JPH0565024B2 - - Google Patents
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- JPH0565024B2 JPH0565024B2 JP61201854A JP20185486A JPH0565024B2 JP H0565024 B2 JPH0565024 B2 JP H0565024B2 JP 61201854 A JP61201854 A JP 61201854A JP 20185486 A JP20185486 A JP 20185486A JP H0565024 B2 JPH0565024 B2 JP H0565024B2
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- 235000013339 cereals Nutrition 0.000 description 105
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は穀物水分測定装置に係り、特に試料
穀物の圧砕時間を測定して予め設定した基準時間
と比較させ、試料穀物が正常粒状態であるかを判
断し、正常粒の水分値のみを入力させ、平均水分
値がバラツキ度の精度の向上を図る穀物水分測定
装置に関する。
穀物の圧砕時間を測定して予め設定した基準時間
と比較させ、試料穀物が正常粒状態であるかを判
断し、正常粒の水分値のみを入力させ、平均水分
値がバラツキ度の精度の向上を図る穀物水分測定
装置に関する。
穀物の水分値を測定部する穀物水分測定装置に
は、試料穀物を一対の電極間にて圧砕し、この電
極間に生じた電気抵抗値を水分値に変換して水分
値を自動的に測定する自動式穀物水分測定装置
と、手動によつて試料穀物を圧砕し水分値を測定
する手動式穀物水分測定装置とがある。そして、
この測定された水分値は穀物乾燥機の穀物乾燥状
態を知るために使用されている。
は、試料穀物を一対の電極間にて圧砕し、この電
極間に生じた電気抵抗値を水分値に変換して水分
値を自動的に測定する自動式穀物水分測定装置
と、手動によつて試料穀物を圧砕し水分値を測定
する手動式穀物水分測定装置とがある。そして、
この測定された水分値は穀物乾燥機の穀物乾燥状
態を知るために使用されている。
ところで、従来の自動式穀物水分測定装置にお
いては、一対のロール電極間にて試料穀物を圧砕
することにより、圧砕時の試料穀物が上方に飛散
し、試料穀物内に正常粒状態以外の屑粒が混入す
るものである。
いては、一対のロール電極間にて試料穀物を圧砕
することにより、圧砕時の試料穀物が上方に飛散
し、試料穀物内に正常粒状態以外の屑粒が混入す
るものである。
この結果、試料穀物の圧砕の際に、異常粒たる
屑粒を圧砕し例えば低水分値として入力されるこ
ととなり、穀物の平均水分値やバラツキ度(範囲
や標準偏差等)に大きな影響を与え、精度が著し
く低下するという不都合がある。
屑粒を圧砕し例えば低水分値として入力されるこ
ととなり、穀物の平均水分値やバラツキ度(範囲
や標準偏差等)に大きな影響を与え、精度が著し
く低下するという不都合がある。
そこでこの発明の目的は、上述不都合を除去す
るために、穀物水分測定装置の試料穀物の水分値
を測定する水分測定部と、この水分測定部からの
出力電圧を一時ホールドする電圧ホールド回路
と、ホールドした電圧をA/D変換するA/D変
換回路と、前記水分測定部における試料穀物の圧
砕時間を測定しこの圧砕時間が予め設定した基準
時間以上の場合にのみ正規の水分値として入力す
べく制御する制御部とを有することにより、試料
穀物の圧砕時間を測定して予め設定した基準時間
と比較させ、試料穀物が正常粒状態であるかを判
断し、異常粒たる屑粒の水分値を排除するととも
に、正常粒の水分値のみを入力させ、平均水分値
やバラツキ度の精度を向上し得る穀物水分測定装
置を実現するにある。
るために、穀物水分測定装置の試料穀物の水分値
を測定する水分測定部と、この水分測定部からの
出力電圧を一時ホールドする電圧ホールド回路
と、ホールドした電圧をA/D変換するA/D変
換回路と、前記水分測定部における試料穀物の圧
砕時間を測定しこの圧砕時間が予め設定した基準
時間以上の場合にのみ正規の水分値として入力す
べく制御する制御部とを有することにより、試料
穀物の圧砕時間を測定して予め設定した基準時間
と比較させ、試料穀物が正常粒状態であるかを判
断し、異常粒たる屑粒の水分値を排除するととも
に、正常粒の水分値のみを入力させ、平均水分値
やバラツキ度の精度を向上し得る穀物水分測定装
置を実現するにある。
この目的を達成するためにこの発明は、一対の
ロール電極間にて試料穀物を圧砕し前記ロール電
極間に生じた電気抵抗値を水分値に変換して自動
的に水分値を測定する穀物水分測定装置におい
て、前記一対のロール電極により試料穀物の水分
値を測定する水分測定部と、この水分測定部から
の出力電圧を一時ホールドする電圧ホールド回路
と、ホールドした電圧をA/D変換するA/D変
換回路と、前記水分測定部における試料穀物の圧
砕時間を測定しこの圧砕時間が予め設定した基準
時間以上の場合にのみに正規の水分値として入力
すべく制御する制御部とを有することを特徴とす
る。
ロール電極間にて試料穀物を圧砕し前記ロール電
極間に生じた電気抵抗値を水分値に変換して自動
的に水分値を測定する穀物水分測定装置におい
て、前記一対のロール電極により試料穀物の水分
値を測定する水分測定部と、この水分測定部から
の出力電圧を一時ホールドする電圧ホールド回路
と、ホールドした電圧をA/D変換するA/D変
換回路と、前記水分測定部における試料穀物の圧
砕時間を測定しこの圧砕時間が予め設定した基準
時間以上の場合にのみに正規の水分値として入力
すべく制御する制御部とを有することを特徴とす
る。
上述の如く構成したことにより、試料穀物の圧
砕の際には、試料穀物の圧砕時間を測定し、予め
設定した正常粒状態の基準時間と比較させ、試料
穀物が正常粒状態であるかを判断し、異常粒たる
屑粒の水分値を排除するとともに、正常粒の水分
値のみを入力させ、平均水分値やバラツキ度の精
度を向上させている。
砕の際には、試料穀物の圧砕時間を測定し、予め
設定した正常粒状態の基準時間と比較させ、試料
穀物が正常粒状態であるかを判断し、異常粒たる
屑粒の水分値を排除するとともに、正常粒の水分
値のみを入力させ、平均水分値やバラツキ度の精
度を向上させている。
以下図面に基づいてこの発明の実施例を詳細に
説明する。
説明する。
第1〜7図はこの発明の実施例を示すものであ
る。第1〜5図において、2は自動式の穀物水分
測定装置である。この箱状に形成される穀物水分
測定装置2の前面2aには、スイツチ群を配設し
た制御盤4と、プリンタからなる印字部6とを設
ける。第1図に示す如く、制御盤4には、測定し
た水分値を表示する表示部8と、測定する穀物の
種類を設定する穀物選択スイツチ10と、電源ス
イツチ12とが配設される。
る。第1〜5図において、2は自動式の穀物水分
測定装置である。この箱状に形成される穀物水分
測定装置2の前面2aには、スイツチ群を配設し
た制御盤4と、プリンタからなる印字部6とを設
ける。第1図に示す如く、制御盤4には、測定し
た水分値を表示する表示部8と、測定する穀物の
種類を設定する穀物選択スイツチ10と、電源ス
イツチ12とが配設される。
また、前記穀物水分測定装置2の上面2bに
は、試料穀物を投入するホツパ14が設けられ、
第3,4図に示す如く、このホツパ14に投入さ
れた試料穀物を一対のロール電極18,20間に
一粒づつ供給する粒送り板16が設けられるとと
もに、粒送り板16や一対のロール電極18,2
0をベルト駆動する駆動部22が設けられてい
る。
は、試料穀物を投入するホツパ14が設けられ、
第3,4図に示す如く、このホツパ14に投入さ
れた試料穀物を一対のロール電極18,20間に
一粒づつ供給する粒送り板16が設けられるとと
もに、粒送り板16や一対のロール電極18,2
0をベルト駆動する駆動部22が設けられてい
る。
前記穀物水分測定装置2の電気回路は、第5図
に示す如く、前記一対のロール電極18,20に
より試料穀物の水分値を測定する水分測定部24
と、この水分測定部24からの出力電圧(V)を
一時ホールドする電圧ホールド回路26と、ホー
ルドしたアナログ量としての電圧をデジタル信号
に、つまりA/D変換するA/D変換回路28
と、前記水分測定部24における試料穀物の圧砕
時間を測定しこの圧砕時間が予め設定した基準時
間以上の場合にのみ正規の水分値として入力すべ
く制御する制御部30と、制御部30からの信号
によつて測定した水分値を表示する前記表示部8
と、前記印字部6を制御する印字制御回路32と
からなる。
に示す如く、前記一対のロール電極18,20に
より試料穀物の水分値を測定する水分測定部24
と、この水分測定部24からの出力電圧(V)を
一時ホールドする電圧ホールド回路26と、ホー
ルドしたアナログ量としての電圧をデジタル信号
に、つまりA/D変換するA/D変換回路28
と、前記水分測定部24における試料穀物の圧砕
時間を測定しこの圧砕時間が予め設定した基準時
間以上の場合にのみ正規の水分値として入力すべ
く制御する制御部30と、制御部30からの信号
によつて測定した水分値を表示する前記表示部8
と、前記印字部6を制御する印字制御回路32と
からなる。
また、前記水分測定部24における試料穀物の
圧砕時間Tsは、穀粒の種類、つまり粒の大きさ
によつて変化するものであるが、その正常粒状態
の穀物の圧砕時間の平平均値は穀物の種類に
よつて略一定であり、基準時間Trを穀物種によ
つて変更する方が好ましいが、この実施例におい
ては例えば200msに設定する。
圧砕時間Tsは、穀粒の種類、つまり粒の大きさ
によつて変化するものであるが、その正常粒状態
の穀物の圧砕時間の平平均値は穀物の種類に
よつて略一定であり、基準時間Trを穀物種によ
つて変更する方が好ましいが、この実施例におい
ては例えば200msに設定する。
つまり、第7図A,Bに示す如く、正常粒状態
の大麦の圧砕時間の平均値は略440msである
とともに、正常粒状態の玄米の圧砕時間の平均値
Tsは略360msであり、これら圧砕時間の平均値
Tsよりも少許小さく基準時間Trを設定するもの
である。
の大麦の圧砕時間の平均値は略440msである
とともに、正常粒状態の玄米の圧砕時間の平均値
Tsは略360msであり、これら圧砕時間の平均値
Tsよりも少許小さく基準時間Trを設定するもの
である。
前記制御部30は、大麦あるいは玄米の圧砕時
間Tsを測定しこの圧砕時間Tsと予め設定した基
準時間Trとを比較し、圧砕時間Tsが基準時間Tr
以上、例えばTs>Trの場合にのみ正常粒状態の
穀物と判断し正規の水分値として入力すべく制御
する。
間Tsを測定しこの圧砕時間Tsと予め設定した基
準時間Trとを比較し、圧砕時間Tsが基準時間Tr
以上、例えばTs>Trの場合にのみ正常粒状態の
穀物と判断し正規の水分値として入力すべく制御
する。
なお符号34は前記制御盤4に配設される測定
スイツチ、VHは水分測定部24の出力電圧Vの
波高値であり、試料穀物の水分値を表すものであ
る。
スイツチ、VHは水分測定部24の出力電圧Vの
波高値であり、試料穀物の水分値を表すものであ
る。
次に作用を第6図の制御用フローチヤートに沿
つて説明する。
つて説明する。
先ず前記穀物水分測定装置2により試料穀物が
圧砕中か否かの判断(100)を行い、NOの場合
にはこの判断(100)を繰返し行い、YESの場合
にはタイマをスタート(102)させる。そして、
試料穀物の圧砕が終了したか否かの判断(104)
を行い、NOの場合にはこの判断104を繰返し
行い、YESの場合にはタイマをストツプ(106)
させ、タイマによつて測定した時間を圧砕時間
Tsとする。この圧砕時間Tsと基準時間Trとの関
係が、Ts>Trであるか否かの判断(108)を行
い、NOの場合には圧砕した試料穀物が異常粒た
る屑粒であると判断し一時ホールドした水分測定
部24からのサンプルの出力電圧(V)のホール
ドをリセツト(114)する。また、YESの場合に
はA/D変換回路28によりA/D変換(110)
を行い、前記制御部30の図示しないメモリに格
納(112)させた後に、一時ホールドした水分測
定部24からの出力電圧(V)のホールドをリセ
ツト(114)する。
圧砕中か否かの判断(100)を行い、NOの場合
にはこの判断(100)を繰返し行い、YESの場合
にはタイマをスタート(102)させる。そして、
試料穀物の圧砕が終了したか否かの判断(104)
を行い、NOの場合にはこの判断104を繰返し
行い、YESの場合にはタイマをストツプ(106)
させ、タイマによつて測定した時間を圧砕時間
Tsとする。この圧砕時間Tsと基準時間Trとの関
係が、Ts>Trであるか否かの判断(108)を行
い、NOの場合には圧砕した試料穀物が異常粒た
る屑粒であると判断し一時ホールドした水分測定
部24からのサンプルの出力電圧(V)のホール
ドをリセツト(114)する。また、YESの場合に
はA/D変換回路28によりA/D変換(110)
を行い、前記制御部30の図示しないメモリに格
納(112)させた後に、一時ホールドした水分測
定部24からの出力電圧(V)のホールドをリセ
ツト(114)する。
これにより、試料穀物の圧砕の際に、試料穀物
の圧砕時間を測定し、予め設定した正常粒状態の
基準時間と比較させ、試料穀物が正常粒状態であ
るかを判断し、異常粒たる屑粒の水分値を排除す
ることができるとともに、正常粒の水分値のみを
入力させることができ、平均水分値やバラツキ度
の精度を向上させ得る。
の圧砕時間を測定し、予め設定した正常粒状態の
基準時間と比較させ、試料穀物が正常粒状態であ
るかを判断し、異常粒たる屑粒の水分値を排除す
ることができるとともに、正常粒の水分値のみを
入力させることができ、平均水分値やバラツキ度
の精度を向上させ得る。
また、制御部のプログラムの変更のみによつて
実現できることにより、既製の装置に装着でき、
実用上有利であるとともに、装置の構成を複雑化
する惧れがなく、従来の装置と同様に、保守・点
検を行うことができるものである。
実現できることにより、既製の装置に装着でき、
実用上有利であるとともに、装置の構成を複雑化
する惧れがなく、従来の装置と同様に、保守・点
検を行うことができるものである。
なお、この発明は上述実施例に限定されるもの
ではなく、種々の応用改変が可能である。
ではなく、種々の応用改変が可能である。
例えば、この発明の実施例においては、試料穀
物の圧砕時間の平均値を大麦と玄米とにおいて
夫々同一に設定して説明したが、大麦と玄米とに
より夫々異なる所定の圧砕時間の平均値に設定
し、測定時に夫々切換えて水分値を測定する構成
とすることも可能である。また、圧砕時間Tsが
異常に長い、例えば予め設定した基準時間Trの
2倍以上の場合には、複粒測定や異物測定し、そ
の測定を排除することも可能である。
物の圧砕時間の平均値を大麦と玄米とにおいて
夫々同一に設定して説明したが、大麦と玄米とに
より夫々異なる所定の圧砕時間の平均値に設定
し、測定時に夫々切換えて水分値を測定する構成
とすることも可能である。また、圧砕時間Tsが
異常に長い、例えば予め設定した基準時間Trの
2倍以上の場合には、複粒測定や異物測定し、そ
の測定を排除することも可能である。
以上詳細に説明した如くこの発明によれば、穀
物水分測定装置の試料穀物の水分値を測定する水
分測定部と、この水分測定部からの出力電圧を一
時ホールドする電圧ホールド回路と、ホールドし
た電圧をA/D変換するA/D変換回路と、前記
水分測定部における試料穀物の圧砕時間を測定し
この圧砕時間が予め設定した基準時間以上の場合
にのみ正規の水分値として入力すべく制御する制
御部とを有するので、試料穀物の圧砕の際に、試
料穀物の圧砕時間を測定しこの圧砕時間と予め設
定した基準時間とを比較させ、試料穀物が正常粒
状態であるかを判断して異常粒たる屑粒の水分値
を排除し得るとともに、正常粒の水分値のみを入
力させ得て、平均水分値やバラツキ度の精度を向
上させ得る。また、制御部のプログラムの変更の
みによつて実現できることにより、既製の装置に
装着でき、実用上有利であるとともに、装置の構
成を複雑化する惧れがなく、従来の装置と同様
に、保守・点検を行う得るものである。
物水分測定装置の試料穀物の水分値を測定する水
分測定部と、この水分測定部からの出力電圧を一
時ホールドする電圧ホールド回路と、ホールドし
た電圧をA/D変換するA/D変換回路と、前記
水分測定部における試料穀物の圧砕時間を測定し
この圧砕時間が予め設定した基準時間以上の場合
にのみ正規の水分値として入力すべく制御する制
御部とを有するので、試料穀物の圧砕の際に、試
料穀物の圧砕時間を測定しこの圧砕時間と予め設
定した基準時間とを比較させ、試料穀物が正常粒
状態であるかを判断して異常粒たる屑粒の水分値
を排除し得るとともに、正常粒の水分値のみを入
力させ得て、平均水分値やバラツキ度の精度を向
上させ得る。また、制御部のプログラムの変更の
みによつて実現できることにより、既製の装置に
装着でき、実用上有利であるとともに、装置の構
成を複雑化する惧れがなく、従来の装置と同様
に、保守・点検を行う得るものである。
第1〜7図はこの発明の実施例を示し、第1図
は穀物水分測定装置の正面図、第2図は穀物水分
測定装置の概略断面正面図、第3図は穀物水分測
定装置の概略断面背面図、第4図は穀物水分測定
装置の概略断面左側面図、第5図は穀物水分測定
装置のブロツク図、第6図は穀物水分測定装置の
制御用フローチヤート、第7図A,Bは穀物水分
測定装置による圧砕時の大麦と玄米との出力電圧
を示す図である。 図において、2は穀物水分測定装置、4は制御
盤、10は穀物選択スイツチ、12は電源スイツ
チ、18,20はロール電極、24は水分測定
部、26は電圧ホールド回路、28はA/D変換
回路、30は制御部である。
は穀物水分測定装置の正面図、第2図は穀物水分
測定装置の概略断面正面図、第3図は穀物水分測
定装置の概略断面背面図、第4図は穀物水分測定
装置の概略断面左側面図、第5図は穀物水分測定
装置のブロツク図、第6図は穀物水分測定装置の
制御用フローチヤート、第7図A,Bは穀物水分
測定装置による圧砕時の大麦と玄米との出力電圧
を示す図である。 図において、2は穀物水分測定装置、4は制御
盤、10は穀物選択スイツチ、12は電源スイツ
チ、18,20はロール電極、24は水分測定
部、26は電圧ホールド回路、28はA/D変換
回路、30は制御部である。
Claims (1)
- 1 一対のロール電極間にて試料穀物を圧砕し前
記ロール電極間に生じた電気抵抗値を水分値に変
換して自動的に水分値を測定する穀物水分測定装
置において、前記一対のロール電極により試料穀
物の水分値を測定する水分測定部と、この水分測
定部からの出力電圧を一時ホールドする電圧ホー
ルド回路と、ホールドした電圧をA/D変換する
A/D変換回路と、前記水分測定部における試料
穀物の圧砕時間を測定しこの圧砕時間が予め設定
した基準時間以上の場合にのみ正規の水分値とし
て入力すべく制御する制御部とを有することを特
徴とする穀物水分測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20185486A JPS6358244A (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | 穀物水分測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20185486A JPS6358244A (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | 穀物水分測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6358244A JPS6358244A (ja) | 1988-03-14 |
JPH0565024B2 true JPH0565024B2 (ja) | 1993-09-16 |
Family
ID=16447984
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20185486A Granted JPS6358244A (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | 穀物水分測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6358244A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU645572B2 (en) * | 1990-05-03 | 1994-01-20 | United States Of America, As Represented By The Secretary Of Agriculture, The | Device for singulating particles including a rapid, single kernel grain characterization system |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS612052A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-08 | Iseki & Co Ltd | 穀粒用自動水分計 |
-
1986
- 1986-08-29 JP JP20185486A patent/JPS6358244A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS612052A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-08 | Iseki & Co Ltd | 穀粒用自動水分計 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6358244A (ja) | 1988-03-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |