JPH056411A - 表面実装対応配線装置 - Google Patents
表面実装対応配線装置Info
- Publication number
- JPH056411A JPH056411A JP3157322A JP15732291A JPH056411A JP H056411 A JPH056411 A JP H056411A JP 3157322 A JP3157322 A JP 3157322A JP 15732291 A JP15732291 A JP 15732291A JP H056411 A JPH056411 A JP H056411A
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- JP
- Japan
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- procedure
- pad
- wiring
- component
- pin
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0005—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits for designing circuits by computer
Abstract
(57)【要約】
【構成】情報入力手順１は、回路図の論理接続情報と部
品の配置座標と部品のパッド及びランドの位置を定義し
た部品ライブラリとを入力する。ピンペア決定手順２
は、入力された情報から配線すべきピンペアを決定す
る。パターン長制限値指定手順３は、表面実装部品搭載
パッドからビアホールまでのパターン長の制限値を指定
する。プローブ突き当て設計格子点指定手順４は、検査
時にユニバーサルプローブを突き当てる設計格子点を指
定する。表面実装部品のパッド判定手順５は、ピンが表
面実装部品のパッドか否かを調べる。ビア発生領域限定
手順６はビア発生領域を限定する。ビア発生手順７は、
ビアの可能格子点にビアを発生する。通常配線処理手順
９は、スルーホールランド及び発生した引込みビアにつ
いて通常の配線処理を行う。 【効果】プリント基板ごとの検査治具が必要でなく、コ
ストを削減できる。
品の配置座標と部品のパッド及びランドの位置を定義し
た部品ライブラリとを入力する。ピンペア決定手順２
は、入力された情報から配線すべきピンペアを決定す
る。パターン長制限値指定手順３は、表面実装部品搭載
パッドからビアホールまでのパターン長の制限値を指定
する。プローブ突き当て設計格子点指定手順４は、検査
時にユニバーサルプローブを突き当てる設計格子点を指
定する。表面実装部品のパッド判定手順５は、ピンが表
面実装部品のパッドか否かを調べる。ビア発生領域限定
手順６はビア発生領域を限定する。ビア発生手順７は、
ビアの可能格子点にビアを発生する。通常配線処理手順
９は、スルーホールランド及び発生した引込みビアにつ
いて通常の配線処理を行う。 【効果】プリント基板ごとの検査治具が必要でなく、コ
ストを削減できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は表面実装対応配線装置に
関し、特にプリント基板の自動配線を行う表面実装対応
配線装置に関する。
関し、特にプリント基板の自動配線を行う表面実装対応
配線装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、表面実装部品を搭載したプリント
基板の検査を行うときには、部品搭載パッドに、ユニバ
ーサルプローブを当てて検査を行っていた。
基板の検査を行うときには、部品搭載パッドに、ユニバ
ーサルプローブを当てて検査を行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の、表面
実装部品を搭載したプリント基板の配線方法では、表面
実装部品パッドピッチが微細化してくると、プリント基
板検査時に検査装置からプリント基板に突き当てるユニ
バーサルプローブが、そのままでは部品搭載パッドに当
てられなくなってきてしまい、プリント基板ごとに個別
治具を作成して検査を行わなければならなくなり、治具
の開発のために大きなコストがかかるという欠点を有し
ていた。
実装部品を搭載したプリント基板の配線方法では、表面
実装部品パッドピッチが微細化してくると、プリント基
板検査時に検査装置からプリント基板に突き当てるユニ
バーサルプローブが、そのままでは部品搭載パッドに当
てられなくなってきてしまい、プリント基板ごとに個別
治具を作成して検査を行わなければならなくなり、治具
の開発のために大きなコストがかかるという欠点を有し
ていた。
【０００４】本発明の目的は、プリント基板検査の際、
プリント基板ごとに個別の検査治具を作成しなくて済
み、コストを削減することができる表面実装対応配線装
置を提供することにある。
プリント基板ごとに個別の検査治具を作成しなくて済
み、コストを削減することができる表面実装対応配線装
置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の表面実装対応配
線装置は、表面実装部品を搭載するプリント基板の配線
を行う表面実装対応配線装置において、（Ａ）回路図の
論理接続情報と部品の配置座標と部品のパッド及びラン
ドの位置を定義した部品ライブラリとを入力する情報入
力手順、（Ｂ）前記論理接続情報と部品のパッド及びラ
ンド位置とより配線すべきピンペアを決定するピンペア
決定手順、（Ｃ）前記表面実装部品の部品搭載パッドか
ら引出したパターンを内層へ引込むためのビアホールま
でのパターン長の制限値を指定するパターン長制限値指
定手順、（Ｄ）検査時にユニバーサルプローブを突き当
てる設計格子点を指定するプローブ突き当て設計格子点
指定手順、（Ｅ）配線すべき前記ピンペアを取り出し、
ピンが前記表面実装部品のパッドか否かを調べる表面実
装部品のパッド判定手順、（Ｆ）前記表面実装部品のパ
ッドのまわりに、前記パッドから引き出したパターンを
層に引き込むためのビアを発生することができる領域を
設定しビア発生領域を限定するビア発生領域限定手順、
（Ｇ）パターン長が前記パターン長の制限値より短いと
き、ビアの可能格子点にビアを発生するビア発生手順、
（Ｈ）前記ピンペアの両端のピンについて処理したか否
かを調べる第１のピンペア処理確認手順、（Ｉ）前記ピ
ンペアの両端のピンについて処理が完了したら、スルー
ホールランド及び発生した引込みビアについて通常の配
線処理を行う通常配線処理手順、（Ｊ）全てのピンペア
について処理したかをチェックする第２のピンペア処理
確認手順、（Ｋ）全ての配線パターンの配線データを外
部ファイルへ出力する配線パターン配線データ出力手
順、を備えて構成されている。
線装置は、表面実装部品を搭載するプリント基板の配線
を行う表面実装対応配線装置において、（Ａ）回路図の
論理接続情報と部品の配置座標と部品のパッド及びラン
ドの位置を定義した部品ライブラリとを入力する情報入
力手順、（Ｂ）前記論理接続情報と部品のパッド及びラ
ンド位置とより配線すべきピンペアを決定するピンペア
決定手順、（Ｃ）前記表面実装部品の部品搭載パッドか
ら引出したパターンを内層へ引込むためのビアホールま
でのパターン長の制限値を指定するパターン長制限値指
定手順、（Ｄ）検査時にユニバーサルプローブを突き当
てる設計格子点を指定するプローブ突き当て設計格子点
指定手順、（Ｅ）配線すべき前記ピンペアを取り出し、
ピンが前記表面実装部品のパッドか否かを調べる表面実
装部品のパッド判定手順、（Ｆ）前記表面実装部品のパ
ッドのまわりに、前記パッドから引き出したパターンを
層に引き込むためのビアを発生することができる領域を
設定しビア発生領域を限定するビア発生領域限定手順、
（Ｇ）パターン長が前記パターン長の制限値より短いと
き、ビアの可能格子点にビアを発生するビア発生手順、
（Ｈ）前記ピンペアの両端のピンについて処理したか否
かを調べる第１のピンペア処理確認手順、（Ｉ）前記ピ
ンペアの両端のピンについて処理が完了したら、スルー
ホールランド及び発生した引込みビアについて通常の配
線処理を行う通常配線処理手順、（Ｊ）全てのピンペア
について処理したかをチェックする第２のピンペア処理
確認手順、（Ｋ）全ての配線パターンの配線データを外
部ファイルへ出力する配線パターン配線データ出力手
順、を備えて構成されている。
【０００６】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００７】図１は、本発明の表面実装対応配線装置の
一実施例の動作の流れを示す流れ図である。
一実施例の動作の流れを示す流れ図である。
【０００８】図１に示す本実施例の表面実装対応配線装
置は、回路図の論理接続情報と部品の配置座標と部品の
パッド及びランドの位置を定義した部品ライブラリとを
入力する情報入力手順１、論理接続情報と部品のパッド
及びランド位置とより配線しようとしている２箇所に離
れている部品ピンの組み合せであるピンペアを決定する
ピンペア決定手順２、表面実装部品の部品搭載パッドか
ら引出したパターンを内層へ引込むためのビアホールま
でのパターン長の制限値を指定するパターン長制限値指
定手順３、検査時にユニバーサルプローブを突き当てる
設計格子点を指定するプローブ突き当て設計格子点指定
手順４、配線すべきピンペアを取り出し、ピンが表面実
装部品のパッドか否かを調べる表面実装部品のパッド判
定手順５、表面実装部品のパッドのまわりに、パッドか
ら引き出したパターンを層に引き込むためのビアを発生
することができる領域を設定しビア発生領域を限定する
ビア発生領域限定手順６、パターン長がパターン長の制
限値より短いとき、ビアの可能格子点にビアを発生する
ビア発生手順７、ピンペアの両端のピンについて処理し
たか否かを調べるピンペア処理確認手順（第１のピンペ
ア処理確認手順）８、ピンペアの両端のピンについて処
理が完了したら、スルーホールランド及び発生した引込
みビアについて通常の配線処理を行う通常配線処理手順
９、全てのピンペアについて処理したかをチェックする
ピンペア処理確認手順（第２のピンペア処理確認手順）
１０、全ての配線パターンの配線データを外部ファイル
へ出力する配線パターン配線データ出力手順１１から構
成されている。
置は、回路図の論理接続情報と部品の配置座標と部品の
パッド及びランドの位置を定義した部品ライブラリとを
入力する情報入力手順１、論理接続情報と部品のパッド
及びランド位置とより配線しようとしている２箇所に離
れている部品ピンの組み合せであるピンペアを決定する
ピンペア決定手順２、表面実装部品の部品搭載パッドか
ら引出したパターンを内層へ引込むためのビアホールま
でのパターン長の制限値を指定するパターン長制限値指
定手順３、検査時にユニバーサルプローブを突き当てる
設計格子点を指定するプローブ突き当て設計格子点指定
手順４、配線すべきピンペアを取り出し、ピンが表面実
装部品のパッドか否かを調べる表面実装部品のパッド判
定手順５、表面実装部品のパッドのまわりに、パッドか
ら引き出したパターンを層に引き込むためのビアを発生
することができる領域を設定しビア発生領域を限定する
ビア発生領域限定手順６、パターン長がパターン長の制
限値より短いとき、ビアの可能格子点にビアを発生する
ビア発生手順７、ピンペアの両端のピンについて処理し
たか否かを調べるピンペア処理確認手順（第１のピンペ
ア処理確認手順）８、ピンペアの両端のピンについて処
理が完了したら、スルーホールランド及び発生した引込
みビアについて通常の配線処理を行う通常配線処理手順
９、全てのピンペアについて処理したかをチェックする
ピンペア処理確認手順（第２のピンペア処理確認手順）
１０、全ての配線パターンの配線データを外部ファイル
へ出力する配線パターン配線データ出力手順１１から構
成されている。
【０００９】次に、動作を説明する。
【００１０】図２は、図１の表面実装対応配線装置の動
作の詳細を示す流れ図であり、図３は、図２とともに図
１の表面実装対応配線装置の動作の詳細を示す流れ図で
ある。以下の括弧内のステップは、上記図２及び図３の
ステップを示す。
作の詳細を示す流れ図であり、図３は、図２とともに図
１の表面実装対応配線装置の動作の詳細を示す流れ図で
ある。以下の括弧内のステップは、上記図２及び図３の
ステップを示す。
【００１１】図１において、まず情報入力手順１によ
り、回路図の論理接続情報をネットリストの形で入力し
（ステップ２１）、次にプリント基板上に搭載する部品
の配置座標を入力する（ステップ２２）。また、各部品
のパッド及びランドの位置を定義した部品ライブラリを
入力し、パッド及びランドを配線領域中に展開する（ス
テップ２３）。
り、回路図の論理接続情報をネットリストの形で入力し
（ステップ２１）、次にプリント基板上に搭載する部品
の配置座標を入力する（ステップ２２）。また、各部品
のパッド及びランドの位置を定義した部品ライブラリを
入力し、パッド及びランドを配線領域中に展開する（ス
テップ２３）。
【００１２】次に、ピンペア決定手順２により、論理接
続情報と部品のパッド及びランド位置より配線すべきピ
ンペアを決定する（ステップ２４）。
続情報と部品のパッド及びランド位置より配線すべきピ
ンペアを決定する（ステップ２４）。
【００１３】次に、パターン長制限値指定手順３によ
り、表面実装部品の部品搭載パッドから引出したパター
ンを内層へ引込むためのビアホールまでのパターン長の
制限値を“ｒ”として指定しておく（ステップ２５）。
検査装置のユニバーサルプローブを用いる場合、任意の
位置にユニバーサルプローブ全てを当てることは困難で
あり、通常５０ｍｉｌ格子点または１００ｍｉｌ格子点
に限定される場合が多いので、ここではパターン長の制
限値を“ｒ”とする。次に、プローブ突き当て設計格子
点指定手順４により、ユニバーサルプローブを突き当て
たい設計格子点を配列Ａ（Ｘｉ，Ｙｉ）に指定する（ス
テップ２６）。そして、図４に検査装置のユニバーサル
プローブを突き当てる格子点の例を示し、図５に配列Ａ
（Ｘｉ，Ｙｉ）の例を示す。
り、表面実装部品の部品搭載パッドから引出したパター
ンを内層へ引込むためのビアホールまでのパターン長の
制限値を“ｒ”として指定しておく（ステップ２５）。
検査装置のユニバーサルプローブを用いる場合、任意の
位置にユニバーサルプローブ全てを当てることは困難で
あり、通常５０ｍｉｌ格子点または１００ｍｉｌ格子点
に限定される場合が多いので、ここではパターン長の制
限値を“ｒ”とする。次に、プローブ突き当て設計格子
点指定手順４により、ユニバーサルプローブを突き当て
たい設計格子点を配列Ａ（Ｘｉ，Ｙｉ）に指定する（ス
テップ２６）。そして、図４に検査装置のユニバーサル
プローブを突き当てる格子点の例を示し、図５に配列Ａ
（Ｘｉ，Ｙｉ）の例を示す。
【００１４】次に、表面実装部品のパッド判定手順５に
より、配線すべきピンペアを取り出し、ピンが表面実装
部品のパッドか否かを調べ（ステップ２７）、もしピン
が表面実装部品のパッドであるなら、ビア発生領域限定
手順６により、表面実装部品のパッドのまわりに、パッ
ドから引き出したパターンを内層に引き込むためのビア
を発生することができる領域Ｂを設定し、ビア発生領域
を限定する（ステップ２８）。そして、ビア発生手順７
により、領域Ｂの中で、ユニバーサルプローブの突き当
て可能ポイントを納めた配列Ａ（Ｘｉ，Ｙｉ）の倍数で
ある格子点を、表面実装部品のパッドからの引き出しパ
ターンを内層に引き込むビア可能格子点として配列Ｃ
（Ｘｉ，Ｙｉ）に入れておく（ステップ２９）。図６に
領域Ｂ内のユニバーサルプローブを突き当てることが可
能な格子点の例を示す。次に、ピンから最も近くてかつ
未使用のビア可能格子点ｄを配列Ｃ（Ｘｉ，Ｙｉ）より
探索し（ステップ３０）、ピン搭載パッドからこのビア
の可能格子点ｄまで配線する（ステップ３１）。そし
て、そのパターン長が許容引出しパターン長“ｒ”より
短いか否かを判定し（ステップ３２）し、もし長けれ
ば、ステップ３０へ戻り、別のビアの可能格子点を配列
Ｃ（Ｘｉ，Ｙｉ）より探索し再配線を行う。パターン長
が許容引出しパターン長“ｒ”より短いとき、ビアの可
能格子点ｄにビアを発生する（ステップ３３）。
より、配線すべきピンペアを取り出し、ピンが表面実装
部品のパッドか否かを調べ（ステップ２７）、もしピン
が表面実装部品のパッドであるなら、ビア発生領域限定
手順６により、表面実装部品のパッドのまわりに、パッ
ドから引き出したパターンを内層に引き込むためのビア
を発生することができる領域Ｂを設定し、ビア発生領域
を限定する（ステップ２８）。そして、ビア発生手順７
により、領域Ｂの中で、ユニバーサルプローブの突き当
て可能ポイントを納めた配列Ａ（Ｘｉ，Ｙｉ）の倍数で
ある格子点を、表面実装部品のパッドからの引き出しパ
ターンを内層に引き込むビア可能格子点として配列Ｃ
（Ｘｉ，Ｙｉ）に入れておく（ステップ２９）。図６に
領域Ｂ内のユニバーサルプローブを突き当てることが可
能な格子点の例を示す。次に、ピンから最も近くてかつ
未使用のビア可能格子点ｄを配列Ｃ（Ｘｉ，Ｙｉ）より
探索し（ステップ３０）、ピン搭載パッドからこのビア
の可能格子点ｄまで配線する（ステップ３１）。そし
て、そのパターン長が許容引出しパターン長“ｒ”より
短いか否かを判定し（ステップ３２）し、もし長けれ
ば、ステップ３０へ戻り、別のビアの可能格子点を配列
Ｃ（Ｘｉ，Ｙｉ）より探索し再配線を行う。パターン長
が許容引出しパターン長“ｒ”より短いとき、ビアの可
能格子点ｄにビアを発生する（ステップ３３）。
【００１５】ステップ２７で、ピンペアのピンがスルー
ホールランドであったらステップ３４まで進む。ステッ
プ３４で、ピンペア処理確認手順８により、ピンペアの
両端のピンについて処理したか否かを調べ、処理してい
なければ、ステップ２７へ戻り、もう一方のピンについ
て処理を行う。
ホールランドであったらステップ３４まで進む。ステッ
プ３４で、ピンペア処理確認手順８により、ピンペアの
両端のピンについて処理したか否かを調べ、処理してい
なければ、ステップ２７へ戻り、もう一方のピンについ
て処理を行う。
【００１６】ピンペアの両端のピンについて処理が完了
したら、次に、通常配線処理手順９により、スルーホー
ルランドもしくは発生した引込みビアをピンペアの配線
すべき２つの対象点として通常の配線処理を行う（ステ
ップ３５）。次に、ピンペア処理確認手順１０により、
以上の処理を全てのピンペアについて処理したかをチェ
ックし（ステップ３６）、処理していなければステップ
２７に戻りステップ２７以下の処理を続行する。
したら、次に、通常配線処理手順９により、スルーホー
ルランドもしくは発生した引込みビアをピンペアの配線
すべき２つの対象点として通常の配線処理を行う（ステ
ップ３５）。次に、ピンペア処理確認手順１０により、
以上の処理を全てのピンペアについて処理したかをチェ
ックし（ステップ３６）、処理していなければステップ
２７に戻りステップ２７以下の処理を続行する。
【００１７】上記処理が終了したら、配線パターン配線
データ出力手順１１により、全ての配線パターンの配線
データを外部ファイルへ出力する（ステップ３７）。以
上の処理により発生した引き出しパターンビアの例を図
７に示す。
データ出力手順１１により、全ての配線パターンの配線
データを外部ファイルへ出力する（ステップ３７）。以
上の処理により発生した引き出しパターンビアの例を図
７に示す。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の表面実装
対応配線装置は、検査装置のユニバーサルプローブを突
き当てられる位置に表面実装部品パッドから引出したパ
ターンの内層引込みビアを設けることにより、プリント
基板検査の際、プリント基板ごとに個別の検査治具を作
成しなくて済み、コストを削減することができるという
効果を有している。
対応配線装置は、検査装置のユニバーサルプローブを突
き当てられる位置に表面実装部品パッドから引出したパ
ターンの内層引込みビアを設けることにより、プリント
基板検査の際、プリント基板ごとに個別の検査治具を作
成しなくて済み、コストを削減することができるという
効果を有している。
【図１】本発明の表面実装対応配線装置の一実施例の動
作を示す流れ図である。
作を示す流れ図である。
【図２】図１の表面実装対応配線装置の動作の詳細を示
す流れ図である。
す流れ図である。
【図３】図２とともに図１の表面実装対応配線装置の動
作の詳細を示す流れ図である。
作の詳細を示す流れ図である。
【図４】検査装置のユニバーサルプローブを突き当てる
格子点の一例を示す図である。
格子点の一例を示す図である。
【図５】配列Ａ（Ｘｉ，Ｙｉ）の一例を示す図である。
【図６】領域Ｂとユニバーサルプローブを突き当てるこ
とが可能な格子点の一例を示す図である。
とが可能な格子点の一例を示す図である。
【図７】本実施例の表面実装対応配線装置により発生し
た引出しパターンビアの一例を示す図である。
た引出しパターンビアの一例を示す図である。
【符号の説明】 １ 情報入力手順 ２ ピンペア決定手順 ３ パターン長制限値指定手順 ４ プローブ突き当て設計格子点指定手順 ５ 表面実装部品のパッド判定手順 ６ ビア発生領域限定手順 ７ ビア発生手順 ８ 第１のピンペア処理確認手順 ９ 通常配線処理手順 １０ 第２のピンペア処理確認手順 １１ 配線パターン配線データ出力手順
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 表面実装部品を搭載するプリント基板の
配線を行う表面実装対応配線装置において、（Ａ）回路
図の論理接続情報と部品の配置座標と部品のパッド及び
ランドの位置を定義した部品ライブラリとを入力する情
報入力手順、（Ｂ）前記論理接続情報と部品のパッド及
びランド位置とより配線すべきピンペアを決定するピン
ペア決定手順、（Ｃ）前記表面実装部品の部品搭載パッ
ドから引出したパターンを内層へ引込むためのビアホー
ルまでのパターン長の制限値を指定するパターン長制限
値指定手順、（Ｄ）検査時にユニバーサルプローブを突
き当てる設計格子点を指定するプローブ突き当て設計格
子点指定手順、（Ｅ）配線すべき前記ピンペアを取り出
し、ピンが前記表面実装部品のパッドか否かを調べる表
面実装部品のパッド判定手順、（Ｆ）前記表面実装部品
のパッドのまわりに、前記パッドから引き出したパター
ンを層に引き込むためのビアを発生することができる領
域を設定しビア発生領域を限定するビア発生領域限定手
順、（Ｇ）パターン長が前記パターン長の制限値より短
いとき、ビアの可能格子点にビアを発生するビア発生手
順、（Ｈ）前記ピンペアの両端のピンについて処理した
か否かを調べる第１のピンペア処理確認手順、（Ｉ）前
記ピンペアの両端のピンについて処理が完了したら、ス
ルーホールランド及び発生した引込みビアについて通常
の配線処理を行う通常配線処理手順、（Ｊ）全てのピン
ペアについて処理したかをチェックする第２のピンペア
処理確認手順、（Ｋ）全ての配線パターンの配線データ
を外部ファイルへ出力する配線パターン配線データ出力
手順、を備えたことを特徴とする表面実装対応配線装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3157322A JP3030935B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 表面実装対応配線装置における自動配線方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3157322A JP3030935B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 表面実装対応配線装置における自動配線方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH056411A true JPH056411A (ja) | 1993-01-14 |
| JP3030935B2 JP3030935B2 (ja) | 2000-04-10 |
Family
ID=15647164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3157322A Expired - Fee Related JP3030935B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 表面実装対応配線装置における自動配線方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3030935B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9349570B2 (en) | 2006-10-20 | 2016-05-24 | Fei Company | Method and apparatus for sample extraction and handling |
| CN109548298A (zh) * | 2019-01-03 | 2019-03-29 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种基于ic芯片的pcb设计图编辑方法及相关装置 |
-
1991
- 1991-06-28 JP JP3157322A patent/JP3030935B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9349570B2 (en) | 2006-10-20 | 2016-05-24 | Fei Company | Method and apparatus for sample extraction and handling |
| CN109548298A (zh) * | 2019-01-03 | 2019-03-29 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种基于ic芯片的pcb设计图编辑方法及相关装置 |
| CN109548298B (zh) * | 2019-01-03 | 2021-06-29 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种基于ic芯片的pcb设计图编辑方法及相关装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3030935B2 (ja) | 2000-04-10 |
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