JP2006010578A - カーボンナノ材料の分布測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 測定が短時間で済み、装置が小型でよく且つ三次元的立体物をも容易に測定することができる測定装置を提供することを課題とする。
【解決手段】 測定装置10は、三次元形状の複合成形品11を囲うドーム型の絶縁性基板13と、この絶縁性基板13の内側の面に取付ける複数個のコイル14と、これらのコイル14から引き出した回路15と、これらの回路15を集約し、選択した1個のコイルの情報を出力するスイッチ手段16と、選択した1個のコイル14の情報からそのコイル14のインピーダンス変化量を測定する電気的変化量測定手段18とからなる。
【効果】 複数個のコイルを複合成形品に沿って臨ませ、1個の電気的変化量測定手段とスイッチング手段とにより、複数個の情報を得ることができ、分布を知ることができる。コイルを走査する必要がないので、短時間で測定を実施することができ、生産性を高めることができる。コイルを精密に走査させる必要がないので、装置を小型にすることができる。
【選択図】 図1
【解決手段】 測定装置10は、三次元形状の複合成形品11を囲うドーム型の絶縁性基板13と、この絶縁性基板13の内側の面に取付ける複数個のコイル14と、これらのコイル14から引き出した回路15と、これらの回路15を集約し、選択した1個のコイルの情報を出力するスイッチ手段16と、選択した1個のコイル14の情報からそのコイル14のインピーダンス変化量を測定する電気的変化量測定手段18とからなる。
【効果】 複数個のコイルを複合成形品に沿って臨ませ、1個の電気的変化量測定手段とスイッチング手段とにより、複数個の情報を得ることができ、分布を知ることができる。コイルを走査する必要がないので、短時間で測定を実施することができ、生産性を高めることができる。コイルを精密に走査させる必要がないので、装置を小型にすることができる。
【選択図】 図1
Description
本発明は、カーボンナノ材料の分布測定技術の改良に関する。
近年、カーボンナノ材料と称する特殊な炭素繊維を、プラスチックに混入することで導電性プラスチックにすることや、繊維強化プラスチックにする技術が注目を浴びている。
図10はカーボンナノファイバのモデル図であり、カーボンナノファイバ110は、六角網目状に配列した炭素原子のシートを筒状に巻いた形態のものであり、直径Dが1.0nm(ナノメートル)〜150nmであり、ナノレベルであるため、カーボンナノファイバ又はカーボンナノチューブと呼ばれる。なお、長さLは数μm〜100μmである。
炭素原子が立方格子状に並んだものがダイヤモンドであって、ダイヤモンドは極めて硬い物質である。カーボンナノファイバ110は、ダイヤモンドと同様に規則的な結晶構造を有するために機械的強度は大きい。また、炭素は電気を良く通すため、電極などに用いられる。カーボンナノファイバやカーボンナノチューブ、その他のカーボンナノ物質をカーボンナノ材料と呼ぶ。
樹脂材料にカーボンナノ材料を混ぜて成形した複合成形品においては、カーボンナノ材料が樹脂中にどのように分布しているかが重要になる。分布にむらがあると、強度や特性にばらつきが発生し、品質の低下を招くからである。
複合成形品で添加物の分布を調べる手法として、サンプルを切断し、切断面を顕微鏡で拡大することが知られている。しかし、これでは測定に時間がかかり、且つ成形品を破断するため商品や製品には適用できない。
そこで、非破壊検査法が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
特開平5−66218号公報(請求項1)
そこで、非破壊検査法が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
特許文献1は、複合成形品に接触させないようにして検出コイルを臨ませ、この検出コイルを走査させる。そして、検出コイルのインダクタンスの変化を調べて金属の有無を測定するというものである。
しかし、検出コイルを走査させるのでは、測定に時間がかかり、生産性の向上が難しい。さらには、金属が磁界内を通過した際のインダクタンスが変化する検出コイルが前提となっているため、検出コイルの走査速度を精密に制御するなどインダクタンスの変化を促す必要があり、装置が大型化する。
また、測定対象が平板である場合は、測定はそれほど難しくないが、測定対象が曲面などを含む三次元的立体物である場合は、検出コイルを曲面などに沿って移動しなければならず測定に技術を要する。
本発明は、測定が短時間で済み、装置が小型でよく且つ三次元的立体物をも容易に測定することができる測定装置を提供することを課題とする。
請求項1に係る発明は、樹脂材料にカーボンナノ材料を混ぜて成形した複合成形品を測定対象にして、この複合成形品中のカーボンナノ材料の分布を計測する測定装置において、この測定装置は、前記複合成形品を囲う絶縁性基板と、この絶縁性基板に前記複合成形品に臨ませて取付ける複数個のコイルと、これらのコイルのインピーダンス変化量を測定する電気的変化量測定手段と、この電気的変化量測定手段と前記複数個のコイルとを結ぶ回路に介設し、順に選択した1個のコイルの変化量を電気的変化量測定手段へ伝達可能にするスイッチング手段と、からなることを特徴とする。
請求項2に係る発明では、複合成形品は三次元的立体物であり、絶縁性基板はドーム型基板であることを特徴とする。
請求項3に係る発明では、複合成形品は平板であり、絶縁性基板は平板状基板であることを特徴とする。
請求項1に係る発明では、複数個のコイルを複合成形品に沿って臨ませ、1個の電気的変化量測定手段とスイッチング手段とにより、複数個の情報を得ることができ、分布を知ることができる。
コイルを走査する必要がないので、短時間で測定を実施することができ、生産性を高めることができる。
コイルを精密に走査させる必要がないので、装置を小型にすることができる。
コイルを走査する必要がないので、短時間で測定を実施することができ、生産性を高めることができる。
コイルを精密に走査させる必要がないので、装置を小型にすることができる。
請求項2に係る発明では、絶縁性基板はドーム型基板としたので、三次元的立体物を測定対象にすることができる。コイルを走査する必要がないので、測定に格別の技術は必要が無く、測定作業は容易になる。
請求項3に係る発明では、絶縁性基板は平板状基板としたので、平板状の測定対象に好適である。平板状基板は容易に得ることができ、装置コストを低減することができる。
本発明を実施するための最良の形態を添付図に基づいて以下に説明する。なお、図面は符号の向きに見るものとする。
図1は本発明に係るカーボンナノ材料の分布を計測する測定装置の斜視図であり、カーボンナノ材料の分布を計測する測定装置10(以下、測定装置10という)は、樹脂材料にカーボンナノ材料を混ぜて成形した複合成形品11を測定対象にして、複合成形品中のカーボンナノ材料の分布を計測する測定装置である。
図1は本発明に係るカーボンナノ材料の分布を計測する測定装置の斜視図であり、カーボンナノ材料の分布を計測する測定装置10(以下、測定装置10という)は、樹脂材料にカーボンナノ材料を混ぜて成形した複合成形品11を測定対象にして、複合成形品中のカーボンナノ材料の分布を計測する測定装置である。
測定装置10は、複合成形品11を載せる台12と、三次元形状の複合成形品11を囲うドーム型の絶縁性基板13と、この絶縁性基板13の内側の面に取付ける複数個のコイル14・・・(・・・は複数個を示す。以下同じ)と、これらのコイル14・・・から引き出した回路15・・・と、これらの回路15・・・を集約し、選択した1個のコイル14の情報を出力するスイッチ手段16と、このスイッチ手段16を介して1個のコイル14に交流を給電する交流給電プラグ17と、選択した1個のコイル14の情報からそのコイル14のインピーダンス変化量を測定する電気的変化量測定手段18と、測定したインピーダンス変化量を記憶し、整理し、表示する演算表示部19とからなる。
図2は図1の2矢視図であり、ドーム型の絶縁性基板13の内面に所定の間隔でコイル14・・・を配列したことを示す。
図3は本発明に係るドーム型の絶縁性基板の断面図であり、ドーム型の絶縁性基板13の内面に配列したコイル14・・・から導線を引き出し、絶縁性基板13の外面に回路15・・・を形成したことを示す。
便宜上、回路15・・・は絶縁性基板13の外面に露出させたが、絶縁性基板13に埋設することもできる。
図3は本発明に係るドーム型の絶縁性基板の断面図であり、ドーム型の絶縁性基板13の内面に配列したコイル14・・・から導線を引き出し、絶縁性基板13の外面に回路15・・・を形成したことを示す。
便宜上、回路15・・・は絶縁性基板13の外面に露出させたが、絶縁性基板13に埋設することもできる。
図4はコイルの動作説明図であり、交流電源21により交流電圧を印可するとコイル14に電流iが流れ、この流れに伴って白抜き矢印の磁束21、21が発生する。この磁束21、21の影響を受けて複合成形品11に渦電流が発生し、この渦電流の発生に伴って複合成形品11側に磁束22・・・が発生する。この磁束22・・・の有無や大小が磁束21、21に影響を及ぼす。
コイル14の巻き数、材質、形状によって定まる特性値がインダクタンスLである。このインダクタンスLに周波数fと2πを乗じたものが、リアクタンスXである。
そして、リアクタンスXの2乗と抵抗Rの2乗との和の平方根((R2+X2)0.5)が、インピーダンスZとなる。
そして、リアクタンスXの2乗と抵抗Rの2乗との和の平方根((R2+X2)0.5)が、インピーダンスZとなる。
図5は抵抗とリアクタンスとインピーダンスとの相関図である。
(a)において、横軸に抵抗R、縦軸にリアクタンスXをとると、インピーダンスZは右上がりのベクトルとして表すことができる。
(a)において、横軸に抵抗R、縦軸にリアクタンスXをとると、インピーダンスZは右上がりのベクトルとして表すことができる。
(b)において、ベクトルZは、コイル14単体によるインピーダンスであるとする。すなわち、図4において複合成形品11なしで測定して得たインピーダンスZである。
次に、図4において複合成形品11をコイル14に臨ませると、磁束22,22の影響を受け、図5(b)に示すインピーダンスZeに変化する。
両ベクトルの差に相当するベクトルZcが、インピーダンスの変化量となる。
次に、図4において複合成形品11をコイル14に臨ませると、磁束22,22の影響を受け、図5(b)に示すインピーダンスZeに変化する。
両ベクトルの差に相当するベクトルZcが、インピーダンスの変化量となる。
ところで、図4において複合成形品11に含まれるカーボンナノ材料の量により渦電流が変化し、磁束22、22の大きさが変化する。
すなわち、インピーダンスZeは複合成形品11に含まれるカーボンナノ材料の添加量に対応して変化するから、ベクトルZcを測ることでカーボンナノ材料の添加量を調べることができる。その具体例を次に説明する。
すなわち、インピーダンスZeは複合成形品11に含まれるカーボンナノ材料の添加量に対応して変化するから、ベクトルZcを測ることでカーボンナノ材料の添加量を調べることができる。その具体例を次に説明する。
図6はカーボンナノ材料添加量と抵抗値との関係を調べたグラフであり、横軸はカーボンナノ材料添加量、縦軸は体積抵抗値を示す。
横軸の「0」は、カーボンナノ材料がゼロ、すなわちカーボンナノ材料の添加量がゼロの場合を示し、このときには抵抗値は大きい。そして、カーボンナノ材料の添加量を増加すると抵抗値が減少することが分かる。抵抗値はインピーダンスと密接な関係がある。
横軸の「0」は、カーボンナノ材料がゼロ、すなわちカーボンナノ材料の添加量がゼロの場合を示し、このときには抵抗値は大きい。そして、カーボンナノ材料の添加量を増加すると抵抗値が減少することが分かる。抵抗値はインピーダンスと密接な関係がある。
測定したインピーダンスの変化量を、体積抵抗値に換算し、換算した体積抵抗値を図6の縦軸に当てはめれば、そのときのカーボンナノ材料の添加量を知ることができる。
そこで、図1において、台12に載せた三次元形状の複合成形品11にドーム形の絶縁基板13を被せ、スイッチ手段16で、コイル14を切り替えながらインピーダンスの変化量を調べた。その結果を、次に示す。
図7は複数のコイルにおけるインピーダンスの変化量を調べたグラフであり、横軸はコイル番号(S1〜S7)、縦軸はインピーダンスの変化量Zcを示す。
S1〜S7の変化量Zcを棒グラフ化すると共に、平均値及び標準偏差σを求め、平均値±σの範囲を許容範囲とした。すると、S5では下に外れ、S7では上に外れた。
S1〜S7の変化量Zcを棒グラフ化すると共に、平均値及び標準偏差σを求め、平均値±σの範囲を許容範囲とした。すると、S5では下に外れ、S7では上に外れた。
すると、S5のコイルが臨む部位ではカーボンナノ材料の添加量が他の部位より小さいと判定でき、S7のコイルが臨む部位ではカーボンナノ材料の添加量が他の部位より大きいと判定できる。なお、測定時間は装置のセット時間とスイッチ手段の切換え時間との合計になるが、スイッチ手段の切換え時間はごく僅かである。
したがって、カーボンナノ材料の分布が均一であるか否かを短時間で判定することができる。
したがって、カーボンナノ材料の分布が均一であるか否かを短時間で判定することができる。
図8は図1の別実施例図であり、複合成形品11は平板であり、絶縁性基板13は平板状基板であることを特徴とする。その他の要素は図1の符号を流用し、詳細な説明は省略する。
図9は図8の9矢視図であり、コイル14・・・を所定間隔で配列したことを示す。
平板状基板は容易に得ることができ、装置コストを低減することができる。
図9は図8の9矢視図であり、コイル14・・・を所定間隔で配列したことを示す。
平板状基板は容易に得ることができ、装置コストを低減することができる。
尚、本発明のドーム型絶縁基板の形状は、半球殻に限定するものではなく、三次元立体物である複合成形品の形状に倣った形状であればよい。
本発明は、プラスチックにカーボンナノ材料を添加してなる複合成形品を検査対象とし、カーボンナノ材料の分布を測定技術に好適である。
10…カーボンナノ材料の分布を計測する測定装置、11…複合成形品、13…絶縁基板、14…コイル、15…回路、16…スイッチ手段、18…電気的変化量測定手段。
Claims (3)
- 樹脂材料にカーボンナノ材料を混ぜて成形した複合成形品を測定対象にして、この複合成形品中のカーボンナノ材料の分布を計測する測定装置において、
この測定装置は、前記複合成形品を囲う絶縁性基板と、この絶縁性基板に前記複合成形品に臨ませて取付ける複数個のコイルと、これらのコイルのインピーダンス変化量を測定する電気的変化量測定手段と、この電気的変化量測定手段と前記複数個のコイルとを結ぶ回路に介設し、順に選択した1個のコイルの変化量を電気的変化量測定手段へ伝達可能にするスイッチング手段と、からなることを特徴とするカーボンナノ材料の分布測定装置。 - 前記複合成形品は三次元的立体物であり、前記絶縁性基板はドーム型基板であることを特徴とする請求項1記載のカーボンナノ材料の分布測定装置。
- 前記複合成形品は平板であり、前記絶縁性基板は平板状基板であることを特徴とする請求項1記載のカーボンナノ材料の分布測定装置。
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JP2004190093A JP2006010578A (ja) | 2004-06-28 | 2004-06-28 | カーボンナノ材料の分布測定装置 |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02304348A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Nippon Keisoku Kogyo Kk | 交流磁界による物品の検査装置 |
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JPH0566218A (ja) * | 1991-09-05 | 1993-03-19 | Nissei Plastics Ind Co | 金属分布測定方法及び測定装置 |
JP2003344360A (ja) * | 2002-05-23 | 2003-12-03 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | 3次元形状物検査装置 |
-
2004
- 2004-06-28 JP JP2004190093A patent/JP2006010578A/ja active Pending
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Title |
---|
荒井政大,他4名: ""カーボンナノファイバ強化プラスチックの機械的特性の評価"", 日本機械学会材料力学部門講演会講演論文集, JPN4007015839, 2003, pages 111 - 112, ISSN: 0000881229 * |
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