JPH0555960B2 - - Google Patents

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JPH0555960B2
JPH0555960B2 JP61282628A JP28262886A JPH0555960B2 JP H0555960 B2 JPH0555960 B2 JP H0555960B2 JP 61282628 A JP61282628 A JP 61282628A JP 28262886 A JP28262886 A JP 28262886A JP H0555960 B2 JPH0555960 B2 JP H0555960B2
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JP
Japan
Prior art keywords
channel mos
initial state
transistor
data
semiconductor integrated
Prior art date
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JP61282628A
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Japanese (ja)
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JPS63136387A (en
Inventor
Yoshuki Ishimaru
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/30Hydrogen technology
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、初期値設定入力付の半導体集積回
路装置の内部レジスタに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an internal register of a semiconductor integrated circuit device with initial value setting input.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の初期値設定入力付の半導体集積回路装置
において、その内部レジスタの例を第2図a,b
について説明する。図において、1,2はインバ
ータゲートであり、インバータゲート1の出力は
インバータゲート2の入力へ接続され、インバー
タゲート2の出力はトランスミツシヨンゲート3
を介してインバータゲート1の入力に接続されて
いる。又インバータゲート1の入力にはDATA
入力4がトランスミツシヨンゲート5を介して接
続されている。つまり、6はインバータゲート
1,2及びトランスミツシヨンゲート3,5によ
り構成されたラツチ回路であり、その入力は
WRITE信号とその反転信号である信号
により制御されている。7はソースが低電位側に
接続されたエンハンスメント型NチヤネルMOS
トランジスタであり、第2図aに示す例ではトラ
ンジスタ7のドレインがインバータゲート1の入
力に接続されており、第2図bに示す例ではトラ
ンジスタ7のドレインがインバータゲート2の入
力に接続されている。またトランジスタ7のゲー
トには初期値設定信号であるが接続され
ている。
Examples of internal registers in a conventional semiconductor integrated circuit device with initial value setting input are shown in Figures 2a and b.
I will explain about it. In the figure, 1 and 2 are inverter gates, the output of inverter gate 1 is connected to the input of inverter gate 2, and the output of inverter gate 2 is connected to transmission gate 3.
is connected to the input of the inverter gate 1 via the inverter gate 1. Also, the input of inverter gate 1 is DATA.
An input 4 is connected via a transmission gate 5. In other words, 6 is a latch circuit composed of inverter gates 1 and 2 and transmission gates 3 and 5, and its input is
It is controlled by the WRITE signal and its inverted signal. 7 is an enhancement type N-channel MOS whose source is connected to the low potential side.
In the example shown in FIG. 2a, the drain of the transistor 7 is connected to the input of the inverter gate 1, and in the example shown in FIG. 2b, the drain of the transistor 7 is connected to the input of the inverter gate 2. There is. Further, an initial value setting signal is connected to the gate of the transistor 7.

次に動作について説明する。 Next, the operation will be explained.

第2図aの例では、初期値設定信号が
“H”のとき、インバータゲート1の入力がトラ
ンジスタ7により低電位側に引き下げられ、ラツ
チ回路6の出力8は“H”に設定される。この状
態は、制御信号WRITEが“L”の間保持され
る。つまり第2図aの例は、初期状態で“H”に
セツトされるレジスタとして働く。
In the example shown in FIG. 2a, when the initial value setting signal is "H", the input of the inverter gate 1 is pulled down to the low potential side by the transistor 7, and the output 8 of the latch circuit 6 is set to "H". This state is maintained while the control signal WRITE is "L". In other words, the example shown in FIG. 2a functions as a register that is set to "H" in the initial state.

第2図bの例では、トランジスタ7がインバー
タゲート2の入力に接続されているので、
RESET信号が“H”のときインバータゲート2
の入力が低電位側に引き下げられ、ラツチ回路6
の出力8は“L”に設定される。つまり第2図b
の例は、初期状態で“L”にセツトされるレジス
タとして働く。
In the example of FIG. 2b, since transistor 7 is connected to the input of inverter gate 2,
When the RESET signal is “H”, inverter gate 2
The input of the latch circuit 6 is pulled down to the low potential side, and the latch circuit 6
The output 8 of is set to "L". In other words, Figure 2b
The example works as a register that is set to "L" in the initial state.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来の半導体集積回路装置では、そのレジスタ
は以上のように構成されており、トランジスタ7
のドレインの接続場所によつてレジスタ初期値の
“H”、“L”が決定されるので、仕様な変更等で
初期値を変更したい場合などには、半導体集積回
路装置のパターン変更を行なわなければならず、
初期値の変更が困難であるという問題点があつ
た。
In a conventional semiconductor integrated circuit device, the register is configured as described above, and the transistor 7
The initial value of the register, "H" or "L", is determined by the connection location of the drain of the register, so if you want to change the initial value due to changes in specifications, etc., you must change the pattern of the semiconductor integrated circuit device. Not necessarily,
There was a problem that it was difficult to change the initial values.

この発明は上記のような問題点を解消するため
になされたもので、半導体集積回路装置のパター
ン変更を行なうことなく、初期値の変更を容易に
行なうことができる半導体集積回路装置を得るこ
とを目的とする。
This invention has been made to solve the above-mentioned problems, and aims to provide a semiconductor integrated circuit device in which initial values can be easily changed without changing the pattern of the semiconductor integrated circuit device. purpose.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係る半導体集積回路装置は、そのレ
ジスタの初期状態における設定値を内蔵ROMの
データに応じて決定するようにしたものである。
In the semiconductor integrated circuit device according to the present invention, the set value of the register in the initial state is determined according to the data in the built-in ROM.

〔作用〕[Effect]

この発明においては、レジスタの初期状態設定
値を内蔵ROMのデータに応じて決定するように
したので、回路装置のパターン変更を行なうこと
なく、初期状態設定値の変更を容易に行なうこと
ができる。
In this invention, the initial state setting value of the register is determined according to the data in the built-in ROM, so that the initial state setting value can be easily changed without changing the pattern of the circuit device.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この発明の実施例を図について説明す
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図はこの発明の一実施例による半導体集積
回路装置を示し、図において、6はインバータゲ
ート1,2及びトランスミツシヨンゲート3,5
で構成された第2図a,bと同じラツチ回路であ
る。7,8はエンハンスメント型Nチヤネル
MOSトランジスタであり、トランジスタ7のド
レインはインバータゲート1の入力に接続され、
トランジスタ8はドレインはトランジスタ7のソ
ースに、ソースは低電位側に接続されている。
9,10はエンハンスメント型PチヤネルMOS
トランジスタであり、トランジスタ9のドレイン
はインバータゲート1の入力に接続され、トラン
ジスタ10のドレインはトランジスタ9のソース
に、ソースは高電位側に接続されている。また、
トランジスタ8,10のゲートには、内蔵ROM
11の所定番地のデータのあるビツトの出力12
が接続されており、本実施例では2ビツト目のデ
ータ出力が接続されている。またトランジスタ7
のゲートには、初期状態設定信号である
信号が接続され、トランジスタ9のゲートには、
RESET信号をインバータゲート13で反転した
信号が接続されている。こうして、これらトラン
ジスタ7,8,9,10、内蔵ROM11、およ
びインバータゲート13により初期状態設定入力
手段が構成されている。
FIG. 1 shows a semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the present invention, in which 6 indicates inverter gates 1 and 2 and transmission gates 3 and 5.
This is the same latch circuit as shown in FIGS. 2a and 2b. 7 and 8 are enhancement type N channels.
It is a MOS transistor, and the drain of transistor 7 is connected to the input of inverter gate 1,
The drain of the transistor 8 is connected to the source of the transistor 7, and the source is connected to the low potential side.
9 and 10 are enhancement type P channel MOS
The drain of the transistor 9 is connected to the input of the inverter gate 1, the drain of the transistor 10 is connected to the source of the transistor 9, and the source is connected to the high potential side. Also,
Built-in ROM is installed at the gates of transistors 8 and 10.
Output 12 of bits with data of 11 predetermined locations
is connected, and in this embodiment, the second bit data output is connected. Also transistor 7
A signal which is an initial state setting signal is connected to the gate of the transistor 9, and a signal which is an initial state setting signal is connected to the gate of the transistor 9.
A signal obtained by inverting the RESET signal by an inverter gate 13 is connected. In this way, these transistors 7, 8, 9, and 10, built-in ROM 11, and inverter gate 13 constitute initial state setting input means.

次に動作について説明する。 Next, the operation will be explained.

内蔵ROM11のデータが“1”の場合は、
ROMデータ出力12は“H”であるので、トラ
ンジスタ8はオンし、トランジスタ10はオフと
なる。この状態で信号が“H”になる
と、トランジスタ7,9が共にオン状態となる
が、トランジスタ8がオン、トランジスタ10が
オフ状態であるので、インバータゲート1の入力
は低電位側に引き下げられ、その結果ラツチ回路
6のDATA出力8は“H”に初期設定されるこ
ととなる。
If the data in built-in ROM11 is “1”,
Since the ROM data output 12 is "H", the transistor 8 is turned on and the transistor 10 is turned off. When the signal becomes "H" in this state, both transistors 7 and 9 are turned on, but since transistor 8 is on and transistor 10 is off, the input of inverter gate 1 is pulled down to the low potential side. As a result, the DATA output 8 of the latch circuit 6 is initially set to "H".

また逆に、内蔵ROM11のデータが“0”の
場合は、ROMデータ出力12は“L”となり、
上記と逆にトランジスタ10はオンし、トランジ
スタ8はオフ状態となる。従つて信号の
“H”入力により、インバータゲート1の入力は
高電位側に引き上げられ、その結果ラツチ回路6
のDATA出力8は“L”に初期設定されること
となる。
Conversely, when the data in the built-in ROM 11 is "0", the ROM data output 12 becomes "L",
Contrary to the above, transistor 10 is turned on and transistor 8 is turned off. Therefore, due to the "H" signal input, the input of the inverter gate 1 is pulled up to the high potential side, and as a result, the latch circuit 6
The DATA output 8 of is initially set to "L".

また、このとき、ラツチ回路6は、データ入力
時以外はWRITE信号が“L”、信号が
“H”であるので、入力を“L”に解除
後も初期設定値が保持される。
Further, at this time, since the WRITE signal of the latch circuit 6 is "L" and the signal is "H" except when data is input, the initial setting value is maintained even after the input is released to "L".

このように本実施例のレジスタは、その内蔵
ROM11のデータが“1”で初期状態“H”
に、“0”で初期状態“L”に設定されるレジス
タとして働くこととなるので、回路装置のパター
ンを変更することなく、内蔵ROMのデータを変
更することにより容易に初期状態設定値を変更す
ることができ、各種装置、例えばマイクロコンピ
ユータに応用する場合などはプログラムにより使
用状態に適したレジスタ初期値を容易に設定する
ことができる。
In this way, the register of this embodiment has its built-in
The data in ROM11 is “1” and the initial state is “H”
In addition, since it functions as a register that is set to the initial state "L" at "0", the initial state setting value can be easily changed by changing the data in the built-in ROM without changing the circuit device pattern. When applied to various devices such as microcomputers, register initial values suitable for usage conditions can be easily set by a program.

なお、上記実施例では、トランジスタ9,10
を高電位電源側に接続し、トランジスタ7,8を
低電位電源側に接続しているが、これは逆であつ
てもよく、また、上記実施例では、初期状態設定
入力手段をインバータゲート1の入力に接続して
設けているが、これはインバータゲート2の入力
に接続して設けてもよく、これらの場合には、内
蔵ROMデータが“1”で初期状態が“L”、内
蔵ROMデータが“0”で初期状態が“H”に設
定されるレジスタとして作動することとなる。
Note that in the above embodiment, the transistors 9 and 10
is connected to the high potential power supply side, and the transistors 7 and 8 are connected to the low potential power supply side, but this may be reversed. Also, in the above embodiment, the initial state setting input means is connected to the inverter gate 1. Although this is connected to the input of the inverter gate 2, it may also be connected to the input of the inverter gate 2. In these cases, if the built-in ROM data is "1" and the initial state is "L", the built-in ROM data is "1" and the initial state is "L". It operates as a register whose data is "0" and its initial state is set to "H".

また、上記実施例において、トランジスタ7,
8のそれぞれ及びトランジスタ9,10のそれぞ
れを逆に配置しても、上記実施例と同様の効果を
奏するのはもちろんである。
Further, in the above embodiment, the transistor 7,
Of course, even if each of transistors 8 and each of transistors 9 and 10 are arranged in reverse, the same effect as in the above embodiment can be obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、この発明の半導体集積回路装置
によれば、レジスタの初期状態設定値を内蔵
ROMのデータに応じて決定するようにしたの
で、半導体集積回路装置のパターン変更を行なう
ことなく、容易に初期状態設定値の変更を行なう
ことができる効果がある。
As described above, according to the semiconductor integrated circuit device of the present invention, the initial state setting value of the register is built-in.
Since the determination is made according to the data in the ROM, there is an effect that the initial state setting value can be easily changed without changing the pattern of the semiconductor integrated circuit device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例による半導体集積
回路装置のレジスタを示す回路構成図、第2図
a,bはそれぞれ従来の半導体集積回路装置のレ
ジスタを示す回路構成図である。 図において、1,2,13はインバータゲー
ト、3,5はトランスミツシヨンゲート、7,8
はエンハンスメント型NチヤネルMOSトランジ
スタ、9,10はエンハンスメント型Pチヤネル
MOSトランジスタ、11は内蔵ROMである。な
お図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a register of a semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2a and 2b are circuit diagrams showing registers of a conventional semiconductor integrated circuit device. In the figure, 1, 2, 13 are inverter gates, 3, 5 are transmission gates, 7, 8
is an enhancement type N-channel MOS transistor, and 9 and 10 are enhancement type P-channel MOS transistors.
MOS transistor 11 is a built-in ROM. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or equivalent parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 ラツチ回路を有するレジスタと、該レジスタ
の初期状態を設定入力するための手段とを備えた
半導体集積回路装置において、 上記初期状態設定入力手段は、 所定のデータを保持する内蔵ROMと、 初期状態設定信号を受け、上記ラツチ回路のデ
ータ出力端子の前段に上記内蔵ROMのデータに
応じた“H”又は“L”のデータを出力する出力
回路とを備えたものであることを特徴とする半導
体集積回路装置。 2 上記出力回路は、 その出力端子と高電位電源(又は低電位電源)
との間に直列接続して設けられた2つのPチヤネ
ルMOSトランジスタと、 上記出力端子と低電位電源(又は高電位電源)
との間に直列接続して設けられた2つのNチヤネ
ルMOSトランジスタとを備えてなり、 一方の上記Pチヤネル及びNチヤネルMOSト
ランジスタのゲートにはそれぞれ上記内蔵ROM
の出力が接続され、 他方の上記Pチヤネル及びNチヤネルMOSト
ランジスタのゲートには初期状態設定入力がそれ
ぞれインバータを介して及びそのまま接続されて
いることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の半導体集積回路装置。
[Claims] 1. In a semiconductor integrated circuit device comprising a register having a latch circuit and means for inputting and setting an initial state of the register, the initial state setting input means holds predetermined data. It is equipped with a built-in ROM and an output circuit that receives an initial state setting signal and outputs "H" or "L" data according to the data of the built-in ROM at the stage before the data output terminal of the latch circuit. A semiconductor integrated circuit device characterized by: 2 The above output circuit has its output terminal and high potential power supply (or low potential power supply)
two P-channel MOS transistors connected in series between the output terminal and the low potential power supply (or high potential power supply)
and two N-channel MOS transistors connected in series between the P-channel MOS transistor and the N-channel MOS transistor.
The output of the P-channel MOS transistor and the N-channel MOS transistor are connected to each other, and initial state setting inputs are connected to the gates of the other P-channel and N-channel MOS transistors via an inverter and as they are, respectively. Semiconductor integrated circuit device.
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