JPH0549923B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

本発明は、ラインを一定方向に搬送されるよう
な平板について表面の凹凸やうねりを検出する平
板の波打検査方法に関するものである。

【従来の技術】

従来、平板の波打ちの程度を検出するには、目
視によるか、あるいは、探針を平板の表面に接触
させて探針の変位を検出する方法が一般的であつ
た。 しかしながら、目視による方法では、人の感に
頼るものであるから、熟練を必要とし、また、結
果が必ずしも安定しないという問題があつた。こ
れに対して探針を用いる方法では、定量的な結果
が得られるから、結果は安定するが、平板が移動
している場合には、探針が平板の表面をこすつて
平板に傷を付けるという問題があつた。 そこで、光学式距離センサなどを用いることに
より、非接触で平板の表面までの距離を求め、こ
の距離に基づいて平板の波打ち程度を検査する方
法が考えられている。

【発明が解決しようとする課題】

ところで、接触式の距離センサでは、探針や探
針の移動を検出する差動トランス等の慣性がある
から、平板を送る駆動系の振動は、慣性によつて
ある程度まで吸収され、出力にはほとんど現れな
いのであるが、非接触式の距離センサでは、応答
性がよい反面、平板を送る駆動系の振動なども検
出してしまうという問題が発生する。 本発明は上記問題点の解決を目的とするもので
あり、距離センサによつて求めた平板の表面まで
の距離から不要成分を除去し、平板の波打ちの程
度を正確に検出することができる平板の波打検査
方法を提供しようとするものである。

【課題を解決するための手段】

本発明では、上記目的を達成するために、一定
方向に移動する平板の表面に対して離間した定位
置から平板の表面までの距離を平板の移動方向に
おける一定距離間隔で測定した後、各測定点の近
傍の一定個数の測定点における距離の平均値を短
期移動平均値として求めるとともに、各測定点の
近傍で上記一定個数よりも十分に多数個の測定点
における距離の平均値を長期移動平均値として求
め、短期移動平均値と長期移動平均値との差に基
づいて平板の波打ちの程度を判定するのである。

【作用】

上記構成によれば、短期移動平均を求めること
により、駆動系の振動のように比較的短い周期で
変動する成分を平均化して除去することができ、
しかも平板の波打ち程度が定量的に判定できるの
である。

【実施例】

第１図に示すように、検査対象である平板１
は、一定の方向に搬送される。平板１の表面には
光学式変位センサ２が対向して配置される。光学
式変位センサ２は、たとえば、平板１の表面に光
を照射し、その反射光を位置センサ等で受光する
ことにより、三角測距法を用いて平板１の表面ま
での距離を測定するように構成される。光学式変
位センサ２の出力は、第２図ａに示すようなアナ
ログ信号であつて、平板１の表面までの距離に対
応した信号が連続的に得られるようになつてい
る。光学式変位センサ２の出力は、Ａ／Ｄ変換部
３に入力され、第２図ｂに示すように、デジタル
信号に変換される。サンプリング周期は、平板１
の波打ち周期に比較して十分に小さくなるように
設定される。 次に、短期移動平均演算部４において短期移動
平均値が演算される。すなわち、平板１の移動方
向における一定距離間隔ごとに測定値を取り出
し、測定点の前後の所定個数（たとえば、５個）
の平均値を、その測定点の値とするような演算を
行うのである。したがつて、第２図ｃに示すよう
に、平板１の波打ちの傾向を残しながらも、短周
期の変動成分は平均化されて除去されることにな
る。つまり、平板１を搬送する際のローラ等の駆
動系からの振動成分は除去されるのである。この
ような演算は、たとえば、平均する測定値の個数
に相当する長さのキユー（待ち行列）に各測定点
での測定値を記憶させ、測定値が１つ入力される
ごとにキユー内の測定値の平均値を求めて、各測
定点の短期移動平均値とすればよいのである。 短期移動平均演算部４の結果は、減算部５およ
び長期移動平均演算部６に入力される。長期移動
平均演算部６では、各測定点の近傍での所定個数
（たとえば、11個）の短期移動平均値の平均値を
求める。ここに、短期移動平均値を求めたときの
測定値の個数よりも、長期移動平均値を求めると
きの短期移動平均値の個数のほうが多くなるよう
にしてあり、長期移動平均値からは平板１の波打
ちの成分が除去されるように設定される。すなわ
ち、光学式変位センサ２から平板１までの平均距
離が得られるようにするのである。減算部５で
は、短期移動平均演算部４の出力結果から、長期
移動平均演算部６での出力結果を減算するのであ
り、短期移動平均値から平板１の平均距離が減算
される結果、第２図ｄのように、大きな周期の変
動成分（ドリフト成分）が除去されることにな
る。 減算部５の出力結果は、判定部７に入力され、
第２図ｅのように、あらかじめ設定された所定の
スライスレベルｌとの差が求められる。この差が
所定値以上であれば、波打ち程度が大きいものと
判断されるのであり、判断結果に基づいて後段の
処理を行えばよいのである。なお、スライスレベ
ルｌは、長期移動平均値で代用することも可能で
ある。 上記実施例では、長期移動平均値を短期移動平
均値に基づいて求めているが、Ａ／Ｄ変換部３の
出力結果から、短期移動平均とともに長期移動平
均を求めるようにしてもよい。この場合、演算に
必要なデータを蓄積する記憶部を短期移動平均演
算部４と長期移動平均演算部６とで共用できるか
ら、記憶容量の削減につながるのものである。ま
た、長期移動平均値を求めるときには、測定値を
適宜間引くようにしてもよい。たとえば、測定値
のうちの５個に１つだけを平均値を求めるデータ
として扱うようにしてもよい。こうすれば、長期
移動平均値を求める際の記憶容量を低減できる。
さらに、上記実施例では、判定部７において減算
部５の出力結果と所定のスライスレベルｌとの比
較を行つているが、減算部５において長期移動平
均値と短期移動平均値との差（減算した結果の絶
対値）を求め、判定部７においては、この差と所
定の閾値との比較のみを行うようにしてもよい。
この場合、長期移動平均値がスライスレベルｌに
対応するわけである。また、上記実施例では、平
板１が移動し光学式変位センサ２は固定されてい
るが、平板１が固定された光学式変位センサ２の
移動する系でも本発明の技術思想を適用すること
ができる。

【発明の効果】

本発明は上述のように、一定方向に移動する平
板の表面に対して離間した定位置から平板の表面
までの距離を平板の移動方向における一定距離間
隔で測定した後、各測定点の近傍の一定個数の測
定点における距離の平均値を短期移動平均値とし
て求めるとともに、各測定点の近傍で上記一定個
数よりも十分に多数個の測定点における距離の平
均値を長期移動平均値として求め、短期移動平均
値と長期移動平均値との差に基づいて平板の波打
ち程度を判定するのであり、上述のようにして短
期移動平均を求めているから、駆動系の振動のよ
うに比較的短い周期で変動する成分を平均化して
除去することができ、長期移動平均値を求めるこ
とにより比較的長い周期で変動する成分を平均化
して除去することができるのであつて、短周期と
長周期との変動成分とをともに除去することがで
きるのである。しかるに、短期移動平均値と長期
移動平均値との差を求めることによつて平板の波
打ちの成分のみを抽出することができることにな
り、平板の波打ちの程度を定量的かつ正確に判定
できるのである。すなわち、距離センサによつて
求めた平板の表面までの距離から不要成分を除去
することができ、平板の波打ち程度を再現性よく
正確に検出することができるという利点を有す
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る平板の波打検査方法を用
いた処理回路のブロツク図、第２図は同上におけ
る各部の信号を示す動作説明図である。 １……平板、２……光学式変位センサ、３……
Ａ／Ｄ変換部、４……短期移動平均演算部、５…
…減算部、６……長期移動平均演算部、７……判
定部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 一定方向に移動する平板の表面に対して離間
   した定位置から平板の表面までの距離を平板の移
   動方向における一定距離間隔で測定した後、各測
   定点の近傍の一定個数の測定点における距離の平
   均値を短期移動平均値として求めるとともに、各
   測定点の近傍で上記一定個数よりも十分に多数個
   の測定点における距離の平均値を長期移動平均値
   として求め、短期移動平均値と長期移動平均値と
   の差に基づいて平板の波打ちの程度を判定するこ
   とを特徴とする平板の波打検査方法。