JPH055841A - 真空対応顕微鏡 - Google Patents
真空対応顕微鏡Info
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- JPH055841A JPH055841A JP18291291A JP18291291A JPH055841A JP H055841 A JPH055841 A JP H055841A JP 18291291 A JP18291291 A JP 18291291A JP 18291291 A JP18291291 A JP 18291291A JP H055841 A JPH055841 A JP H055841A
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- objective lens
- vacuum
- sample
- vacuum chamber
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Abstract
(57)【要約】
[目的] 真空中における試料を、真空チャンバー内の
試料に近接して観察できるようにする。 [構成] 真空顕微鏡1の対物レンズ2を真空チャンバ
ー12内に挿入させて、試料を観察する。対物レンズ部
2は対物レンズ2aと対向する部分で保護ガラスを取り
つけている対物レンズカバー22が被せられている。対
物レンズ部2とこれを取りつけているアダプター8との
真空チャンバー12内に挿入されている部分はシール処
理がされ、真空チャンバー12内で真空との遮断状態が
保持される。また、ベローズ11がY軸方向に伸縮自在
であり、真空内における試料に対物レンズ部2を近接さ
せて観察することができる。
試料に近接して観察できるようにする。 [構成] 真空顕微鏡1の対物レンズ2を真空チャンバ
ー12内に挿入させて、試料を観察する。対物レンズ部
2は対物レンズ2aと対向する部分で保護ガラスを取り
つけている対物レンズカバー22が被せられている。対
物レンズ部2とこれを取りつけているアダプター8との
真空チャンバー12内に挿入されている部分はシール処
理がされ、真空チャンバー12内で真空との遮断状態が
保持される。また、ベローズ11がY軸方向に伸縮自在
であり、真空内における試料に対物レンズ部2を近接さ
せて観察することができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は真空対応顕微鏡に関す
る。
る。
【0002】
【従来の技術及びその問題点】図6は従来の金属顕微鏡
の基本的な構成を示している。
の基本的な構成を示している。
【0003】図において、ハロゲンランプ35から出た
光はハーフミラー37に反射され、光軸と平行になって
脱着式のリボルバー32に取りつけられている対物レン
ズ31に進み、それに屈折された光が試料36を照射す
る。試料36によって反射または散乱された光は対物レ
ンズ31によって集束され、装置用照準ユニット33内
で結像し、その像を接眼レンズ34によって観察するの
であるが、一般に顕微鏡で高い倍率(2000倍以上)
で試料を観察する場合、試料に焦点を合わせたときの対
物レンズの先端から試料までの長さ、すなわち作動距離
WDが顕微鏡の倍率が高くなるにつれて小さくなる(W
D<1mm)。
光はハーフミラー37に反射され、光軸と平行になって
脱着式のリボルバー32に取りつけられている対物レン
ズ31に進み、それに屈折された光が試料36を照射す
る。試料36によって反射または散乱された光は対物レ
ンズ31によって集束され、装置用照準ユニット33内
で結像し、その像を接眼レンズ34によって観察するの
であるが、一般に顕微鏡で高い倍率(2000倍以上)
で試料を観察する場合、試料に焦点を合わせたときの対
物レンズの先端から試料までの長さ、すなわち作動距離
WDが顕微鏡の倍率が高くなるにつれて小さくなる(W
D<1mm)。
【0004】ところで、真空中の空間Bにおいたままの
試料を顕微鏡で観察することが時に必要となる。しか
し、真空中に置かれた試料をガラスの真空壁の外から顕
微鏡で観察することは難しく、例えば図6のように金属
顕微鏡の作動距離WD1 がガラスの隔壁38の表面から
観察すべき試料36との長さより小さい場合、あるいは
ガラスの隔壁の厚さが顕微鏡の作動距離より大きい場合
があり、試料に焦点を合わすことができなかった。
試料を顕微鏡で観察することが時に必要となる。しか
し、真空中に置かれた試料をガラスの真空壁の外から顕
微鏡で観察することは難しく、例えば図6のように金属
顕微鏡の作動距離WD1 がガラスの隔壁38の表面から
観察すべき試料36との長さより小さい場合、あるいは
ガラスの隔壁の厚さが顕微鏡の作動距離より大きい場合
があり、試料に焦点を合わすことができなかった。
【0005】例えば、真空チャンバ内の資料を観察する
場合に、覗き用のフランジを真空チャンバに短管を間に
挟んで接合するだけでも真空チャンバ内の資料と対物レ
ンズまでの距離は、30〜50mmと離れてしまい、観
察することはできない。
場合に、覗き用のフランジを真空チャンバに短管を間に
挟んで接合するだけでも真空チャンバ内の資料と対物レ
ンズまでの距離は、30〜50mmと離れてしまい、観
察することはできない。
【0006】また仮に対物レンズを真空中で使用するこ
とが可能であったとしても市販の対物レンズは、真鍮に
メッキが施してあったり、レンズが複合レンズであった
りレンズ間に化合物で貼り合わせてあることなどを考え
ると、超高真空中では放出ガスが発生し、クリーンな真
空を汚してしまう可能性がある。また、その化合物が蒸
発してなくなると、レンズとして作用しなくなる。
とが可能であったとしても市販の対物レンズは、真鍮に
メッキが施してあったり、レンズが複合レンズであった
りレンズ間に化合物で貼り合わせてあることなどを考え
ると、超高真空中では放出ガスが発生し、クリーンな真
空を汚してしまう可能性がある。また、その化合物が蒸
発してなくなると、レンズとして作用しなくなる。
【0007】また真空中での種々のプラズマプロセス中
に設置するとスパッタなどで対物レンズのガラスが汚
れ、使用することが難しい。
に設置するとスパッタなどで対物レンズのガラスが汚
れ、使用することが難しい。
【0008】一方、高い倍率において大きな作動距離を
得るには対物レンズの口径を大きくする方法もあるが、
製作が難しく価格も高価となる。
得るには対物レンズの口径を大きくする方法もあるが、
製作が難しく価格も高価となる。
【0009】
【発明が解決しようとする問題点】本発明は上記問題に
鑑みてなされ、真空中に置かれた試料を従来の顕微鏡を
用いて、真空チャンバ内に載置された試料を観察するこ
とのできる真空対応顕微鏡を提供することを目的とす
る。
鑑みてなされ、真空中に置かれた試料を従来の顕微鏡を
用いて、真空チャンバ内に載置された試料を観察するこ
とのできる真空対応顕微鏡を提供することを目的とす
る。
【0010】
【問題点を解決するための手段】以上の目的は、対物レ
ンズのまわりに大気と真空とを隔離するための対物レン
ズカバー筒体を真空チャンバ内に配設し、該対物レンズ
カバー筒体内で、観察すべき試料側に保護ガラスを気密
に取りつけ、該対物レンズカバー筒体の大気側の端部は
該真空チャンバに対し気密に取り付けられていることを
特徴とする真空対応顕微鏡、によって達成される。
ンズのまわりに大気と真空とを隔離するための対物レン
ズカバー筒体を真空チャンバ内に配設し、該対物レンズ
カバー筒体内で、観察すべき試料側に保護ガラスを気密
に取りつけ、該対物レンズカバー筒体の大気側の端部は
該真空チャンバに対し気密に取り付けられていることを
特徴とする真空対応顕微鏡、によって達成される。
【0011】
【作用】長作動距離用の対物レンズのまわりに大気と真
空とを隔離するための対物レンズカバー筒体を取り付
け、この筒体の対物レンズと試料との間の面に保護ガラ
スを設けたので、真空中に載置されている試料に対物レ
ンズを近接させて観察できる。
空とを隔離するための対物レンズカバー筒体を取り付
け、この筒体の対物レンズと試料との間の面に保護ガラ
スを設けたので、真空中に載置されている試料に対物レ
ンズを近接させて観察できる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の実施例による真空対応顕微鏡
について説明する。図1は本実施例における真空対応顕
微鏡1と真空チャンバ12内に設けられた観察試料位置
決め装置27を示す。
について説明する。図1は本実施例における真空対応顕
微鏡1と真空チャンバ12内に設けられた観察試料位置
決め装置27を示す。
【0013】真空対応顕微鏡1は真空チャンバ12の隔
壁12aに、図においてX軸及びZ軸方向に移動可能な
可動テーブル13に支柱6を介して、水平方向で試料S
が観察できるように取りつけられている。この真空対応
顕微鏡1は長作動距離用の対物レンズ2a(倍率50倍
程度)が用いられ、従来の顕微鏡と同様に、対物レンズ
2aの像を更に虚像として拡大するための接眼レンズ4
(倍率10倍程度)、観察試料Sを照射するためのハロ
ゲンランプ5が設けられており、また三眼鏡筒部7を支
えている装置用照準ユニット3には大まかに焦点を合わ
せるための粗動ハンドル40と精密に焦点を合わせるた
めの微動ハンドル41とが設けられ、それを調節するこ
とにより装置用照準ユニット3は支柱6上を図において
Y軸方向に移動する。この真空対応顕微鏡1のX軸、Z
軸方向の移動はX方向調整ねじ24を回転させることに
より、可動テーブル13が真空チャンバ12の隔壁12
aに対してX軸方向に移動し、Z軸方向調整ねじ25を
回転させることにより、可動テーブル13がZ軸方向に
移動する。従って、真空対応顕微鏡1もこれと一体とな
って移動する。
壁12aに、図においてX軸及びZ軸方向に移動可能な
可動テーブル13に支柱6を介して、水平方向で試料S
が観察できるように取りつけられている。この真空対応
顕微鏡1は長作動距離用の対物レンズ2a(倍率50倍
程度)が用いられ、従来の顕微鏡と同様に、対物レンズ
2aの像を更に虚像として拡大するための接眼レンズ4
(倍率10倍程度)、観察試料Sを照射するためのハロ
ゲンランプ5が設けられており、また三眼鏡筒部7を支
えている装置用照準ユニット3には大まかに焦点を合わ
せるための粗動ハンドル40と精密に焦点を合わせるた
めの微動ハンドル41とが設けられ、それを調節するこ
とにより装置用照準ユニット3は支柱6上を図において
Y軸方向に移動する。この真空対応顕微鏡1のX軸、Z
軸方向の移動はX方向調整ねじ24を回転させることに
より、可動テーブル13が真空チャンバ12の隔壁12
aに対してX軸方向に移動し、Z軸方向調整ねじ25を
回転させることにより、可動テーブル13がZ軸方向に
移動する。従って、真空対応顕微鏡1もこれと一体とな
って移動する。
【0014】図2は真空チャンバ12内に挿入された対
物レンズ部2と真空チャンバ12の隔壁12aとのシー
ル部拡大断面を示している。対物レンズ部2は円筒状の
アダプター8の図面において、右端内周壁に形成された
ねじ部と、これに対応する対物レンズ部2の左端外周壁
に形成されたねじ部とで接続される。対物レンズ部2を
真空チャンバ12から遮断するため、対物レンズカバー
22が、僅かに空隙を設けて被せられている。対物レン
ズカバー22は対物レンズ部2の対物レンズ2aの資料
S側に対向する側に、保護ガラス9をその端部に固定さ
せている。すなわち保護ガラス9の周縁部は真空用接着
剤18により、対物レンズカバー22にシール処理し、
固定されている。また、対物レンズカバー22とアダプ
ター8との当接部にはO−リングシール23が施され、
対物レンズ固定金具21の内周壁に形成されているねじ
部を、アダプター8の右端部に形成されているねじ部に
締めつけることにより、O−リングシール23は圧着さ
れてシール処理され、且つ対物レンズカバー22はアダ
プター8に固定される。従って、対物レンズ部2はシー
ル18とO−リングシール23とにより、真空チャンバ
12内と気密に隔離される。
物レンズ部2と真空チャンバ12の隔壁12aとのシー
ル部拡大断面を示している。対物レンズ部2は円筒状の
アダプター8の図面において、右端内周壁に形成された
ねじ部と、これに対応する対物レンズ部2の左端外周壁
に形成されたねじ部とで接続される。対物レンズ部2を
真空チャンバ12から遮断するため、対物レンズカバー
22が、僅かに空隙を設けて被せられている。対物レン
ズカバー22は対物レンズ部2の対物レンズ2aの資料
S側に対向する側に、保護ガラス9をその端部に固定さ
せている。すなわち保護ガラス9の周縁部は真空用接着
剤18により、対物レンズカバー22にシール処理し、
固定されている。また、対物レンズカバー22とアダプ
ター8との当接部にはO−リングシール23が施され、
対物レンズ固定金具21の内周壁に形成されているねじ
部を、アダプター8の右端部に形成されているねじ部に
締めつけることにより、O−リングシール23は圧着さ
れてシール処理され、且つ対物レンズカバー22はアダ
プター8に固定される。従って、対物レンズ部2はシー
ル18とO−リングシール23とにより、真空チャンバ
12内と気密に隔離される。
【0015】対物レンズ部2及び対物レンズカバー22
が取りつけられているアダプター8はリボルバー10に
取りつけられており、キャップ15と支持部材16とで
形成されている開口部に挿通され、支持部材16と、こ
のアダプター8の周壁部に取りつけられているフランジ
部14との間には伸縮自在のベローズ11がそれぞれの
接続部で溶接されて気密に取りつけられている。また支
持部材16は真空チャンバ12の隔壁12aの突出部1
2bに固着されたフランジ部19の外周壁とキャップ1
5の内周壁とに、それぞれに対応するねじ溝が切られ、
キャップ15を閉めることにより、ベローズ支持部材1
6とフランジ部19との当接部に設けられているO−リ
ングシール17が圧着されてシール処理され、且つ支持
部材16はキャップ15とフランジ部19との間に挟着
される。従って、真空チャンバ12内の空間P1 と真空
対応顕微鏡1側の空間P2 とは隔離され、真空チャンバ
12内の空間P1 は気密が保持され、図示されていない
真空手段により、真空状態となる。
が取りつけられているアダプター8はリボルバー10に
取りつけられており、キャップ15と支持部材16とで
形成されている開口部に挿通され、支持部材16と、こ
のアダプター8の周壁部に取りつけられているフランジ
部14との間には伸縮自在のベローズ11がそれぞれの
接続部で溶接されて気密に取りつけられている。また支
持部材16は真空チャンバ12の隔壁12aの突出部1
2bに固着されたフランジ部19の外周壁とキャップ1
5の内周壁とに、それぞれに対応するねじ溝が切られ、
キャップ15を閉めることにより、ベローズ支持部材1
6とフランジ部19との当接部に設けられているO−リ
ングシール17が圧着されてシール処理され、且つ支持
部材16はキャップ15とフランジ部19との間に挟着
される。従って、真空チャンバ12内の空間P1 と真空
対応顕微鏡1側の空間P2 とは隔離され、真空チャンバ
12内の空間P1 は気密が保持され、図示されていない
真空手段により、真空状態となる。
【0016】図1に示される試料ホルダー位置決め装置
27は真空チャンバ12内で、例えば試料Sに薄膜を作
成する場合に、試料Sの薄膜の作成する位置を高精度で
位置決めする装置であり、試料Sの表面の作成部分を真
空対応顕微鏡1で観察するのに、対物レンズ2aの臨む
位置まで試料を移送する。
27は真空チャンバ12内で、例えば試料Sに薄膜を作
成する場合に、試料Sの薄膜の作成する位置を高精度で
位置決めする装置であり、試料Sの表面の作成部分を真
空対応顕微鏡1で観察するのに、対物レンズ2aの臨む
位置まで試料を移送する。
【0017】図に示されるように試料ホルダー位置決め
装置27は真空チャンバ12内のターンテーブル29上
に配設され、試料ホルダー28に載置された試料Sはタ
ーンテーブル29の回転とX、Y、Z軸方向の真空対応
用の各モータ30a、30b、30cの駆動制御によ
り、真空チャンバ12内を移送される。例えば図におい
て、試料ホルダー28のY軸上の移動を例にすると、図
示していない真空チャンバ12外にある操作手段によ
り、モータ30bを駆動させると、ボールねじ43が回
転し、この回転に従って、ボールねじのピッチに対応す
るナットが設けられているY軸方向のガイド部材44が
ボールねじ43上を移動し、試料ホルダー28もこれに
従って移動する。また、X軸、Z軸方向の移動も同様に
してモータ30a、30cの駆動制御により、試料ホル
ダー28は移送される。このモータ30a、30b、3
0cの駆動制御による方法で、試料ホルダー位置決め装
置27はμmオーダの精度で試料ホルダー28の位置決
めがされる。従って、試料Sを観察する場合は、真空対
応顕微鏡1の各調整ねじ24、25、40、41を使用
せず、この試料位置決め装置27を制御することでもで
きる。
装置27は真空チャンバ12内のターンテーブル29上
に配設され、試料ホルダー28に載置された試料Sはタ
ーンテーブル29の回転とX、Y、Z軸方向の真空対応
用の各モータ30a、30b、30cの駆動制御によ
り、真空チャンバ12内を移送される。例えば図におい
て、試料ホルダー28のY軸上の移動を例にすると、図
示していない真空チャンバ12外にある操作手段によ
り、モータ30bを駆動させると、ボールねじ43が回
転し、この回転に従って、ボールねじのピッチに対応す
るナットが設けられているY軸方向のガイド部材44が
ボールねじ43上を移動し、試料ホルダー28もこれに
従って移動する。また、X軸、Z軸方向の移動も同様に
してモータ30a、30cの駆動制御により、試料ホル
ダー28は移送される。このモータ30a、30b、3
0cの駆動制御による方法で、試料ホルダー位置決め装
置27はμmオーダの精度で試料ホルダー28の位置決
めがされる。従って、試料Sを観察する場合は、真空対
応顕微鏡1の各調整ねじ24、25、40、41を使用
せず、この試料位置決め装置27を制御することでもで
きる。
【0018】本発明の実施例による真空対応顕微鏡1は
以上のように構成されるのであるが、次にこの作用、効
果などについて説明する。
以上のように構成されるのであるが、次にこの作用、効
果などについて説明する。
【0019】図1において、真空チャンバ12内で表面
加工された試料ホルダー28内の試料Sはターンテーブ
ル29の回転と試料ホルダー位置決め装置27を制御す
ることにより、試料ホルダー28を対物レンズ部2のレ
ンズの臨む位置まで移送させる。対物レンズ2で試料S
面を走査させるために、X軸及びZ軸方向調整ねじ2
4、25を調整して、可動テーブル13は真空チャンバ
12の隔壁12aに対して移動する。これにより、対物
レンズ部2が取りつけられているアダプター8は図2に
おいて、キャップ15と支持部16とで形成された開口
部20内をX軸及びZ軸方向に移動されるので、対物レ
ンズ部2は可動テーブル13を動かすことにより試料上
を走査する。対物レンズ部2の焦点を試料Sに合わせる
ために、粗動ハンドル40と微動ハンドル41とが用い
られるが、このY軸方向の対物レンズ部2の移動はベロ
ーズ11が伸縮自在であり、アダプター8が開口部20
を摺動することにより、対物レンズ部2のレンズの焦点
に試料Sが合わせられる。従って、真空チャンバ12の
隔壁12aと試料との距離が大きくても、試料Sを観察
することができる。
加工された試料ホルダー28内の試料Sはターンテーブ
ル29の回転と試料ホルダー位置決め装置27を制御す
ることにより、試料ホルダー28を対物レンズ部2のレ
ンズの臨む位置まで移送させる。対物レンズ2で試料S
面を走査させるために、X軸及びZ軸方向調整ねじ2
4、25を調整して、可動テーブル13は真空チャンバ
12の隔壁12aに対して移動する。これにより、対物
レンズ部2が取りつけられているアダプター8は図2に
おいて、キャップ15と支持部16とで形成された開口
部20内をX軸及びZ軸方向に移動されるので、対物レ
ンズ部2は可動テーブル13を動かすことにより試料上
を走査する。対物レンズ部2の焦点を試料Sに合わせる
ために、粗動ハンドル40と微動ハンドル41とが用い
られるが、このY軸方向の対物レンズ部2の移動はベロ
ーズ11が伸縮自在であり、アダプター8が開口部20
を摺動することにより、対物レンズ部2のレンズの焦点
に試料Sが合わせられる。従って、真空チャンバ12の
隔壁12aと試料との距離が大きくても、試料Sを観察
することができる。
【0020】また、真空チャンバ12内に挿入されてい
る対物レンズ部2とアダプター8が真空チャンバ12内
の空間P2 とシール処理により隔離されているので、真
空チャンバ12内で気密が保持され、且つ対物レンズ2
が保護ガラス9により、真空中にさらされることもない
ので、従来例に記載したように対物レンズ部2が超高真
空中で放出ガスを発生させることはない。
る対物レンズ部2とアダプター8が真空チャンバ12内
の空間P2 とシール処理により隔離されているので、真
空チャンバ12内で気密が保持され、且つ対物レンズ2
が保護ガラス9により、真空中にさらされることもない
ので、従来例に記載したように対物レンズ部2が超高真
空中で放出ガスを発生させることはない。
【0021】試料Sに対物レンズ2aの焦点が合わせら
れると、ハロゲンランプ5から出た光は真空対応顕微鏡
1の光軸に平行となり、対物レンズ2aにより屈折さ
れ、保護ガラス9を通過して試料Sを照射する。試料S
によって反射された光は、再び保護ガラス9を通過して
対物レンズ2aの対物スリットにより平行光線にされた
後、結像レンズによって結像し、接眼レンズ4で虚像を
つくり、試料Sを拡大して観察する。
れると、ハロゲンランプ5から出た光は真空対応顕微鏡
1の光軸に平行となり、対物レンズ2aにより屈折さ
れ、保護ガラス9を通過して試料Sを照射する。試料S
によって反射された光は、再び保護ガラス9を通過して
対物レンズ2aの対物スリットにより平行光線にされた
後、結像レンズによって結像し、接眼レンズ4で虚像を
つくり、試料Sを拡大して観察する。
【0022】なお、図3は対物レンズ2aと試料Sとの
間に保護ガラス9を介在させた光Lの光路を示している
が、保護ガラス9の材質や厚さtにより、レンズの解像
度が変化するので、この光学系の設計に基いて、解像度
の低下の値を最小としなければならない。すなわち、光
Lが保護ガラス9に入射する入射角度α、屈折角度βの
相違による屈折率(sinα/sinβ)と、レンズ2
aと保護ガラス9との間の気圧及び保護ガラス9と試料
面との真空空間の気圧差を考慮して、解像度の低下の値
を最小とする。
間に保護ガラス9を介在させた光Lの光路を示している
が、保護ガラス9の材質や厚さtにより、レンズの解像
度が変化するので、この光学系の設計に基いて、解像度
の低下の値を最小としなければならない。すなわち、光
Lが保護ガラス9に入射する入射角度α、屈折角度βの
相違による屈折率(sinα/sinβ)と、レンズ2
aと保護ガラス9との間の気圧及び保護ガラス9と試料
面との真空空間の気圧差を考慮して、解像度の低下の値
を最小とする。
【0023】以上のようにして、本発明の真空対応顕微
鏡1によれば、500倍(対物レンズ50倍×接眼レン
ズ10倍)程度の高い倍率まで観察することができる。
なお、本実施例では倍率50倍程度の対物レンズを用い
たが、長作動距離用の対物レンズであれば、他の倍率で
あってもよい。
鏡1によれば、500倍(対物レンズ50倍×接眼レン
ズ10倍)程度の高い倍率まで観察することができる。
なお、本実施例では倍率50倍程度の対物レンズを用い
たが、長作動距離用の対物レンズであれば、他の倍率で
あってもよい。
【0024】次に、本発明の第2実施例による真空対応
顕微鏡について図面を参照して説明する。なお、真空対
応顕微鏡の図示していない部分については第1実施例と
同様であり、その説明は省略する。
顕微鏡について図面を参照して説明する。なお、真空対
応顕微鏡の図示していない部分については第1実施例と
同様であり、その説明は省略する。
【0025】図4は真空チャンバ50内に挿入された対
物レンズ部51と真空チャンバ50の隔壁50aとのシ
ール部拡大断面を示している。対物レンズ部51は円筒
状のカバー筒体としてのアダプター52の内部に設けら
れ、アダプター52の内部内周壁に形成されたねじ部5
2aと、これに対応する対物レンズ部51の左端外周壁
に形成されたねじ部51aとで結合される。対物レンズ
部51を真空チャンバ50内の真空室P4 から遮断する
ため、保護ガラス53がアダプター52の右端内周壁に
取り付けられている。保護ガラス53の周縁部は真空用
接着剤54により、シール処理され、固定されている。
すなわち、対物レンズ部51の試料S1側に対向する側
に保護ガラス53がわずかに空隙を設けて取り付けられ
ている。
物レンズ部51と真空チャンバ50の隔壁50aとのシ
ール部拡大断面を示している。対物レンズ部51は円筒
状のカバー筒体としてのアダプター52の内部に設けら
れ、アダプター52の内部内周壁に形成されたねじ部5
2aと、これに対応する対物レンズ部51の左端外周壁
に形成されたねじ部51aとで結合される。対物レンズ
部51を真空チャンバ50内の真空室P4 から遮断する
ため、保護ガラス53がアダプター52の右端内周壁に
取り付けられている。保護ガラス53の周縁部は真空用
接着剤54により、シール処理され、固定されている。
すなわち、対物レンズ部51の試料S1側に対向する側
に保護ガラス53がわずかに空隙を設けて取り付けられ
ている。
【0026】アダプター52はリボルバー55に取り付
けられており、真空チャンバ50に設けられている開口
部56に挿通され、真空チャンバ50の開口部56の隔
壁50aとアダプター52の外周部に一体的に形成され
ているフランジ部57との間に伸縮自在のベローズ58
が設けられ、ベローズ58の両端部は溶接により、気密
に取り付けられている。従って、保護ガラス53の周縁
部の真空用接着剤54のシール処理とベローズ58の両
端部が溶接により、気密に取り付けられていることか
ら、真空チャンバ50内の空間P4 と大気P3 は隔離さ
れる。これにより、図示されていない排気手段により、
空間P4 を真空状態とした場合、大気P3が空間P4 に
入り込むことはない。
けられており、真空チャンバ50に設けられている開口
部56に挿通され、真空チャンバ50の開口部56の隔
壁50aとアダプター52の外周部に一体的に形成され
ているフランジ部57との間に伸縮自在のベローズ58
が設けられ、ベローズ58の両端部は溶接により、気密
に取り付けられている。従って、保護ガラス53の周縁
部の真空用接着剤54のシール処理とベローズ58の両
端部が溶接により、気密に取り付けられていることか
ら、真空チャンバ50内の空間P4 と大気P3 は隔離さ
れる。これにより、図示されていない排気手段により、
空間P4 を真空状態とした場合、大気P3が空間P4 に
入り込むことはない。
【0027】本発明の第2実施例による真空対応顕微鏡
は以上のように構成されるが、本発明の第1実施例と同
様に真空チャンバ50内に載置されている試料S1 を近
接して観察できることは明白であり、また第1実施例よ
りも簡単な構成により実施できる。
は以上のように構成されるが、本発明の第1実施例と同
様に真空チャンバ50内に載置されている試料S1 を近
接して観察できることは明白であり、また第1実施例よ
りも簡単な構成により実施できる。
【0028】次に、本発明の第3実施例による真空対応
顕微鏡について図面を参照して説明する。なお、特に真
空対応顕微鏡の、記載しない内容については第1実施例
と同様であり、その説明を省略する。
顕微鏡について図面を参照して説明する。なお、特に真
空対応顕微鏡の、記載しない内容については第1実施例
と同様であり、その説明を省略する。
【0029】図5は真空チャンバ60内に挿入された対
物レンズ61と真空チャンバ60の隔壁60aとのシー
ル部拡大断面を示している。対物レンズ部61はカバー
円筒体としてのアダプター62の内部に設けられ、アダ
プター62の内部内周壁に形成されたねじ部62aと、
これに対応する対物レンズ部61の左端外周壁に形成さ
れたねじ部61aとで結合される。対物レンズ部61を
真空チャンバ60内の真空室P6 から遮断するため、保
護ガラス63がアダプター62の右端内周壁に取り付け
られている。保護ガラス63の周縁部は真空用接着剤6
4によりい、シール処理され、固定されている。すなわ
ち、対物レンズ部61の試料S2 側に対向する側に保護
ガラス63がわずかに空隙を設けて取り付けられてい
る。
物レンズ61と真空チャンバ60の隔壁60aとのシー
ル部拡大断面を示している。対物レンズ部61はカバー
円筒体としてのアダプター62の内部に設けられ、アダ
プター62の内部内周壁に形成されたねじ部62aと、
これに対応する対物レンズ部61の左端外周壁に形成さ
れたねじ部61aとで結合される。対物レンズ部61を
真空チャンバ60内の真空室P6 から遮断するため、保
護ガラス63がアダプター62の右端内周壁に取り付け
られている。保護ガラス63の周縁部は真空用接着剤6
4によりい、シール処理され、固定されている。すなわ
ち、対物レンズ部61の試料S2 側に対向する側に保護
ガラス63がわずかに空隙を設けて取り付けられてい
る。
【0030】円筒状のアダプター62はリボルバー66
に取り付けられており、真空チャンバ60に設けられて
いる開口部67に挿通されている。また、開口部67が
設けられている真空チャンバ60の隔壁60aには円筒
状のO−リング取付部材68が固着され、この凹所に真
空保持用のO−リング69が嵌着されていることから、
開口部67は大気と気密に保持される。従って、保護ガ
ラス63の周縁部の真空用接着剤64のシール処理と開
口部67に設けられているO−リング69によるシール
処理とで真空チャンバ60内の空間P6 と大気P5 は隔
離される。これにより、図示されていない排気手段によ
り、空間P6 を真空状態とした場合、大気P5 が空間P
6に入り込むことはない。なお、本実施例の真空対応顕
微鏡は第1実施例の真空対応顕微鏡1と異なり、カバー
筒体62、すなわち対物レンズ部61の移動方向は、真
空チャンバ60の隔壁に対して垂直方向にのみ許容され
る。
に取り付けられており、真空チャンバ60に設けられて
いる開口部67に挿通されている。また、開口部67が
設けられている真空チャンバ60の隔壁60aには円筒
状のO−リング取付部材68が固着され、この凹所に真
空保持用のO−リング69が嵌着されていることから、
開口部67は大気と気密に保持される。従って、保護ガ
ラス63の周縁部の真空用接着剤64のシール処理と開
口部67に設けられているO−リング69によるシール
処理とで真空チャンバ60内の空間P6 と大気P5 は隔
離される。これにより、図示されていない排気手段によ
り、空間P6 を真空状態とした場合、大気P5 が空間P
6に入り込むことはない。なお、本実施例の真空対応顕
微鏡は第1実施例の真空対応顕微鏡1と異なり、カバー
筒体62、すなわち対物レンズ部61の移動方向は、真
空チャンバ60の隔壁に対して垂直方向にのみ許容され
る。
【0031】本発明の第3実施例による真空対応顕微鏡
は以上のように構成されるが、本実施例によれば、アダ
プター62か真空チャンバ60の隔壁62aの開口部6
7を摺動自在であり、またこの開口部67がO−リング
69によりシール処理されているので、ここから大気P
5 が入り込むことがなく、試料S2 に対物レンズ部61
を近接させることができる。更に、本実施例によれば、
第1及び第2実施例と異なり、真空チャンバ60の隔壁
60aに対して垂直方向の動きがベローズにより制限さ
れないので、アダプター62の矢印Q方向の動きが大き
くとれる。
は以上のように構成されるが、本実施例によれば、アダ
プター62か真空チャンバ60の隔壁62aの開口部6
7を摺動自在であり、またこの開口部67がO−リング
69によりシール処理されているので、ここから大気P
5 が入り込むことがなく、試料S2 に対物レンズ部61
を近接させることができる。更に、本実施例によれば、
第1及び第2実施例と異なり、真空チャンバ60の隔壁
60aに対して垂直方向の動きがベローズにより制限さ
れないので、アダプター62の矢印Q方向の動きが大き
くとれる。
【0032】また、対物レンズ部61は真空チャンバ6
0内に挿入されているが、真空チャンバ60内の真空空
間P6 とは保護ガラス63のシール処理により隔離され
ているので、対物レンズ部61が超高真空P6 中で放出
ガスを発生させることもない。
0内に挿入されているが、真空チャンバ60内の真空空
間P6 とは保護ガラス63のシール処理により隔離され
ているので、対物レンズ部61が超高真空P6 中で放出
ガスを発生させることもない。
【0033】以上、本発明の実施例について説明した
が、勿論、本発明はこれに限定されることなく、本発明
の技術的思想に基いて種々の変形が可能である。
が、勿論、本発明はこれに限定されることなく、本発明
の技術的思想に基いて種々の変形が可能である。
【0034】例えば、以上の実施例では顕微鏡1を真空
内の試料を観察するために用いたが、これに代えて水
中、油中、ガス中及び腐食性ガス雰囲気中等にある試料
の観察に用いてもよいし、単なる透明容器内に載置され
ている試料にも当然用いることができる。
内の試料を観察するために用いたが、これに代えて水
中、油中、ガス中及び腐食性ガス雰囲気中等にある試料
の観察に用いてもよいし、単なる透明容器内に載置され
ている試料にも当然用いることができる。
【0035】また、以上の実施例では対物レンズカバー
22に保護ガラス9を設けたが、これは透明部材であれ
ば合成樹脂のようなものであってもよい。
22に保護ガラス9を設けたが、これは透明部材であれ
ば合成樹脂のようなものであってもよい。
【0036】
【発明の効果】以上、述べたように本発明の真空対応顕
微鏡は真空中で試料を観察するのに、対物レンズを観察
すべき試料に近接させて観察することができ、また水
中、油中、ガス中及び腐食性ガス雰囲気中にある試料の
観察においても対物レンズを損なうことなく試料を観察
できる。
微鏡は真空中で試料を観察するのに、対物レンズを観察
すべき試料に近接させて観察することができ、また水
中、油中、ガス中及び腐食性ガス雰囲気中にある試料の
観察においても対物レンズを損なうことなく試料を観察
できる。
【図1】本発明の実施例による真空対応顕微鏡と、試料
ホルダー位置決め装置とを示す部分破断正面図である。
ホルダー位置決め装置とを示す部分破断正面図である。
【図2】図1における同顕微鏡の対物レンズ近傍を示す
部分破断拡大正面図である。
部分破断拡大正面図である。
【図3】対物レンズと試料との間に保護ガラスを挿入し
た場合の光の光路を示す断面図である。
た場合の光の光路を示す断面図である。
【図4】本発明の第2実施例の真空対応顕微鏡の対物レ
ンズ近傍を示す部分破断拡大正面図である。
ンズ近傍を示す部分破断拡大正面図である。
【図5】本発明の第3実施例の真空対応顕微鏡の対物レ
ンズ近傍を示す部分破断拡大正面図である。
ンズ近傍を示す部分破断拡大正面図である。
【図6】従来例における金属顕微鏡を示す部分破断正面
図である。
図である。
1 真空対応顕微鏡 2 対物レンズ部 9 保護ガラス 22 対物レンズカバー 51 対物レンズ部 53 保護ガラス 61 対物レンズ部 63 保護ガラス
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】 対物レンズのまわりに大気と真空とを隔
離するための対物レンズカバー筒体を真空チャンバ内に
配設し、該対物レンズカバー筒体内で、観察すべき試料
側に保護ガラスを気密に取りつけ、該対物レンズカバー
筒体の大気側の端部は該真空チャンバに対し気密に取り
付けられていることを特徴とする真空対応顕微鏡。 【請求項2】 前記対物レンズカバー筒体を前記真空チ
ャンバ内に挿通して配設させるために形成した該真空チ
ャンバの開口の周縁部と前記対物レンズカバー筒体との
間に真空と大気とを隔離するためのベローズを設けてい
る請求項1に記載の真空対応顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18291291A JPH055841A (ja) | 1991-06-27 | 1991-06-27 | 真空対応顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18291291A JPH055841A (ja) | 1991-06-27 | 1991-06-27 | 真空対応顕微鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH055841A true JPH055841A (ja) | 1993-01-14 |
Family
ID=16126563
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18291291A Pending JPH055841A (ja) | 1991-06-27 | 1991-06-27 | 真空対応顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH055841A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6964806B1 (en) | 1999-07-29 | 2005-11-15 | Zeon Corporation | Moldings having ink layer |
JP2006308746A (ja) * | 2005-04-27 | 2006-11-09 | Olympus Corp | 培養顕微鏡 |
JP2012014170A (ja) * | 2010-06-29 | 2012-01-19 | Asml Holding Nv | 光ウィンドウとともに広角対物レンズを用いる検査装置 |
CN105628616A (zh) * | 2016-02-23 | 2016-06-01 | 兰州大学 | 极低温、高真空环境材料显微观测系统 |
-
1991
- 1991-06-27 JP JP18291291A patent/JPH055841A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6964806B1 (en) | 1999-07-29 | 2005-11-15 | Zeon Corporation | Moldings having ink layer |
JP2006308746A (ja) * | 2005-04-27 | 2006-11-09 | Olympus Corp | 培養顕微鏡 |
JP2012014170A (ja) * | 2010-06-29 | 2012-01-19 | Asml Holding Nv | 光ウィンドウとともに広角対物レンズを用いる検査装置 |
CN105628616A (zh) * | 2016-02-23 | 2016-06-01 | 兰州大学 | 极低温、高真空环境材料显微观测系统 |
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