインセンサ32又は被検
体33の何れを回転させてもよい。34A,34
Bはシンチレータ11,…,12,…に対応して
設けられたデータ収集部、35A,35Bはコン
ボリユーシヨン法によりコンボリユーシヨン関数
を用いて放射線投影方向の各放射線検出器ごとの
コンボリユーシヨン演算を行なうコンボリユーシ
ヨン演算部、36A,36Bはコンボリユーシヨ
ン演算によつて得られた投影方向のデータを一時
記憶するメモリ、37は各メモリ36A,36B
ごとにデータを読出してバツクプロジエクシヨン
(逆投影)処理を行なう画像再構成処理部、38
は所定のプログラムに従つて所定のタイミングで
各構成部を制御するとともに所定の演算を実行す
る中央演算制御処理ユニツト(以下、CPUと指
称する)であり、これには磁気デイスク装置39
およびデイスプレイ用メモリ40を介してデイス
プレイ装置41が接続されている。
従つて、以上のような放射線検出器を用いた
CTスキヤナであれば、次のような種々の画像処
理を行なうことができる。その1つはエネルギー
サブトラクシヨンの実行、他の1つはエネルギー
の異なる画像の形成、他のもう1つはエネルギー
の異なる画像のカラー表示が可能となる。
先ず、エネルギーサブトラクシヨンの処理につ
いて述べる(第8図参照)。この処理としては、
放射線発生器31からD1の如き放射線パルスが
放射され、ラインセンサ32を構成する各放射線
検出器のシンチレータ11,…および12,…に
対応してD2AおよびD2Bのように長波長バン
ドの放射線エネルギーおよび短波長バンドの放射
線エネルギーを検出して電気的な放射線透過デー
タに変換し、このデータをデータ収集部34A,
34Bでデータ収集(D3A,D3B)してデイ
ジタル変換した後、コンボリユーシヨン演算部3
5A,35Bへ送出する。ここでは、前処理を行
なつた後、コンボリユーシヨン法を用いて投影方
法におけるコンボリユーシヨン演算によりデータ
を得、このデータを一時メモリ36A,36Bに
記憶する。各メモリ36A,36Bに記憶された
データはCPU38からの異なつた読出しタイミ
ングで読出されて画像再構成処理部37に送ら
れ、ステツプD5にて画像再構成処理によつて例
えばA系側の再構成画像データを得る。このよう
にして得られた再構成画像データはCPU38に
よつて一旦磁気デイスク装置39に格納され(D
6)、次にB系側の再構成画像データを得る。以
上のようにしてA系、B系の再構成画像データを
得たならば、適宜な重みPを付して、f=A−
PBなるサブトラクシヨン処理を行なう。そして、
サブトラクシヨン処理されたデータは画像メモリ
40に格納された後、必要なときに読出してデイ
スプレイ装置41に表示するものである。
次に、エネルギーの異なる画像データの作成
は、上述するサブトラクシヨンにおける画像再構
成処理にてエネルギーの異なるA系とB系の再構
成画像データを得ているので、これを別々にデイ
スプレイ装置41に表示すればよい。
また、A系とB系の再構成画像データを加算し
てそれぞれの画像データを別々にデイスプレイ装
置41にカラー表示することもできる。
〔発明の効果〕
以上詳記したように本発明によれば、複数のシ
ンチレータを反射板を介挿して直列に接続すると
ともに各シンチレータの所要個所に光電変換体を
設け、直接および反射板を通つて入射する放射線
のうち長波長成分の放射線を前段側のシンチレー
タにて、短波長成分の放射線を後段側のシンチレ
ータにて吸収発光させ、前記各光電変換体で電気
的な放射線検透過データに変換して検出するもの
であるので、一回の放射線照射でエネルギーバン
ドの異なる複数のデータを同時に取得でき、従来
のように放射線エネルギーを二回にわたつて変化
させてデータを取得するものに較べてデータ収集
能力にすぐれ、正確なデータを得ることができ、
またCTスキヤナなどに適用して高精度なエネル
ギーサブトラクシヨン処理は実現できる放射線検
出器を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る放射線検出器の一実施例
を示すもので、同図Aは上面断面図、同図Bは側
面断面図、第2図は放射線の波長と出力との関係
特性図、第3図ないし第5図は本発明の他の実施
例を示す上面断面図、第6図は本発明の放射線検
出器を複数個並べたラインセンサの一部切欠して
示す斜視図、第7図は本発明の放射線検出器を適
用したCTスキヤナのブロツク構成図、第8図は
CTスキヤナによるエネルギーサブトラクシヨン
処理の流れ図である。 11,12,21〜23……シンチレータ、1
3,13−1,13−2……反射板、14……光
電変換体。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数のシンチレータのそれぞれの間に反射板
    を介挿するとともに、各シンチレータの表面の所
    要個所に光電変換体を設け、直接および反射板を
    通つて各シンチレータに入射する放射線のうち長
    波長成分の放射線を前段側のシンチレータで、短
    波長成分の放射線を後段側のシンチレータでそれ
    ぞれ検出し、前記各シンチレータごとに設けられ
    た光電変換体でエネルギーの異なる電気的な放射
    線透過データを取得するようにしたことを特徴と
    する放射線検出器。 2 複数のシンチレータは少なくとも2個以上で
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の放射線検出器。 3 複数のシンチレータはそれぞれほぼ同じ厚さ
    を有するものである特許請求の範囲第1項記載の
    放射線検出器。 4 複数のシンチレータはそれぞれ異なる厚さを
    有するものである特許請求の範囲第1項記載の放
    射線検出器。 5 反射体はその材質または厚さを可変して各シ
    ンチレータ間に介挿するものである特許請求の範
    囲第1項記載の放射線検出器。 6 放射線検出器は向きを変えて使用するもので
    ある特許請求の範囲第1項記載の放射線検出器。 7 放射線検出器は台形状に形成されたものであ
    る特許請求の範囲第1項記載の放射線検出器。
JP59055810A 1984-03-23 1984-03-23 放射線検出器 Granted JPS60200189A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59055810A JPS60200189A (ja) 1984-03-23 1984-03-23 放射線検出器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59055810A JPS60200189A (ja) 1984-03-23 1984-03-23 放射線検出器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60200189A JPS60200189A (ja) 1985-10-09
JPH0568674B2 true JPH0568674B2 (ja) 1993-09-29

Family

ID=13009279

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59055810A Granted JPS60200189A (ja) 1984-03-23 1984-03-23 放射線検出器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60200189A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009044657A1 (ja) 2007-10-01 2009-04-09 Hamamatsu Photonics K.K. 放射線検出器
WO2011033841A1 (ja) * 2009-09-18 2011-03-24 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置
WO2011033837A1 (ja) * 2009-09-18 2011-03-24 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4585064B2 (ja) * 1999-11-01 2010-11-24 株式会社東芝 放射線診断装置
EP1946149A2 (en) * 2005-10-05 2008-07-23 Koninklijke Philips Electronics N.V. Multiple layer detector for spectral computed tomography imaging
JP5124227B2 (ja) * 2007-10-01 2013-01-23 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器
KR101504491B1 (ko) * 2008-12-02 2015-03-23 삼성전자주식회사 엑스선 영상 획득 장치 및 엑스선 영상 획득 방법, 센서 및이미징 장치
JP6324941B2 (ja) * 2010-05-31 2018-05-16 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置
JP2011252730A (ja) * 2010-05-31 2011-12-15 Fujifilm Corp 放射線撮影装置
JP2012026932A (ja) * 2010-07-26 2012-02-09 Fujifilm Corp 放射線検出器
JP5657614B2 (ja) 2011-08-26 2015-01-21 富士フイルム株式会社 放射線検出器および放射線画像撮影装置
JP5551752B2 (ja) * 2012-10-29 2014-07-16 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器
JP5513582B2 (ja) * 2012-10-29 2014-06-04 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器
JP6529858B2 (ja) * 2014-08-20 2019-06-12 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 X線ct装置及びx線検出器
JP6747948B2 (ja) * 2016-11-25 2020-08-26 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線画像取得装置、及び放射線画像の取得方法。

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009044657A1 (ja) 2007-10-01 2009-04-09 Hamamatsu Photonics K.K. 放射線検出器
WO2011033841A1 (ja) * 2009-09-18 2011-03-24 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置
WO2011033837A1 (ja) * 2009-09-18 2011-03-24 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置
JP2011064640A (ja) * 2009-09-18 2011-03-31 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60200189A (ja) 1985-10-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2386981C2 (ru) Улучшенная детекторная матрица для спектральной компьютерной томографии
JPH0568674B2 (ja)
US7968853B2 (en) Double decker detector for spectral CT
US7388208B2 (en) Dual energy x-ray detector
US7286640B2 (en) Dual-band detector system for x-ray imaging of biological samples
JP2001311779A (ja) X線検出器
JPS59145983A (ja) エネルギ−識別放射線検出装置およびその方法
US4250385A (en) Semiconductor X-ray detector
JPH0531564Y2 (ja)
JPH06254082A (ja) 放射線立体像撮影装置および方法
US4153839A (en) Radiography
US5451793A (en) Binary screen, system and method for single pulse dual energy radiology
US4542519A (en) Computerized tomography apparatus
RU2071725C1 (ru) Вычислительный томограф (варианты)
JPS60249040A (ja) 放射線画像撮影装置
US20080142745A1 (en) Single sided dual scanning for computed radiography
GB2061055A (en) Imaging system
US9268038B2 (en) Reflector for radiation detector
US7622730B2 (en) Single sided dual scanning for computed radiography
JPS6336773B2 (ja)
CA1111575A (en) Apparatus and method for reconstructing data
DiBianca et al. Ultrahigh-resolution CT and DR scanner
US20090039288A1 (en) Single sided dual scanning for computed radiography
JPS59222783A (ja) 放射線検出装置
JPH0627829B2 (ja) シングルフオトンect装置の吸収補正方法