JPS6246246A - 穀粒の水分検出方式 - Google Patents
穀粒の水分検出方式Info
- Publication number
- JPS6246246A JPS6246246A JP18821085A JP18821085A JPS6246246A JP S6246246 A JPS6246246 A JP S6246246A JP 18821085 A JP18821085 A JP 18821085A JP 18821085 A JP18821085 A JP 18821085A JP S6246246 A JPS6246246 A JP S6246246A
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- JP
- Japan
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- moisture
- grain
- voltage
- value
- electrical noise
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発…は、穀粒の水分検出方式に関するもので、穀粒
乾燥機によって乾燥する穀粒の水分を検出する穀粒水分
測定器などに利用できる。
乾燥機によって乾燥する穀粒の水分を検出する穀粒水分
測定器などに利用できる。
従来の技術
従来は、電極間に穀粒を供給し、この穀粒を挟圧粉砕し
ながら、この粉砕のときに検出される波形の水分電圧を
A−D変換し、この変換された水分電圧値を全て処理し
て、穀粒の水分値とする穀粒の水分検出方式であった。
ながら、この粉砕のときに検出される波形の水分電圧を
A−D変換し、この変換された水分電圧値を全て処理し
て、穀粒の水分値とする穀粒の水分検出方式であった。
発明が解決しようとする問題点
電極間に穀粒を一粒毎に挟圧粉砕しながら、この粉砕の
ときの穀粒の水分抵抗を、波形の水分電圧に置換し、こ
の波形の水分電圧にもとづいてA−D変換を行ない、こ
の変換された水分電圧値を全て処理して穀粒の水分値と
する検出方式にあっては、穀粒を一粒毎に検出する間に
電気的ノイズが発生すると、この電気的ノイズの波形電
圧も穀粒を検出したこととして処理されるため、該穀粒
の正確な水分値が検出できないことがあった。
ときの穀粒の水分抵抗を、波形の水分電圧に置換し、こ
の波形の水分電圧にもとづいてA−D変換を行ない、こ
の変換された水分電圧値を全て処理して穀粒の水分値と
する検出方式にあっては、穀粒を一粒毎に検出する間に
電気的ノイズが発生すると、この電気的ノイズの波形電
圧も穀粒を検出したこととして処理されるため、該穀粒
の正確な水分値が検出できないことがあった。
問題点を解決するための手段
この発明は、電極(1)、(1)間で穀粒を一粒毎に粉
砕しながら検出される波形の水分電圧(2)を、この波
形の水分電圧(2)にもとづいてA−D変換を行ない、
この変換された水分′屯圧値を処理して水分値とすると
共に、該波形の水分電圧(2)と電気的ノイズ電圧(9
)との立上り(3)の一定時間(4)内の波形により穀
粒を検出したか、又は該電気的ノイズを検出したかを判
定し、この検出した電気的ノイズはカット処理すること
全特長とする穀粒の水分検出方式の構成とする。
砕しながら検出される波形の水分電圧(2)を、この波
形の水分電圧(2)にもとづいてA−D変換を行ない、
この変換された水分′屯圧値を処理して水分値とすると
共に、該波形の水分電圧(2)と電気的ノイズ電圧(9
)との立上り(3)の一定時間(4)内の波形により穀
粒を検出したか、又は該電気的ノイズを検出したかを判
定し、この検出した電気的ノイズはカット処理すること
全特長とする穀粒の水分検出方式の構成とする。
発!】の作用
電極(1)、(1)間に一粒毎穀粒を案内供給して、こ
れを粉砕すると同時に水分電圧(2)として検出すれば
、この水分電圧(2)は波形のアナログとして表示され
るもので、この波形の水分電圧(2)をA−D変換し、
このA−D変換された水分電圧のデジタル値を処理して
穀粒の水分値とすると共に、該波形の水分電圧(2)と
電気的ノイズの波形電圧(9)との立上り(3)にもと
づいて一定時間(4)内にA−D変換した、このA−D
変換された該両電圧(2)、(9)のデジタル値を処理
して、穀粒を検出したか、又は電気的ノイズを検出した
かを判定して、該電気的ノイズを検出したときにはカッ
ト処理されるものである。
れを粉砕すると同時に水分電圧(2)として検出すれば
、この水分電圧(2)は波形のアナログとして表示され
るもので、この波形の水分電圧(2)をA−D変換し、
このA−D変換された水分電圧のデジタル値を処理して
穀粒の水分値とすると共に、該波形の水分電圧(2)と
電気的ノイズの波形電圧(9)との立上り(3)にもと
づいて一定時間(4)内にA−D変換した、このA−D
変換された該両電圧(2)、(9)のデジタル値を処理
して、穀粒を検出したか、又は電気的ノイズを検出した
かを判定して、該電気的ノイズを検出したときにはカッ
ト処理されるものである。
発明の効果
この発明により、穀粒は電極(1)、(1)間に供給さ
れ粉砕されて検出される穀粒の水分゛電圧(2)と電気
的ノイズの電圧(9)とのアナログ値の該両波形電圧(
2)、(9)の立上り(3)の一定時間(4)内に行な
われて変換されたデジタル値により、穀粒を検出のとき
の、該波形水分゛電圧(2)の該立上り(3)の該−・
定時間(4)内の波形は緩やかな傾斜で立上るが、電気
的ノイズを検出のときの、該立上り(3)の該一定時間
(4)内の波形は急傾斜で立上るので、このアナログ値
の波形をデジタル値に変換することによって、該電気的
ノイズのカット処理が容易にできるので、穀粒検出のと
きのみの該A−D変換値が穀粒の水分値として処理され
ることになるため、正確な穀粒の水分値を検出すること
ができる。
れ粉砕されて検出される穀粒の水分゛電圧(2)と電気
的ノイズの電圧(9)とのアナログ値の該両波形電圧(
2)、(9)の立上り(3)の一定時間(4)内に行な
われて変換されたデジタル値により、穀粒を検出のとき
の、該波形水分゛電圧(2)の該立上り(3)の該−・
定時間(4)内の波形は緩やかな傾斜で立上るが、電気
的ノイズを検出のときの、該立上り(3)の該一定時間
(4)内の波形は急傾斜で立上るので、このアナログ値
の波形をデジタル値に変換することによって、該電気的
ノイズのカット処理が容易にできるので、穀粒検出のと
きのみの該A−D変換値が穀粒の水分値として処理され
ることになるため、正確な穀粒の水分値を検出すること
ができる。
実施例
なお、図例において、電極(1)、(1)は左右一対の
ロール形態として、互に反対方向へ回転連動させて、こ
の電極(1)、(1)上側に供給される穀粒を、これら
電極(1)、(1)間に繰込み挟圧して粉砕する構成と
し、この粉砕と同時に該電極(1)、(1)間を流れる
電流によって穀粒の水分抵抗を検出する構成である。
ロール形態として、互に反対方向へ回転連動させて、こ
の電極(1)、(1)上側に供給される穀粒を、これら
電極(1)、(1)間に繰込み挟圧して粉砕する構成と
し、この粉砕と同時に該電極(1)、(1)間を流れる
電流によって穀粒の水分抵抗を検出する構成である。
この水分抵抗を水分電圧に変換する水分電圧変換回路(
5)は、水分抵抗を入力するブリッジ回路(6)、水分
と抵抗との関係を、水分と電圧との関係に変換する対数
変換回路(7)、及び増幅回路(8)等からなり、この
増幅回路(8)より出力される穀粒の波形水分電圧(2
)と電気的ノイズの波形電圧(9)とを検出回路(lO
)に入力し、この検出回路(10)で該穀粒の波形水分
電圧(2)と該電気的ノイズの波形電圧(9)との曲線
の立上り(3)の検出によって、この立上り(3)より
一定時間(4)内の該両波形電圧(2)、(9)のアナ
ログ値をデジタル値にA−D変換回路(11)で変換し
、この変換されたデジタル値をコンピュータ(12)に
入力し、このコンピュータ(12)で該穀粒を検出した
か、又は該電気的ノイズを検出したかを判定し、8に電
気的ノイズを検出したと判定するとカー、ト処理する構
成である。
5)は、水分抵抗を入力するブリッジ回路(6)、水分
と抵抗との関係を、水分と電圧との関係に変換する対数
変換回路(7)、及び増幅回路(8)等からなり、この
増幅回路(8)より出力される穀粒の波形水分電圧(2
)と電気的ノイズの波形電圧(9)とを検出回路(lO
)に入力し、この検出回路(10)で該穀粒の波形水分
電圧(2)と該電気的ノイズの波形電圧(9)との曲線
の立上り(3)の検出によって、この立上り(3)より
一定時間(4)内の該両波形電圧(2)、(9)のアナ
ログ値をデジタル値にA−D変換回路(11)で変換し
、この変換されたデジタル値をコンピュータ(12)に
入力し、このコンピュータ(12)で該穀粒を検出した
か、又は該電気的ノイズを検出したかを判定し、8に電
気的ノイズを検出したと判定するとカー、ト処理する構
成である。
このカット処理されなかった該穀粒の波形水分電圧(2
)の該アナログ値を該デジタル値に該A−D変換回路(
11)で変換された、この変換デジタル値のうち、例え
ば、該水分電圧(2)の最高値(13)における最大値
を該コンピュータ(12)で読み取って、対象とする測
定穀粒水分値として処理し、この水分デジタル値を以っ
て該穀粒の水分値として直接表示回路(14)に表示さ
せたり、又制御値として制御モータ(15)を制御すべ
く利用できる構成である。
)の該アナログ値を該デジタル値に該A−D変換回路(
11)で変換された、この変換デジタル値のうち、例え
ば、該水分電圧(2)の最高値(13)における最大値
を該コンピュータ(12)で読み取って、対象とする測
定穀粒水分値として処理し、この水分デジタル値を以っ
て該穀粒の水分値として直接表示回路(14)に表示さ
せたり、又制御値として制御モータ(15)を制御すべ
く利用できる構成である。
電極(1)、(1)間に穀粒を一粒毎に供給すると、こ
の穀粒が供給される毎に、該電極(1)、(1)間で穀
粒は挟圧粉砕され、この粉砕のときにこの電極(1)、
(1)間を流れる電流の穀粒水分による抵抗と、電気的
ノイズによる抵抗とを水分電圧変換回路(5)で穀粒の
波形水分電圧(2)と電気的ノイズの波形電圧(9)と
の曲線としてアナログ検出され、この穀粒の水分電圧(
2)とこの電気的ノイズの電圧(9)との立上り(3)
を立上り検出回路(10)で検出し、この立上り(3)
より一定時間(4)内の該両波形電圧(2)、(9)の
アナログ値をデジタル値にA−D変換回路(11)で変
換し、該変換したデジタル値の内部電気的ノイズの詠変
換デジタル値はカット処理し、該穀粒の変換デジタル値
のうち例えば、最高値を選択するなどの処理をして、こ
の穀粒の水分値とする。
の穀粒が供給される毎に、該電極(1)、(1)間で穀
粒は挟圧粉砕され、この粉砕のときにこの電極(1)、
(1)間を流れる電流の穀粒水分による抵抗と、電気的
ノイズによる抵抗とを水分電圧変換回路(5)で穀粒の
波形水分電圧(2)と電気的ノイズの波形電圧(9)と
の曲線としてアナログ検出され、この穀粒の水分電圧(
2)とこの電気的ノイズの電圧(9)との立上り(3)
を立上り検出回路(10)で検出し、この立上り(3)
より一定時間(4)内の該両波形電圧(2)、(9)の
アナログ値をデジタル値にA−D変換回路(11)で変
換し、該変換したデジタル値の内部電気的ノイズの詠変
換デジタル値はカット処理し、該穀粒の変換デジタル値
のうち例えば、最高値を選択するなどの処理をして、こ
の穀粒の水分値とする。
該電極(1)、(1)間で検出される穀粒の該波形水分
電圧(2)と電気的ノイズの該波形電圧(9)との該立
上り(3)の該一定時間(4)内デジタル値によって、
該穀粒を検出したか該電気的ノイズを検出したかを判定
して、該電気的ノイズを検出したときにはカット処理さ
れるため、一定紋数の穀粒の水分値を集計して平均水分
値を演算させて、例えば、乾燥制御用水分値として利用
するものである。
電圧(2)と電気的ノイズの該波形電圧(9)との該立
上り(3)の該一定時間(4)内デジタル値によって、
該穀粒を検出したか該電気的ノイズを検出したかを判定
して、該電気的ノイズを検出したときにはカット処理さ
れるため、一定紋数の穀粒の水分値を集計して平均水分
値を演算させて、例えば、乾燥制御用水分値として利用
するものである。
図は、この発明の一実施例を示すもので、第1図は制御
ブロック回路図、第2図は電圧波形図である。 図中、符号(1)は電極、(2)は水分電圧、(3)は
立上り、(4)は一定時間、(9)は電気的ノイズ電圧
を示す。
ブロック回路図、第2図は電圧波形図である。 図中、符号(1)は電極、(2)は水分電圧、(3)は
立上り、(4)は一定時間、(9)は電気的ノイズ電圧
を示す。
Claims (1)
- 電極(1)、(1)間で穀粒を一粒毎に粉砕しながら検
出される波形の水分電圧(2)を、この波形の水分電圧
(2)にもとづいてA−D変換を行ない、この変換され
た水分電圧値を処理して水分値とすると共に、該波形の
水分電圧(2)と電気的ノイズ電圧(9)との立上り(
3)の一定時間(4)内の波形により穀粒を検出したか
、又は該電気的ノイズを検出したかを判定し、この検出
した電気的ノイズはカット処理することを特長とする穀
粒の水分検出方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18821085A JPS6246246A (ja) | 1985-08-26 | 1985-08-26 | 穀粒の水分検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18821085A JPS6246246A (ja) | 1985-08-26 | 1985-08-26 | 穀粒の水分検出方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6246246A true JPS6246246A (ja) | 1987-02-28 |
Family
ID=16219693
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18821085A Pending JPS6246246A (ja) | 1985-08-26 | 1985-08-26 | 穀粒の水分検出方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6246246A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63253246A (ja) * | 1987-04-10 | 1988-10-20 | Yamamoto Mfg Co Ltd | 穀物含水率測定方法 |
JP2001249098A (ja) * | 2000-03-03 | 2001-09-14 | Kett Electric Laboratory | 単粒水分計及びこの単粒水分計を用いた粉砕穀粒判定方法 |
-
1985
- 1985-08-26 JP JP18821085A patent/JPS6246246A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63253246A (ja) * | 1987-04-10 | 1988-10-20 | Yamamoto Mfg Co Ltd | 穀物含水率測定方法 |
JPH0471461B2 (ja) * | 1987-04-10 | 1992-11-13 | Yamamoto Mfg | |
JP2001249098A (ja) * | 2000-03-03 | 2001-09-14 | Kett Electric Laboratory | 単粒水分計及びこの単粒水分計を用いた粉砕穀粒判定方法 |
JP4563541B2 (ja) * | 2000-03-03 | 2010-10-13 | 株式会社ケット科学研究所 | 単粒水分計及びこの単粒水分計を用いた粉砕穀粒判定方法 |
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