JPH0552719A - ガス試料採取方法及びその装置 - Google Patents

ガス試料採取方法及びその装置

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JPH0552719A
JPH0552719A JP24250791A JP24250791A JPH0552719A JP H0552719 A JPH0552719 A JP H0552719A JP 24250791 A JP24250791 A JP 24250791A JP 24250791 A JP24250791 A JP 24250791A JP H0552719 A JPH0552719 A JP H0552719A
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JP
Japan
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gas
sample
stop valve
pressure
pipe line
Prior art date
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JP24250791A
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English (en)
Inventor
Yutaka Nagayanagi
永柳▼ゆたか▲
Takashi Uchida
剛史 内田
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 減圧下にあるガスを採取し分析機器へ導入す
ることの出来るガス試料採取方法及びその装置を提供す
ること。 【構成】 ガス試料採取方法は減圧室から複数の管路
とストップ弁を介して真空ポンプを接続し、真空ポンプ
により一つの管路を減圧室よりも更に減圧して該減圧室
内のガスを導入して閉じ込めると共に該一つの管路に不
活性ガスを導入し、過圧状態にしてから該管路を切離
し、ガスサンプリングバルブへガス試料を導入すること
を特徴とする。その方法を実施する装置は、減圧室か
ら真空ポンプの間に配置した複数の管路と、これら複数
の各管路の間に配置された複数のストップ弁と、前記一
つの管路に繋がると共にストップ弁と圧力計と調圧器と
を配置し且つ不活性ガスボンベに繋がる管路に接続した
管路とより成る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ガスクロマトグラフ
及びガスクロマトグラフ質量分析計等のガス分析装置に
おいて用いられるガス試料採取方法及びその装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】ガスクロマトグラフやガスクロマトグラ
フ質量分析計等においてガス試料を導入する手段として
は、一般的にガスタイトシリンジ或いはガスサンプルル
−プを用いるガスサンプリングバルブが用いられる。ガ
スタイトシリンジは微量の試料を直接インジェクション
ポ−トに導入する際に用いられ、ガスサンプリングバル
ブは試料を一定容量で一定圧としてから導入するもので
ある。従って、いずれも常圧又は加圧されたガス試料に
は有効であるが、減圧下のガス試料には適用出来ないも
のであった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】半導体工業分野ではエ
ッチングや蒸着の過程でCVD(Chemical V
apour Deposition)チャンバ−が用い
られるが、このチャンバ−内は、通常40〜100(T
orr)前後の減圧下で反応ガスを送り操業することが
多い。従って操業下の反応ガス組成或いは反応によって
生成したガス組成をそのまま採取し、ガスクロマトグラ
フに導入して測定することは困難である。一般にガス採
取容器としてはプラスチック製のバッグ或いはガラス製
の容器が用いられるが、これらは真空或いは過圧状態の
ガスには耐え得ない構造になっている。またこれらのバ
ッグや容器は外部から空気等が混入し易い。バッグ式の
容器は袋の外部を押すことにより過圧できるが真空下で
のガス採取は極めて困難である。ガラス製の容器では真
空にはできるが過圧は困難であり一般的にはセプタムを
通してガスタイトシリンジで採取した後ガスクロマトグ
ラフ或いはガスクロマトグラフ質量分析計へ導入しなけ
ればならない。この発明はかかる課題に鑑みてなされた
ものでありその目的とする所は減圧下にあるガスを採取
し分析機器へ導入することの出来るガス試料採取方法及
びその装置を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】即ち、この発明は上記す
る課題を解決するためにガス試料採取方法が、(1)減
圧室から複数の管路と複数のストップ弁を介して真空ポ
ンプを接続し、該真空ポンプにより一つの管路を減圧室
よりも更に減圧して該減圧室内のガスを導入して閉じ込
めると共に該一つの管路に不活性ガスを導入し、過圧状
態にしてから該管路を切離し、ガスサンプリングバルブ
へガス試料を導入することを特徴とする。また(2)そ
の方法を実施する装置が、減圧室から真空ポンプの間に
配置した複数の管路と、これら複数の各管路の間に配置
された複数のストップ弁と、前記一つの管路に繋がると
共にストップ弁と圧力計と調圧器とを配置し且つ不活性
ガスボンベに繋がる管路を配置した管路とより成り、前
記各管路はストップ弁が接続された状態で切り離すよう
にしたことを特徴とする。
【0005】
【作用】ガス試料導入方法及びその装置を上記手段とし
た時の作用について添付図とその符号を使用して説明す
る。 ストップ弁6と4を「開」とした状態で真空ポンプ2
0を作動させ管路5を高真空とする。ストップ弁6を
「閉」としてからストップ弁2を「開」とし、減圧室1
のガス試料の一部を管路5に導入する。ストップ弁2
と4を「閉」とする。ストップ弁8を「開」とし、管
路5の内部を圧力計10の圧力と同じになるまで不活性
ガスを導入する。そして同じ圧力となった所でストップ
弁8を「閉」とする。管路3とストップ弁4、ストッ
プ弁6と管路7、ストップ弁8と管路9とは同時に切り
離す。そして管路5にストップ弁4と6及び8を取付け
た状態でガスクロマトグラフ或いはガスクロマトグラフ
質量分析計の所まで運ぶ。そして次の操作により試料ガ
スを注入する。ストップ弁4と6及び8を取付けた管
路5をストップ弁6を介して管路13に接続する。該管
路13はガスサンプリングバルブ15へ接続されてい
る。ストップ弁6を「開」とすると、管路5に過圧状
態で収容されている試料ガスはサンプルル−プ16を介
してサンプル出口へ導かれる。ガスサンプリングバル
ブ15を回転すれば、サンプルル−プ16内の試料ガス
はカラムからガスクロマトグラフ等へ入り分析される。
【0006】
【実施例】以下、この発明の具体的実施例について図面
を参照して説明する。図1はこの発明にかかるガス試料
採取方法及びその装置を、例えば半導体製造装置の減圧
室1に取り付けて実施する場合の配管図である。即ち、
減圧室1からは管路3と5及び7を経て真空ポンプ20
へ配管されこれら管路の間にはストップ弁2と4及び6
が配置されている。また管路5はT字形管路であり、ス
トップ弁8を介して不活性ガスボンベ(図示せず)に繋
がる管路9が接続されている。更に前記管路9には管路
11が接続されるが、この管路9には圧力計10が配置
されると共に管路9と管路11とは調圧器12を介して
接続される。こうして圧力を調整しつつ前記管路5へ不
活性ガスを導くようにしてある。尚、上記配管において
管路3とストップ弁4、ストップ弁6と管路7、ストッ
プ弁8と管路9とは同時に切り離すように配置してあ
る。
【0007】通常、ガスクロマトグラフやガスクロマト
グラフ質量分析計への試料導入量は1〜5ml程度であ
る。従ってガス採取容器はあまり大きいと取扱いに不便
となるので、内容積としては数十ml程度のもので充分
である。上記配管において、管路7はガス採取用のチャ
ンバ−となるので、この内容積は実際に導入するサンプ
ルル−プ容積の20〜100倍程度が好ましい。
【0008】この発明にかかるガス試料採取方法及びそ
の装置を実施するための具体的構成は以上のようである
が、次に図1に示す配管において試料ガスを採取しガス
クロマトグラフ等へ導入する場合の順序は次のとおりで
ある。 ストップ弁6と4を「開」とした状態で真空ポンプ2
0を作動させ、管路5を例えば10-2Torr程度まで
の高真空とする。 ストップ弁6を「閉」としてからストップ弁2を
「開」とし、減圧室1のガス試料の一部を管路5に導入
する。 ストップ弁2と4を「閉」とする。 ストップ弁8を「開」とし、管路5の内部を圧力計1
0の圧力と同じになるまで不活性ガスを導入する。そし
て同じ圧力となった所でストップ弁8を「閉」とする。 管路3とストップ弁4、ストップ弁6と管路7、スト
ップ弁8と管路9とは同時に切り離す。
【0009】上記操作において、管路5にストップ弁4
と6及び8を取付けた状態でガスクロマトグラフ或いは
ガスクロマトグラフ質量分析計の所まで運ぶ。図2は試
料ガスを収容した管路5をガスクロマトグラフ等まで運
びガスサンプリングバルブへ接続した状態の配管図であ
るが、次の操作により試料ガスを注入する。 ストップ弁4と6及び8を取付けた管路5をストップ
弁6を介して管路13に接続する。該管路13はガスサ
ンプリングバルブ15へ接続されている。 ストップ弁6を「開」とすると、管路5に過圧状態で
収容されている試料ガスはサンプルル−プ16を介して
サンプル出口へ導かれる。 ガスサンプリングバルブ15を回転すれば、サンプル
ル−プ16内の試料ガスはカラムからガスクロマトグラ
フ等へ入り分析される。
【0010】
【発明の効果】この発明にかかるガス試料採取方法及び
その装置は以上詳述したような構成としたので、減圧状
態の試料ガスを精度良く採取することが出来ると共に試
料ガスの一部でも追い出すことなく過圧状態にしてサン
プリングし、ガスクロマトグラフ等へ導入することが出
来る。また試料ガスを採取した容器にも空気等外部のガ
スが混入することは殆どないので正確な試料分析が可能
となる。
【0011】
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明にかかるガス試料採取方法及びその
装置を、例えば半導体製造装置の減圧室に取り付けた状
態の配管図である。
【図2】 試料を収容した管路をガスクロマトグラフ等
まで運びガスサンプリングバルブへ接続した状態の配管
図である。
【符号の説明】
1 減圧室 2、4、6、8 ストップ弁 3、5、7、9、11、13 管路 10 圧力計 12 調圧器 15 ガスサンプリングバルブ 16 サンプルル−プ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】減圧室から複数の管路と複数のストップ弁
    を介して真空ポンプに接続し、該真空ポンプにより一つ
    の管路を減圧室よりも更に減圧して前記減圧室内のガス
    を導入して閉じ込めると共に該一つの管路に不活性ガス
    を導入し、過圧状態にしてから該管路を切離し、ガスサ
    ンプリングバルブへガス試料を導入することを特徴とす
    るガス試料採取方法。
  2. 【請求項2】減圧室から真空ポンプの間に配置した複数
    の管路と、これら複数の各管路の間に配置された複数の
    ストップ弁と、前記一つの管路に繋がると共にストップ
    弁と圧力計と調圧器とを配置し且つ不活性ガスボンベに
    繋がる管路を配置した管路とより成り、前記各管路はス
    トップ弁が接続された状態で切り離すようにしたことを
    特徴とするガス試料採取装置。
JP24250791A 1991-08-27 1991-08-27 ガス試料採取方法及びその装置 Pending JPH0552719A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002277361A (ja) * 2001-03-19 2002-09-25 Horiba Ltd 半導体プロセス排ガスの分析方法および半導体プロセス排ガスの分析システム
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CN108351329A (zh) * 2015-10-06 2018-07-31 株式会社Lg化学 用于气相色谱分析的气体进样装置及其方法

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