JPH0542762B2 - - Google Patents

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JPH0542762B2
JPH0542762B2 JP61010914A JP1091486A JPH0542762B2 JP H0542762 B2 JPH0542762 B2 JP H0542762B2 JP 61010914 A JP61010914 A JP 61010914A JP 1091486 A JP1091486 A JP 1091486A JP H0542762 B2 JPH0542762 B2 JP H0542762B2
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JP
Japan
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temperature
porcelain
dielectric
low
load
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Kazunobu Matsumoto
Takehiro Hiuga
Hiroshi Ichimura
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Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
  • Inorganic Insulating Materials (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

〔産業上の利用分野〕 本発明は誘電体磁器に関し、特に無負荷Qが高
い、低損失の高周波用として好適である誘電体磁
器に関する。 〔従来の技術〕 一般に、マイクロ波やミリ波などの高周波領域
の信号回路に使用される共振器の材料として用い
られる誘電体磁器には、比誘電率が大きく、共振
周波数の温度係数が小さいこととともに、高い無
負荷Qを有することが望まれる。ところで、近
年、通信に使用される周波数の高周波化がとみに
進み、SHF帯を用いた衛星放送も実用化の段階
に入りつつあるため一層高い無負荷Qを有する低
損失誘電体磁器の開発が強く求められている。 従来、高周波用の低損失誘電体磁器として用い
られているものの無負荷Qは3000〜7000程度であ
り、ようやく近年になつて10000以上のものが製
造されるようになつたが、今後通信の高周波化が
さらに進むことが予想され、無負荷Qがさらに高
い極めて低損失の共振器材料が求められている。
現在、このような非常に高い無負荷Qを有する低
損失誘電体磁器としては、Al2O3で30000(9GHz)、
MgTiO3で22000(5GHz)というものが知られて
いる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかし、これらの高い無負荷Qを有する材料
は、いずれも比誘電率がそれぞれ9.8および17と
低く、かつ、共振周波数の温度係数が−55ppm/
℃および−45ppm/℃と悪く、実用に供し難い欠
点がある。 そこで、本発明の目的は、18000以上の非常に
高い無負荷Qとともに、大きい比誘電率および良
好な共振周波数の温度係数を兼ね備え、高周波用
として好適である低損失の誘電体磁器を提供する
ことにある。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、かかる誘電体磁器として、組成一般
式: xBaO・yMgO・zTa2O5 ……() 〔ただし、0.5≦x≦0.7、0.15≦y≦0.25、0.15≦
z≦0.25で、x+y+z=1〕で表わされ、焼結
密度が理論密度の90%以上で、複合ペロブスカイ
ト構造としての規則度が0.8以上である誘電体磁
器を提供するものである。 前記の組成を表わす一般式()において、
x、y、zのいずれか1つでも前記の範囲内にな
い場合には、得られる磁器は緻密でなく、機械的
強度が低く、かつ比誘電率も無負荷Qも小さいも
のとなる。x、yおよびzは、好ましくは、それ
ぞれ0.56≦x≦0.64、0.18≦y≦0.22および0.18≦
z≦0.22の範囲である。 本明細書において、複合ペロブスカイト構造と
しての規則度とは次に説明する意義を有するもの
である。嵌合ペロブスカイト型酸化物(A(B1 1/3
B2 2/3)O3)は、六方晶となる場合には、Bサイ
トイオン、即ち前記式におけるB1およびB2がB1
−B2−B2の順に3層を一周期として広い範囲に
わたつて繰返す周期的配列(長周期配列)をとる
ことが知られている。本明細書における前記規則
度とは、製造した磁器が複合ペロブスカイトとし
てこのような長周期配列の規則性をどの程度有し
ているかを表わすもので、次式Sにより定義され
る。 ここで100は長周期配列に基づく超格子の1
00面のX線回折線の強度、I110102は、110
面及び102面回折線の最強ピークの強度であ
る。また、分子は実際の観測値、分母は、Bサイ
トイオンが完全に規則化したと仮定したときの六
方晶の原子座標を用いて強度計算した値で
(I100/I110102)calc.=0.083である。 製造された磁器中に複合ペロブスカイト型の規
則的な長周期配列の構造が存在するとこれに基づ
く超格子のX線回折線(I100)が観測され、その
規制性が完全であるとS=1となり、逆に完全に
無秩序であるとS=0となる。 本発明の誘電体磁器においては、この複合ペロ
ブスカイト構造としての規則度が、0.8以上であ
ることが必要であり、好ましくは0.9以上である。
この規則度が0.8未満であると、たとえ緻密な機
器であつても無負荷Qは向上しない。 なお、本発明の磁器は、実質的には完全にペロ
ブスカイト型の相からなるが、微量の他の相が生
成することもある。しかし、磁器の特性上は何ら
問題はない。 また、本発明の誘電体磁器は焼結密度が理論密
度の90%以上であり、好ましくは95%以上であ
る。焼結密度が理論密度の90%未満であると、無
負荷Qの向上は望めず、比誘電率も低くかつ機械
的強度も低いため実用に供し難い。 本発明の誘電体磁器の製造は、例えば、前記一
般式()で表わされる所要組成を有する加圧成
形物を、1500℃以上の温度まで100〜1600℃/分
の昇温速度で加熱し、1500℃以上の温度に1分間
以上保持し、次いで1200℃以上の温度に3時間以
上保持することにより行なうことができる。 この製法に用いられる加圧成形物は、定法にし
たがつて、所要組成のBaO−MgO−Ta2O5磁器
が得られるような割合で、例えば、炭酸バリウ
ム、酸化マグネシウムおよび五酸化二タンタルを
配合し、仮焼によりすべて酸化物に転化したもの
を加圧成形したものである。加圧成形方法には特
に制限はないが、等方圧加圧による方法が好まし
い。また、加圧成形の圧力は特に限定はしないが
1000Kg/cm2以上が好ましい。 前記昇温過程における昇温速度は、100°〜1600
℃/分、好ましくは200〜1600℃/分であること
が必要である。昇温速度が100℃/分未満では、
焼結が不十分であるために得られる磁器の無負荷
Qが低く、比誘電率も低く、かつ機械的強度も低
いため実用に供し難い。また1600℃/分を超える
と磁器が割れてしまう。 この急速昇温は種々の方法により実施すること
ができる。例えば、縦型炉の加熱された炉芯管内
へ耐熱衝撃性を有する白金製支持体(例、カゴ)
を用いて上方から加圧成形物を吊り下げ降ろす方
法、同じく炉芯管内へ白金製支持台に載せて下方
から押し上げ入れる方法、赤外線もしくはキセノ
ンランプもしくは太陽光線などを用いたイメージ
炉により急速加熱する方法等で挙げることができ
る。中でも、最初に挙げた、加熱された炉芯管内
へ吊り下げ降ろす方法が簡単で好適な方法であ
る。 また、この方法における第1段目の加熱処理温
度は1500℃以上、好ましくは1550〜1650℃の間で
なければならない。この温度が1500℃未満である
と焼結が不十分であるため、得られる磁器の機械
的強度が低く、無負荷Qも低い。なお焼成温度が
1700℃を超えると、磁器の保持容器が高温安定性
が高いために焼成工程によく使用される白金製容
器である場合には、磁器が該容器と反応して得ら
れる磁器の特性が低下することがある。この第1
段目の加熱処理には、成形物を1分間以上保持す
ることが必要であり、より具体的には、例えば、
温度が1500℃では4時間以上、1650℃では3分間
以上、1700℃では1分間以上保持するのが適切で
ある。この段階における加熱処理時間が短か過ぎ
ると、焼結が不十分となり、磁器の誘電特性と機
械的強度が劣る。この加熱処理は、窒素、アルゴ
ン等の不活性雰囲気、酸素、空気等の酸化製雰囲
気中において行なう。 次に、第2段目の加熱処理は、1200℃以上、好
ましくは、1300〜1650℃の温度において3時間以
上行なう必要がある。温度が1200℃未満である
と、規則度が不十分となり、無負荷Qの高い誘電
体磁器が得難い。 なお、温度が1700℃を超えると保持容器が白金
製の場合には前述のような問題がある。加熱時間
は、より具体的には、例えば温度が1200℃では
200時間以上、1500℃では12時間以上、1650℃で
は3時間以上であることが適切である。この加熱
時間が短か過ぎると、規則度が不十分となり、無
負荷Qの高い誘電体磁器が得難い。この2段目の
加熱処理は、酸素、空気、アルゴン、窒素などの
雰囲気中で行ない、特に酸素中が好ましい。 なお、上記の製法を実施する際には、全工程を
通じ、被処理体である加圧成形物を耐火性粉末で
包むことが好ましく、それにより得られる個々の
磁器の各部分の焼成度も、各製品間の焼成度も均
一性の高いものが得られ、誘電体特性等のバラツ
キが小さくなり、製品の歩留りも向上する。用い
ることができる耐火性粉末としては、前記組成の
加圧成形物と焼成温度において反応しないもので
あればいずれの粉末も採用することができる。こ
のような反応しない耐火性粉末としては、例えば
アルミナ、ジルコニア、マグネシア、ハフニア、
イツトリア等のセラミツク粉末を挙げることがで
きる。これらの耐火性粉末の粒度は特に限定され
ないが、好ましくは約10μm〜1mm程度の平均粒
径を有するものが使用される。 〔実施例〕 次に、本発明を実施例により具体的に説明す
る。 原料として、それぞれ純度99.9重量%である炭
酸バリウム、酸化マグネシウムおよび五酸化二タ
ンタルの粉末を使用し、まずこれら3種の物質を
所定の割合で混合した。すなわち、一般式()
におけるx、yおよびzがそれぞれ第1表に示す
数値になるように秤取し、純粋とともにポリエチ
レン製ポツトに入れ、表面を樹脂コートしたポー
ルを用いて、16時間湿式混合した。この混合物を
ポツトより取り出し、150℃で5時間乾燥した後、
700Kg/cm2の圧力で加圧成形して塊とし、混合物
中の炭酸塩を酸化物とするために、白金板上で空
気中900〜1300℃で2時間仮焼した。仮焼後アル
ミナ乳鉢で塊を粉砕し、42メツシユのふるいを通
して粒度を揃えた。得られた粉末を圧力500Kg/
cm2で直径10mm、厚さ約5mmの円板状に一次成形し
た後、圧力2000Kg/cm2の等方圧で圧縮し成形物と
した。この成形物を白金製ボート中で得マグネシ
ア粉末で包み焼成に供した。 第1段目の加熱処理は、空気中での昇温速度
100℃〜1600℃/分の範囲内で焼成温度まで加熱
し、焼成温度を1500〜1700℃の範囲内として該温
度における保持時間を3分〜12時間の範囲内で行
なつた。次に第2段目の加熱処理を、1200〜1650
℃の温度で酸素、空気、窒素、またはアルゴン雰
囲気にて行なつた。得られた磁器の比誘電率
(Er)および無負荷Q(Qu)を誘電体円柱共振器
法により11GHz付近の周波数において測定した。 また、ペロブスカイト構造酸化物の超格子回折
線強度の測定は、磁器を粉砕して試料とし、銅タ
ーゲツトを用い、30kV−15mAでステツプスキ
ヤンにより積分強度を求めて行なつた。 第1表に示すように、規則度Sが0.8を超える
場合は、無負荷Qは18000以上となり、11GHzで
最高30600、9GHzでは36000まで達している。こ
れは、未だかつて例をみない値である。規則度S
が0.8を超えない場合は、無負荷Qはこのような
高い値にはならない。比較例の実験No.16、17およ
び18は、焼結が不充分で相対密度が90%以下と低
いために誘電特性が悪い場合であり、比較例の実
験No.19〜24は、相対密度が95%程度以上の緻密な
磁器となつているのにもかかわらず、規則度が
0.8を下まわつているために無負荷Qが高くない
場合である。 実施例の実験No.1〜15は規則度が0.8以上であ
るため、無負荷Qが非常に高くなることを示して
いる。また、これらは十分に緻密な磁器であるか
ら機械的強度も十分に高く、かつ共振周波数の温
度係数が第2表に示すように4ppm/℃と小さい
ため、温度変化に対して安定で、共振器材料とし
て良好な特性を有し実用性が極めて高いことがわ
かる。 なお、実施例の実験No.6で得られた磁器を粉砕
してX線回折に供したところ、第1図aに示す回
折図が得られた。長周期配列による超格子回折線
(*)が観測された(図中、指数付けは六方晶で
行なつたものである)。一方、実施例の実験No.6
において、第2段目の加熱処理(1450℃×100時
間)を行なわない以外は同様に処理して得た磁器
を粉砕して試料としてX線回折に供したところ第
1図bに示す回折図で得られた。この回折図は立
方晶を示しており、超格子回折線はほとんどみら
れない。
[Industrial Field of Application] The present invention relates to dielectric ceramics, and particularly to dielectric ceramics that have a high no-load Q and are suitable for low-loss high-frequency applications. [Prior Art] Generally, dielectric ceramics used as materials for resonators used in signal circuits in high frequency ranges such as microwaves and millimeter waves have a large relative dielectric constant and a small temperature coefficient of the resonant frequency. At the same time, it is desirable to have a high no-load Q. By the way, in recent years, the frequencies used for communication have been rapidly increasing, and satellite broadcasting using the SHF band is entering the stage of practical use, so there is a strong demand for the development of low-loss dielectric ceramics with even higher no-load Q. It has been demanded. Conventionally, the unloaded Q of the materials used as low-loss dielectric porcelain for high frequency applications is around 3,000 to 7,000, and only in recent years have more than 10,000 products been manufactured. It is expected that this trend will further advance, and there is a need for extremely low loss resonator materials with even higher no-load Q.
Currently, low-loss dielectric porcelain with such a very high no-load Q is 30,000 (9 GHz) for Al 2 O 3 ,
22000 (5GHz) is known for MgTiO 3 . [Problems to be solved by the invention] However, these materials with high unloaded Q have low dielectric constants of 9.8 and 17, respectively, and temperature coefficients of resonant frequencies of −55 ppm/
℃ and -45 ppm/℃, which is a drawback that makes it difficult to put it into practical use. Therefore, an object of the present invention is to provide a low-loss dielectric ceramic suitable for high frequency use, which has a very high no-load Q of 18,000 or more, a large relative dielectric constant, and a good temperature coefficient of resonance frequency. It is in. [Means for Solving the Problems] The present invention provides such dielectric ceramics having the general composition formula: xBaO・yMgO・zTa 2 O 5 ... () [However, 0.5≦x≦0.7, 0.15≦y≦0.25 , 0.15≦
z≦0.25, x+y+z=1], the sintered density is 90% or more of the theoretical density, and the degree of order as a composite perovskite structure is 0.8 or more. In the general formula () representing the above composition,
If any one of x, y, and z is not within the above range, the resulting porcelain will not be dense, have low mechanical strength, and will have a low dielectric constant and low unloaded Q. x, y and z are preferably 0.56≦x≦0.64, 0.18≦y≦0.22 and 0.18≦, respectively
The range is z≦0.22. In this specification, the regularity of a composite perovskite structure has the following meaning. Mating perovskite oxide (A(B 1 1/3
B 2 2/3 ) O 3 ) is a hexagonal crystal, the B site ion, that is, B 1 and B 2 in the above formula are B 1
It is known to take a periodic arrangement (long period arrangement) in which three layers are repeated over a wide range in the order -B 2 -B 2 as one period. In this specification, the degree of regularity refers to the degree to which the manufactured porcelain has such long-period arrangement regularity as a composite perovskite, and is defined by the following formula S. Here, 100 is 1 of the superlattice based on the long-period array.
The intensity of the X-ray diffraction line of the 00 plane, I 110 , 102 , is 110
This is the intensity of the strongest peak of the plane and 102 plane diffraction lines. Also, the numerator is the actual observed value, and the denominator is the intensity calculated using the hexagonal atomic coordinates assuming that the B site ion is completely ordered (I 100 /I 110 , 102 ) calc. =0.083. When a complex perovskite-type regular long-period array structure exists in manufactured porcelain, a superlattice X-ray diffraction line (I 100 ) based on this is observed, and if the regulation is perfect, S = 1. On the other hand, if it is completely disordered, S=0. In the dielectric ceramic of the present invention, the regularity of the composite perovskite structure is required to be 0.8 or more, preferably 0.9 or more.
If this degree of regularity is less than 0.8, no-load Q will not improve even if the device is dense. Although the porcelain of the present invention is substantially entirely composed of perovskite-type phases, trace amounts of other phases may be produced. However, there is no problem with the characteristics of porcelain. Further, the dielectric ceramic of the present invention has a sintered density of 90% or more of the theoretical density, preferably 95% or more. If the sintered density is less than 90% of the theoretical density, no improvement in the no-load Q can be expected, and the dielectric constant and mechanical strength are low, making it difficult to put it into practical use. The dielectric ceramic of the present invention can be produced by, for example, heating a press-molded product having the required composition represented by the above general formula () to a temperature of 1500°C or higher at a heating rate of 100 to 1600°C/min. This can be carried out by holding at a temperature of 1500°C or higher for 1 minute or more, and then holding at a temperature of 1200°C or higher for 3 hours or more. The press-molded product used in this manufacturing method is prepared by adding, for example, barium carbonate, magnesium oxide, and ditantalum pentoxide in proportions such that BaO-MgO-Ta 2 O 5 porcelain of the required composition is obtained according to a standard method. It is a product that is blended, completely converted to oxide through calcination, and then pressure molded. Although there are no particular limitations on the pressure molding method, a method using isostatic pressure is preferred. In addition, the pressure for pressure molding is not particularly limited, but
1000Kg/cm 2 or more is preferable. The temperature increase rate in the temperature increase process is 100° to 1600°
C/min, preferably 200 to 1600 C/min. If the heating rate is less than 100℃/min,
Due to insufficient sintering, the resulting porcelain has a low no-load Q, a low dielectric constant, and a low mechanical strength, making it difficult to put it into practical use. Also, if the temperature exceeds 1600℃/min, the porcelain will crack. This rapid temperature increase can be carried out by various methods. For example, a platinum support (e.g. cage) with thermal shock resistance is placed inside the heated furnace core tube of a vertical furnace.
A method of suspending and lowering the press-formed product from above using a furnace, a method of pushing it into the furnace core tube from below by placing it on a platinum support, and a method of rapidly heating it with an image furnace using infrared rays, xenon lamps, or sunlight. This can be mentioned in terms of methods, etc. Among these, the method mentioned first, in which it is suspended into a heated furnace core tube, is simple and suitable. Further, the temperature of the first heat treatment in this method must be 1500°C or higher, preferably between 1550 and 1650°C. If this temperature is less than 1500°C, sintering will be insufficient, so the mechanical strength of the resulting porcelain will be low and the no-load Q will also be low. Note that the firing temperature is
If the temperature exceeds 1700°C, if the porcelain holding container is a platinum container often used in the firing process due to its high temperature stability, the porcelain will react with the container and the properties of the resulting porcelain will deteriorate. Sometimes. This first
For the heat treatment in the third stage, it is necessary to hold the molded product for 1 minute or more, and more specifically, for example,
It is appropriate to hold the temperature at 1500°C for at least 4 hours, at 1650°C for at least 3 minutes, and at 1700°C for at least 1 minute. If the heat treatment time at this stage is too short, sintering will be insufficient and the dielectric properties and mechanical strength of the porcelain will be poor. This heat treatment is performed in an inert atmosphere such as nitrogen or argon, or an oxidizing atmosphere such as oxygen or air. Next, the second stage heat treatment needs to be carried out at a temperature of 1200°C or higher, preferably 1300 to 1650°C for 3 hours or more. If the temperature is less than 1200°C, the degree of regularity will be insufficient and it will be difficult to obtain dielectric porcelain with a high no-load Q. Note that when the temperature exceeds 1700° C., the above-mentioned problem occurs when the holding container is made of platinum. More specifically, the heating time is, for example, when the temperature is 1200℃
Appropriately, the heating time is 200 hours or more, 12 hours or more at 1500°C, and 3 hours or more at 1650°C. If this heating time is too short, the regularity will be insufficient and it will be difficult to obtain a dielectric ceramic with a high no-load Q. This second stage heat treatment is performed in an atmosphere of oxygen, air, argon, nitrogen, etc., and oxygen is particularly preferred. In addition, when carrying out the above manufacturing method, it is preferable to wrap the press-molded object, which is the object to be treated, in refractory powder throughout the entire process, and the degree of firing of each part of the individual porcelain obtained thereby also depends on the A highly uniform degree of firing can be obtained between each product, and variations in dielectric properties, etc., can be reduced, and the yield of products can also be improved. As the refractory powder that can be used, any powder can be used as long as it does not react with the press-molded product having the above composition at the firing temperature. Examples of such non-reactive refractory powder include alumina, zirconia, magnesia, hafnia,
Ceramic powders such as Ittria can be mentioned. The particle size of these refractory powders is not particularly limited, but those having an average particle size of approximately 10 μm to 1 mm are preferably used. [Example] Next, the present invention will be specifically explained with reference to Examples. Powders of barium carbonate, magnesium oxide, and ditantalum pentoxide, each having a purity of 99.9% by weight, were used as raw materials, and these three substances were first mixed at a predetermined ratio. That is, the general formula ()
The samples were weighed so that x, y, and z were the values shown in Table 1, and placed in a polyethylene pot along with the pure sample, and wet mixed for 16 hours using a pole whose surface was coated with resin. After taking out this mixture from the pot and drying it at 150℃ for 5 hours,
The mixture was pressure-molded into a lump at a pressure of 700 kg/cm 2 , and calcined on a platinum plate in air at 900 to 1300° C. for 2 hours in order to convert the carbonate in the mixture into an oxide. After calcining, the mass was crushed in an alumina mortar and passed through a 42-mesh sieve to make the particle size uniform. The obtained powder was heated to a pressure of 500 kg/
After primary molding into a disc shape with a diameter of 10 mm and a thickness of about 5 mm, the material was compressed under isostatic pressure of 2000 kg/cm 2 to obtain a molded product. This molded product was wrapped in obtained magnesia powder in a platinum boat and subjected to firing. The first stage of heat treatment is the temperature increase rate in air.
The material was heated to a firing temperature within a range of 100°C to 1600°C/min, and the firing temperature was set within a range of 1500°C to 1700°C, and the holding time at this temperature was within a range of 3 minutes to 12 hours. Next, the second stage heat treatment is performed at 1200 to 1650
The experiments were carried out in an oxygen, air, nitrogen, or argon atmosphere at a temperature of .degree. The relative dielectric constant (Er) and unloaded Q (Qu) of the obtained ceramic were measured at a frequency around 11 GHz using the dielectric cylindrical resonator method. In addition, the superlattice diffraction line intensity of the perovskite structure oxide was measured by using a crushed porcelain sample, using a copper target, and determining the integrated intensity by step scan at 30 kV and 15 mA. As shown in Table 1, when the degree of regularity S exceeds 0.8, the no-load Q becomes 18,000 or more, reaching a maximum of 30,600 at 11 GHz and 36,000 at 9 GHz. This is an unprecedented value. Regularity S
If does not exceed 0.8, the unloaded Q will not reach such a high value. Comparative Example Experiments No. 16, 17, and 18 are cases in which dielectric properties are poor due to insufficient sintering and a low relative density of 90% or less, and Comparative Example Experiments No. 19 to 24 are cases in which the relative density is low due to insufficient sintering. Although the porcelain has a fineness of over 95%, the degree of regularity is still low.
This is a case where the no-load Q is not high because it is less than 0.8. Experiment Nos. 1 to 15 of the example have a regularity of 0.8 or more, which indicates that the no-load Q is extremely high. In addition, since these are sufficiently dense porcelains, their mechanical strength is sufficiently high, and the temperature coefficient of the resonant frequency is as small as 4 ppm/℃ as shown in Table 2, so they are stable against temperature changes and do not resonate. It can be seen that it has good properties as a container material and is extremely practical. When the porcelain obtained in Experiment No. 6 of the Examples was crushed and subjected to X-ray diffraction, the diffraction pattern shown in FIG. 1a was obtained. Superlattice diffraction lines (*) due to long-period alignment were observed (in the figure, indexing is done using hexagonal crystals). On the other hand, Example Experiment No. 6
When the porcelain obtained by the same treatment except that the second heat treatment (1450°C x 100 hours) was not performed was crushed and subjected to X-ray diffraction as a sample, the diffraction pattern shown in Figure 1b was obtained. Obtained with. This diffraction diagram shows a cubic crystal, with almost no superlattice diffraction lines seen.

【表】【table】

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明の誘電体磁器は、無負荷Q、比誘電率が
大きく、かつ共振周波数の温度係数が小さい低損
失のものであり、高周波用としての要求特性を兼
ね備えたものである。特に、無負荷Qは18000以
上と非常に大きく、35000を超えるものも製造可
能であり、今後の通信における高周波化に十分に
対応できる優れた誘電体磁器である。
The dielectric ceramic of the present invention has a high no-load Q, a large dielectric constant, and a low loss with a small temperature coefficient of resonance frequency, and has the characteristics required for high frequency use. In particular, it has a very high no-load Q of over 18,000, and it is possible to manufacture products with Q over 35,000, making it an excellent dielectric porcelain that can fully support future high-frequency communications.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図のaは本発明の実施例である誘電体磁器
のX線回折図であり、第1図のbは比較例のX線
回折図である。
1A is an X-ray diffraction diagram of a dielectric ceramic according to an example of the present invention, and FIG. 1B is an X-ray diffraction diagram of a comparative example.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 組成が一般式:xBaO・yMgO・zTa2O5〔た
だし、0.5≦x≦0.7、0.15≦y≦0.25、0.15≦z≦
0.25で、x+y+z=1〕で表わされ、焼結密度
が理論密度の90%以上で、複合ペロブスカイト構
造としての規則度が0.8以上である誘電体磁器。 2 一般式:xBaO・yMgO・zTa2O5〔ただし、
0.5≦x≦0.7、0.15≦y≦0.25、0.15≦z≦0.25
で、x+y+z=1〕で表わされる組成を有する
加圧成形物を、1500℃以上の温度まで100〜1600
℃/分の昇温速度で加熱し、1500℃以上の温度に
1分間以上保持し、次いで1200℃以上の温度に3
時間以上保持することからなる誘電体磁器の製
法。
[Claims] 1 Composition is general formula: xBaO・yMgO・zTa 2 O 5 [However, 0.5≦x≦0.7, 0.15≦y≦0.25, 0.15≦z≦
0.25, x+y+z=1], the sintered density is 90% or more of the theoretical density, and the degree of order as a composite perovskite structure is 0.8 or more. 2 General formula: xBaO・yMgO・zTa 2 O 5 [However,
0.5≦x≦0.7, 0.15≦y≦0.25, 0.15≦z≦0.25
x + y + z = 1] is heated to a temperature of 1500℃ or higher for 100 to 1600℃.
Heating at a temperature increase rate of 1500°C or more for 1 minute or more, then heating at a temperature of 1200°C or more for 3 minutes.
A method of manufacturing dielectric porcelain that consists of holding it for more than an hour.
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0625024B2 (en) * 1988-11-16 1994-04-06 住友金属鉱山株式会社 Method for manufacturing dielectric porcelain
CA2010558C (en) * 1989-02-23 1994-04-05 Masaaki Sugiyama Dielectric ceramic material and method of producing same
JPH0732323B2 (en) * 1989-05-30 1995-04-10 住友金属鉱山株式会社 Resonator with adjustable temperature coefficient of resonance frequency
JPH0625025B2 (en) * 1989-05-30 1994-04-06 住友金属鉱山株式会社 Method for manufacturing dielectric porcelain
US5246898A (en) * 1990-04-19 1993-09-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Dielectric ceramics
JP6565377B2 (en) * 2015-06-29 2019-08-28 Tdk株式会社 Dielectric composition and electronic component
JP6455343B2 (en) * 2015-06-29 2019-01-23 Tdk株式会社 Dielectric composition and electronic component
JP7172791B2 (en) * 2019-03-26 2022-11-16 Tdk株式会社 Dielectric films and electronic components

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