JPH0540462Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0540462Y2 JPH0540462Y2 JP7472689U JP7472689U JPH0540462Y2 JP H0540462 Y2 JPH0540462 Y2 JP H0540462Y2 JP 7472689 U JP7472689 U JP 7472689U JP 7472689 U JP7472689 U JP 7472689U JP H0540462 Y2 JPH0540462 Y2 JP H0540462Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cable
- resistance portion
- high resistance
- carbon
- low resistance
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この考案は、直流＋逆極性インパルス重畳耐圧
試験ならびに同破壊試験に使用する直流CVケー
ブル試験用端末に関するものである。
試験ならびに同破壊試験に使用する直流CVケー
ブル試験用端末に関するものである。
［従来の技術］
従来、この種の試験端末には、
(1) 油浸紙によるコンデンサコーン型終端部や、
(2) エポキシ樹脂などのベルマウスを用いた電界
遮蔽型の終端、 が用いられている。
遮蔽型の終端、 が用いられている。
［考案が解決しようとする課題］
しかし、
(1) 上記のコンデンサコーン型は作業性が悪く
（製作が困難）、 (2) 上記の電界遮蔽型はインパルス重畳時の電界
制御が不十分、 という欠点を持つている。
（製作が困難）、 (2) 上記の電界遮蔽型はインパルス重畳時の電界
制御が不十分、 という欠点を持つている。
［課題を解決するための手段］
第１〜３図のように、
(1) 直流CVケーブル端部の露出したケーブル絶
縁体１８を長さ方向に二分し、 ケーブルシース１２側の一方にはカーボン
入り半導電体３２を被覆して形成した低抵抗
部分３０を設け、 露出したケーブル絶縁体１８の端部側の他
方にはセラミツクス線条体４２を巻きつけた
形成した高抵抗部分４０を設ける。
縁体１８を長さ方向に二分し、 ケーブルシース１２側の一方にはカーボン
入り半導電体３２を被覆して形成した低抵抗
部分３０を設け、 露出したケーブル絶縁体１８の端部側の他
方にはセラミツクス線条体４２を巻きつけた
形成した高抵抗部分４０を設ける。
(2) 上記(1)の構成に加えて、高抵抗部分４０と並
列に放電ギヤツプ５０を設ける。
列に放電ギヤツプ５０を設ける。
(3) 上記(1)の構成に加えて、低抵抗部分３０と高
抵抗部分４０との間にストレスコーン６０を設
ける。
抵抗部分４０との間にストレスコーン６０を設
ける。
［第１実施例］（第１図）
［１］ 構成
１０は直流CVケーブルの全体、
１２はシース、
１４は遮蔽層、
１６はケーブル外部半導電層、
１８はケーブル絶縁体で、ケーブル外部半導電
層１６を剥ぎとつて露出させたもの、 ２０はケーブル導体である。
層１６を剥ぎとつて露出させたもの、 ２０はケーブル導体である。
(1) 露出したケーブル絶縁体１８を長さ方向に二
分し（必ずしも二等分でない）、下側（ケーブ
ルシース１２側）には、たとえばシート状のカ
ーボン入り半導電体３２を巻いて形成した低抵
抗部分３０を設ける。
分し（必ずしも二等分でない）、下側（ケーブ
ルシース１２側）には、たとえばシート状のカ
ーボン入り半導電体３２を巻いて形成した低抵
抗部分３０を設ける。
この低抵抗部分３０は、逆極性インパルス重
畳時における、インパルス電圧を分担するため
のものである。
畳時における、インパルス電圧を分担するため
のものである。
カーボン入り半導電体３２としては、たとえ
ば抵抗率が103〜106Ω・cm程度のものを用い
る。
ば抵抗率が103〜106Ω・cm程度のものを用い
る。
その長さａは、103〜104Ω程度の抵抗値が得
られるように適宜決める。
られるように適宜決める。
一例を示すと、カーボン入り半導電体３２の
抵抗率が105Ω・cmのとき、低抵抗部分３０の
長さａは2500mmである。
抵抗率が105Ω・cmのとき、低抵抗部分３０の
長さａは2500mmである。
(2) また、露出したケーブル絶縁体１８の上側
（端部側）には、セラミツクス線条体４２を巻
いて形成した高抵抗部分４０を設ける。
（端部側）には、セラミツクス線条体４２を巻
いて形成した高抵抗部分４０を設ける。
この高抵抗部分４０は、逆極性インパルス重
畳時における、直流電圧を分担するためのもの
である。
畳時における、直流電圧を分担するためのもの
である。
セラミツクス線条体４２としては、たとえば
SiCをフイラメント状にしたものを紡いで抵抗
率が103〜107Ω・cm程度の紐状にしたもの（た
とえば商品名ニカロン：日本カーボン社）など
を用いる。
SiCをフイラメント状にしたものを紡いで抵抗
率が103〜107Ω・cm程度の紐状にしたもの（た
とえば商品名ニカロン：日本カーボン社）など
を用いる。
また、その巻き方は、上下で巻きピツチを変
更し、下方が疎で上方に行くほど密になるよう
にする。
更し、下方が疎で上方に行くほど密になるよう
にする。
その長さｂは、印加する直流電圧により適宜
決める。
決める。
一例を示すと、抵抗率が103〜107Ω・cmのセ
ラミツクス線条体４２を組合せ、ピツチを上記
のようにして巻いたとき（その他の条件は上記
と同じ）の、高抵抗部分４０の長さａは1500mm
である。
ラミツクス線条体４２を組合せ、ピツチを上記
のようにして巻いたとき（その他の条件は上記
と同じ）の、高抵抗部分４０の長さａは1500mm
である。
［２］ 作用
直流＋逆極性インパルス重畳試験において、直
流だけが印加されているとき、その分は主として
高抵抗部分４０が分担する。
流だけが印加されているとき、その分は主として
高抵抗部分４０が分担する。
そしてインパルス電圧が重畳されたとき、その
分は主として低抵抗部分３０が分担する。
分は主として低抵抗部分３０が分担する。
［第２実施例］（第２図）
［１］ 構成
高抵抗部分４０と並列に、すなわち高抵抗部分
４０の上下両端間に、放電ギヤツプ５０を設け
る。
４０の上下両端間に、放電ギヤツプ５０を設け
る。
この間隔ｃは、直流電圧印加時にフラツシユオ
ーバーしない長さとする。
ーバーしない長さとする。
この場合の寸法例を示すと、カーボン入り半導
電体３２およびセラミツクス線条体４２およびそ
の他の条件が上記第１実施例の場合と同じで、低
抵抗部分３０の長さａが2700mm、高抵抗部分４０
の長さａが1300mm、放電ギヤツプ５０の間隔ｃが
105mmである。
電体３２およびセラミツクス線条体４２およびそ
の他の条件が上記第１実施例の場合と同じで、低
抵抗部分３０の長さａが2700mm、高抵抗部分４０
の長さａが1300mm、放電ギヤツプ５０の間隔ｃが
105mmである。
［２］ 作用
直流電圧に逆極性インパルス電圧を重畳したと
き、インパルス電圧は主として低抵抗部分３０が
分担するのであるが、高抵抗部分４０の分担する
電圧が、それまでの直流値より大きくなつたと
き、放電ギヤツプ５０でフラツシユオーバーし、
高抵抗部分４０における閃絡を防ぐ。
き、インパルス電圧は主として低抵抗部分３０が
分担するのであるが、高抵抗部分４０の分担する
電圧が、それまでの直流値より大きくなつたと
き、放電ギヤツプ５０でフラツシユオーバーし、
高抵抗部分４０における閃絡を防ぐ。
したがつて、直流＋逆極性インパルス重畳時の
電界を安定して制御できる。
電界を安定して制御できる。
［第３実施例］（第３図）
［１］ 構成
低抵抗部分３０と高抵抗部分４０との間を離
し、そこに弾性ゴム製のストレスコーン６０を設
ける。
し、そこに弾性ゴム製のストレスコーン６０を設
ける。
この場合の寸法例を示すと、カーボン入り半導
電体３２およびセラミツクス線条体４２およびそ
の他の条件が上記第１実施例の場合と同じで、低
抵抗部分３０の長さａが2700mm、高抵抗部分４０
の長さａが1000mmである。
電体３２およびセラミツクス線条体４２およびそ
の他の条件が上記第１実施例の場合と同じで、低
抵抗部分３０の長さａが2700mm、高抵抗部分４０
の長さａが1000mmである。
［２］ 作用
上記第１図の場合は、高抵抗部分４０の下部に
電界の集中があつたが、この場合のようにストレ
スコーン６０を設けることにより、それが緩和さ
れる。
電界の集中があつたが、この場合のようにストレ
スコーン６０を設けることにより、それが緩和さ
れる。
［考案の効果］
(1) 直流CVケーブル端部の露出したケーブル絶
縁体上を長さ方向に二分し、ケーブルシース１
２側の一方にはカーボン入り半導電体を被覆し
て形成した低抵抗部分３０を設け、露出したケ
ーブル絶縁体１８の端部側の他方にはセラミツ
クス線条体を巻きつけた形成した高抵抗部分４
０を設けて試験用端末とするので。
縁体上を長さ方向に二分し、ケーブルシース１
２側の一方にはカーボン入り半導電体を被覆し
て形成した低抵抗部分３０を設け、露出したケ
ーブル絶縁体１８の端部側の他方にはセラミツ
クス線条体を巻きつけた形成した高抵抗部分４
０を設けて試験用端末とするので。
１ 低抵抗部分３０と高抵抗部分４０の長さ
ａ，ｂの調整により印加電圧の調整が可能で
あり、 ２ 製作が容易である。
ａ，ｂの調整により印加電圧の調整が可能で
あり、 ２ 製作が容易である。
(2) 高抵抗部分４０と並列に放電ギヤツプ５０を
設けたので、 １ 低抵抗部分３０と高抵抗部分４０の長さ
ａ，ｂおよび放電ギヤツプ５０の間隔ｃの調
整をすることにより印加電圧を調整すること
ができ、 ２ 直流＋逆極性インパスル重畳時の電界を安
定して制御できる。
設けたので、 １ 低抵抗部分３０と高抵抗部分４０の長さ
ａ，ｂおよび放電ギヤツプ５０の間隔ｃの調
整をすることにより印加電圧を調整すること
ができ、 ２ 直流＋逆極性インパスル重畳時の電界を安
定して制御できる。
(3) 低抵抗部分３０と高抵抗部分４０との間にス
トレスコーン６０を設けたので、直流＋逆極性
インパルス重畳試験用端末として、安定した電
界制御をすることができる。
トレスコーン６０を設けたので、直流＋逆極性
インパルス重畳試験用端末として、安定した電
界制御をすることができる。
第１図、第２図、第３図は、この考案の異なる
実施例の説明図。 １０……直流CVケーブル、１２……シース、
１４……遮蔽層、１６……ケーブル外部半導電
層、１８……ケーブル絶縁体、２０……ケーブル
導体、３０……低抵抗部分、３２……カーボン入
り半導電体、４０……高抵抗部分、４２……セラ
ミツクス線条体、５０……放電ギヤツプ、６０…
…ストレスコーン。
実施例の説明図。 １０……直流CVケーブル、１２……シース、
１４……遮蔽層、１６……ケーブル外部半導電
層、１８……ケーブル絶縁体、２０……ケーブル
導体、３０……低抵抗部分、３２……カーボン入
り半導電体、４０……高抵抗部分、４２……セラ
ミツクス線条体、５０……放電ギヤツプ、６０…
…ストレスコーン。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 直流CVケーブル端部の露出したケーブル絶
縁体１８上を長さ方向に二分し、ケーブルシー
ス１２側の一方にはカーボン入り半導電体３２
を被覆して形成した低抵抗部分３０を設け、露
出したケーブル絶縁体１８の端部側の他方には
セラミツクス線条体４２を巻きつけて形成した
高抵抗部分４０を設けた、直流CVケーブル試
験用端末。 (2) 高抵抗部分４０と並列に放電ギヤツプ５０を
設けた、請求項１記載の直流CVケーブル試験
用端末。 (3) 低抵抗部分３０と高抵抗部分４０との間にス
トレスコーン６０を設けた、請求項１記載の直
流CVケーブル試験用端末。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7472689U JPH0540462Y2 (ja) | 1989-06-26 | 1989-06-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7472689U JPH0540462Y2 (ja) | 1989-06-26 | 1989-06-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0314471U JPH0314471U (ja) | 1991-02-14 |
| JPH0540462Y2 true JPH0540462Y2 (ja) | 1993-10-14 |
Family
ID=31614671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7472689U Expired - Lifetime JPH0540462Y2 (ja) | 1989-06-26 | 1989-06-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0540462Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6237663B2 (ja) * | 2015-02-04 | 2017-11-29 | 住友電気工業株式会社 | 電力ケーブルのインパルス試験方法、および電力ケーブルのインパルス試験設備 |
-
1989
- 1989-06-26 JP JP7472689U patent/JPH0540462Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0314471U (ja) | 1991-02-14 |
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