JPH0541191A - 環状x線管 - Google Patents

環状x線管

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JPH0541191A
JPH0541191A JP21580591A JP21580591A JPH0541191A JP H0541191 A JPH0541191 A JP H0541191A JP 21580591 A JP21580591 A JP 21580591A JP 21580591 A JP21580591 A JP 21580591A JP H0541191 A JPH0541191 A JP H0541191A
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JP
Japan
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target
electron beam
gap
ray
base material
Prior art date
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Application number
JP21580591A
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English (en)
Inventor
Yutaro Kimura
雄太郎 木村
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Publication of JPH0541191A publication Critical patent/JPH0541191A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 環状X線管において、X線発生量の変動を抑
制するとともに、母材に対する電子ビームの直撃を防止
する。 【構成】 各ターゲット片12の隙間Gの長手方向hが電
子ビームの走査方向と略直交する方向nに対して傾斜す
るように各ターゲット片12を配する。電子ビームの断面
積に対する隙間Gの面積の割合が減少し、電子ビームの
断面積に応じたX線発生量の変動が抑制される。そし
て、各ターゲット片12の厚み方向も陽極ターゲット10に
対する垂直方向に対して傾斜した姿勢に構成して、隙間
Gから入射する電子ビームを遮蔽する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、X線CT装置に用い
られる環状X線管に係り、特に、X線管の陰極部から発
射された電子ビームをX線に変換する陽極部のターゲッ
ト構造に関する。この発明の環状X線管としては、例え
ば、陰極部を回転させて電子ビームをターゲットの全周
に照射する回転陰極X線管や、偏向コイルを用いて電子
ビームをターゲットの全周に照射する環状X線管などが
ある。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の環状X線管のターゲット
構造の一例を図8の正面図に示す。ターゲット1は被検
体Mの周囲を取り囲むような、直径が約1m程度のドー
ナツ型に形成されており、紙面に向かって垂直方向から
照射される電子ビームをX線に変換する。図中、符号S
はターゲット1上における電子ビームの衝突点、すなわ
ち、電子ビームの断面形状を示している。以下では、こ
の符号Sを電子ビームの呼称とする。また、符号Bは前
記衝突点から発生したX線を図示しない絞り機構などで
扇状に整形したX線ビームを示している。電子ビームS
を図中の矢印で示すように、ターゲット1の周方向に沿
って走査していけば、被検体Mの全周方向からX線ビー
ムBが曝射される。そして、被検体Mを透過したX線ビ
ームBを図示しないX線検出器で検出し、画像構成する
ことで被検体Mの断層像が得られるようになっている。
【0003】図9にターゲット1の一部を拡大した正面
図を、図10にそのa−a矢視断面図を示す。これらの図
と、先の図8から判るように、ターゲット1は環状の母
材2に複数個のターゲット片3を取り付けて構成され
る。ターゲット片3はX線を発生する高融点材料(例え
ば、タングステン・レニウム合金など)で形成され、母
材2は銅やアルミニュウムなどの材質で形成されてい
る。これは、ターゲット1全体を前記の高融点材料で形
成するとコスト高になってしまうからで、電子ビームS
が照射される表面部分だけを高融点材料で形成する構成
としている。この場合、母材2と同じ環状に高融点材料
を成形し、これを母材2に取り付けてターゲット1を構
成すればよいのであるが、その成形が非常に難しいた
め、通常は複数個のターゲット片3に分割し、これらを
母材2に取り付けている。
【0004】複数個のターゲット片3を母材に取り付け
るにあたっては、図10に示すように、互いに隣接するタ
ーゲット片3を若干の隙間Gを隔てて取り付けている。
これは、ターゲット片3の加工誤差を考慮して組み立て
を容易にするためと、各ターゲット片3の熱膨張の対策
を兼ねてのことである。周知のとおり、ターゲット1に
衝突する電子ビームSの殆どは熱となって消費され、X
線に変換されるのはわずか1%以下である。電子ビーム
Sの衝突点での瞬間温度は摂氏数千度にまで及び、これ
は撮影時間にもよるが、ターゲット1は撮影中、およそ
摂氏数百度まで温度上昇する。
【0005】この温度上昇によって各ターゲット片3は
熱膨張するが、もし、各ターゲット片3の隙間Gがな
く、各ターゲット片3の長手方向(周方向)の端部が互
いに拘束されていれば、各ターゲット片3の熱膨張の方
向は放射状に延びるH方向(図9参照)や紙面に垂直な
方向に向かう。紙面に垂直な方向は、すなわち、電子ビ
ームSの入射方向であるから、電子ビームSの衝突点位
置が変動することになって、断層像の画質低下をもたら
す要因となる。そこで、図10に示したように各ターゲッ
ト片3を隙間Gを設けることにより、熱膨張の方向を各
ターゲット片3の長手方向(周方向)に逃がす構造とな
っている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ように隙間Gを設けて各ターゲット片3を母材2に取り
付けたターゲット1には次のような欠点がある。以下、
図9に示したターゲット1の一部正面図を参照しながら
説明する。図に示すように、電子ビームSが矢印の方向
に走査されて、各ターゲット片3の隙間Gを横切る場
合、このときの電子ビームを符号S’で表すと、電子ビ
ームSの位置から発生するX線量と、電子ビームS’の
位置から発生するX線量とが異なったものになる。すな
わち、X線の発生量は電子ビームSとターゲット片3と
の衝突点の面積に比例し、隙間Gの存在の有無によって
その衝突点での面積に差が生じるためである。
【0007】例えば、電子ビームSの断面寸法が幅
(W)=1mm, 長さ(L)=10mmで、隙間Gの幅が0.5m
m であるとする。電子ビームSとターゲット片3との衝
突点における面積は10平方ミリメートル、これに対し、
隙間Gを横切るときの電子ビームS’とターゲット片3
との衝突点の面積は5平方ミリメートルと半減してしま
う。これに連れてX線の発生量も、電子ビームSの位置
と電子ビームS’の位置とでは、100 %〜50%くらいの
差がでる。このように、電子ビームSが各ターゲット片
3の隙間Gを横切るたびに、X線の発生量が変動し、安
定したコントラストの断層像が得られないという欠点が
ある。
【0008】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、X線発生量の変動を抑制することが
できる環状X線管を提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記目的を
達成するために次のような構成をとる。すなわち、この
発明は、電子ビームによって走査される複数個のターゲ
ット片を環状の母材上に所要の隙間を隔てて取り付けて
なるターゲットを備えた環状X線管において、前記ター
ゲットの隙間の長手方向が、電子ビームの走査方向と略
直交する方向に対して傾斜するように前記各ターゲット
片を配したことを特徴とする。
【0010】
【作用】この発明の構成による作用は、次のとおりであ
る。すなわち、各ターゲット片の隙間の長手方向を、電
子ビームの走査方向と略直交する方向に対して傾斜させ
ているので、電子ビームがこの隙間を横切るときの、電
子ビームの断面積に対する隙間面積の割合は、隙間の長
手方向が電子ビームの走査方向と略直交しているときに
比べて減少する。これに伴い、隙間を横切るときの電子
ビームとターゲット片との衝突面積の減少の割合も減
り、X線の発生量の変動が抑制される。
【0011】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図面に基づいて
説明する。図1はこの発明の第1実施例に係るターゲッ
ト構造の一部正面図を示し、図2はそのb−b矢視断面
図を示している。ターゲット10は、環状の母材11に多数
のターゲット片12を取り付けて構成されている。この点
においては従来のものと同様であるが、図1に示すよう
に、各ターゲット片12の隙間Gの長手方向hが電子ビー
ムの走査方向と略直交する方向nに対して傾斜するよう
に各ターゲット片12を配して構成している。また、図2
に示すように、各ターゲット片12の厚み方向iもターゲ
ット10に対する垂直方向N(電子ビームSの入射方向)
に対して傾斜した姿勢となるように構成している。
【0012】このようなターゲット10に向けて電子ビー
ムを走査させたときの、電子ビームの軌跡を離散的に斜
線部分の符号S1,S2,S3で示している。これらの
電子ビームS1,S2,S3のいずれかと、図9に示し
た電子ビームS’とを比べても判るように、隙間Gの長
手方向hを前記の直交方向nから傾斜させることによ
り、電子ビームの断面積に対する隙間Gの面積の割合は
減少する。これによっても、各ターゲット片12から発生
するX線量の変動はかなり抑えられる。
【0013】大体、隙間Gの長手方向hと前記の直交方
向nとの傾斜角度を30°くらいに設定し、隙間Gが介在
しないときのターゲット片12から発生するX線量を100
%とすると、隙間Gが介在されたときのX線の発生量は
およそ90%程度で、X線発生量の変動は高々10%くらい
に留まる。ただし、これは電子ビームの断面寸法および
隙間Gの幅寸法を図9と同じに設定した場合に、計算に
よって求めた値である。繰り返すが、この場合の従来の
X線発生量は50%程度変動していた。
【0014】さらに、図1に示したように、隙間Gの間
隔を適宜に設定することで、X線発生量の変動を全く抑
制することも可能になる。すなわち、各電子ビームS
1,S2,S3が常に互いに同じ割合だけ隙間Gと交差
するように、隙間Gの間隔を設定するのである。この場
合、各電子ビームS1,S2,S3とターゲット片12と
の衝突によって発生するX線量は常に100 %とはならな
いが、例えば、電子ビームS1の位置から発生するX線
量を90%とすれば、その他の電子ビームS2,S3の位
置から発生するX線量も90%となり、X線発生量の変動
はなくなる。
【0015】また、図2に示すように各ターゲット片12
の厚み方向iを、ターゲット10面の垂直方向Nに対して
傾斜させた姿勢に構成すると、隙間Gから入射する電子
ビームSが母材11に直接衝突しなくなって、母材11の寿
命向上が図れる。すなわち、垂直方向N(電子ビームS
の照射方向)から見て、母材11の地肌が視界に入らない
ように、各ターゲット片12の厚み方向iを傾斜させる。
言い換えれば、隙間Gに入射する電子ビームSを各ター
ゲット片12で遮るようにこれらの厚み方向iを傾斜させ
るのである。
【0016】さて、図2に示した構成にすると、隙間G
に入射した電子ビームSはターゲット片12の傾斜面に衝
突することになり、その傾斜面からX線が発生する。X
線は四方八方に発生するが、隙間Gの中を通ってその延
長線、すなわち、図1の隙間Gの長手方向hに沿って発
生するX線もある。これはターゲット片12の正面に衝突
した電子ビームからの発生X線(正規のX線)ではない
ため、ターゲット10の中心に位置する被検体を通過しな
いようにこれを遮蔽する必要がある。
【0017】これは、図1の隙間Gの長手方向hの傾斜
角度を適宜に設定することで可能になる。すなわち、図
3に示すように、図1の隙間Gの長手方向hの延長線
h’が被検体Mの領域(スキャンエリアともいう)と交
わらないように隙間Gの長手方向を設定する。なお、こ
の図3には簡単のため、隙間Gを4箇所だけ記載してい
る。また、これ以外にも以下のような構成としてもよ
い。
【0018】[1]図4に示すように、隙間Gのターゲッ
ト10の中心に向かう出口に、X線遮蔽部材13を取り付け
る。X線遮蔽部材13はステンレス鋼, タングステン鋼,
モリブデン鋼等で形成される。 [2]図5に示すように、隙間Gのターゲット10の中心に
向かう出口を塞ぐように各ターゲット片12の形状を設定
する。[1] の例に比べ、安価に実施できるという利点が
ある。
【0019】<変形例> (1) この変形例に係るターゲット10の一部断面図を図6
に示す。各ターゲット片12の隙間Gの位置に相当する母
材11の上にターゲット片12と同じ高融点材料で形成され
る遮蔽物14を取り付けて構成し、その遮蔽物14で電子ビ
ームの直撃から母材11を保護する。 (2) この変形例に係るターゲット10の一部断面図を図7
に示す。これは図6に示した遮蔽物14を母材11に埋設し
て構成した例である。
【0020】また、上記の実施例では隙間Gを直線状に
形成した例を示したが、これ以外にも曲線状や折れ線状
に形成して構成してもよい。
【0021】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明に係る環状X線管は、ターゲットの母材に取り付けら
れる各ターゲット片の隙間の長手方向を、電子ビームの
走査方向と略直交する方向に対して傾斜させているの
で、従来のものと比べて電子ビームの断面積に対する隙
間面積の割合を減少させることができる。これに伴って
X線の発生量の変動を抑制することができ、高画質な断
層像を得ることができる。また、実施例に示したよう
に、隙間の部分に高融点材料を介在させるか、各ターゲ
ット片の厚み方向をターゲット面の垂直方向に対して傾
斜した姿勢に構成すると、隙間から入射した電子ビーム
が母材に直撃するのを避けることができ、母材の寿命を
向上させて、ターゲットの信頼性を増すことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例に係るターゲット構造の一
部正面図である。
【図2】図1のb−b矢視断面図である。
【図3】各ターゲット片の隙間から発生するX線を遮蔽
する構造を示したターゲットの正面図である。
【図4】各ターゲット片の隙間から発生するX線を遮蔽
する構造のその他の例を示したターゲットの一部正面図
である。
【図5】X線遮蔽構造のその他の例を示したターゲット
の一部正面図である。
【図6】隙間に入射する電子ビームの位置に高融点材料
を介在させたターゲットの一部断面図である。
【図7】隙間に入射する電子ビームの位置に高融点材料
を介在させたターゲットのその他の例を示したターゲッ
トの一部断面図である。
【図8】従来のターゲットの正面図である。
【図9】従来のターゲットの一部を拡大した正面図であ
る。
【図10】図9のa−a矢視断面図である。
【符号の説明】
10・・・ターゲット 11・・・母材 12・・・ターゲット片 G・・・隙間

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子ビームによって走査される複数個の
    ターゲット片を環状の母材上に所要の隙間を隔てて取り
    付けてなるターゲットを備えた環状X線管において、 前記ターゲットの隙間の長手方向が、電子ビームの走査
    方向と略直交する方向に対して傾斜するように前記各タ
    ーゲット片を配したことを特徴とする環状X線管。
JP21580591A 1991-07-31 1991-07-31 環状x線管 Pending JPH0541191A (ja)

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