JPH0548257Y2 - - Google Patents

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JPH0548257Y2
JPH0548257Y2 JP1984127565U JP12756584U JPH0548257Y2 JP H0548257 Y2 JPH0548257 Y2 JP H0548257Y2 JP 1984127565 U JP1984127565 U JP 1984127565U JP 12756584 U JP12756584 U JP 12756584U JP H0548257 Y2 JPH0548257 Y2 JP H0548257Y2
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semiconductor laser
modulator
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、デジタルデータによつて変調した
レーザ光によつて光記録媒体に情報を記録すると
きの発光パワーを制御する回路に係わり、特に光
デイスクを使用したカメラのレーザ発光源に好適
な制御回路に関するものである。
〔従来の技術〕
感光材料で記録面が形成されている光デイスク
に絞り込んだレーザ光スポットを照射し、このレ
ーザ光を記録データにしたがつてオン・オフ変調
し、渦巻き状、または同心円上の記録トラツクに
所定の情報を書き込む記録装置がある。
このような光学的な記録装置において、半導体
レーザダイオードを光源としているときは、温度
や素子のバラツキによつてレーザ光の発光パワー
が変動するため、記録を行う前に所定の発光パワ
ーが出力されるように半導体レーザダイオードを
制御する必要がある。
この場合、再生用の半導体レーザ光源は、連続
した発光状態で使用するため、発光パワーの制御
は、たとえば、半導体レーザ光源の後側より出力
される光を検出し、その光強度が所定の値となる
ようにフイードバツク回路を構成して簡単に制御
することができる。しかし、光学的な記録装置を
カメラ等に応用した場合は、半導体レーザダイオ
ードはシヤツタを押す直前に駆動され、常時、レ
ーザ光が出力されていない。そのため、発光パワ
ーを所定の値に短時間で設定することが困難であ
る。
そこで、記録時においてレーザ光の発光パワー
を所定の値に設定するための方法として、以下に
示すような方法が考えられる。
記録スタート前からしばらくの間、記録信号に
関係のないダミーデータでレーザ光を変調してレ
ーザ光の発光パワーを0より所定のレベルまで増
加していき、フイードバツクループが閉じて所定
の発光パワーになつたときにデータを記録する。
しかし、この場合はダミーデータを光デイスクに
記録することになり記録エリアが無駄になるの
で、ダミーデータを出力しているときは機械的な
シヤツタによつてレーザ光を光デイスクに照射し
ないようにするか、光デイスクを高速で回転して
記録できないようにする必要があり、いずれの場
合も装置が大型化し、記録前のアドレスサーチ等
ができないという問題が発生する。
〔考案が解決しようとする問題点〕
この考案は、短い立ち上がり時間で記録に必要
な半導体レーザ光の発光パワーを設定し、かつ、
この設定時間内に光デイスクにデータが記録され
ないようにした変調レーザ光の制御回路を提供す
るものである。
〔問題点を解決するための手段〕
記録スタート時に、まず、半導体レーザ光源を
短いパルス幅の信号によつて変調するセツトモー
ドにする。
そして、そのとき得られる半導体レーザ光源の
間欠的な出力光を計数回路でカウントしながら発
光パワーを増加していき、発光パワーが所定のレ
ベルに達するとその出力を保持し続けるように設
定するものである。
第1図はこの考案の概要を示すブロツク図で、
1は半導体レーザ光源3dに対して駆動電流を供
給している可変電流源、2は変調器、3pは半導
体レーザ光源3dの後側から放出されるレーザ光
を受光し、発光パワーを検出する検出器(フイオ
ダイオード)、4は設定電圧Erが一方の入力端子
に供給されている比較器(コンパレータ)、5は
カウンタ、6はD/A変調器、7はデレードフリ
ツプフロツプ回路(D−FF)、8はカウンタ5と
D/A変換器6をリセツトするためのリセツト回
路、9は記録用の光学レンズLと光デイスクD等
を含む光学系、10はセツトモードから書き込み
モードに切り換えるスイツチを示す。
〔作用〕
第1図にいて、記録スタート信号、例えば、カ
メラのシヤツタのタツチ信号が検出されると、ま
ず、カウンタ5とD−FF7がリセット回路8に
よつてリセツトされ、同時にスイツチ10がセツ
トモードに切り換わり、第2図のPMに示すよう
なテストパルスP1,P2,……,PNが変調器2お
よびカウンタ5のクロツク端子に入力される。
そのため、半導体レーザ光源3dは間欠的に発
光し、発光系9を介して回転をしている光デイス
クDの所定のトラツクに照射される。
始動時には、カウンタ5の計数値はたとえば0
であり、D/A変換器6の出力も0と小さいた
め、可変電流源1から流出する電流も小さい。し
たがつて、半導体レーザ光源3dの発光パワーを
検出している検出器3pの検出信号の波形PDは
設定電圧Erより小さく、比較器4の出力レベル
は波形CPMに示すように“L”レベルとなつて
いる。
なお、前記テストパルス(またはセットパル
ス)P1,P2,……,PNのパルス幅(τ)は、通
常のデータに比較してきわめて小さく設定されて
おり、半導体レーザ光源3dが出力するレーザ光
によつて光デイスクDに記録されることはない。
一方、カウンタ5のCLK端子に入力されてい
る前記テストパルスP1,P2,……,PNは順次加
算され、D/A変換器6の出力値は増大する。
その結果、可変電流電源1の供給電流も漸次増
大し、半導体レーザ光源3dの発光パワーはテス
トパルスP1,P2,……,PNがカウントされる毎
に増加してゆく。
そして、検出器3pには波形PDで示すような
漸次増加する検出信号が出力される。
この検出器3pの検出信号レベルが、テストパ
ルスPNが入力された段階で設定電圧Erのレベル
を超えると、比較器4の出力レベルも“L”から
“H”に反転する。
そのためD−FF7は“H”レベルの信号をカ
ウンタ5に出力し、カウンタ5の制御端子TSに
“H”レベルの信号が入力されることによりカウ
ントを停止し、一定の出力を保持する。
したがつて、半導体レーザ光源3dの発光パワ
ーは設定電圧Erで設定された最適発光パワーに
設定される。
前記カウンタ5がカウント停止状態になつた時
点で、スイツチ10は反転してプリセツトモード
からデータ書き込みモードとなり、変調器2には
記録データD1,D2,……,つまり、被写体の画
像をデジタルデータとして信号が供給される。そ
して変調されたレーザ光源によつて光デイスクD
に被写体の画像が書き込まれる。
なお、前述したようにプリセツトではテストパ
ルスP1,P2,……のパルス幅(τ)は、半導体
レーザ光源3dから出力されるビームによつて光
デイスクDに記録が残ることのないように狭く設
定されているので、光デイスクDに不必要な記録
が残ることはない。
また、発光パワーが所定の値に達するまでの立
ち上がり時間は、テストパルスPの周期Tが短い
ほど早くなり、制御回路の各部の周波数特性が高
ければ、立ち上がり時間は数ms〜数10msにする
ことができる。
さらに、発光パワー制御精度はD/A変換器6
のビツト数が大きいほど向上する。
なお、記録モードではフイードバツク回路が構
成されていないが、カメラ等のように記録時間が
数秒の場合は問題となることはなく、かえつて制
御ループの位相余裕、ゲイン余裕が大きく設定で
きるというメリツトがある。
〔実施例〕
第3図はこの考案の一実施例を示す回路図で、
11は電流を可変する可変電流源トランジスタ、
12は電流をオン・オフ制御するスイツチングト
ランジスタ、13は発光ダイオード13dとフオ
トダイオード13pからなる半導体レーザ光源で
ある。
この発光ダイオード13dから出力されるレー
ザ光は図示しない光学系によつて光デイスクDに
照射され、発光ダイオード13dの後部位置に設
けられているフオトダイオード13pは、発光ダ
イオード13dの後部から出力されるレーザ光を
検出するものである。
したがつて、このフオトダイオード13pに流
れる電流は発光ダイオード13dのレーザ光の発
光パワーにほぼ比例している。
フオトダイオード13pに流れる電流はトラン
ジスタT1〜T3からなるカレントミラー回路14
により検出され、抵抗rの端子電圧として出力さ
れる。
VRは、設定電圧Er設定用の可変抵抗器、15
は比較器である。
16はカウンタを示し、D−FF17Bからの
“H”レベルの出力がTs端子に出力されるとカウ
ント動作を停止する。なお、D−FF17Aは前
記比較器15の出力をD−FF17に転送する。
18は前述した制御回路のモードを切り換える
スイツチ、19は前記カウンタ16の計数値をア
ナログ信号に変換するD/A変換器で、その出力
によつて前記可変電流源トランジスタ11の電流
値を制御している。
20はカメラの全体的な動作を制御しているシ
ステムコントロール回路(以下シスコンという)
を示し、例えばシヤツタ機構21、固体撮像素子
22、A/D変換器23、フレームメモリ24、
コード付加回路25、テストパルス発生器26、
図示しないがフオーカスサーボ、トラツキングサ
ーボ等をコントロールしている。
この実施例では、まず、シャツタに指がかかつ
たときのタツチ信号をシヤツタ機構21から検出
し、図示しない光デイスクの回転スピードが所定
の値となると、カウンタ16、D−FF17A,
17Bをリセツトし、スイツチ18によってテス
トパルス発生器26からテストパルス(P)をス
イツチングトランジスタ12およびカウンタ16
に供給する。そして前述したように発光ダイオー
ド13dの発光パワーを漸次増加していく。この
発光パワーの検出レベルが設定電圧Erより負に
なると、比較器15の出力レベルが“L”から
“H”レベルに反転し、D−FF17AのQ出力が
“H”レベルに変化する。次に、D−FF17Bの
Q出力が“L”レベルから“H”レベルに反転
し、カウンタ16の計数動作が停止する。なお、
この間に光デイスクDの番地の読み取りを図示し
ない装置で行う。
このようにして半導体レーザ光源13の発光パ
ワーが設定電圧Erによる所定の値に設定される
が、前述したようにこのセツトモードでは光デイ
スクDには記録は残らない。
カウンタ16のストツプ信号がシスコン20に
入力されると、固定撮像素子22からA/D変換
器23を介してフレームメモリ24に格納されて
いる画像データが読み出され、この画像データに
コードが付けられてスイツチ18からスイツチン
グトランジスタ12に供給される書き込みモード
に設定される。
そして、書き込みが終了すると電源をオフに制
御する。
この実施例の場合も、セツトモードにおいて出
力される発光パワーはパルス幅が小さく設定され
ているため光デイスクに記録されることはない
が、例えばセツトパルスPとして幅の広いものを
使用するときでもセツトモード期間にはシスコン
20の制御によつてフオーカスサーボ27に点線
で示すように信号を供給し、デフオーカスの状態
にすることによつてテストパルスPの記録が残ら
ないようにすることもできる。
また、カウンタ16のストツプ回路は2段のD
−FF17A,17Bを使用しているため確実に
行うことができるという利点がある。
なお、テストパルス発生器26、スイツチ1
8、D−FF17A,17B等はシスコン20内
に含ませてもよい。発光ダイオード13dを複数
個設け、マルチビーム方式で記録する場合にも適
用できる。さらに、前記設定電圧Erは、温度等
によつて自動的に最適となるようにすることが好
ましい。
〔考案の効果〕
この考案の変調レーザ光の制御回路はテストパ
ルスを供給するセツトモードにおいて半導体レー
ザダイオードの発光パワーを所定の記録パワーに
設定し、次に、記録データを供給して書き込みモ
ードになるように制御しているので、光デイスク
に対して無駄なデータを書き込むことなく、発光
パワーを設定できるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の概要を示すブロツク図、第
2図は第1図の動作を説明するための波形図、第
3図はこの考案の一実施例を示す回路図である。 図中、1は可変電流源、2は変調器、3は半導
体レーザ光源、3pは検出器、4は比較器、5は
カウンタ、6はD/A変換器、7はD−FF、8
はリセツト回路、9は記録のための光学系、10
はモード切り換えのスイツチを示す。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 デジタルデータに基づいて半導体レーザ光源を
    変調する変調器と、 上記変調器によつて変調された半導体レーザ光
    源から出力されたレーザ光を検出する検出器と、 上記検出器の出力と設定電圧とを比較する比較
    器と、 上記デジタルデータを計数するカウンタと、 上記比較器からの検出出力に基づいて上記カウ
    ンタの計数動作を制御するラツチ回路と、 上記カウンタの出力によつて上記半導体レーザ
    光源に供給する電力を制御する可変電流源と、 上記変調器と上記カウンタにデジタルデータと
    しての記録データと記録データのパルス幅より十
    分狭いパルス幅を有するテストパルスとを選択的
    に供給する切換手段手段とを備え、 記録開始前に上記切換手段によつて上記変調器
    と上記カウンタに上記テストパルスを供給し、上
    記カウンタからの出力に基づいて上記半導体レー
    ザを発光させ、上記検出器の出力が設定電圧と等
    しくなつたとき出力される上記比較器の出力をラ
    ツチして上記カウンタの計数動作を停止し、所定
    の発光パワーを設定した後に切換手段によつて上
    記変調器に記録データを供給するようにしたこと
    を特徴とする変調レーザ光の制御回路。
JP12756584U 1984-08-24 1984-08-24 変調レ−ザ光の制御回路 Granted JPS6145727U (ja)

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JPS6145727U JPS6145727U (ja) 1986-03-26
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2664449B2 (ja) * 1988-12-16 1997-10-15 三洋電機株式会社 レーザパワーの制御方法及びその制御回路

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58100245A (ja) * 1981-12-11 1983-06-14 Nec Corp 光学的記録再生装置における光量制御装置
JPS58100571A (ja) * 1981-12-10 1983-06-15 Konishiroku Photo Ind Co Ltd レ−ザビ−ム走査装置

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