JPH0560530A - 三次元位置測定装置 - Google Patents
三次元位置測定装置Info
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- JPH0560530A JPH0560530A JP22617391A JP22617391A JPH0560530A JP H0560530 A JPH0560530 A JP H0560530A JP 22617391 A JP22617391 A JP 22617391A JP 22617391 A JP22617391 A JP 22617391A JP H0560530 A JPH0560530 A JP H0560530A
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- Japan
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- measurement
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高精度な三次元位置測定をすると共にその測
定時間の短縮化を図る三次元位置測定装置を提供する。 【構成】 Ｈｅ−Ｎｅレーザ光Ｌを出射するレーザ光線
１０１と、このＨｅ−Ｎｅレーザ光Ｌを被検体１０２へ
反射する回転自在な反射鏡１０３とからなる光照射部Ａ
と、被検体１０２でのレーザ光Ｌの反射光ＲＬを受光素
子１０４へ導く回転自在な反射鏡１０５と反射鏡１０５
で反射した反射光を二分割するビームスプリッタ１０６
と、ビームスプリッタ１０６で分割された一方の反射光
ＲＬ1を検出する低倍率の撮像レンズ１０７及び受光素
子としてのＣＣＤイメージセンサ１０４Ａと、ビームス
プリッタ１０６で分割された他方の反射光ＲＬ2 を検出
する高倍率の撮像レンズ１０８及び受光素子としてのＣ
ＣＤイメージセンサ１０４Ｂとからなる光検出部Ｂとが
設けられてなり、倍率の異なる受光部を併用することに
より、高精度測定と測定時間の短縮化を図る。
定時間の短縮化を図る三次元位置測定装置を提供する。 【構成】 Ｈｅ−Ｎｅレーザ光Ｌを出射するレーザ光線
１０１と、このＨｅ−Ｎｅレーザ光Ｌを被検体１０２へ
反射する回転自在な反射鏡１０３とからなる光照射部Ａ
と、被検体１０２でのレーザ光Ｌの反射光ＲＬを受光素
子１０４へ導く回転自在な反射鏡１０５と反射鏡１０５
で反射した反射光を二分割するビームスプリッタ１０６
と、ビームスプリッタ１０６で分割された一方の反射光
ＲＬ1を検出する低倍率の撮像レンズ１０７及び受光素
子としてのＣＣＤイメージセンサ１０４Ａと、ビームス
プリッタ１０６で分割された他方の反射光ＲＬ2 を検出
する高倍率の撮像レンズ１０８及び受光素子としてのＣ
ＣＤイメージセンサ１０４Ｂとからなる光検出部Ｂとが
設けられてなり、倍率の異なる受光部を併用することに
より、高精度測定と測定時間の短縮化を図る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体の三次元形状を
高精度に測定しうる三次元位置測定装置に関する。
高精度に測定しうる三次元位置測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、建造物，備蓄タンク等の歪を高
精度で測定する技術は、これらの保守の観点から重要で
ある。ここで歪は対称物の三次元形状の経時的な変化と
して把握されるが、保守点検においては、測定精度とし
て数mm程度の分解能が必要なため、高精度な三次元形状
測定技術が必要とされる。この三次元の形状測定技術の
一例を次に説明する。
精度で測定する技術は、これらの保守の観点から重要で
ある。ここで歪は対称物の三次元形状の経時的な変化と
して把握されるが、保守点検においては、測定精度とし
て数mm程度の分解能が必要なため、高精度な三次元形状
測定技術が必要とされる。この三次元の形状測定技術の
一例を次に説明する。
【０００３】図４に示す三次元位置測定装置は、本願出
願人が先に出願したものである（特開平２−３００６０
９号公報参照）。
願人が先に出願したものである（特開平２−３００６０
９号公報参照）。
【０００４】同図に示すように、光照射部Ａにおいて
は、Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源１からの出射光が、可変アッ
テネータ２を介し、さらにレンズ３，４で構成されるビ
ームエクスパンダ５を介してミラー６で反射され、この
出射光が被検体７の表面ａに結像する。ここで、可変ア
ッテネータ２は被検体７の表面の傾き、反射率の影響に
より観測系の受光レベルが変動するのを防止するための
ものである。また、エクスパンダ５はＨｅ−Ｎｅレーザ
光の拡り角を小さくするためのものであり、レンズ４が
搭載されているレンズ搭載ステージ８を動かすことによ
り表面ａにおけるビーム径が最小となるように調整され
ている。一方、ミラー６は回転ステージ９に搭載され、
モータ１０により駆動されるようになっており、その回
動位置は反射光の光軸からの傾きである回転角θとして
ロータリーエンコーダ１１により読取られる。
は、Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源１からの出射光が、可変アッ
テネータ２を介し、さらにレンズ３，４で構成されるビ
ームエクスパンダ５を介してミラー６で反射され、この
出射光が被検体７の表面ａに結像する。ここで、可変ア
ッテネータ２は被検体７の表面の傾き、反射率の影響に
より観測系の受光レベルが変動するのを防止するための
ものである。また、エクスパンダ５はＨｅ−Ｎｅレーザ
光の拡り角を小さくするためのものであり、レンズ４が
搭載されているレンズ搭載ステージ８を動かすことによ
り表面ａにおけるビーム径が最小となるように調整され
ている。一方、ミラー６は回転ステージ９に搭載され、
モータ１０により駆動されるようになっており、その回
動位置は反射光の光軸からの傾きである回転角θとして
ロータリーエンコーダ１１により読取られる。
【０００５】一方、被検体７からの反射光を検出する光
検出部Ｂでは、撮像光学系１２が撮像レンズ１３及び検
出器１４で構成され、レンズ１３を搭載するレンズ搭載
ステージ１５を動かすことにより検出器１３におけるス
ポット系が最小となるように調整されるようになってお
り、さらに撮像レンズ１３，検出器１４及びレンズ搭載
ステージ１５は回転ステージ１６に搭載されてモータ１
７により駆動され、その回転角ψはロータリーエンコー
ダ１８により読取られるようになっている。
検出部Ｂでは、撮像光学系１２が撮像レンズ１３及び検
出器１４で構成され、レンズ１３を搭載するレンズ搭載
ステージ１５を動かすことにより検出器１３におけるス
ポット系が最小となるように調整されるようになってお
り、さらに撮像レンズ１３，検出器１４及びレンズ搭載
ステージ１５は回転ステージ１６に搭載されてモータ１
７により駆動され、その回転角ψはロータリーエンコー
ダ１８により読取られるようになっている。
【０００６】また、上述した光照射部Ａ及び光検出部Ｂ
は架台１９上に保持され、モータ２０により駆動される
ようになっており、その回転中心はＨｅ−Ｎｅレーザ光
の光軸に一致し、回転角ωはロータリーエンコーダ２１
により読取られる。なお、上記ミラー６及び受光器１４
の回転軸は平行であり、それぞれＨｅ−Ｎｅレーザ光の
光軸と点ｂ，ｃにおいて直角に交差している。
は架台１９上に保持され、モータ２０により駆動される
ようになっており、その回転中心はＨｅ−Ｎｅレーザ光
の光軸に一致し、回転角ωはロータリーエンコーダ２１
により読取られる。なお、上記ミラー６及び受光器１４
の回転軸は平行であり、それぞれＨｅ−Ｎｅレーザ光の
光軸と点ｂ，ｃにおいて直角に交差している。
【０００７】ここで、光照射部Ａにおける可変アッテネ
ータ２、レンズ搭載ステージ８及びモータ１０、光検出
部Ｂにおけるレンズ搭載ステージ１５及びモータ１７並
びにモータ２０は、ドライバ２２及びコントローラ２３
により制御されており、また、ロータリーエンコーダ１
１，１８，２１のデータは読取カウンター２４で読取ら
れる。そして、これらの一連の制御並びにデータによる
被検体７の表面ａの位置の演算はＣＰＵ２５により行わ
れている。
ータ２、レンズ搭載ステージ８及びモータ１０、光検出
部Ｂにおけるレンズ搭載ステージ１５及びモータ１７並
びにモータ２０は、ドライバ２２及びコントローラ２３
により制御されており、また、ロータリーエンコーダ１
１，１８，２１のデータは読取カウンター２４で読取ら
れる。そして、これらの一連の制御並びにデータによる
被検体７の表面ａの位置の演算はＣＰＵ２５により行わ
れている。
【０００８】この装置においては、ビームエクスパンダ
５及び回転ステージ９を制御することにより被検体７の
測定すべき表面ａにビーム径が最小となるように調整さ
れた像を形成し、この像が撮像光学系１２の光軸中心に
なるように回転ステージ１６を制御すると共に、レンズ
搭載ステージ１５を動かすことにより検出器１４におけ
るスポット径が最小となるように調整する。この際の回
転角θ，ψ及び点ｂ，ｃ間の距離ｘm を用い、三角測量
の原理により被検体７の表面ａの位置を算出することが
できる。さらに、回転角θ，ωを変化させて同様に順次
測定することにより、被検体７の反射点位置の三次元マ
ッピングを行うことができる。
５及び回転ステージ９を制御することにより被検体７の
測定すべき表面ａにビーム径が最小となるように調整さ
れた像を形成し、この像が撮像光学系１２の光軸中心に
なるように回転ステージ１６を制御すると共に、レンズ
搭載ステージ１５を動かすことにより検出器１４におけ
るスポット径が最小となるように調整する。この際の回
転角θ，ψ及び点ｂ，ｃ間の距離ｘm を用い、三角測量
の原理により被検体７の表面ａの位置を算出することが
できる。さらに、回転角θ，ωを変化させて同様に順次
測定することにより、被検体７の反射点位置の三次元マ
ッピングを行うことができる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述した図
４に示す三次元位置測定装置においては、光検出部の検
出を検出を高倍率で行うと、高精度な三次元位置情報に
得られる反面、測定範囲が狭く、複雑な構造を持つ測定
対象では反射光を検出できない場合がある。 また一
方、光検出部の検出を低倍率で行うと測定範囲が広く、
複雑な構造を持つ測定対象でも反射光を検出できる確率
が高いので測定時間は短くなるものの、低精度の情報し
か得られないという問題がある。
４に示す三次元位置測定装置においては、光検出部の検
出を検出を高倍率で行うと、高精度な三次元位置情報に
得られる反面、測定範囲が狭く、複雑な構造を持つ測定
対象では反射光を検出できない場合がある。 また一
方、光検出部の検出を低倍率で行うと測定範囲が広く、
複雑な構造を持つ測定対象でも反射光を検出できる確率
が高いので測定時間は短くなるものの、低精度の情報し
か得られないという問題がある。
【００１０】本発明は上記事情に鑑み、高精度で三次元
位置の測定を可能とする三次元位置測定装置を提供する
ことを目的とする。
位置の測定を可能とする三次元位置測定装置を提供する
ことを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成する本発
明に係る三次元位置測定装置の構成は、平行光乃至収束
光をプローブ光として被検体に照射すると共にその照射
方向が２本の回転軸回りの回動により可変である光照射
部と、撮像レンズ及び受光素子からなりその光軸方向が
２本の回転軸回りの回動により可変であり且つ上記被検
体からの反射光をその反射点の像が当該光軸に一致する
よう回動調整して検出する光検出部と、上記プローブ光
の出射方向及び上記光検出部での受光方向並びに当該光
検出部と上記光照射部との相対的位置関係より三角測量
の原理で上記反射点の位置を検出する処理部とを備えて
なる三次元位置測定装置であって、反射光の検出を倍率
の異なる複数の検出部にて行うことを特徴とする。
明に係る三次元位置測定装置の構成は、平行光乃至収束
光をプローブ光として被検体に照射すると共にその照射
方向が２本の回転軸回りの回動により可変である光照射
部と、撮像レンズ及び受光素子からなりその光軸方向が
２本の回転軸回りの回動により可変であり且つ上記被検
体からの反射光をその反射点の像が当該光軸に一致する
よう回動調整して検出する光検出部と、上記プローブ光
の出射方向及び上記光検出部での受光方向並びに当該光
検出部と上記光照射部との相対的位置関係より三角測量
の原理で上記反射点の位置を検出する処理部とを備えて
なる三次元位置測定装置であって、反射光の検出を倍率
の異なる複数の検出部にて行うことを特徴とする。
【００１２】
【作用】前記構成おいて、被検体からの反射散乱を例え
ば高倍率の検出部と低倍率の検出部とに導き、両者の検
出部によって高精度な三次元位置測定をすると共にその
測定時間の短縮化を図る。
ば高倍率の検出部と低倍率の検出部とに導き、両者の検
出部によって高精度な三次元位置測定をすると共にその
測定時間の短縮化を図る。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の好適な一実施例を図面を参照
して説明する。図１は本実施例に係る三次元位置測定装
置の概略図である。
して説明する。図１は本実施例に係る三次元位置測定装
置の概略図である。
【００１４】同図に示すように、枠体１００の内部に
は、プローブ光としてのＨｅ−Ｎｅレーザ光Ｌを出射す
るレーザ光源１０１と、このＨｅ−Ｎｅレーザ光Ｌを被
検体１０２へ反射する回転自在な反射鏡１０３とからな
る光照射部Ａと、被検体１０２でのレーザ光Ｌの反射光
ＲＬを受光素子１０４へ導く回転自在な反射鏡１０５と
反射鏡１０５で反射した反射光を二分割するビームスプ
リッタ１０６と、ビームスプリッタ１０６で分割された
一方の反射光ＲＬ1 を検出する低倍率の撮像レンズ１０
７及び受光素子としてのＣＣＤイメージセンサ１０４Ａ
と、ビームスプリッタ１０６で分割された他方の反射光
ＲＬ2 を検出する高倍率の撮像レンズ１０８及び受光素
子としてのＣＣＤイメージセンサ１０４Ｂとからなる光
検出部Ｂとが設けられている。更に、光照射部Ａの回転
軸であるθ軸と光検出部Ｂの回転軸であるψ軸とが、光
照射部Ａの回転中心と光検出部の回転中心とを結ぶ直線
であるω軸と直交するように設けられている。従って、
図中、ω軸とθ軸及びψ軸はω⊥θ、ω⊥ψの関係とな
り、且つθ//ψの関係を有することとなる。尚、１０９
はレーザ光を調整するレンズである。
は、プローブ光としてのＨｅ−Ｎｅレーザ光Ｌを出射す
るレーザ光源１０１と、このＨｅ−Ｎｅレーザ光Ｌを被
検体１０２へ反射する回転自在な反射鏡１０３とからな
る光照射部Ａと、被検体１０２でのレーザ光Ｌの反射光
ＲＬを受光素子１０４へ導く回転自在な反射鏡１０５と
反射鏡１０５で反射した反射光を二分割するビームスプ
リッタ１０６と、ビームスプリッタ１０６で分割された
一方の反射光ＲＬ1 を検出する低倍率の撮像レンズ１０
７及び受光素子としてのＣＣＤイメージセンサ１０４Ａ
と、ビームスプリッタ１０６で分割された他方の反射光
ＲＬ2 を検出する高倍率の撮像レンズ１０８及び受光素
子としてのＣＣＤイメージセンサ１０４Ｂとからなる光
検出部Ｂとが設けられている。更に、光照射部Ａの回転
軸であるθ軸と光検出部Ｂの回転軸であるψ軸とが、光
照射部Ａの回転中心と光検出部の回転中心とを結ぶ直線
であるω軸と直交するように設けられている。従って、
図中、ω軸とθ軸及びψ軸はω⊥θ、ω⊥ψの関係とな
り、且つθ//ψの関係を有することとなる。尚、１０９
はレーザ光を調整するレンズである。
【００１５】上記構成において、レーザ光源１０１から
出射されるＨｅ−Ｎｅレーザ光Ｌは反射鏡１０３によっ
て反射されて被検体１０２に出射される。次いで被検体
１０２での反射光ＲＬを反射鏡１０５の回動により受光
素子であるＣＣＤイメージセンサ１０４Ａ，１０４Ｂへ
導くようにしている。
出射されるＨｅ−Ｎｅレーザ光Ｌは反射鏡１０３によっ
て反射されて被検体１０２に出射される。次いで被検体
１０２での反射光ＲＬを反射鏡１０５の回動により受光
素子であるＣＣＤイメージセンサ１０４Ａ，１０４Ｂへ
導くようにしている。
【００１６】この際の回転軸θ軸，ψ軸の回転角θ，ψ
及び反射鏡１０３，１０５間の距離ｘm を用い、三角測
量の原理により表面ａの位置を算出することができる。
さらに、回転角θ，ωを変化させて同様にして順次測定
することにより被検体１０２の反射点位置の三次元マッ
ピングを行うことができる。
及び反射鏡１０３，１０５間の距離ｘm を用い、三角測
量の原理により表面ａの位置を算出することができる。
さらに、回転角θ，ωを変化させて同様にして順次測定
することにより被検体１０２の反射点位置の三次元マッ
ピングを行うことができる。
【００１７】上記光検出機構を詳述すると、低倍率検出
部の場合（×１／１０００）には図２（Ａ）に示すよう
に２０４８画素（１４μｍ／ピッチ）では２８．７ｍの
範囲を測定することができ、また高倍率検出部の場合
（×１／１００）には図２（Ｂ）に示すように２０４８
画素（１４μｍ／ピッチ）では２．８７ｍの範囲を測定
することができ、これらを併用することで高密度測定且
つ測定時間の短縮を図ることができる。
部の場合（×１／１０００）には図２（Ａ）に示すよう
に２０４８画素（１４μｍ／ピッチ）では２８．７ｍの
範囲を測定することができ、また高倍率検出部の場合
（×１／１００）には図２（Ｂ）に示すように２０４８
画素（１４μｍ／ピッチ）では２．８７ｍの範囲を測定
することができ、これらを併用することで高密度測定且
つ測定時間の短縮を図ることができる。
【００１８】尚、上述した実施例においては低倍率と高
倍率の撮像レンズ１０７，１０８を用いた場合を示した
が、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば図
１（Ｂ）に示すように、１０００素子のセンサを用い
て、一方は１４μｍ／ピッチの高倍率のＣＣＤイメージ
センサ１０４Ｃとし他方を５０μｍ／ピッチの低倍率の
ＣＣＤイメージセンサ１０４Ｄとして、センサの画素の
長さを変化させるようにしてもよい。また検出倍率は低
倍率と高倍率の二種類に限定されず、例えば低，中，高
倍率と複数の倍率による検出としてもよい。さらにビー
ムスプリッタ１０６の代わりに反射光の光路を切り換え
て各々の倍率の受光素子へ導くようにしてもよい。
倍率の撮像レンズ１０７，１０８を用いた場合を示した
が、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば図
１（Ｂ）に示すように、１０００素子のセンサを用い
て、一方は１４μｍ／ピッチの高倍率のＣＣＤイメージ
センサ１０４Ｃとし他方を５０μｍ／ピッチの低倍率の
ＣＣＤイメージセンサ１０４Ｄとして、センサの画素の
長さを変化させるようにしてもよい。また検出倍率は低
倍率と高倍率の二種類に限定されず、例えば低，中，高
倍率と複数の倍率による検出としてもよい。さらにビー
ムスプリッタ１０６の代わりに反射光の光路を切り換え
て各々の倍率の受光素子へ導くようにしてもよい。
【００１９】図３には、測定アルゴリズムを示し、図３
（Ａ）は本実施例に係る低倍率と高倍率との組合せによ
るものを示す。図３（Ｂ）は従来例に係る高倍率のみの
アルゴリズムを示す。図３（Ａ）に示すように低倍率と
高倍率との受光部を併用することにより、図３（Ｂ）に
示すように手間がかからず高精度測定を短時間で処理で
きることとなる。
（Ａ）は本実施例に係る低倍率と高倍率との組合せによ
るものを示す。図３（Ｂ）は従来例に係る高倍率のみの
アルゴリズムを示す。図３（Ａ）に示すように低倍率と
高倍率との受光部を併用することにより、図３（Ｂ）に
示すように手間がかからず高精度測定を短時間で処理で
きることとなる。
【００２０】上述したように本装置によれば、被検体か
らの反射光を二つ以上の倍率の異なる検出部へ送っての
処理となるので、高倍率検出によって高精度の測定がで
きると共に低倍率検出によって測定時間の短縮化を図る
ことができる。
らの反射光を二つ以上の倍率の異なる検出部へ送っての
処理となるので、高倍率検出によって高精度の測定がで
きると共に低倍率検出によって測定時間の短縮化を図る
ことができる。
【００２１】
【発明の効果】以上実施例と共に述べたように、本発明
に係る三次元位置測定装置はプローブ光を被検体に照射
する際θ軸に設けた反射鏡を用いると共に被検体からの
反射光をψ軸に設けた反射鏡で受光素子へ導き、且つ倍
率の異なる検出をすることにより高精度測定と測定時間
の大幅な短縮化が可能となる。
に係る三次元位置測定装置はプローブ光を被検体に照射
する際θ軸に設けた反射鏡を用いると共に被検体からの
反射光をψ軸に設けた反射鏡で受光素子へ導き、且つ倍
率の異なる検出をすることにより高精度測定と測定時間
の大幅な短縮化が可能となる。
【図１】本実施例に係る三次元位置測定装置の概略図で
ある。
ある。
【図２】低倍率と高倍率検出の測定範囲を示す概説図で
ある。
ある。
【図３】測定アルゴリズムを示す図である。
【図４】従来技術に係る三次元位置測定装置の概略図で
ある。
ある。
１００ 枠体 １０１ レーザ光源 １０２ 被検体 １０３，１０５ 反射鏡 １０４ 受光素子 １０４Ａ，１０４Ｂ ＣＣＤイメージセンサ １０６ ビームスプリッタ １０７ 低倍率の撮像レンズ １０８ 高倍率の撮像レンズ １０９ レンズ Ｌ レーザ光 ＲＬ，ＲＬ1 ，ＲＬ2 反射光
Claims (1)
- 【請求項１】 平行光乃至収束光をプローブ光として被
検体に照射すると共にその照射方向が２本の回転軸回り
の回動により可変である光照射部と、撮像レンズ及び受
光素子からなりその光軸方向が２本の回転軸回りの回動
により可変であり且つ上記被検体からの反射光をその反
射点の像が当該光軸に一致するよう回動調整して検出す
る光検出部と、上記プローブ光の出射方向及び上記光検
出部での受光方向並びに当該光検出部と上記光照射部と
の相対的位置関係より三角測量の原理で上記反射点の位
置を検出する処理部とを備えてなる三次元位置測定装置
であって、反射光の検出を倍率の異なる複数の検出部に
て行うことを特徴とする三次元位置測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22617391A JPH0560530A (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 三次元位置測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22617391A JPH0560530A (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 三次元位置測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0560530A true JPH0560530A (ja) | 1993-03-09 |
Family
ID=16841028
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22617391A Withdrawn JPH0560530A (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 三次元位置測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0560530A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111578860A (zh) * | 2020-04-22 | 2020-08-25 | 清华大学 | 基于反射镜及单目视觉的三维形貌测量方法 |
-
1991
- 1991-09-05 JP JP22617391A patent/JPH0560530A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111578860A (zh) * | 2020-04-22 | 2020-08-25 | 清华大学 | 基于反射镜及单目视觉的三维形貌测量方法 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981203 |