JPH0552731A - 硬さセンサ - Google Patents
硬さセンサInfo
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- JPH0552731A JPH0552731A JP23714991A JP23714991A JPH0552731A JP H0552731 A JPH0552731 A JP H0552731A JP 23714991 A JP23714991 A JP 23714991A JP 23714991 A JP23714991 A JP 23714991A JP H0552731 A JPH0552731 A JP H0552731A
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- vibrator
- hardness sensor
- piezoelectric element
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 ファジィコントローラ42は、周波数差ー電
圧変換回路7からの振動子が被測定物体に接触したとき
の共振周波数の変化量と、微分回路41からの振動子が
被測定物体に接触したときの共振周波数の時間変化率
と、位置センサ51からの振動子が被測定物体に接触し
たときの被測定物体のへこみ量をもとに、ファジィ推論
を行なって被測定物体の硬さを検出している。 【効果】 被測定物体の硬さ検出精度を従来に比べ向上
させることができる。
圧変換回路7からの振動子が被測定物体に接触したとき
の共振周波数の変化量と、微分回路41からの振動子が
被測定物体に接触したときの共振周波数の時間変化率
と、位置センサ51からの振動子が被測定物体に接触し
たときの被測定物体のへこみ量をもとに、ファジィ推論
を行なって被測定物体の硬さを検出している。 【効果】 被測定物体の硬さ検出精度を従来に比べ向上
させることができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、硬さセンサに関し、特
に圧電素子を有する振動子を自励発振させ、振動子を被
測定物体に接触させて被測定物体の硬さを検出する硬さ
センサに関する。
に圧電素子を有する振動子を自励発振させ、振動子を被
測定物体に接触させて被測定物体の硬さを検出する硬さ
センサに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の硬さセンサとして図9〜
図12に示すものが提案されている。なお、図9は従来
の提案に係わる硬さセンサの振動子の一例を示す斜視
図、図10は従来の提案に係わる硬さセンサの一例を示
す回路ブロック図、図11は従来の提案に係わる硬さセ
ンサの検出部の一例を示す断面図、図12は従来の提案
に係わる硬さセンサの一例を示す断面図である。
図12に示すものが提案されている。なお、図9は従来
の提案に係わる硬さセンサの振動子の一例を示す斜視
図、図10は従来の提案に係わる硬さセンサの一例を示
す回路ブロック図、図11は従来の提案に係わる硬さセ
ンサの検出部の一例を示す断面図、図12は従来の提案
に係わる硬さセンサの一例を示す断面図である。
【0003】図9において、硬さセンサの振動子1はそ
れぞれ厚み長さ振動モード(振動による変位方向を両矢
印で示す)を有する圧電素子2、3と圧電素子2の前面
側に接着剤などで固定された略三角形板状をしたベーク
ライトや樹脂、金属製などの振動板4とから構成されて
いる。ここに圧電素子2、3には、上面電極21、3
1、下面電極22、32が設けられている。圧電素子3
は、圧電素子2と変位方向を一致させるようにして圧電
素子2の上面に載置され、下面電極32を圧電素子2の
上面電極21と電気的に導通させるようにして圧電素子
2の上面に接着剤などで固定されている。
れぞれ厚み長さ振動モード(振動による変位方向を両矢
印で示す)を有する圧電素子2、3と圧電素子2の前面
側に接着剤などで固定された略三角形板状をしたベーク
ライトや樹脂、金属製などの振動板4とから構成されて
いる。ここに圧電素子2、3には、上面電極21、3
1、下面電極22、32が設けられている。圧電素子3
は、圧電素子2と変位方向を一致させるようにして圧電
素子2の上面に載置され、下面電極32を圧電素子2の
上面電極21と電気的に導通させるようにして圧電素子
2の上面に接着剤などで固定されている。
【0004】図10において、圧電素子2の上面電極2
1および圧電素子3の下面電極32は接地されている。
圧電素子3の上面電極31は増幅器5の入力端子に接続
され、かつ増幅器5の出力端子は圧電素子2の下面電極
22に接続されており、圧電素子2、3と増幅器5とに
よって自励発振回路が構成されている。また周波数カウ
ント回路6は、入力端子が増幅器5の出力端子に接続さ
れており、増幅器5からの出力より発振周波数をカウン
トし、そのカウント値を周波数差一電圧変換回路7へ出
力する。周波数差一電圧変換回路7は、振動子1の振動
板4が被測定物体9に接触していないときの発振周波数
のカウント値と、振動子1の振動板4が被測定物体9に
接触したときの発振周波数のカウント値との差を電圧出
力に変換して計量化し、これを硬度値として表示器8へ
出力し、表示器8に表示させるようになっている。
1および圧電素子3の下面電極32は接地されている。
圧電素子3の上面電極31は増幅器5の入力端子に接続
され、かつ増幅器5の出力端子は圧電素子2の下面電極
22に接続されており、圧電素子2、3と増幅器5とに
よって自励発振回路が構成されている。また周波数カウ
ント回路6は、入力端子が増幅器5の出力端子に接続さ
れており、増幅器5からの出力より発振周波数をカウン
トし、そのカウント値を周波数差一電圧変換回路7へ出
力する。周波数差一電圧変換回路7は、振動子1の振動
板4が被測定物体9に接触していないときの発振周波数
のカウント値と、振動子1の振動板4が被測定物体9に
接触したときの発振周波数のカウント値との差を電圧出
力に変換して計量化し、これを硬度値として表示器8へ
出力し、表示器8に表示させるようになっている。
【0005】以上のような構成のもとに、圧電素子2の
上面電極21、下面電極22を介して圧電素子2に増幅
器5から発生する電圧を印加すると、圧電素子2は逆圧
電効果により変位を起こす。この変位により圧電素子2
の上面に固着されている圧電素子3も変位を起こし、圧
電素子3の圧電効果により圧電素子3の上面電極31、
下面電極32間に電圧が発生する。この電圧が増幅器5
で増幅された後、再び圧電素子2にフィードバックされ
ることで自励発振が成立する。上述の如く、自励発振し
ている振動子1に振動板4の先端を硬度を検出する被測
定物体9に接触させると、被測定物体9の硬さに応じて
発振周波数が変化する。この発振周波数を周波数カウン
ト回路6でカウントし、このカウント値を周波数差一電
圧変換回路7へ出力する。周波数差一電圧変換回路7は
振動子1の振動板4が被測定物体9に接触していないと
きの発振周波数のカウント値と振動子1の振動板4が被
測定物体9に接触したときの発振周波数のカウント値と
の差を電圧出力に変換して計量化し、これを硬度値とし
て表示器8へ出力し、表示器8に表示させている。
上面電極21、下面電極22を介して圧電素子2に増幅
器5から発生する電圧を印加すると、圧電素子2は逆圧
電効果により変位を起こす。この変位により圧電素子2
の上面に固着されている圧電素子3も変位を起こし、圧
電素子3の圧電効果により圧電素子3の上面電極31、
下面電極32間に電圧が発生する。この電圧が増幅器5
で増幅された後、再び圧電素子2にフィードバックされ
ることで自励発振が成立する。上述の如く、自励発振し
ている振動子1に振動板4の先端を硬度を検出する被測
定物体9に接触させると、被測定物体9の硬さに応じて
発振周波数が変化する。この発振周波数を周波数カウン
ト回路6でカウントし、このカウント値を周波数差一電
圧変換回路7へ出力する。周波数差一電圧変換回路7は
振動子1の振動板4が被測定物体9に接触していないと
きの発振周波数のカウント値と振動子1の振動板4が被
測定物体9に接触したときの発振周波数のカウント値と
の差を電圧出力に変換して計量化し、これを硬度値とし
て表示器8へ出力し、表示器8に表示させている。
【0006】図11において、図9に示す振動子1は内
ケース10の中に収納されるとともに、内ケース10内
に充填されたシリコンなどの弾性材料11により固定さ
れている。このようにして検出部12が構成されてい
る。なお、振動板4の一部は、内ケース10の一端側に
設けた孔10aより突出するようになっている。
ケース10の中に収納されるとともに、内ケース10内
に充填されたシリコンなどの弾性材料11により固定さ
れている。このようにして検出部12が構成されてい
る。なお、振動板4の一部は、内ケース10の一端側に
設けた孔10aより突出するようになっている。
【0007】図12において、硬さセンサ15は次のよ
うに構成されている。すなわち、図11に示す検出部1
2が外ケース13の中にコイルスプリング14を介して
移動可能なように収納されている。検出部12の一端側
12aに突出している振動板4が外ケース13の一端部
(底部)13aに穿設されたた孔13bより外部に突出
されている。そして、検出部12の一端側(底面)12
aは、外ケース13の一端部13aの内壁13cに、検
出部12の他端側12bと外ケース13の他端部13d
の内壁13e間に設けたコイルスプリング14によって
押え付けられるようになっている。また、図10に示す
ような振動子1の圧電素子2の上面電極21を接地する
ための接地線や振動子1の圧電素子3の上面電極31か
ら増幅器5への入力線や増幅器5から、振動子1の圧電
素子2の下面電極22への出力線などがケーブル16と
して検出部12の他端側12bから取出され、外ケース
13の他端部13dより外部に取出されている。図10
に示す、増幅器5、周波数カウント回路6、周波数差一
電圧変換回路7および表示器8は外ケース13の外部に
設けられている。なお、図11では、ケーブル16を構
成する振動子1の圧電素子2の上面電極21を接地する
ための接地線や、振動子1の圧電素子3の上面電極31
から増幅器5への入力線や、増幅器5から振動子1の圧
電素子2の下面電極22への出力線は図示省略してあ
る。
うに構成されている。すなわち、図11に示す検出部1
2が外ケース13の中にコイルスプリング14を介して
移動可能なように収納されている。検出部12の一端側
12aに突出している振動板4が外ケース13の一端部
(底部)13aに穿設されたた孔13bより外部に突出
されている。そして、検出部12の一端側(底面)12
aは、外ケース13の一端部13aの内壁13cに、検
出部12の他端側12bと外ケース13の他端部13d
の内壁13e間に設けたコイルスプリング14によって
押え付けられるようになっている。また、図10に示す
ような振動子1の圧電素子2の上面電極21を接地する
ための接地線や振動子1の圧電素子3の上面電極31か
ら増幅器5への入力線や増幅器5から、振動子1の圧電
素子2の下面電極22への出力線などがケーブル16と
して検出部12の他端側12bから取出され、外ケース
13の他端部13dより外部に取出されている。図10
に示す、増幅器5、周波数カウント回路6、周波数差一
電圧変換回路7および表示器8は外ケース13の外部に
設けられている。なお、図11では、ケーブル16を構
成する振動子1の圧電素子2の上面電極21を接地する
ための接地線や、振動子1の圧電素子3の上面電極31
から増幅器5への入力線や、増幅器5から振動子1の圧
電素子2の下面電極22への出力線は図示省略してあ
る。
【0008】以上のように構成された図12の硬さセン
サ15を、図13に示すように被測定物体9に接触させ
ると、検出部12は、振動子1の振動板4の外ケース1
3より突出した部分の長さ(図12に示すストローク
S)だけ図示右方向に外ケース13内を移動し、振動板
4はコイルスプリング14によって一定の力で被測定物
体9に押付けられる。この時、振動子1の発振周波数は
変化する。この発振周波数は図10の周波数カウント回
路6でカウントされる。被測定物体9の硬さを検出する
に当たってのその他の動作については前述したと同様で
ある。
サ15を、図13に示すように被測定物体9に接触させ
ると、検出部12は、振動子1の振動板4の外ケース1
3より突出した部分の長さ(図12に示すストローク
S)だけ図示右方向に外ケース13内を移動し、振動板
4はコイルスプリング14によって一定の力で被測定物
体9に押付けられる。この時、振動子1の発振周波数は
変化する。この発振周波数は図10の周波数カウント回
路6でカウントされる。被測定物体9の硬さを検出する
に当たってのその他の動作については前述したと同様で
ある。
【0009】
【発明が解決しょうとする課題】上述した従来の提案に
係る硬さセンサにおいては、圧電素子2、3を有する振
動子1を自励発振させておき、その振動子1を被測定物
体9に接触させたとき、被測定物体9の硬さに応じて変
化する発振周波数を検出することで被測定物体9の硬さ
を検出している。
係る硬さセンサにおいては、圧電素子2、3を有する振
動子1を自励発振させておき、その振動子1を被測定物
体9に接触させたとき、被測定物体9の硬さに応じて変
化する発振周波数を検出することで被測定物体9の硬さ
を検出している。
【0010】一方、振動子1を被測定物体9に接触させ
たとき、被測定物体9の硬さに応じて変化するのは発振
周波数だけではない。発振周波数の時間変化率や被測定
物体9のへこみ量なども振動子1を被測定物体9に接触
させたとき、被測定物体9の硬さに応じて変化する。
たとき、被測定物体9の硬さに応じて変化するのは発振
周波数だけではない。発振周波数の時間変化率や被測定
物体9のへこみ量なども振動子1を被測定物体9に接触
させたとき、被測定物体9の硬さに応じて変化する。
【0011】ところが、従来の提案に係る硬さセンサに
おいては、被測定物体9の硬さを検出するに当たって、
発振周波数の変化量しか検出していないため、充分な精
度の硬さ検出は難しいという問題がある。
おいては、被測定物体9の硬さを検出するに当たって、
発振周波数の変化量しか検出していないため、充分な精
度の硬さ検出は難しいという問題がある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の硬さセンサは、
圧電素子を有する振動子を自励発振させ、振動子を被測
定物体に接触させて被測定物体の硬さを検出する硬さセ
ンサにおいて、振動子が被測定物体に接触したときの発
振周波数の変化量、発振周波数の時間変化率および被測
定物体のへこみ量をそれぞれ検出し、出力する第1の検
出手段と、第1の検出手段からの出力信号をもとに、例
えばファジィ推論を行なって被測定物体の硬さを検出す
る第2の検出手段とを備えたことを特徴とする。
圧電素子を有する振動子を自励発振させ、振動子を被測
定物体に接触させて被測定物体の硬さを検出する硬さセ
ンサにおいて、振動子が被測定物体に接触したときの発
振周波数の変化量、発振周波数の時間変化率および被測
定物体のへこみ量をそれぞれ検出し、出力する第1の検
出手段と、第1の検出手段からの出力信号をもとに、例
えばファジィ推論を行なって被測定物体の硬さを検出す
る第2の検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0013】
【作用】上記構成の硬さセンサにおいて、第1の検出手
段は、振動子が被測定物体に接触したときの発振周波数
の変化量、発振周波数の時間変化率および被測定物体の
へこみ量をそれぞれ検出し、第2の検出手段に出力す
る。第2の検出手段は、第1の検出手段からの出力信号
をもとに、例えばファジィ推論を行なって被測定物体の
硬さを検出する。これにより、被測定物体の硬さ検出の
精度を従来に比べ、向上させることができる。
段は、振動子が被測定物体に接触したときの発振周波数
の変化量、発振周波数の時間変化率および被測定物体の
へこみ量をそれぞれ検出し、第2の検出手段に出力す
る。第2の検出手段は、第1の検出手段からの出力信号
をもとに、例えばファジィ推論を行なって被測定物体の
硬さを検出する。これにより、被測定物体の硬さ検出の
精度を従来に比べ、向上させることができる。
【0014】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を用いて
説明する。なお、本発明の硬さセンサの実施例におい
て、硬さセンサの振動子および硬さセンサの検出部につ
いては図9および図11と同じであるので説明を省略す
る。また、硬さセンサの信号処理については、図10の
周波数差一電圧変換回路7までは図10と同じであるの
で説明を省略するが、周波数差一電圧変換回路7の後段
の信号処理については後述する図1で説明する。
説明する。なお、本発明の硬さセンサの実施例におい
て、硬さセンサの振動子および硬さセンサの検出部につ
いては図9および図11と同じであるので説明を省略す
る。また、硬さセンサの信号処理については、図10の
周波数差一電圧変換回路7までは図10と同じであるの
で説明を省略するが、周波数差一電圧変換回路7の後段
の信号処理については後述する図1で説明する。
【0015】本発明による硬さセンサにおいては、図9
の振動子1が被測定物体9に接触したときの共振周波数
(発振周波数)の変化量△Fの他に、共振周波数(発振
周波数)の時間変化率|△F/△T|および被測定物体
9のくぼみ(へこみ)量△Lを検出し、これらの値をも
とに、ここではファジィ推論を行なって被測定物体9の
硬さを検出する(求める)ものである。
の振動子1が被測定物体9に接触したときの共振周波数
(発振周波数)の変化量△Fの他に、共振周波数(発振
周波数)の時間変化率|△F/△T|および被測定物体
9のくぼみ(へこみ)量△Lを検出し、これらの値をも
とに、ここではファジィ推論を行なって被測定物体9の
硬さを検出する(求める)ものである。
【0016】上記共振周波数の変化量△F、共振周波数
の時間変化率|△F/△T|および被測定物体9のくぼ
み量△Lについて、図4、図5を用いて説明する。な
お、図4は、本発明に係る硬さセンサ15′の振動子1
の共振周波数の各実施例を示す特性図、図5は、本発明
に係る硬さセンサ15′の被測定物体9との接触状態を
示す要部断面図である。また、図4において、t1は硬
さセンサ15′の振動子1が被測定物体9に接触した時
点であり、t2は振動子1が被測定物体9に接触しなく
なった時点であり、T3は硬さセンサ15′の振動子1
が被測定物体9に接触している状態にある期間を示す。
また、図5において、硬さセンサ15′は図2、図3と
同じものであるので、ここでは説明を省略し、後述する
図2で説明する。
の時間変化率|△F/△T|および被測定物体9のくぼ
み量△Lについて、図4、図5を用いて説明する。な
お、図4は、本発明に係る硬さセンサ15′の振動子1
の共振周波数の各実施例を示す特性図、図5は、本発明
に係る硬さセンサ15′の被測定物体9との接触状態を
示す要部断面図である。また、図4において、t1は硬
さセンサ15′の振動子1が被測定物体9に接触した時
点であり、t2は振動子1が被測定物体9に接触しなく
なった時点であり、T3は硬さセンサ15′の振動子1
が被測定物体9に接触している状態にある期間を示す。
また、図5において、硬さセンサ15′は図2、図3と
同じものであるので、ここでは説明を省略し、後述する
図2で説明する。
【0017】図5に示すように、硬さセンサ15′の振
動子1の振動板4を被測定物体9に接触させると、振動
子1の共振周波数は図4に示すように変化する。ここ
で、図4(B)は図4(A)よりも被測定物体9の硬さ
が硬い場合を示している。従って、図4では振動子1を
被測定物体9に接触させると、振動子1の共振周波数F
oは、△F(図4(A)では△F1、図4(B)では△
F2)変化し、被測定物体9の硬さが硬いほど△Fは増
加し、柔らかいほど△Fは減少する。図4では△F2>
△F1である。
動子1の振動板4を被測定物体9に接触させると、振動
子1の共振周波数は図4に示すように変化する。ここ
で、図4(B)は図4(A)よりも被測定物体9の硬さ
が硬い場合を示している。従って、図4では振動子1を
被測定物体9に接触させると、振動子1の共振周波数F
oは、△F(図4(A)では△F1、図4(B)では△
F2)変化し、被測定物体9の硬さが硬いほど△Fは増
加し、柔らかいほど△Fは減少する。図4では△F2>
△F1である。
【0018】また、共振周波数の時間変化率(絶対値)
|△F/△T|は、被測定物体9が硬いほど小さくなる
ことが実験的に確かめられている。図4では、|△F1
/△T1|>|△F2/△T2|である。
|△F/△T|は、被測定物体9が硬いほど小さくなる
ことが実験的に確かめられている。図4では、|△F1
/△T1|>|△F2/△T2|である。
【0019】また図5に示すように、硬さセンサ15′
の振動子1の振動板4が被測定物体9に接触したときの
被測定物体9のくぼみ量△Lは、被測定物体9が柔らか
いほど、また弾力があるほど大きくなる。
の振動子1の振動板4が被測定物体9に接触したときの
被測定物体9のくぼみ量△Lは、被測定物体9が柔らか
いほど、また弾力があるほど大きくなる。
【0020】次に上記の△F、|△F/△T|、△Lの
値をもとにファジィ推論することにより被測定物体9の
硬さを検出する場合の構造図および回路図をそれぞれ図
2および図1に示す。図2は、本発明による硬さセンサ
の一実施例を示す断面図である。同図において、図11
〜図13と同一または相当部分には同符号を用いてい
る。
値をもとにファジィ推論することにより被測定物体9の
硬さを検出する場合の構造図および回路図をそれぞれ図
2および図1に示す。図2は、本発明による硬さセンサ
の一実施例を示す断面図である。同図において、図11
〜図13と同一または相当部分には同符号を用いてい
る。
【0021】図2の硬さセンサ15′において、図12
の硬さセンサ15との相異点は、図12の外ケース13
内の検出部12の他端側12bより、コイルスプリング
14のある右方向へ向けて、外ケース13の一部を外部
に突出させて、その内部に図示の如く位置センサ51を
収納し、この位置センサ51にて振動板4が被測定物体
9に図3に示すように接触したときに、移動した検出部
12の他端側12bの位置を検出することにより、図5
に示す被測定物体9のくぼみ量△Lを検出することがで
きるようにしたことにある。
の硬さセンサ15との相異点は、図12の外ケース13
内の検出部12の他端側12bより、コイルスプリング
14のある右方向へ向けて、外ケース13の一部を外部
に突出させて、その内部に図示の如く位置センサ51を
収納し、この位置センサ51にて振動板4が被測定物体
9に図3に示すように接触したときに、移動した検出部
12の他端側12bの位置を検出することにより、図5
に示す被測定物体9のくぼみ量△Lを検出することがで
きるようにしたことにある。
【0022】図1は、本発明による硬さセンサの一実施
例を示す要部回路ブロック図である。同図において、図
10と同一または相当部分には同符号を用いている。図
1において、周波数差一電圧変換回路7は、出力として
共振周波数の変化量(図4(A)では△F1、図4
(B)では△F2)に相当する信号を微分回路41およ
びファジィコントローラ42に出力する。微分回路41
は、周波数差一電圧変換回路7からの信号を微分し、|
△F/△T|に相当する信号(図4(A)では|△F1
/△T1|、図4(B)では|△F2/△T2|)を本
発明の第2の検出手段としてのファジィコントローラ4
2に出力する。
例を示す要部回路ブロック図である。同図において、図
10と同一または相当部分には同符号を用いている。図
1において、周波数差一電圧変換回路7は、出力として
共振周波数の変化量(図4(A)では△F1、図4
(B)では△F2)に相当する信号を微分回路41およ
びファジィコントローラ42に出力する。微分回路41
は、周波数差一電圧変換回路7からの信号を微分し、|
△F/△T|に相当する信号(図4(A)では|△F1
/△T1|、図4(B)では|△F2/△T2|)を本
発明の第2の検出手段としてのファジィコントローラ4
2に出力する。
【0023】ファジィコントローラ42は、周波数差一
電圧変換回路7、微分回路41および位置センサ51か
らの△F、|△F/△T|および△Lに相当する信号を
もとにファジィ推論を行なって、ファジィ推論の結果と
して被測定物体9の硬さが検出される。表示器8は、フ
ァジィコントローラ42によるファジィ推論の結果を表
示させている。なお、周波数カウント回路6と周波数差
一電圧変換回路7と微分回路41と位置センサ51は、
本発明の第1の検出手段を構成する。
電圧変換回路7、微分回路41および位置センサ51か
らの△F、|△F/△T|および△Lに相当する信号を
もとにファジィ推論を行なって、ファジィ推論の結果と
して被測定物体9の硬さが検出される。表示器8は、フ
ァジィコントローラ42によるファジィ推論の結果を表
示させている。なお、周波数カウント回路6と周波数差
一電圧変換回路7と微分回路41と位置センサ51は、
本発明の第1の検出手段を構成する。
【0024】ファジィコントローラ42による被測定物
体9の硬さ検出について、図6〜図8を用いて以下、説
明する。なお、図6(A)〜(D)はファジィ推論の各
メンバーシップ関数を示す図であって、同図(A)〜
(D)はそれぞれ共振周波数の変化量△F(=x1とお
く)、被測定物体9のくぼみ量△L(=x2とおく)、
共振周波数の時間変化率|△F/△T|(=x3とお
く)およびファジィ推論結果y1のメンバーシップ関数
を示す。図7はファジィ推論のファジィルールを示す
図、図8はミニマックス重心法によるファジィ推論の過
程とその結果を示す図である。
体9の硬さ検出について、図6〜図8を用いて以下、説
明する。なお、図6(A)〜(D)はファジィ推論の各
メンバーシップ関数を示す図であって、同図(A)〜
(D)はそれぞれ共振周波数の変化量△F(=x1とお
く)、被測定物体9のくぼみ量△L(=x2とおく)、
共振周波数の時間変化率|△F/△T|(=x3とお
く)およびファジィ推論結果y1のメンバーシップ関数
を示す。図7はファジィ推論のファジィルールを示す
図、図8はミニマックス重心法によるファジィ推論の過
程とその結果を示す図である。
【0025】いま、△F=x1=−0.9(KHz)、
△L=x2=0.2(mm)、|△F/△T|=x3=
130(Hz/mm)の場合を例にとって説明する。こ
れらの値の場合、図7のファジィ推論のファジィルール
と図6の各メンバーシップ関数を用いて、ミニマックス
重心法によって推論する過程とその推論結果を図8に示
す。
△L=x2=0.2(mm)、|△F/△T|=x3=
130(Hz/mm)の場合を例にとって説明する。こ
れらの値の場合、図7のファジィ推論のファジィルール
と図6の各メンバーシップ関数を用いて、ミニマックス
重心法によって推論する過程とその推論結果を図8に示
す。
【0026】x1,x2,x3の値をもとに、図6から
図7に適合する組合わせは、x1=S,x2=M,x3
=Mの場合と、x1=ZR,x2=S,x3=Lの場合
である。これは図7のルール2とルール6に該当し、ル
ール2ではy1=軟、ルール6ではy1=硬となる。従
って、ルール2では、図6(D)の推論結果y1の左側
の三角形の図形に、ルール6では、図6(D)の推論結
果y1の右側の三角形の図形に着目する。
図7に適合する組合わせは、x1=S,x2=M,x3
=Mの場合と、x1=ZR,x2=S,x3=Lの場合
である。これは図7のルール2とルール6に該当し、ル
ール2ではy1=軟、ルール6ではy1=硬となる。従
って、ルール2では、図6(D)の推論結果y1の左側
の三角形の図形に、ルール6では、図6(D)の推論結
果y1の右側の三角形の図形に着目する。
【0027】次に、ルール2によるファジィ推論の結果
y1は、図8(A)に示すようにして図示の斜線部分
(a,b,cの値のうち一番小さい値a以下の部分)と
なる。また、ルール6によるファジィ推論の結果y1も
同様に、図8(B)に示すようにして、図示の斜線部分
(a′,b′,c′の値のうち一番小さい値a′以下の
部分)となる。従って、最終的な推論結果y1は、図8
(C)に示すように、同図(A),(B)の各y1の斜
線部分の図形の和の重心Pの座標Qとして求まる。
y1は、図8(A)に示すようにして図示の斜線部分
(a,b,cの値のうち一番小さい値a以下の部分)と
なる。また、ルール6によるファジィ推論の結果y1も
同様に、図8(B)に示すようにして、図示の斜線部分
(a′,b′,c′の値のうち一番小さい値a′以下の
部分)となる。従って、最終的な推論結果y1は、図8
(C)に示すように、同図(A),(B)の各y1の斜
線部分の図形の和の重心Pの座標Qとして求まる。
【0028】ファジィコントローラ42は、以上のよう
にして求めた硬度値を表示器8に表示させている。
にして求めた硬度値を表示器8に表示させている。
【0029】以上の説明から判かるように、従来の提案
に係る硬さセンサにおいては、振動子1が被測定物体9
に接触したときの共振周波数の変化量を用いて被測定物
体9のの硬さ検出を行なっているのに対し、本発明の硬
さセンサ15′では、振動子1が被測定物体9に接触し
たときの共振周波数の変化量、共振周波数の時間変化率
および被測定物体9のくぼみ量を用いて被測定物体9の
硬さ検出を行なっているので、被測定物体9の硬さ検出
の精度を従来に比べ向上させることができる。
に係る硬さセンサにおいては、振動子1が被測定物体9
に接触したときの共振周波数の変化量を用いて被測定物
体9のの硬さ検出を行なっているのに対し、本発明の硬
さセンサ15′では、振動子1が被測定物体9に接触し
たときの共振周波数の変化量、共振周波数の時間変化率
および被測定物体9のくぼみ量を用いて被測定物体9の
硬さ検出を行なっているので、被測定物体9の硬さ検出
の精度を従来に比べ向上させることができる。
【0030】本発明は本実施例に限定されることなく、
本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の応用および変形
が考えられる。
本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の応用および変形
が考えられる。
【0031】
【発明の効果】上述したように本発明による硬さセンサ
を用いれば、第1の検出手段にて、振動子が被測定物体
に接触したときの発振周波数の変化量、発振周波数の時
間変化率および被測定物体のへこみ量を検出し、第2の
検出手段にて、第1の検出手段から供給される振動子が
被測定物体に接触したときの発振周波数の変化量、発振
周波数の時間変化率および被測定物体のへこみ量をもと
に、ファジィ推論などを行なって被測定物体の硬さを検
出するようにしたので、被測定物体の硬さを検出するに
当たり、その検出精度を従来に比べ、向上させることが
できるなどの効果を奏する。
を用いれば、第1の検出手段にて、振動子が被測定物体
に接触したときの発振周波数の変化量、発振周波数の時
間変化率および被測定物体のへこみ量を検出し、第2の
検出手段にて、第1の検出手段から供給される振動子が
被測定物体に接触したときの発振周波数の変化量、発振
周波数の時間変化率および被測定物体のへこみ量をもと
に、ファジィ推論などを行なって被測定物体の硬さを検
出するようにしたので、被測定物体の硬さを検出するに
当たり、その検出精度を従来に比べ、向上させることが
できるなどの効果を奏する。
【図1】本発明による硬さセンサの一実施例を示す要部
回路ブロック図である。
回路ブロック図である。
【図2】本発明による硬さセンサの一実施例を示す断面
図である。
図である。
【図3】図2の動作説明図である。
【図4】本発明に係る硬さセンサ15′の振動子1の共
振周波数の各実施例を示す特性図である。
振周波数の各実施例を示す特性図である。
【図5】本発明に係る硬さセンサ15′の被測定物体9
との接触状態を示す要部断面図である。
との接触状態を示す要部断面図である。
【図6】ファジィ推論の各メンバーシップ関数を示す図
である。
である。
【図7】ファジィ推論のファジィルールを示す図であ
る。
る。
【図8】ミニマックス重心法によるファジィ推論の過程
とその結果を示す図である。
とその結果を示す図である。
【図9】従来の提案に係わる硬さセンサの振動子の一例
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図10】従来の提案に係わる硬さセンサの一例を示す
回路ブロック図である。
回路ブロック図である。
【図11】従来の提案に係わる硬さセンサの検出部の一
例を示す断面図である。
例を示す断面図である。
【図12】従来の提案に係わる硬さセンサの一例を示す
断面図である。
断面図である。
【図13】図12の硬さセンサと被測定物体との接触状
態を示す断面図である。
態を示す断面図である。
1 振動子 2,3 圧電素子 6 周波数カウント回路 7 周波数差一電圧変換回路 8 表示器 9 被測定物体 12 検出部 15′ 硬さセンサ 41 微分器 42 ファジィコントローラ 51 位置センサ
Claims (2)
- 【請求項1】 圧電素子を有する振動子を自励発振さ
せ、前記振動子を被測定物体に接触させて前記被測定物
体の硬さを検出する硬さセンサにおいて、 前記振動子が前記被測定物体に接触したときの発振周波
数の変化量、発振周波数の時間変化率および前記被測定
物体のへこみ量をそれぞれ検出し、出力する第1の検出
手段と、 前記第1の検出手段からの出力信号をもとに前記被測定
物体の硬さを検出する第2の検出手段とを備えたことを
特徴とする硬さセンサ。 - 【請求項2】 前記第2の検出手段は、前記第1の検出
手段からの出力信号をもとにファジィ推論を行なって前
記被測定物体の硬さを検出するようにしたことを特徴と
する請求項1に記載の硬さセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23714991A JPH0552731A (ja) | 1991-08-23 | 1991-08-23 | 硬さセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23714991A JPH0552731A (ja) | 1991-08-23 | 1991-08-23 | 硬さセンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0552731A true JPH0552731A (ja) | 1993-03-02 |
Family
ID=17011133
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23714991A Withdrawn JPH0552731A (ja) | 1991-08-23 | 1991-08-23 | 硬さセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0552731A (ja) |
-
1991
- 1991-08-23 JP JP23714991A patent/JPH0552731A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981112 |