JPH0551951U - Cvd装置 - Google Patents
Cvd装置Info
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- JPH0551951U JPH0551951U JP10866091U JP10866091U JPH0551951U JP H0551951 U JPH0551951 U JP H0551951U JP 10866091 U JP10866091 U JP 10866091U JP 10866091 U JP10866091 U JP 10866091U JP H0551951 U JPH0551951 U JP H0551951U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】CVD装置に於いて、プラズマ発生室内のプラ
ズマの均一性を向上させる。 【構成】プラズマ発生室6に隣接する被処理基板搬入搬
出用の搬送孔14の前記プラズマ発生室に臨む面を絶縁
材料17で覆い、前記搬送孔にプラズマが入込みプラズ
マ発生室内のプラズマの均一性を損なうことを防止す
る。
ズマの均一性を向上させる。 【構成】プラズマ発生室6に隣接する被処理基板搬入搬
出用の搬送孔14の前記プラズマ発生室に臨む面を絶縁
材料17で覆い、前記搬送孔にプラズマが入込みプラズ
マ発生室内のプラズマの均一性を損なうことを防止す
る。
Description
【0001】
本考案は、半導体製造装置の1つである基板上に薄膜を形成するCVD装置、 特に枚葉式CVD装置に関するものである。
【0002】
半導体製造の製造工程の1つにシリコン基板表面に所要の成膜をし、或は液晶 表示装置の製造の工程にガラス基板上に成膜を行う工程がある。
【0003】 これは、気密な処理室に基板を装入し、該処理室内に設けられた1対の電極間 に高周波電力を印加すると共に前記処理室内に反応ガスを供給してプラズマを発 生させ、基板表面に薄膜を成膜させるものである(Chemichal Vap or Deposition)。
【0004】 従来のCVD装置では気密な処理室内の1面に1方の電極があり、該電極に対 峙して気密な処理室内の他方の面に電極が設けられ、両電極と直交する側面から 非処理物である基板が装入され、該基板は前記電極の1方に設置され、これら1 対の電極間にプラズマを発生させてCVD処理を行っていた。
【0005】
前記した様に、枚葉式CVD装置では、気密な処理室内に基板を搬入搬出しな ければならないので、前記処理室の側面には基板搬入搬出用の搬送孔が設けられ ている。斯かる搬送孔は金属製の処理室の壁を貫通して設けられるので、前記処 理室に金属面で囲まれた凹部が隣接して形成されることになる。ところが、プラ ズマを発生する処理室に前記凹部が隣接すると、該凹部にプラズマが入込み、ホ ローカソード効果で該凹部に新たなプラズマが発生した状態となる。この為、前 記処理室内のプラズマの均一性が阻害され、ひいては基板に成膜する膜厚の均一 性に影響を及ぼすことになる。
【0006】 本考案は斯かる実情に鑑み、搬送孔にプラズマが入込むのを防止し、処理室内 のプラズマの均一性の向上を図ろうとするものである。
【0007】
本考案は、プラズマ発生室に隣接する被処理基板搬入搬出用の搬送孔の前記プ ラズマ発生室に臨む面を絶縁材料で覆ったことを特徴とするものである。
【0008】
プラズマ発生室内に被処理基板を搬入搬出する為に、前記プラズマ発生室に隣 接して搬送孔が設けられるが、該搬送孔は内面が絶縁材で覆われている為、該搬 送孔にプラズマが入込みプラズマ発生室内のプラズマの均一性を損なうことがな い。
【0009】
以下、図面に基づき本考案の一実施例を説明する。
【0010】 図1は、本考案に斯かるCVD装置の特に、処理室の断面の概略を示すもので ある。
【0011】 真空容器1の上面には絶縁材2を介して上電極3が設けられ、前記真空容器1 の下面には絶縁材4を介して下電極5が設けられている。
【0012】 前記真空容器1の内部はプラズマ発生室6となっており、該プラズマ発生室6 の側壁は石英製の側壁カバー7で覆い、前記上電極3の下方は多数のガス分散孔 8を穿設した石英製の分散板9を設ける。又、前記下電極5には被処理基板10 が載置される様になっており、該被処理基板10の周囲は石英製の底板11が設 けられ、前記プラズマ発生室6に隣接する面は全て石英製のカバーで覆われてい る。
【0013】 前記上電極3には反応ガス供給路12が設けられ、前記底板11、前記絶縁材 4には排気孔13が貫通して設けられている。又、前記真空容器1の側面には前 記被処理基板10の搬入搬出の為の搬送孔14が設けられ、同様に前記側壁カバ ー7に該搬送孔14と連続する様に通孔15が穿設されている。該搬送孔14は 、シャッタ16によって開閉される様になっている。
【0014】 前記搬送孔14には石英製の搬送孔カバー17が設けられ、前記シャッタ16 の前記搬送孔14に臨む部分は石英製の蓋カバー18が設けてある。
【0015】 尚、特に図示しないが前記被処理基板10は、前記下電極5を貫通する基板昇 降ユニットによって昇降される様になっており、又前記シャッタ16も図示しな い、開閉機構によって開閉される様になっている。
【0016】 プラズマ処理は、被処理基板10が搬入され下電極5に載置され、前記反応ガ ス供給路12より反応ガスが供給され、前記ガス分散孔8よりプラズマ発生室6 内に均一に導入され、更に前記排気孔13より排気される状態で、前記上電極3 と前記下電極5間に高周波電力が印加されて、プラズマを発生させて行われる。
【0017】 前記プラズマ発生室6に隣接して前記搬送孔14による凹部が形成されるが、 該搬送孔14は前記した様に搬送孔カバー17によって内面が覆われており、又 前記シャッタ16の搬送孔14に臨む部分は前記蓋カバー18で覆われており、 結局前記凹部は全て絶縁物である石英材料によって覆われているので、該凹部に プラズマが入込むことはない。而して、前記搬送孔カバー17の存在によってプ ラズマ発生室6内のプラズマ分布の均一性が阻害されることはない。
【0018】 前記被処理基板10の搬出は、前記シャッタ16が前記搬送孔14を開放し、 図示しない前記基板昇降ユニットが被処理基板10を持上げ、図示しない搬送ロ ボットが該被処理基板10を受取り、更にプラズマ発生室6外に搬出する。
【0019】 前記被処理基板10の搬入も上記したと同様に、図示しない前記基板昇降ユニ ットと図示しない搬送ロボットとの協働によって行われる。
【0020】 尚、CVD処理による堆積物は前記被処理基板10に薄膜を形成するばかりで なく、前記プラズマ発生室6に臨む壁面にも付着する。この壁面に付着した堆積 物はやがて剥離して前記被処理基板10を汚染するので、壁面は定期的、或は処 理頻度に対応して清掃されなければならない。前記した様に、プラズマ発生室6 の壁面は側壁カバー7、分散板9、底板11、搬送孔カバー17によって覆われ ており、これら側壁カバー7、分散板9、底板11、搬送孔カバー17を着脱可 能とすれば、清掃作業が大幅に簡略化される。
【0021】 又、前記側壁カバー7、分散板9、底板11、搬送孔カバー17を石英製とし たが、その他の絶縁材料であっても良いことは言う迄もない。
【0022】
以上述べた如く本考案によれば、被処理基板の搬入搬出用の搬送孔が存在する ことによりプラズマ発生室内のプラズマの均一性が阻害されることがなく、プラ ズマ処理の品質の向上に寄与すると言う優れた効果を発揮する。
【図1】本考案の一実施例を示す断面概略図である。
1 真空容器 6 プラズマ発生室 7 側壁カバー 9 分散板 10 被処理基板 11 底板 14 搬送孔 16 シャッタ 17 搬送孔カバー 18 蓋カバー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 竹田 智彦 東京都港区虎ノ門二丁目3番13号 国際電 気株式会社内 (72)考案者 折付 良二 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社日立 製作所茂原工場内
Claims (1)
- 【請求項1】 プラズマ発生室に隣接する被処理基板搬
入搬出用の搬送孔の前記プラズマ発生室に臨む面を絶縁
材料で覆ったことを特徴とするCVD装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10866091U JPH0551951U (ja) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | Cvd装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10866091U JPH0551951U (ja) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | Cvd装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0551951U true JPH0551951U (ja) | 1993-07-09 |
Family
ID=14490447
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10866091U Pending JPH0551951U (ja) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | Cvd装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0551951U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10134997A (ja) * | 1996-10-24 | 1998-05-22 | Samsung Electron Co Ltd | 2次電位による放電を除去したプラズマ処理装置 |
-
1991
- 1991-12-05 JP JP10866091U patent/JPH0551951U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10134997A (ja) * | 1996-10-24 | 1998-05-22 | Samsung Electron Co Ltd | 2次電位による放電を除去したプラズマ処理装置 |
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