JPH0566218A - 金属分布測定方法及び測定装置 - Google Patents
金属分布測定方法及び測定装置Info
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- JPH0566218A JPH0566218A JP3254582A JP25458291A JPH0566218A JP H0566218 A JPH0566218 A JP H0566218A JP 3254582 A JP3254582 A JP 3254582A JP 25458291 A JP25458291 A JP 25458291A JP H0566218 A JPH0566218 A JP H0566218A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 検体に接触することなく、検体全体の金属分
布状況を検出可能な金属分布測定方法及び測定装置を提
供することを目的とする。 【構成】 金属が磁界内を通過した際にインダクタンス
が変化する検出コイル１４を有し、該検出コイル１４の
インダクタンスの変化を基に、検体２４の検出コイル１
４が対応している部分の金属の有無を検出する測定装置
１０を設け、前記検出コイル１４を、少なくとも前記検
体２４の測定しようとする範囲内を非接触に走査しなが
ら前記測定装置１０を介して順次金属の有無を検知す
る。
布状況を検出可能な金属分布測定方法及び測定装置を提
供することを目的とする。 【構成】 金属が磁界内を通過した際にインダクタンス
が変化する検出コイル１４を有し、該検出コイル１４の
インダクタンスの変化を基に、検体２４の検出コイル１
４が対応している部分の金属の有無を検出する測定装置
１０を設け、前記検出コイル１４を、少なくとも前記検
体２４の測定しようとする範囲内を非接触に走査しなが
ら前記測定装置１０を介して順次金属の有無を検知す
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は金属分布測定方法及び測
定装置に関する。
定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、金属を含有させた合成樹脂を用い
て成形された製品が数多く使用されつつある。金属を含
有する合成樹脂においては、金属の分布がいかに均一に
なるか、特定部分の金属濃度が所望の濃度（含有量、含
有比も含む）になるか、またはインピーダンスが安定し
たものになるかで品質等が評価される。そのため、含有
する金属の分布状態を検出する方法として、従来は四探
針法と呼ばれる抵抗値を測定する方法が一般的に行われ
てきた。四探針法は、４個の電極針を検体である金属を
含有した成形品に当て、ある電圧をかけた際の電流値を
測定することにより電気抵抗を測定し、当該部分の金属
の有無、分布状況を検出する方法である。
て成形された製品が数多く使用されつつある。金属を含
有する合成樹脂においては、金属の分布がいかに均一に
なるか、特定部分の金属濃度が所望の濃度（含有量、含
有比も含む）になるか、またはインピーダンスが安定し
たものになるかで品質等が評価される。そのため、含有
する金属の分布状態を検出する方法として、従来は四探
針法と呼ばれる抵抗値を測定する方法が一般的に行われ
てきた。四探針法は、４個の電極針を検体である金属を
含有した成形品に当て、ある電圧をかけた際の電流値を
測定することにより電気抵抗を測定し、当該部分の金属
の有無、分布状況を検出する方法である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来の四探針法には次のような課題がある。四探針法
は、電極針を検体に当ててその位置の電気抵抗を測定す
るものである。測定しようとする検体は金属という良導
体と、合成樹脂という比較的絶縁物に近い物であるた
め、測定用の電極針の位置が僅かにずれただけで測定値
が全く異なったものになり得るため、検体の全体的な金
属分布状況の判断は困難であるという課題がある。特
に、サンドイッチ成形を行った成形品の場合、内部に金
属が入っているため電極針接触式の測定方法では測定不
可能である。従って、本発明は検体に接触することな
く、検体全体の金属分布状況を検出可能な金属分布測定
方法及び測定装置を提供することを目的とする。
従来の四探針法には次のような課題がある。四探針法
は、電極針を検体に当ててその位置の電気抵抗を測定す
るものである。測定しようとする検体は金属という良導
体と、合成樹脂という比較的絶縁物に近い物であるた
め、測定用の電極針の位置が僅かにずれただけで測定値
が全く異なったものになり得るため、検体の全体的な金
属分布状況の判断は困難であるという課題がある。特
に、サンドイッチ成形を行った成形品の場合、内部に金
属が入っているため電極針接触式の測定方法では測定不
可能である。従って、本発明は検体に接触することな
く、検体全体の金属分布状況を検出可能な金属分布測定
方法及び測定装置を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は次の構成を備える。まず、金属分布測定方
法としては、金属が磁界内を通過した際にインダクタン
スが変化する検出コイルを有し、該検出コイルのインダ
クタンスの変化を基に、検体の検出コイルが対応してい
る部分の金属の有無を検出する測定装置を設け、前記検
出コイルを、少なくとも前記検体の測定しようとする範
囲内を非接触に走査しながら前記測定装置を介して順次
金属の有無を検知することを特徴とし、または、金属が
磁界内を通過した際にインダクタンスが変化する検出コ
イルを有し、該検出コイルのインダクタンスの変化量を
基に、検体の検出コイルが対応している部分の金属含有
量および／または金属含有比を検出可能な測定装置を設
け、前記検出コイルを、少なくとも前記検体の測定しよ
うとする範囲内を非接触に走査しながら前記測定装置を
介して順次金属含有量および／または金属含有比を検知
することを特徴とする。一方、測定装置としては、検体
と離間して配され、金属が磁界内を通過した際にインダ
クタンスが変化する検出コイルを有し、そのインダクタ
ンスの変化を検出する検出部と、前記検出コイルを、走
査のため検体に対して相対的に移動させるための駆動手
段と、該駆動手段を介して前記検出コイルを、少なくと
も前記検体の測定しようとする範囲内を非接触に走査さ
せ、駆動手段の駆動状態から、検出コイルの、測定しよ
うとする範囲に対する位置を示す位置データを求め、前
記検出部が検出したインダクタンスの変化を基に金属の
有無を示す金属データを求め、前記位置データに対応し
て該金属データを出力手段へ表示出力する制御手段とを
具備することを特徴とし、または、検体と離間して配さ
れ、金属が磁界内を通過した際にインダクタンスが変化
する検出コイルを有し、そのインダクタンスの変化を検
出する検出部と、前記検出コイルを、走査のため検体に
対して相対的に移動させるための駆動手段と、該駆動手
段を介して前記検出コイルを、少なくとも前記検体の測
定しようとする範囲内を非接触に走査させ、駆動手段の
駆動状態から、検出コイルの、測定しようとする範囲に
対する位置を示す位置データを求め、前記検出部が検出
したインダクタンスの変化量を基に金属含有量および／
または金属含有比を示す金属データを求め、前記位置デ
ータに対応して該金属データを出力手段へ表示出力する
制御手段とを具備することを特徴とする。
め、本発明は次の構成を備える。まず、金属分布測定方
法としては、金属が磁界内を通過した際にインダクタン
スが変化する検出コイルを有し、該検出コイルのインダ
クタンスの変化を基に、検体の検出コイルが対応してい
る部分の金属の有無を検出する測定装置を設け、前記検
出コイルを、少なくとも前記検体の測定しようとする範
囲内を非接触に走査しながら前記測定装置を介して順次
金属の有無を検知することを特徴とし、または、金属が
磁界内を通過した際にインダクタンスが変化する検出コ
イルを有し、該検出コイルのインダクタンスの変化量を
基に、検体の検出コイルが対応している部分の金属含有
量および／または金属含有比を検出可能な測定装置を設
け、前記検出コイルを、少なくとも前記検体の測定しよ
うとする範囲内を非接触に走査しながら前記測定装置を
介して順次金属含有量および／または金属含有比を検知
することを特徴とする。一方、測定装置としては、検体
と離間して配され、金属が磁界内を通過した際にインダ
クタンスが変化する検出コイルを有し、そのインダクタ
ンスの変化を検出する検出部と、前記検出コイルを、走
査のため検体に対して相対的に移動させるための駆動手
段と、該駆動手段を介して前記検出コイルを、少なくと
も前記検体の測定しようとする範囲内を非接触に走査さ
せ、駆動手段の駆動状態から、検出コイルの、測定しよ
うとする範囲に対する位置を示す位置データを求め、前
記検出部が検出したインダクタンスの変化を基に金属の
有無を示す金属データを求め、前記位置データに対応し
て該金属データを出力手段へ表示出力する制御手段とを
具備することを特徴とし、または、検体と離間して配さ
れ、金属が磁界内を通過した際にインダクタンスが変化
する検出コイルを有し、そのインダクタンスの変化を検
出する検出部と、前記検出コイルを、走査のため検体に
対して相対的に移動させるための駆動手段と、該駆動手
段を介して前記検出コイルを、少なくとも前記検体の測
定しようとする範囲内を非接触に走査させ、駆動手段の
駆動状態から、検出コイルの、測定しようとする範囲に
対する位置を示す位置データを求め、前記検出部が検出
したインダクタンスの変化量を基に金属含有量および／
または金属含有比を示す金属データを求め、前記位置デ
ータに対応して該金属データを出力手段へ表示出力する
制御手段とを具備することを特徴とする。
【０００５】
【作用】作用について説明する。検出コイルを、少なく
とも検体の測定しようとする範囲内を非接触に走査させ
るため、検体全体の金属分布状況を検出可能となる。ま
た、非接触の検出コイルの磁界内の金属を検出可能なた
め、検体内部の金属の分布状況も検出可能となる。
とも検体の測定しようとする範囲内を非接触に走査させ
るため、検体全体の金属分布状況を検出可能となる。ま
た、非接触の検出コイルの磁界内の金属を検出可能なた
め、検体内部の金属の分布状況も検出可能となる。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例について添付図
面と共に、詳述する。まず、図１（ブロックダイアグラ
ム）および図２（主要部の構成を示した斜視図）と共に
本発明の金属分布測定方法に用いて好適な金属分布測定
装置１０の構成について説明する。１２は検出部であ
り、金属の有無を検出する検出コイル１４を有する。検
出コイル１４は検出部１２内の高周波発振回路（不図
示）に接続され、高周波磁界が発生可能になっている。
この磁界に金属が接近、または通過すると、金属に誘導
電流が流れ、検出コイル１４のインダクタンスが変化す
る。インダクタンスの変化は金属の有無、濃度（含有
量、含有比も含む）、金属のつながり状態等によって異
なるので、測定することにより金属の分布状況を検出で
きるのである。検出部１２はこのインダクタンスの変化
を電圧の変化として出力する。なお、検出コイル１４は
検出部１２の所定位置に固定され、検出部１２は、金属
分布測定装置１０のケーシング１６に両端が固定された
ガイド部材１８に沿って矢印Ａ方向へ移動可能になって
いる。
面と共に、詳述する。まず、図１（ブロックダイアグラ
ム）および図２（主要部の構成を示した斜視図）と共に
本発明の金属分布測定方法に用いて好適な金属分布測定
装置１０の構成について説明する。１２は検出部であ
り、金属の有無を検出する検出コイル１４を有する。検
出コイル１４は検出部１２内の高周波発振回路（不図
示）に接続され、高周波磁界が発生可能になっている。
この磁界に金属が接近、または通過すると、金属に誘導
電流が流れ、検出コイル１４のインダクタンスが変化す
る。インダクタンスの変化は金属の有無、濃度（含有
量、含有比も含む）、金属のつながり状態等によって異
なるので、測定することにより金属の分布状況を検出で
きるのである。検出部１２はこのインダクタンスの変化
を電圧の変化として出力する。なお、検出コイル１４は
検出部１２の所定位置に固定され、検出部１２は、金属
分布測定装置１０のケーシング１６に両端が固定された
ガイド部材１８に沿って矢印Ａ方向へ移動可能になって
いる。
【０００７】２０は駆動手段を構成するコイル駆動部で
ある。検出部１２をガイド部材１８に沿って矢印Ａ方向
へ駆動する。駆動機構としては、例えば、検出部１２に
両端が固定されたワイヤをプーリに巻回し、そのプーリ
をステッピングモータで回転させることにより検出コイ
ル１４を含む検出部１２を矢印Ａ方向へ駆動する方式
や、リニアモータで検出部１２を矢印Ａ方向へ駆動する
方式等を採用可能である。２２も駆動手段を構成するコ
ンベア駆動部である。コンベア駆動部２２は、検体の一
例である金属含有合成樹脂板（以下、検体と記す）２４
を矢印Ｂ方向へ搬送するベルトコンベア２６のモータ
（不図示）を駆動する。コンベア２６の上面は検出コイ
ル１４の下端より下方に位置し、検体２４が検出コイル
１４と当接しないようになっている。上記コイル駆動部
２０により検出コイル１４を含む検出部１２が矢印Ａ方
向へ駆動され、コンベア駆動部２２によりコンベア２６
が矢印Ｂ方向へ駆動することにより、検出コイル１４が
コンベア２６上面ひいては検体２４上面に対して相対的
に走査のための移動が可能になっている。走査における
幅方向の長さはガイド部材１８の長さにより規制され、
走査における長さ方向の長さはコンベア２６が無端なの
で任意の長さ設定可能である。
ある。検出部１２をガイド部材１８に沿って矢印Ａ方向
へ駆動する。駆動機構としては、例えば、検出部１２に
両端が固定されたワイヤをプーリに巻回し、そのプーリ
をステッピングモータで回転させることにより検出コイ
ル１４を含む検出部１２を矢印Ａ方向へ駆動する方式
や、リニアモータで検出部１２を矢印Ａ方向へ駆動する
方式等を採用可能である。２２も駆動手段を構成するコ
ンベア駆動部である。コンベア駆動部２２は、検体の一
例である金属含有合成樹脂板（以下、検体と記す）２４
を矢印Ｂ方向へ搬送するベルトコンベア２６のモータ
（不図示）を駆動する。コンベア２６の上面は検出コイ
ル１４の下端より下方に位置し、検体２４が検出コイル
１４と当接しないようになっている。上記コイル駆動部
２０により検出コイル１４を含む検出部１２が矢印Ａ方
向へ駆動され、コンベア駆動部２２によりコンベア２６
が矢印Ｂ方向へ駆動することにより、検出コイル１４が
コンベア２６上面ひいては検体２４上面に対して相対的
に走査のための移動が可能になっている。走査における
幅方向の長さはガイド部材１８の長さにより規制され、
走査における長さ方向の長さはコンベア２６が無端なの
で任意の長さ設定可能である。
【０００８】２８は制御手段であるマイクロプロセッサ
（ＭＰＵ）であり、コイル駆動部２０とコンベア駆動部
２２を介して検出コイル１４を、少なくとも検体２４の
測定しようとする範囲内を非接触に走査させ、コイル駆
動部２０およびコンベア駆動部２２の駆動機構の状態
（例えば、駆動用モータの回動量）から、検出コイル１
４の、測定しようとする範囲に対する位置を示す位置デ
ータを求める。また、検出部１２が出力した検出コイル
１４のインダクタンスの変化を示す電圧データを基に
（電圧データそのものでもよい）、金属の有無を示す金
属データを求める。さらに、各位置データに金属データ
を対応させ検体２４中の金属分布を示す出力データを作
成する。ＭＰＵ２８は制御手段としての機能の他、コイ
ル駆動部２０、コンベア駆動部の駆動制御等、金属分布
測定装置１０の各部分の動作を制御する。３０は出力部
であり、ＭＰＵ２８が作成した出力データを表示出力す
る。出力部３０としては、例えば、ディスプレイやグラ
フィックプリンタを用いることができる。また、ＩＣカ
ード等の外部記憶装置へ記憶出力させることもできる。
３２はキーボードであり、コマンド、走査範囲を設定す
るデータ等をオペレータが入力可能になっている。３４
はＲＯＭであり、オペレーティングシステム、制御プロ
グラム，制御データ等が記憶されている。
（ＭＰＵ）であり、コイル駆動部２０とコンベア駆動部
２２を介して検出コイル１４を、少なくとも検体２４の
測定しようとする範囲内を非接触に走査させ、コイル駆
動部２０およびコンベア駆動部２２の駆動機構の状態
（例えば、駆動用モータの回動量）から、検出コイル１
４の、測定しようとする範囲に対する位置を示す位置デ
ータを求める。また、検出部１２が出力した検出コイル
１４のインダクタンスの変化を示す電圧データを基に
（電圧データそのものでもよい）、金属の有無を示す金
属データを求める。さらに、各位置データに金属データ
を対応させ検体２４中の金属分布を示す出力データを作
成する。ＭＰＵ２８は制御手段としての機能の他、コイ
ル駆動部２０、コンベア駆動部の駆動制御等、金属分布
測定装置１０の各部分の動作を制御する。３０は出力部
であり、ＭＰＵ２８が作成した出力データを表示出力す
る。出力部３０としては、例えば、ディスプレイやグラ
フィックプリンタを用いることができる。また、ＩＣカ
ード等の外部記憶装置へ記憶出力させることもできる。
３２はキーボードであり、コマンド、走査範囲を設定す
るデータ等をオペレータが入力可能になっている。３４
はＲＯＭであり、オペレーティングシステム、制御プロ
グラム，制御データ等が記憶されている。
【０００９】３６はＲＡＭであり、記憶エリアをエリア
３６ａ、３６ｂ、３６ｃ、・・・・・に割り当てられて
いる。エリア３６ａにはＭＰＵ２８が求めた位置データ
が順次記憶される。エリア３６ｂにはＭＰＵ２８が求め
た金属データが順次記憶される。エリア３６ｃにはＭＰ
Ｕ２８が位置データと金属データとから作成した出力デ
ータが記憶される。その他、ＲＡＭ３６にはキーボード
３２から入力されたデータや、ＭＰＵ２８が演算した結
果等が一時的に記憶される。次に、金属分布測定の動作
について説明する。ＭＰＵ２８がコイル駆動部２０およ
びコンベア駆動部２２を制御して検体２４を含む走査範
囲内の走査を行わせる。走査中、ＭＰＵ２８は検出コイ
ル１４の走査範囲に対する位置のデータを検出すると共
に、ＲＡＭ３６のエリア３６ａに順次書き込む。同時に
ＭＰＵ２８は検出部１２から送られて来る検出コイル１
４のインダクタンスの変化を示す電圧データを金属デー
タとしてＲＡＭ３６のエリア３６ｂに順次書き込む。走
査範囲全体に亘って上記走査を行った後、ＭＰＵ２８は
位置データと金属データを対応させた出力データを作成
する。
３６ａ、３６ｂ、３６ｃ、・・・・・に割り当てられて
いる。エリア３６ａにはＭＰＵ２８が求めた位置データ
が順次記憶される。エリア３６ｂにはＭＰＵ２８が求め
た金属データが順次記憶される。エリア３６ｃにはＭＰ
Ｕ２８が位置データと金属データとから作成した出力デ
ータが記憶される。その他、ＲＡＭ３６にはキーボード
３２から入力されたデータや、ＭＰＵ２８が演算した結
果等が一時的に記憶される。次に、金属分布測定の動作
について説明する。ＭＰＵ２８がコイル駆動部２０およ
びコンベア駆動部２２を制御して検体２４を含む走査範
囲内の走査を行わせる。走査中、ＭＰＵ２８は検出コイ
ル１４の走査範囲に対する位置のデータを検出すると共
に、ＲＡＭ３６のエリア３６ａに順次書き込む。同時に
ＭＰＵ２８は検出部１２から送られて来る検出コイル１
４のインダクタンスの変化を示す電圧データを金属デー
タとしてＲＡＭ３６のエリア３６ｂに順次書き込む。走
査範囲全体に亘って上記走査を行った後、ＭＰＵ２８は
位置データと金属データを対応させた出力データを作成
する。
【００１０】出力データの例を図３に示す。図３は線分
Ｗ−Ｘ、Ｘ−Ｙ、Ｙ−Ｚ、Ｚ−Ｗで囲繞された部分が検
体２４を示し、各折れ線３８が検出コイル１４のインダ
クタンスの変化に対応して変化した電圧値を示す３次元
グラフであり、出力部３０にはこのグラフのとおり出力
される。この出力データを見ることにより、検体２４内
の金属の有無はもちろん、検体２４の周縁部は電圧値が
低いので金属濃度が高く、中央部の方が比較的金属濃度
が低いという金属の分布状況が判る。上述の実施例では
金属データを電圧データで求めたが、検出部１２の出力
である電圧データをＭＰＵ２８が、予め実測して求めて
作成し、ＲＯＭ３４に記憶されている標準検体における
電圧データとインピーダンスとの相関関係を示すデータ
テーブルと比較し、当該電圧データに対応するインピー
ダンスの値を決定して金属データとしてもよい。このよ
うにすると、検体２４のインピーダンス分布も測定可能
となる。但し、検体２４内の金属の分布状況を相対的に
知りたい場合は予め実測してインピーダンスのデータテ
ーブルを作成しておく必要はない。金属データ同士を比
較すればよいからである。以上、本発明の好適な実施例
について種々述べてきたが、本発明は上述の実施例に限
定されるのではなく、発明の精神を逸脱しない範囲で多
くの改変を施し得るのはもちろんである。
Ｗ−Ｘ、Ｘ−Ｙ、Ｙ−Ｚ、Ｚ−Ｗで囲繞された部分が検
体２４を示し、各折れ線３８が検出コイル１４のインダ
クタンスの変化に対応して変化した電圧値を示す３次元
グラフであり、出力部３０にはこのグラフのとおり出力
される。この出力データを見ることにより、検体２４内
の金属の有無はもちろん、検体２４の周縁部は電圧値が
低いので金属濃度が高く、中央部の方が比較的金属濃度
が低いという金属の分布状況が判る。上述の実施例では
金属データを電圧データで求めたが、検出部１２の出力
である電圧データをＭＰＵ２８が、予め実測して求めて
作成し、ＲＯＭ３４に記憶されている標準検体における
電圧データとインピーダンスとの相関関係を示すデータ
テーブルと比較し、当該電圧データに対応するインピー
ダンスの値を決定して金属データとしてもよい。このよ
うにすると、検体２４のインピーダンス分布も測定可能
となる。但し、検体２４内の金属の分布状況を相対的に
知りたい場合は予め実測してインピーダンスのデータテ
ーブルを作成しておく必要はない。金属データ同士を比
較すればよいからである。以上、本発明の好適な実施例
について種々述べてきたが、本発明は上述の実施例に限
定されるのではなく、発明の精神を逸脱しない範囲で多
くの改変を施し得るのはもちろんである。
【００１１】
【発明の効果】本発明にかかる金属分布測定方法及び測
定装置を用いると、検出コイルを、少なくとも検体の測
定しようとする範囲内を非接触に走査させるため、検体
全体の金属分布状況を検出可能となる。また、非接触の
検出コイルの磁界内の金属を検出可能なため、検体内部
の金属の分布状況も検出可能となるので、検体内部に存
在する金属も含め、検体全体の金属分布状況を測定可能
となるので、例えば検体の良否判定に利用し、品質管理
にも応用可能となる等の著効を奏する。
定装置を用いると、検出コイルを、少なくとも検体の測
定しようとする範囲内を非接触に走査させるため、検体
全体の金属分布状況を検出可能となる。また、非接触の
検出コイルの磁界内の金属を検出可能なため、検体内部
の金属の分布状況も検出可能となるので、検体内部に存
在する金属も含め、検体全体の金属分布状況を測定可能
となるので、例えば検体の良否判定に利用し、品質管理
にも応用可能となる等の著効を奏する。
【図１】本発明にかかる金属分布測定方法に用いて好適
な金属分布測定装置の実施例を示したブロックダイアグ
ラム。
な金属分布測定装置の実施例を示したブロックダイアグ
ラム。
【図２】その主要部を示した斜視図。
【図３】出力データの一例を示したグラフ。
１０ 金属分布測定装置 １２ 検出部 １４ 検出コイル ２０ コイル駆動部 ２２ コンベア駆動部 ２４ 検体 ２８ ＭＰＵ
Claims (8)
- 【請求項１】 金属が磁界内を通過した際にインダクタ
ンスが変化する検出コイルを有し、該検出コイルのイン
ダクタンスの変化を基に、検体の検出コイルが対応して
いる部分の金属の有無を検出する測定装置を設け、 前記検出コイルを、少なくとも前記検体の測定しようと
する範囲内を非接触に走査しながら前記測定装置を介し
て順次金属の有無を検知することを特徴とする金属分布
測定方法。 - 【請求項２】 前記測定装置は検出したインダクタンス
の変化を電圧の変化として読取り、その電圧変化に対応
するインピーダンスの変化により、検体の検出コイルが
対応している部分の金属の有無を検出することを特徴と
する請求項１記載の金属分布測定方法。 - 【請求項３】 金属が磁界内を通過した際にインダクタ
ンスが変化する検出コイルを有し、該検出コイルのイン
ダクタンスの変化量を基に、検体の検出コイルが対応し
ている部分の金属含有量および／または金属含有比を検
出可能な測定装置を設け、 前記検出コイルを、少なくとも前記検体の測定しようと
する範囲内を非接触に走査しながら前記測定装置を介し
て順次金属含有量および／または金属含有比を検知する
ことを特徴とする金属分布測定方法。 - 【請求項４】 前記測定装置は検出したインダクタンス
の変化を電圧の変化として読取り、その電圧変化量に対
応するインピーダンスの変化量により、検体の検出コイ
ルが対応している部分の金属含有量および／または金属
含有比を検出することを特徴とする請求項３記載の金属
分布測定方法。 - 【請求項５】 検体と離間して配され、金属が磁界内を
通過した際にインダクタンスが変化する検出コイルを有
し、そのインダクタンスの変化を検出する検出部と、 前記検出コイルを、走査のため検体に対して相対的に移
動させるための駆動手段と、 該駆動手段を介して前記検出コイルを、少なくとも前記
検体の測定しようとする範囲内を非接触に走査させ、駆
動手段の駆動状態から、検出コイルの、測定しようとす
る範囲に対する位置を示す位置データを求め、前記検出
部が検出したインダクタンスの変化を基に金属の有無を
示す金属データを求め、前記位置データに対応して該金
属データを出力手段へ表示出力する制御手段とを具備す
ることを特徴とする金属分布測定装置 - 【請求項６】 前記制御手段はインダクタンスの変化を
電圧の変化として出力し、その電圧変化に対応するイン
ピーダンスの変化により、前記金属データを求めること
を特徴とする請求項５記載の金属分布測定装置。 - 【請求項７】 検体と離間して配され、金属が磁界内を
通過した際にインダクタンスが変化する検出コイルを有
し、そのインダクタンスの変化を検出する検出部と、 前記検出コイルを、走査のため検体に対して相対的に移
動させるための駆動手段と、 該駆動手段を介して前記検出コイルを、少なくとも前記
検体の測定しようとする範囲内を非接触に走査させ、駆
動手段の駆動状態から、検出コイルの、測定しようとす
る範囲に対する位置を示す位置データを求め、前記検出
部が検出したインダクタンスの変化量を基に金属含有量
および／または金属含有比を示す金属データを求め、前
記位置データに対応して該金属データを出力手段へ表示
出力する制御手段とを具備することを特徴とする金属分
布測定装置 - 【請求項８】 前記制御手段はインダクタンスの変化を
電圧の変化として出力し、その電圧変化量に対応するイ
ンピーダンスの変化量により、前記金属データを求める
ことを特徴とする請求項７記載の金属分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3254582A JPH0820419B2 (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 金属分布測定方法及び測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3254582A JPH0820419B2 (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 金属分布測定方法及び測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0566218A true JPH0566218A (ja) | 1993-03-19 |
| JPH0820419B2 JPH0820419B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=17267042
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3254582A Expired - Fee Related JPH0820419B2 (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 金属分布測定方法及び測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820419B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006010578A (ja) * | 2004-06-28 | 2006-01-12 | Nissei Plastics Ind Co | カーボンナノ材料の分布測定装置 |
| EP1795889A1 (en) * | 2005-12-07 | 2007-06-13 | EATON Corporation | Method and apparatus for determining density of metal-inclusive components by inductance technics |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS569055U (ja) * | 1979-07-03 | 1981-01-26 | ||
| JPS5730971A (en) * | 1980-07-31 | 1982-02-19 | Ponii Sangyo Kk | Metal detector |
| JPS6381262A (ja) * | 1986-07-23 | 1988-04-12 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 渦電流表面写像方式 |
-
1991
- 1991-09-05 JP JP3254582A patent/JPH0820419B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS569055U (ja) * | 1979-07-03 | 1981-01-26 | ||
| JPS5730971A (en) * | 1980-07-31 | 1982-02-19 | Ponii Sangyo Kk | Metal detector |
| JPS6381262A (ja) * | 1986-07-23 | 1988-04-12 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 渦電流表面写像方式 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006010578A (ja) * | 2004-06-28 | 2006-01-12 | Nissei Plastics Ind Co | カーボンナノ材料の分布測定装置 |
| EP1795889A1 (en) * | 2005-12-07 | 2007-06-13 | EATON Corporation | Method and apparatus for determining density of metal-inclusive components by inductance technics |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0820419B2 (ja) | 1996-03-04 |
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