JPH0543242B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0543242B2 JPH0543242B2 JP22923586A JP22923586A JPH0543242B2 JP H0543242 B2 JPH0543242 B2 JP H0543242B2 JP 22923586 A JP22923586 A JP 22923586A JP 22923586 A JP22923586 A JP 22923586A JP H0543242 B2 JPH0543242 B2 JP H0543242B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- width
- differential coefficient
- value
- tire
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 20
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 15
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 10
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、タイヤ側壁の凹凸検査装置に関す
るものであり、自動車用空気入りタイヤのカーカ
スを構成するタイヤコードの接合部の重なりに過
不足が生じたりすることによつてタイヤ側壁に生
じる微小な凹凸を検出し、その程度によつて合否
を判定するために利用される。
るものであり、自動車用空気入りタイヤのカーカ
スを構成するタイヤコードの接合部の重なりに過
不足が生じたりすることによつてタイヤ側壁に生
じる微小な凹凸を検出し、その程度によつて合否
を判定するために利用される。
(従来の技術)
タイヤ側壁の凹凸検出装置として、特開昭56−
122931号公報に、内圧のかけられたタイヤのサイ
ドウオール部の表面に静電容量型センサを非接触
的に近接して設け、上記タイヤをその回転軸の回
りに回転し静電容量型センサとサイドウオール部
表面との相対的距離の変動に応じた検出信号を発
信し、この検出信号をA/D変換器でデジタル化
し、検出信号が所定の時間内に一定値以上の立上
り変化および一定値以上の立下り変化をした場合
にこれを異常と判断するようにしたものが開示さ
れている。
122931号公報に、内圧のかけられたタイヤのサイ
ドウオール部の表面に静電容量型センサを非接触
的に近接して設け、上記タイヤをその回転軸の回
りに回転し静電容量型センサとサイドウオール部
表面との相対的距離の変動に応じた検出信号を発
信し、この検出信号をA/D変換器でデジタル化
し、検出信号が所定の時間内に一定値以上の立上
り変化および一定値以上の立下り変化をした場合
にこれを異常と判断するようにしたものが開示さ
れている。
また、特開昭58−200140号公報には、上記の静
電容量型センサの代りに光学式非接触変位検出器
を設けてタイヤ側壁の凹凸に対応する電圧信号を
発信し、これをデジタル化し、上記電圧信号中の
微小凹凸に対応する範囲の波長域をあらかじめ設
定されている短時間だけ遅延させ、原信号と遅延
信号との差をあらかじめ設定されている許容値と
比較することにより、タイヤ側壁の長い周期の凹
凸の影響を消去し、短周期の凹凸のみを正確に検
出するようにしたものが開示されている。
電容量型センサの代りに光学式非接触変位検出器
を設けてタイヤ側壁の凹凸に対応する電圧信号を
発信し、これをデジタル化し、上記電圧信号中の
微小凹凸に対応する範囲の波長域をあらかじめ設
定されている短時間だけ遅延させ、原信号と遅延
信号との差をあらかじめ設定されている許容値と
比較することにより、タイヤ側壁の長い周期の凹
凸の影響を消去し、短周期の凹凸のみを正確に検
出するようにしたものが開示されている。
(発明が解決しようとする問題点)
特開昭56−122931号公報に開示された装置は、
静電容量型センサを使用するものであるから、タ
イヤ側壁に配置されている文字の凸成分に欠陥の
凹成分が重なると、これらが平均化され、そのた
め上記の凹成分が欠陥として検出されないという
問題があつた。また、特定の傾斜角度の立上りか
ら立下りまでの時間軸の長さが所定の範囲内のも
のを欠陥とするので、例えば凸部の頂部が平坦で
あるために欠陥にする必要がない場合にも、これ
が欠陥として判断されたり、上記所定の範囲から
はみ出る程度に大きい広がりの凸部や単なる段差
が欠陥にならなかつたりするという問題があつ
た。
静電容量型センサを使用するものであるから、タ
イヤ側壁に配置されている文字の凸成分に欠陥の
凹成分が重なると、これらが平均化され、そのた
め上記の凹成分が欠陥として検出されないという
問題があつた。また、特定の傾斜角度の立上りか
ら立下りまでの時間軸の長さが所定の範囲内のも
のを欠陥とするので、例えば凸部の頂部が平坦で
あるために欠陥にする必要がない場合にも、これ
が欠陥として判断されたり、上記所定の範囲から
はみ出る程度に大きい広がりの凸部や単なる段差
が欠陥にならなかつたりするという問題があつ
た。
また、特開昭58−200140号公報に開示された装
置は、欠陥部分の幅(時間軸の長さ)が必ずしも
一定でないにもかかわらず、遅延時間が設定によ
り常に一定になるので、欠陥部分とノイズとの差
が小さくなり、欠陥でないものを欠陥と誤つて判
定するという問題があつた。
置は、欠陥部分の幅(時間軸の長さ)が必ずしも
一定でないにもかかわらず、遅延時間が設定によ
り常に一定になるので、欠陥部分とノイズとの差
が小さくなり、欠陥でないものを欠陥と誤つて判
定するという問題があつた。
この発明は、光学式変位検出器を用いることに
より、人間の目視による判断に近い検出を可能に
し、仮りに前後の傾斜が急角度であつても頂部が
平坦な凸部や底部が平坦な凹部は、これを欠陥と
判定せず、所定の切返し幅内にある凸部の高さお
よび凹部の深さを欠陥判断の要素にしたものであ
る。そして、第2発明においては、タイヤ側壁の
段差も併せて検出するものである。
より、人間の目視による判断に近い検出を可能に
し、仮りに前後の傾斜が急角度であつても頂部が
平坦な凸部や底部が平坦な凹部は、これを欠陥と
判定せず、所定の切返し幅内にある凸部の高さお
よび凹部の深さを欠陥判断の要素にしたものであ
る。そして、第2発明においては、タイヤ側壁の
段差も併せて検出するものである。
(問題点を解決するための手段)
第1図において、1は所定圧力の空気が充填さ
れたタイヤであり、このタイヤ1は、タイヤ回転
装置(図示されていない)によつてタイヤ中心軸
の回りに回転されるようになつている。このタイ
ヤ1の上方および下方に、タイヤ1の側壁に光線
を投射し、反射光を受光して側壁からの距離を連
続的に検出し、電圧の強弱に変換する光学式変位
検出器2を設ける。上記の光学式変位検出器2,
2の出力側に切換手段3を介して上記光学式変位
検出器の出力信号をデジタル化するA/D変換器
4を接続し、このA/D変換器4の出力側にその
出力信号を微分し、得られた微係数が正の微係数
設定値以上の部分、負の微係数設定値以下の部分
およびこれらの中間部分に3区分するための微分
比較回路5と、上記正の微係数設定値以上の部分
と負の微係数設定値以下の部分との間に挟まれた
中間部分の時間軸長すなわち切返し幅をあらかじ
め設定されている切返し幅設定値と比較して上記
切返し幅が切返し幅設定値以下の凸部および凹部
をそれぞれ取出すめたの凸部用識別回路6Aおよ
び凹部用識別回路6Bと、上記の切返し幅が設定
値以下の凸部および凹部についてそれぞれのピー
ク部分の時間軸座標を算出し、この時間軸座標を
中心としてその前後に設けた所定の判定幅を超え
ない範囲での正の微係数設定値以上の部分の開始
時から負の微係数設定値以下の部分の終了時まで
を凸部の幅とする凸部用ゲート設定回路7Aおよ
び上記の判定幅を超えない範囲で負の微係数設定
値以下の部分の開始時から正の微係数設定値以上
の部分の終了時までを凹部の幅とする凹部用ゲー
ト設定回路7Bと、上記A/D変換器4の出力か
ら上記判定幅内の変位信号を取出し、凸部および
凹部のそれぞれの前後両端からそのピーク部分ま
での高さを平均し、タイヤ1の1周分の上記高さ
の最大値を許容値と比較して欠陥を判定する凸部
抽出判定回路8Aおよび凹部抽出判定回路8Bと
を順に接続し、第1発明を構成する。
れたタイヤであり、このタイヤ1は、タイヤ回転
装置(図示されていない)によつてタイヤ中心軸
の回りに回転されるようになつている。このタイ
ヤ1の上方および下方に、タイヤ1の側壁に光線
を投射し、反射光を受光して側壁からの距離を連
続的に検出し、電圧の強弱に変換する光学式変位
検出器2を設ける。上記の光学式変位検出器2,
2の出力側に切換手段3を介して上記光学式変位
検出器の出力信号をデジタル化するA/D変換器
4を接続し、このA/D変換器4の出力側にその
出力信号を微分し、得られた微係数が正の微係数
設定値以上の部分、負の微係数設定値以下の部分
およびこれらの中間部分に3区分するための微分
比較回路5と、上記正の微係数設定値以上の部分
と負の微係数設定値以下の部分との間に挟まれた
中間部分の時間軸長すなわち切返し幅をあらかじ
め設定されている切返し幅設定値と比較して上記
切返し幅が切返し幅設定値以下の凸部および凹部
をそれぞれ取出すめたの凸部用識別回路6Aおよ
び凹部用識別回路6Bと、上記の切返し幅が設定
値以下の凸部および凹部についてそれぞれのピー
ク部分の時間軸座標を算出し、この時間軸座標を
中心としてその前後に設けた所定の判定幅を超え
ない範囲での正の微係数設定値以上の部分の開始
時から負の微係数設定値以下の部分の終了時まで
を凸部の幅とする凸部用ゲート設定回路7Aおよ
び上記の判定幅を超えない範囲で負の微係数設定
値以下の部分の開始時から正の微係数設定値以上
の部分の終了時までを凹部の幅とする凹部用ゲー
ト設定回路7Bと、上記A/D変換器4の出力か
ら上記判定幅内の変位信号を取出し、凸部および
凹部のそれぞれの前後両端からそのピーク部分ま
での高さを平均し、タイヤ1の1周分の上記高さ
の最大値を許容値と比較して欠陥を判定する凸部
抽出判定回路8Aおよび凹部抽出判定回路8Bと
を順に接続し、第1発明を構成する。
第2発明においては、上記第1発明に、その
A/D変換器4の出力信号かららその微係数の絶
体値が所定の段差微分設定値以上の範囲の波形を
取出し、この波形の高さをあらかじめ設定されて
いる段差設定値と比較して段差を判定する段差判
定回路9を付加する。
A/D変換器4の出力信号かららその微係数の絶
体値が所定の段差微分設定値以上の範囲の波形を
取出し、この波形の高さをあらかじめ設定されて
いる段差設定値と比較して段差を判定する段差判
定回路9を付加する。
(作用)
タイヤ1の上面または下面の凹凸が光学式変位
検出器2からの距離の相違として検出され、これ
が電圧信号(第3図参照)としてA/D変換器4
に送られ、所定の微小時間間隔でデジタル化さ
れ、このデジタル化された検出信号が微分比較路
5に入力され、微分され(第4図参照)、その微
係数があらかじめ設定されている正の微係数設定
値以上の部分、負の微係数設定値以下の部分およ
びこれらの中間の部分に3区分される。例えば、
正の微係数設定値以上の部分、負の微係数設定値
以下の部分、および中間部分に対応してそれぞれ
+1、−1および0の3値が与えられ、上記の微
分出力が三値化される(第5図参照)。
検出器2からの距離の相違として検出され、これ
が電圧信号(第3図参照)としてA/D変換器4
に送られ、所定の微小時間間隔でデジタル化さ
れ、このデジタル化された検出信号が微分比較路
5に入力され、微分され(第4図参照)、その微
係数があらかじめ設定されている正の微係数設定
値以上の部分、負の微係数設定値以下の部分およ
びこれらの中間の部分に3区分される。例えば、
正の微係数設定値以上の部分、負の微係数設定値
以下の部分、および中間部分に対応してそれぞれ
+1、−1および0の3値が与えられ、上記の微
分出力が三値化される(第5図参照)。
上記微分比較回路5から出力される三値化信号
が+1から0を経て−1に変る部分は、凸部を示
すと共に、その凸部の両側の斜面が微係数設定値
で定まる所定の傾斜角度以上の急角度に傾斜して
いることを示し、上記三値化信号が−1から0を
経て+1に変る部分は、反対の凹部を示す。すな
わち、タイヤ1の側壁の多数の凸部と凹部の中で
両側の傾斜面が特に急角度の凸部と凹部が上記の
微分比較回路5によつて取出される。
が+1から0を経て−1に変る部分は、凸部を示
すと共に、その凸部の両側の斜面が微係数設定値
で定まる所定の傾斜角度以上の急角度に傾斜して
いることを示し、上記三値化信号が−1から0を
経て+1に変る部分は、反対の凹部を示す。すな
わち、タイヤ1の側壁の多数の凸部と凹部の中で
両側の傾斜面が特に急角度の凸部と凹部が上記の
微分比較回路5によつて取出される。
この微分比較回路5の出力信号中、正の微係数
設定値以上の部分から負の微係数設定値以下の部
分に変る途中の中間部分は、凸部を示す三値化信
号の0値の部分を示し、この0値の部分の時間軸
の長さt1,t2は、凸部の傾斜角度が所定限度を超
えた位置よりも上方部分の幅(タイヤ回転方向に
沿つて測定した長さ)、すなわち切返し幅を表わ
しており、この切返し部が凸部用識別回路6Aに
おいて切返し幅設定値と比較され、設定値以下の
もののみが取出される。すなわち、両側の傾斜面
が急角度の凸部中、切返し幅の狭いもの、換言す
れば頂部の狭く鋭い凸部のみが取出され、両側の
傾斜面が急であつても頂部が広く平坦なものは除
かれる。同様にして、凹部用識別回路6Bにおい
ては、凹部の両側の傾斜面が急角度であり、しか
も切返し幅が狭く底部の鋭い凹部のみが取出され
る。
設定値以上の部分から負の微係数設定値以下の部
分に変る途中の中間部分は、凸部を示す三値化信
号の0値の部分を示し、この0値の部分の時間軸
の長さt1,t2は、凸部の傾斜角度が所定限度を超
えた位置よりも上方部分の幅(タイヤ回転方向に
沿つて測定した長さ)、すなわち切返し幅を表わ
しており、この切返し部が凸部用識別回路6Aに
おいて切返し幅設定値と比較され、設定値以下の
もののみが取出される。すなわち、両側の傾斜面
が急角度の凸部中、切返し幅の狭いもの、換言す
れば頂部の狭く鋭い凸部のみが取出され、両側の
傾斜面が急であつても頂部が広く平坦なものは除
かれる。同様にして、凹部用識別回路6Bにおい
ては、凹部の両側の傾斜面が急角度であり、しか
も切返し幅が狭く底部の鋭い凹部のみが取出され
る。
凸部用ゲート設定回路7Aでは、凸部用識別回
路の出力信号の凸部の切返し幅と、A/D変換器
4の出力信号とから凸部のピーク位置の時間軸座
標が求められ、更にピーク位置の前後に所定の判
定幅(第6図のM参照)が設けられ、この判定幅
を超えない範囲で三値化信号の0から1への立上
り点と−1から0への立上り点相互間の時間軸上
の間隔lをもつゲート信号が出力される(第7図
参照)。この場合、A/D変換器4の出力信号中、
上記切返し幅設定値の内側に含まれる信号の個
数、すなわちサンプル数は極めて少ないので、
A/D変換器4の出力信号(変位信号)の比較に
よるピーク位置の算出は極めて容易に、短時間に
行なわれる。凹部用ゲート設定回路7Bにおいて
も、同様にピークの存在する時間軸座標を中心と
して前後に設けた判定幅を超えない範囲で三値化
信号の0から−1への立上り点と1から0への立
上り点相互間の時間軸上の間隔lをもつゲート信
号が出力される。
路の出力信号の凸部の切返し幅と、A/D変換器
4の出力信号とから凸部のピーク位置の時間軸座
標が求められ、更にピーク位置の前後に所定の判
定幅(第6図のM参照)が設けられ、この判定幅
を超えない範囲で三値化信号の0から1への立上
り点と−1から0への立上り点相互間の時間軸上
の間隔lをもつゲート信号が出力される(第7図
参照)。この場合、A/D変換器4の出力信号中、
上記切返し幅設定値の内側に含まれる信号の個
数、すなわちサンプル数は極めて少ないので、
A/D変換器4の出力信号(変位信号)の比較に
よるピーク位置の算出は極めて容易に、短時間に
行なわれる。凹部用ゲート設定回路7Bにおいて
も、同様にピークの存在する時間軸座標を中心と
して前後に設けた判定幅を超えない範囲で三値化
信号の0から−1への立上り点と1から0への立
上り点相互間の時間軸上の間隔lをもつゲート信
号が出力される。
次いで、凸部抽出判定回路8Aでは、上記判定
幅l内の凸波形が抽出され(第8図参照)、その
前端からピークまでの高さおよび後端からピーク
までの高さがそれぞれ算出され、その平均値が求
められ、この平均値がタイヤ1周分に存在する複
数個の凸部について比較され、最大値が求めら
れ、この最大値が許容値と比較されて合否が判定
される。凹部用判定回路8Bでは、同様にして凹
部の深さが前後の平均値で算出され、この平均値
がタイヤ1周分に存在する複数個の凹部について
比較され、最大値が求められ、この最大値が許容
値と比較される。
幅l内の凸波形が抽出され(第8図参照)、その
前端からピークまでの高さおよび後端からピーク
までの高さがそれぞれ算出され、その平均値が求
められ、この平均値がタイヤ1周分に存在する複
数個の凸部について比較され、最大値が求めら
れ、この最大値が許容値と比較されて合否が判定
される。凹部用判定回路8Bでは、同様にして凹
部の深さが前後の平均値で算出され、この平均値
がタイヤ1周分に存在する複数個の凹部について
比較され、最大値が求められ、この最大値が許容
値と比較される。
段差判定回路9においては、A/D変換器4の
出力信号から微係数の絶対値が所定値以上のもの
を取出す。すなわち、微係数の正負に関係なく、
立上りまたは立下りの一方のみであつても、その
傾斜角度が段差微係数設定値で定まる傾斜角度以
上に大きい場合にこれを取出す。そして、段差微
分設定値以上の部分の原信号の波形を取出し、そ
の高さを段差設定値と比較するので、傾斜角度の
限度以上に急な部分が高さ方向に限度以上に続い
て存在する場合に、これが欠陥段差として判定さ
れる。
出力信号から微係数の絶対値が所定値以上のもの
を取出す。すなわち、微係数の正負に関係なく、
立上りまたは立下りの一方のみであつても、その
傾斜角度が段差微係数設定値で定まる傾斜角度以
上に大きい場合にこれを取出す。そして、段差微
分設定値以上の部分の原信号の波形を取出し、そ
の高さを段差設定値と比較するので、傾斜角度の
限度以上に急な部分が高さ方向に限度以上に続い
て存在する場合に、これが欠陥段差として判定さ
れる。
(実施例)
第2図において、2は前記の光学式変位検出
器、4はA/D変換器であり、タイヤ1周分に対
する光学式変位検出器2の出力、すなわちセンサ
出力(V)の一例が第3図に示される。なお、第3図
において、横軸にはデジタル化によるサンプル番
号をとり、「512」はタイヤの1周目を表わす。
器、4はA/D変換器であり、タイヤ1周分に対
する光学式変位検出器2の出力、すなわちセンサ
出力(V)の一例が第3図に示される。なお、第3図
において、横軸にはデジタル化によるサンプル番
号をとり、「512」はタイヤの1周目を表わす。
A/D変換器4の出力は、微分回路51で微分
され、第4図のグラフで示される微係数が出力さ
れ、この微係数が比較回路52において微係数設
定値Dと比較され、第5図に示すように三値化さ
れる。例えば、タイヤ1の回転方向の長さ3mmに
対して0.05mm以上の凸部および凹部があるとき、
それぞれ+1および−1を与え、0.05mm(勾配0.
05/3)未満の凹凸に対して0を与える。なお、微
分回路51および比較回路52によつて第1図の
微分比較回路5が構成される。
され、第4図のグラフで示される微係数が出力さ
れ、この微係数が比較回路52において微係数設
定値Dと比較され、第5図に示すように三値化さ
れる。例えば、タイヤ1の回転方向の長さ3mmに
対して0.05mm以上の凸部および凹部があるとき、
それぞれ+1および−1を与え、0.05mm(勾配0.
05/3)未満の凹凸に対して0を与える。なお、微
分回路51および比較回路52によつて第1図の
微分比較回路5が構成される。
上記三値化信号の+1から−1に変る途中の0
信号が凸部用識別回路6Aに送られ、0信号の横
軸上長さ、すなわち切返し幅t1,t2等が切返し幅
設定値Tと比較され、切返し幅設定値T(例えば、
長さ10mm、サンプル数3個)未満のものt2が出力
される。同様に、三値化信号の−1から+1に変
る途中の0信号が凹部用識別回路6Bに送られ、
その返切し幅が設定値未満のものが出力される。
信号が凸部用識別回路6Aに送られ、0信号の横
軸上長さ、すなわち切返し幅t1,t2等が切返し幅
設定値Tと比較され、切返し幅設定値T(例えば、
長さ10mm、サンプル数3個)未満のものt2が出力
される。同様に、三値化信号の−1から+1に変
る途中の0信号が凹部用識別回路6Bに送られ、
その返切し幅が設定値未満のものが出力される。
凸部用ピーク検出回路71Aには、A/D変換
器4の出力および凸部用識別回路6Aの出力の双
方が入力され、切返し幅t1内に含まれるA/D変
換器4の出力を比較し、最大値すなわちピーク値
を算出し、その横座標(時間軸座標)、すなわち
サンプル番号を探し出す。第6図は、第5図の一
部の拡大図であり、上記ピーク値の横座標がPで
示される。なお、第6図において、Bは凸部の幅
を示す。次いで、ゲート回路72Aにおいて、ピ
ーク値の横座標Pの前後に等しい幅(例えば、10
〜25mm)の判定幅Mを設定し、判定幅Mを超える
幅に制限をかけて第7図のゲート信号0が作成さ
れる。同様にして、凹部用ピーク検出回路71A
および凹部用ゲート回路72Bによつて、ゲート
信号が作成される。なお、凸部用のピーク検出回
路71Aおよびゲート回路72Aが第1図のゲー
ト設定回路7Aを構成し、凹部用のピーク検出回
路71Bおよびゲート回路72Bが第1図のゲー
ト設定回路7Bを構成する。
器4の出力および凸部用識別回路6Aの出力の双
方が入力され、切返し幅t1内に含まれるA/D変
換器4の出力を比較し、最大値すなわちピーク値
を算出し、その横座標(時間軸座標)、すなわち
サンプル番号を探し出す。第6図は、第5図の一
部の拡大図であり、上記ピーク値の横座標がPで
示される。なお、第6図において、Bは凸部の幅
を示す。次いで、ゲート回路72Aにおいて、ピ
ーク値の横座標Pの前後に等しい幅(例えば、10
〜25mm)の判定幅Mを設定し、判定幅Mを超える
幅に制限をかけて第7図のゲート信号0が作成さ
れる。同様にして、凹部用ピーク検出回路71A
および凹部用ゲート回路72Bによつて、ゲート
信号が作成される。なお、凸部用のピーク検出回
路71Aおよびゲート回路72Aが第1図のゲー
ト設定回路7Aを構成し、凹部用のピーク検出回
路71Bおよびゲート回路72Bが第1図のゲー
ト設定回路7Bを構成する。
凸部ピツクアツプ回路81Aは、A/D変換器
4が出力する変位信号(第3図参照)と凸部用ゲ
ート回路72Aが出力するゲート信号(第7図参
照)を合成し、例えば第3図にNで示される凸波
形を取り出す。その拡大図が第8図に示される。
次いで、高さ演算回路82Aにおいて、上記凸波
形Nの前端からの高さaおよび後端からの高さb
の平均値((a+b)/2)が算出される。そし
て、上記の演算がタイヤ1の1周分について行な
われ、その全数の平均値が比較され、その最大値
が判定回路83aにおいて凸部許容値Ha(例えば
0.5mm)と比較され、上記の最大値が凸部許容値
Haを超えた場合に欠陥と判定される。同様にし
て、凹部ピツクアツプ回路81B、凹部用高さ演
算回路82Bおよび凹部用判定回路83Bによつ
て凹部の最大値が決定され、凹部許容値Hbと比
較される。なお、凸部用のピツクアツプ回路81
A、演算回路82Aおよび判定回路83Aが第1
図の凸波形抽出判定回路8Aを構成し、凹部用の
ピツクアツプ回路81B、演算回路82Bおよび
判定回路83Bが第1図の凹波形抽出判定回路を
構成する。
4が出力する変位信号(第3図参照)と凸部用ゲ
ート回路72Aが出力するゲート信号(第7図参
照)を合成し、例えば第3図にNで示される凸波
形を取り出す。その拡大図が第8図に示される。
次いで、高さ演算回路82Aにおいて、上記凸波
形Nの前端からの高さaおよび後端からの高さb
の平均値((a+b)/2)が算出される。そし
て、上記の演算がタイヤ1の1周分について行な
われ、その全数の平均値が比較され、その最大値
が判定回路83aにおいて凸部許容値Ha(例えば
0.5mm)と比較され、上記の最大値が凸部許容値
Haを超えた場合に欠陥と判定される。同様にし
て、凹部ピツクアツプ回路81B、凹部用高さ演
算回路82Bおよび凹部用判定回路83Bによつ
て凹部の最大値が決定され、凹部許容値Hbと比
較される。なお、凸部用のピツクアツプ回路81
A、演算回路82Aおよび判定回路83Aが第1
図の凸波形抽出判定回路8Aを構成し、凹部用の
ピツクアツプ回路81B、演算回路82Bおよび
判定回路83Bが第1図の凹波形抽出判定回路を
構成する。
第1図の段差識別回路9は、第2図の段差ピツ
クアツプ回路91、比較回路92、高さ演算回路
93および段差判定回路94によつて構成され
る。例えば、第9図に示される段差信号が、A/
D変換器4から段差ピツクアツプ回路91に入力
される一方、第10図に示される微分信号が微分
回路51から比較回路92に入力され、段差微分
設定値S(例えば、勾配が25/1000)と比較され、
第11図に示すように段差微分設定値S以上の微
係数部分とS未満の部分とに二値化され、この二
値化信号が上記のピツクアツプ回路91に入力さ
れ、第9図の段差信号と合成され、第12図に示
すように、上記の段差微分設定値Sで定まる傾斜
角度以上の傾斜角度部分(W)の範囲の波形が取り出
され、その高さHが高さ演算回路93で算出さ
れ、この高さHが段差判定回路94において段差
許容値H0(例えば0.8mm)と比較され、これを超
える場合に第13図の段差判定信号が出力され
る。
クアツプ回路91、比較回路92、高さ演算回路
93および段差判定回路94によつて構成され
る。例えば、第9図に示される段差信号が、A/
D変換器4から段差ピツクアツプ回路91に入力
される一方、第10図に示される微分信号が微分
回路51から比較回路92に入力され、段差微分
設定値S(例えば、勾配が25/1000)と比較され、
第11図に示すように段差微分設定値S以上の微
係数部分とS未満の部分とに二値化され、この二
値化信号が上記のピツクアツプ回路91に入力さ
れ、第9図の段差信号と合成され、第12図に示
すように、上記の段差微分設定値Sで定まる傾斜
角度以上の傾斜角度部分(W)の範囲の波形が取り出
され、その高さHが高さ演算回路93で算出さ
れ、この高さHが段差判定回路94において段差
許容値H0(例えば0.8mm)と比較され、これを超
える場合に第13図の段差判定信号が出力され
る。
(発明の効果)
この発明は、光学式変位検出器を用いるので、
光線を細くしスポツトを小さくすることによつ
て、小面積の凹凸を個別に捕え、その大きさを検
出することができる。また、所定長さの時間軸
(切返し幅)内に所定角度以上の立上り部と立下
り部の双方が存在する場合に、これを捕捉するの
で、頂部が平坦な凸部および底部が平坦な凹部を
欠陥と判定することがなく、目視に近い判断が得
られる。また、微係数が上下の限界値以内の部分
についてのみA/D変換器の出力信号(変位信
号)の大きさを比較してピークを探すので、サン
プル数が少なく、ピークの位置を容易に探すこと
ができる。そして、このピークの位置を中心とし
てその前後に判定幅を設定し、この判定幅を超え
ない範囲で定まる次陥の前後両端を基準にしてピ
ークの高さを算出し、その平均値をもつて凸部ま
たは凹部の高さとするので、再現性が向上し、正
確な判定が可能になる。更に、第2発明は、立上
り部または立下り部の一方のみが存在していて
も、設定値以上の勾配の部分が設定高さ以上に及
ぶ場合にこれを欠陥段差として検出することがで
きる。
光線を細くしスポツトを小さくすることによつ
て、小面積の凹凸を個別に捕え、その大きさを検
出することができる。また、所定長さの時間軸
(切返し幅)内に所定角度以上の立上り部と立下
り部の双方が存在する場合に、これを捕捉するの
で、頂部が平坦な凸部および底部が平坦な凹部を
欠陥と判定することがなく、目視に近い判断が得
られる。また、微係数が上下の限界値以内の部分
についてのみA/D変換器の出力信号(変位信
号)の大きさを比較してピークを探すので、サン
プル数が少なく、ピークの位置を容易に探すこと
ができる。そして、このピークの位置を中心とし
てその前後に判定幅を設定し、この判定幅を超え
ない範囲で定まる次陥の前後両端を基準にしてピ
ークの高さを算出し、その平均値をもつて凸部ま
たは凹部の高さとするので、再現性が向上し、正
確な判定が可能になる。更に、第2発明は、立上
り部または立下り部の一方のみが存在していて
も、設定値以上の勾配の部分が設定高さ以上に及
ぶ場合にこれを欠陥段差として検出することがで
きる。
第1図はこの発明の実施例のブロツク図、第2
図は第1図の要部の詳細ブロツク図、第3図ない
し第13図は第2図の装置の要部における出力信
号のグラフである。 1:タイヤ、2:光学式変位検出器、4:A/
D変換器、5:微分比較回路、6A:凸部識別回
路、6B:凹部識別回路、7A:凸部用ゲート設
定回路、7B:凹部用ゲート設定回路、8A:凸
部抽出判定回路、8B:凹部抽出判定回路、9:
段差識別回路。
図は第1図の要部の詳細ブロツク図、第3図ない
し第13図は第2図の装置の要部における出力信
号のグラフである。 1:タイヤ、2:光学式変位検出器、4:A/
D変換器、5:微分比較回路、6A:凸部識別回
路、6B:凹部識別回路、7A:凸部用ゲート設
定回路、7B:凹部用ゲート設定回路、8A:凸
部抽出判定回路、8B:凹部抽出判定回路、9:
段差識別回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 所定圧力の空気が充填されたタイヤをタイヤ
中心軸の回りに一定の速度で回転させるタイヤ回
転装置と、上記タイヤの側壁に光線を投射し、そ
の反射光を受光して側壁からの距離を連続的に検
出し、電圧の強弱に変換する光学式変位検出器
と、この光学式変位検出器の出力信号を微小時間
間隔のデジタル信号に変換するA/D変換器と、
このA/D変換器の出力信号を微分し微係数が正
の微係数設定値以上の部分、負の微係数設定値以
下の部分およびこれらの中間部分に3区分する微
分比較回路と、上記正の微係数設定値以上の部分
および負の微係数設定値以下の部分の間に挟まれ
た中間部分の時間軸長すなわち切返し幅をあらか
じめ設定されている切返し幅設定値と比較して上
記切返し幅が切返し幅設定値以下の凸部および凹
部を取出す識別回路と、これらの切返し幅が設定
値以下の凸部および凹部についてそのピーク部分
の時間軸座標を算出し、この時間軸座標を中心と
してその前後に設けた所定の判定幅を超えない範
囲で正の微係数設定値以上の部分の開始時から負
の微係数設定値以下の部分の終流時までを凸部の
幅とする凸部用ゲート設定回路および上記の判定
幅を超えない範囲で負の微係数設定値以下の部分
の開始時から正の微係数設定値以上の部分の終了
時までを凹部の幅とする凹部用ゲート設定回路
と、上記A/D変換器の出力から上記判定幅内の
変位信号を取出し、凸部および凹部のそれぞれの
前後両端からそのピークまでの高さを平均し、タ
イヤ1周分の上記高さの最大値を許容値と比較し
て欠陥を判定する凸部抽出判定回路および凹部抽
出判定回路とからなるタイヤ側壁の凹凸検査装
置。 2 所定圧力の空気が充填されたタイヤをタイヤ
中心軸の回りに一定の速度で回転させるタイヤ回
転装置と、上記タイヤの側壁に光線を投射し、そ
の反射光を受光して側壁からの距離を連続的に検
出し、電圧の強弱に変換する光学式変位検出器
と、この光学式変位検出器の出力信号を微小時間
間隔のデジタル信号に変換するA/D変換器と、
このA/D変換器の出力信号を微分し微係数が正
の微係数設定値以上の部分、負の微係数設定値以
下の部分およびこれらの中間部分に3区分する微
分比較回路と、上記の正の微係数設定値以上の部
分および負の微係数設定以下の部分の間に挟まれ
た中間部分の時間軸長すなわち切返し幅をあらか
じめ設定されている切返し幅設定値と比較して上
記切返し幅が切返し幅設定値以下の凸部および凹
部を取出す識別回路と、これらの切返し幅が設定
値以下の凸部および凹部についてそのピーク部分
の時間軸座標を算出し、この時間軸座標を中心と
してその前後に設けた所定の判定幅を超えない範
囲で正の微係数設定値以上の部分の開始時から負
の微係数設定値以下の部分の終了時までを凸部の
幅とする凸部用ゲート設定回路および上記の判定
幅を超えない範囲で負の微係数設定値以下の部分
の開始時から正の微係数設定値以上の部分の終了
時までを凹部の幅とする凹部分ゲート設定回路
と、上記A/D変換器の出力から上記判定幅内の
変位信号を取出し、凸部および凹部のそれぞれの
前後両端からそのピーク部分までの高さを平均
し、タイヤ1周分の上記高さの最大値を許容値と
比較して欠陥を判定する凸部抽出判定回路および
凹部抽出判定回路と、上記A/D変換器の出力信
号からその微係数の絶対値が所定の段差微分設定
値以上の範囲の波形を取出し、この波形の高さを
あらかじめ設定されている段差設定値と比較して
段差を判定する段差判定回路とからなるタイヤ側
壁の凹凸検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22923586A JPS6382347A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | タイヤ側壁の凹凸検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22923586A JPS6382347A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | タイヤ側壁の凹凸検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6382347A JPS6382347A (ja) | 1988-04-13 |
JPH0543242B2 true JPH0543242B2 (ja) | 1993-07-01 |
Family
ID=16888944
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22923586A Granted JPS6382347A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | タイヤ側壁の凹凸検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6382347A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010117279A (ja) * | 2008-11-13 | 2010-05-27 | Jfe Steel Corp | スラブの表面欠陥検出方法およびスラブ表面欠陥検出装置 |
JP2010117281A (ja) * | 2008-11-13 | 2010-05-27 | Jfe Steel Corp | スラブの表面欠陥検出方法およびスラブ表面欠陥検出装置 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5345211A (en) * | 1992-07-20 | 1994-09-06 | Yazaki Corporation | Connection box for fusible links and terminal nut |
JP2009047517A (ja) * | 2007-08-17 | 2009-03-05 | Kokusai Gijutsu Kaihatsu Co Ltd | 検査装置 |
JP6214956B2 (ja) * | 2013-07-29 | 2017-10-18 | 日置電機株式会社 | 極点検索装置および極点検索方法 |
-
1986
- 1986-09-26 JP JP22923586A patent/JPS6382347A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010117279A (ja) * | 2008-11-13 | 2010-05-27 | Jfe Steel Corp | スラブの表面欠陥検出方法およびスラブ表面欠陥検出装置 |
JP2010117281A (ja) * | 2008-11-13 | 2010-05-27 | Jfe Steel Corp | スラブの表面欠陥検出方法およびスラブ表面欠陥検出装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6382347A (ja) | 1988-04-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH04252940A (ja) | 物体端部の欠陥検査方法及びその装置 | |
US4910411A (en) | Apparatus for inspecting a side wall of a tire | |
JPH02285475A (ja) | エッジとラインとの抽出方法とその装置 | |
EP2985566B1 (en) | Data generation method and data generation apparatus | |
JPH0626970A (ja) | ホイール・バランサのホイール・パラメータを検出する方法及び装置 | |
JPH0242306A (ja) | タイヤのサイドウォールの検査装置 | |
JPH0543242B2 (ja) | ||
JPH0577243B2 (ja) | ||
KR101659675B1 (ko) | 표면 형상 측정 방법 및 표면 형상 측정 장치 | |
JP3890800B2 (ja) | 半田付け状態の検査方法 | |
JP3260888B2 (ja) | 視程測定方法、降雨降雪の判別方法、降雨降雪強度の測定方法及び装置 | |
US5881167A (en) | Method for position recognition | |
JPH0545127A (ja) | 帯状部材の位置、形状測定方法および装置 | |
JPH02309204A (ja) | 被測定対象物の段差検出装置 | |
JP2778402B2 (ja) | ロール摩耗部の検出方法 | |
JPH0989524A (ja) | 溶接開先・ビードの中心位置検出方法及び装置 | |
JPH03186705A (ja) | 3次元形状寸法計測装置 | |
JPS6213618B2 (ja) | ||
JPH0774730B2 (ja) | 半田付け部品の外観検査方法 | |
JPS62151704A (ja) | タイヤの形状検査方法 | |
JPH02141603A (ja) | 幅及び段差検出方法 | |
JPS6089734A (ja) | 表面欠陥検査方法 | |
JP4348859B2 (ja) | 部品の円特徴の精密三次元位置姿勢検出装置 | |
JP2591694B2 (ja) | 線幅連続測定方法 | |
JP2001108431A (ja) | 表面性状測定機における凹凸部抽出方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |