JPH02161307A - 平板の波打検査方法 - Google Patents
平板の波打検査方法Info
- Publication number
- JPH02161307A JPH02161307A JP31689088A JP31689088A JPH02161307A JP H02161307 A JPH02161307 A JP H02161307A JP 31689088 A JP31689088 A JP 31689088A JP 31689088 A JP31689088 A JP 31689088A JP H02161307 A JPH02161307 A JP H02161307A
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- Japan
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- moving average
- flat plate
- plate
- average value
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- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 10
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract description 9
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 13
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 10
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000013138 pruning Methods 0.000 description 2
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、ラインを一定方向に搬送されるような平板に
つ、いて表面の凹凸やうねりを検出する平板の枝打検査
方法に関するものである。
つ、いて表面の凹凸やうねりを検出する平板の枝打検査
方法に関するものである。
従来、平板の波打ちの程度を検出するには、目視による
か、あるいは、探針を平板の表面に接触させて探針の変
位を検出する方法が一般的であつな。 しかしながら、目視による方法では、人の感に頼るもの
であるから、熟練を必要とし、また、結果が必ずしも安
定しないという問題があった。これに対して探針を用い
る方法では、定量的な結果が得られるから、結果は安定
するが、平板が移動している場合には、探針が平板の表
面をこすって平板に傷を付けるという問題があった。 そこで、光学式距離センサなどを用いることにより、非
接触で平板の表面までの距離を求め、この距離に基づい
て平板の波打ちの程度を検査する方法が考えられている
。
か、あるいは、探針を平板の表面に接触させて探針の変
位を検出する方法が一般的であつな。 しかしながら、目視による方法では、人の感に頼るもの
であるから、熟練を必要とし、また、結果が必ずしも安
定しないという問題があった。これに対して探針を用い
る方法では、定量的な結果が得られるから、結果は安定
するが、平板が移動している場合には、探針が平板の表
面をこすって平板に傷を付けるという問題があった。 そこで、光学式距離センサなどを用いることにより、非
接触で平板の表面までの距離を求め、この距離に基づい
て平板の波打ちの程度を検査する方法が考えられている
。
ところで、接触式の距離センサでは、探針や探針の移動
を検出する差動トランス等の慣性があるから、平板を送
る駆動系の振動は、慣性によっである程度まで吸収され
、出力にはほとんど現れないのであるが、非接触式の距
離センサでは、応答性がよい反面、平板を送る駆動系の
振動なども検出してしまうという問題が発生する。 本発明は上記問題点の解決を目的とするものであり、距
離センサによって求めた平板の表面までの距離から不要
成分を除去し、平板の波打ちの程度を正確に検出するこ
とができる平板の枝打検査方法を提供しようとするもの
である。
を検出する差動トランス等の慣性があるから、平板を送
る駆動系の振動は、慣性によっである程度まで吸収され
、出力にはほとんど現れないのであるが、非接触式の距
離センサでは、応答性がよい反面、平板を送る駆動系の
振動なども検出してしまうという問題が発生する。 本発明は上記問題点の解決を目的とするものであり、距
離センサによって求めた平板の表面までの距離から不要
成分を除去し、平板の波打ちの程度を正確に検出するこ
とができる平板の枝打検査方法を提供しようとするもの
である。
本発明では、上記目的を達成するために、一定方向に移
動する平板の表面に対して離間した定位置から平板の表
面までの距離を平板の移動方向における一定距離間隔で
測定した後、各測定点の近傍での距離の平均値を短期移
動平均値として求め、短期移動平均値に基づいて平板の
波打ちの程度を判定するのである。
動する平板の表面に対して離間した定位置から平板の表
面までの距離を平板の移動方向における一定距離間隔で
測定した後、各測定点の近傍での距離の平均値を短期移
動平均値として求め、短期移動平均値に基づいて平板の
波打ちの程度を判定するのである。
上記構成によれば、短期移動平均を求めることにより、
駆動系の振動のように比較的短い周期で変動する成分を
平均化して除去することができ、しかも平板の波打ちの
程度が定量的に判定できるのである。
駆動系の振動のように比較的短い周期で変動する成分を
平均化して除去することができ、しかも平板の波打ちの
程度が定量的に判定できるのである。
第１図に示すように、検査対象である平板１は、一定の
方向に搬送される。平板１の表面には光学式変位センサ
２が対向して配置される。光学式変位センサ２は、たと
えば、平板１の表面に光を照射し、その反射光を位置セ
ンサ等で受光することにより、三角測距法を用いて平板
１の表面までの距離を測定するように構成される。光学
式変位センサ２の出力は、第２図（ａ）に示すようなア
ナログ信号であって、平板１の表面までの距離に対応し
た信号が連続的に得られるようになっている。 光学式変位センサ２の出力は、Ａ／Ｄ変換部３に入力さ
れ、第２図（ｂ）に示すように、デジタル信号に変換さ
れる。サンプリング周期は、平板１の波打ちの周期に比
較して十分に小さくなるように設定される。 次に、短期移動平均演算部４において短期移動平均値が
演算される。すなわち、平板１の移動方向における一定
距離間隔ごとに測定値を取り出し、測定点の前後の所定
個数（たとえば、５個）の平均値を、その測定点の値と
するような演算を行うのである。したがって、第２図（
ｃ）に示すように、平板１の波打ちの傾向を残しながら
も、短周期の変動成分は平均化されて除去されることに
なる。 つまり、平板１を搬送する際のローラ等の駆動系からの
振動成分は除去されるのである。このような演算は、た
とえば、平均する測定値の個数に相当する長さのキュー
（待ち行列）に各測定点での測定値を記憶させ、測定値
が１つ入力されるごとにキュー内の測定値の平均値を求
めて、各測定点の短期移動平均値とすればよいのである
。 短期移動平均演算部４の結果は、減算部５および長期移
動平均演算部６に入力される。長期移動平均演算部６で
は、各測定点の近傍での所定個数（たとえば、１１個）
の短期移動平均値の平均値を求める。ここに、短期移動
平均値を求めたときの測定値の個数よりも、長期移動平
均値を求めるときの短期移動平均値の個数のほうが多く
なるようにしてあり、長期移動平均値からは平板１の波
打ちの成分が除去されるように設定される。すなわち、
光学式距離センサ２から平板１までの平均距離が得られ
るようにするのである。減算部５では、短期移動平均演
算部４の出力結果から、長期移動平均演算部６での出力
結果を減算するのであり、短期移動平均値から平板１の
平均距離が減算される結果、第２図（ｄ）のように、大
きな周期の変動成分（ドリフト成分）が除去されること
になる。 減算部５の出力結果は、判定部７に入力され、第２図（
ｅ）のように、あらかじめ設定された所定のスライスレ
ベルｌどの差が求められる。この差が所定値以上であれ
ば、波打ちの程度が大きいものと判断されるのであり、
判断結果に基づいて後段の処理を行えばよいのである。 なお、スライスレベルｌは、長期移動平均値で代用する
ことも可能である。 上記実施例では、長期移動平均値を短期移動平均値に基
づいて求めているが、Ａ／Ｄ変換部３の出力結果から、
短期移動平均とともに長期移動平均を求めるようにして
もよい、この場合、演算に必要なデータを蓄積する記憶
部を短期移動平均演算部４と長期移動平均演算部６とで
共用できるから、記憶容量の削減につながるのものであ
る。また、長期移動平均値を求めるときには、測定値を
適宜間引くようにしてもよい、たとえば、測定値のうち
の５個に１つだけを平均値を求めるデータとして扱うよ
うにしてもよい、こうすれば、長期移動平均値を求める
際の記憶容量を低減できる。 さらに、上記実施例では、判定部７において減算部５の
出力結果と所定のスライスレベルｌとの比較を行ってい
るが、減算部５において長期移動平均値と短期移動平均
値との差（減算した結果の絶対値）を求め、判定部７に
おいては、この差と所定の閾値との比較のみを行うよう
にしてもよい。 この場合、長期移動平均値がスライスレベルｌに対応す
るわけである。また、上記実施例では、平板１が移動し
光学式変位センサ２は固定されているが、平板１が固定
され光学式変位センサ２が移動する系でも本発明の技術
思想を適用することができる。
方向に搬送される。平板１の表面には光学式変位センサ
２が対向して配置される。光学式変位センサ２は、たと
えば、平板１の表面に光を照射し、その反射光を位置セ
ンサ等で受光することにより、三角測距法を用いて平板
１の表面までの距離を測定するように構成される。光学
式変位センサ２の出力は、第２図（ａ）に示すようなア
ナログ信号であって、平板１の表面までの距離に対応し
た信号が連続的に得られるようになっている。 光学式変位センサ２の出力は、Ａ／Ｄ変換部３に入力さ
れ、第２図（ｂ）に示すように、デジタル信号に変換さ
れる。サンプリング周期は、平板１の波打ちの周期に比
較して十分に小さくなるように設定される。 次に、短期移動平均演算部４において短期移動平均値が
演算される。すなわち、平板１の移動方向における一定
距離間隔ごとに測定値を取り出し、測定点の前後の所定
個数（たとえば、５個）の平均値を、その測定点の値と
するような演算を行うのである。したがって、第２図（
ｃ）に示すように、平板１の波打ちの傾向を残しながら
も、短周期の変動成分は平均化されて除去されることに
なる。 つまり、平板１を搬送する際のローラ等の駆動系からの
振動成分は除去されるのである。このような演算は、た
とえば、平均する測定値の個数に相当する長さのキュー
（待ち行列）に各測定点での測定値を記憶させ、測定値
が１つ入力されるごとにキュー内の測定値の平均値を求
めて、各測定点の短期移動平均値とすればよいのである
。 短期移動平均演算部４の結果は、減算部５および長期移
動平均演算部６に入力される。長期移動平均演算部６で
は、各測定点の近傍での所定個数（たとえば、１１個）
の短期移動平均値の平均値を求める。ここに、短期移動
平均値を求めたときの測定値の個数よりも、長期移動平
均値を求めるときの短期移動平均値の個数のほうが多く
なるようにしてあり、長期移動平均値からは平板１の波
打ちの成分が除去されるように設定される。すなわち、
光学式距離センサ２から平板１までの平均距離が得られ
るようにするのである。減算部５では、短期移動平均演
算部４の出力結果から、長期移動平均演算部６での出力
結果を減算するのであり、短期移動平均値から平板１の
平均距離が減算される結果、第２図（ｄ）のように、大
きな周期の変動成分（ドリフト成分）が除去されること
になる。 減算部５の出力結果は、判定部７に入力され、第２図（
ｅ）のように、あらかじめ設定された所定のスライスレ
ベルｌどの差が求められる。この差が所定値以上であれ
ば、波打ちの程度が大きいものと判断されるのであり、
判断結果に基づいて後段の処理を行えばよいのである。 なお、スライスレベルｌは、長期移動平均値で代用する
ことも可能である。 上記実施例では、長期移動平均値を短期移動平均値に基
づいて求めているが、Ａ／Ｄ変換部３の出力結果から、
短期移動平均とともに長期移動平均を求めるようにして
もよい、この場合、演算に必要なデータを蓄積する記憶
部を短期移動平均演算部４と長期移動平均演算部６とで
共用できるから、記憶容量の削減につながるのものであ
る。また、長期移動平均値を求めるときには、測定値を
適宜間引くようにしてもよい、たとえば、測定値のうち
の５個に１つだけを平均値を求めるデータとして扱うよ
うにしてもよい、こうすれば、長期移動平均値を求める
際の記憶容量を低減できる。 さらに、上記実施例では、判定部７において減算部５の
出力結果と所定のスライスレベルｌとの比較を行ってい
るが、減算部５において長期移動平均値と短期移動平均
値との差（減算した結果の絶対値）を求め、判定部７に
おいては、この差と所定の閾値との比較のみを行うよう
にしてもよい。 この場合、長期移動平均値がスライスレベルｌに対応す
るわけである。また、上記実施例では、平板１が移動し
光学式変位センサ２は固定されているが、平板１が固定
され光学式変位センサ２が移動する系でも本発明の技術
思想を適用することができる。
本発明は上述のように、一定方向に移動する平板の表面
に対して離間した定位置から平板の表面までの距離を平
板の移動方向における一定距離間隔で測定した後、各測
定点の近傍での距離の平均値を短期移動平均値として求
め、短期移動平均値に基づいて平板の波打ちの程度を判
定するのであり、上述のようにして短期移動平均を求め
ているから、駆動系の振動のように比較的短い周期で変
動する成分を平均化して除去することができ、しかも平
板の波打ちの程度が定量的に判定できるという利点を有
する。その結果、距離センサによって求めた平板の表面
までの距離から不要成分を除去することができ、平板の
波打ちの程度を再現性よく正確に検出することができる
という利点を有する。
に対して離間した定位置から平板の表面までの距離を平
板の移動方向における一定距離間隔で測定した後、各測
定点の近傍での距離の平均値を短期移動平均値として求
め、短期移動平均値に基づいて平板の波打ちの程度を判
定するのであり、上述のようにして短期移動平均を求め
ているから、駆動系の振動のように比較的短い周期で変
動する成分を平均化して除去することができ、しかも平
板の波打ちの程度が定量的に判定できるという利点を有
する。その結果、距離センサによって求めた平板の表面
までの距離から不要成分を除去することができ、平板の
波打ちの程度を再現性よく正確に検出することができる
という利点を有する。
第１図は本発明に係る平板の枝打検査方法を用いた処理
回路のブロック図、第２図は同上における各部の信号を
示す動作説明図である。 １・・・平板、２・・・光学式変位センサ、３・・・Ａ
／Ｄ変換部、４・・・短期移動平均演算部、５・・・減
算部、６・・・長期移動平均演算部、７・・・判定部。 代理人 弁理士 石 １）長 七
回路のブロック図、第２図は同上における各部の信号を
示す動作説明図である。 １・・・平板、２・・・光学式変位センサ、３・・・Ａ
／Ｄ変換部、４・・・短期移動平均演算部、５・・・減
算部、６・・・長期移動平均演算部、７・・・判定部。 代理人 弁理士 石 １）長 七
Claims (1)
- （１）一定方向に移動する平板の表面に対して離間した
定位置から平板の表面までの距離を平板の移動方向にお
ける一定距離間隔で測定した後、各測定点の近傍での距
離の平均値を短期移動平均値として求め、短期移動平均
値に基づいて平板の波打ちの程度を判定することを特徴
とする平板の波打検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31689088A JPH02161307A (ja) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | 平板の波打検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31689088A JPH02161307A (ja) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | 平板の波打検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02161307A true JPH02161307A (ja) | 1990-06-21 |
| JPH0549923B2 JPH0549923B2 (ja) | 1993-07-27 |
Family
ID=18082050
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31689088A Granted JPH02161307A (ja) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | 平板の波打検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02161307A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06511427A (ja) * | 1992-07-20 | 1994-12-22 | バイオエンジニアリング・アクチエンゲゼルシヤフト | よろめき運動体の駆動装置 |
| JP2009204397A (ja) * | 2008-02-27 | 2009-09-10 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54160262A (en) * | 1978-06-08 | 1979-12-18 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Measured value display device |
| JPS55107911A (en) * | 1979-02-13 | 1980-08-19 | Nippon Steel Corp | Method of average calculation for thickness meter |
| JPS58103097A (ja) * | 1981-12-14 | 1983-06-18 | 株式会社明電舎 | 信号処理装置 |
| JPS5965709A (ja) * | 1982-10-07 | 1984-04-14 | Kawasaki Steel Corp | ストリツプエツジ部の厚さプロフイ−ル測定方法 |
| JPS59208408A (ja) * | 1983-05-13 | 1984-11-26 | Toshiba Corp | 表面検査方法及びその装置 |
-
1988
- 1988-12-15 JP JP31689088A patent/JPH02161307A/ja active Granted
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54160262A (en) * | 1978-06-08 | 1979-12-18 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Measured value display device |
| JPS55107911A (en) * | 1979-02-13 | 1980-08-19 | Nippon Steel Corp | Method of average calculation for thickness meter |
| JPS58103097A (ja) * | 1981-12-14 | 1983-06-18 | 株式会社明電舎 | 信号処理装置 |
| JPS5965709A (ja) * | 1982-10-07 | 1984-04-14 | Kawasaki Steel Corp | ストリツプエツジ部の厚さプロフイ−ル測定方法 |
| JPS59208408A (ja) * | 1983-05-13 | 1984-11-26 | Toshiba Corp | 表面検査方法及びその装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06511427A (ja) * | 1992-07-20 | 1994-12-22 | バイオエンジニアリング・アクチエンゲゼルシヤフト | よろめき運動体の駆動装置 |
| JP2009204397A (ja) * | 2008-02-27 | 2009-09-10 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0549923B2 (ja) | 1993-07-27 |
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