JPH0540229A - Xyステージ - Google Patents

Xyステージ

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Publication number
JPH0540229A
JPH0540229A JP3197908A JP19790891A JPH0540229A JP H0540229 A JPH0540229 A JP H0540229A JP 3197908 A JP3197908 A JP 3197908A JP 19790891 A JP19790891 A JP 19790891A JP H0540229 A JPH0540229 A JP H0540229A
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JP
Japan
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stage
base
sample
sample table
load
Prior art date
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Pending
Application number
JP3197908A
Other languages
English (en)
Inventor
Masatoshi Suzuki
正敏 鈴木
Tetsuji Konuki
哲治 小貫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP3197908A priority Critical patent/JPH0540229A/ja
Publication of JPH0540229A publication Critical patent/JPH0540229A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】上下に振動しない、試料面の傾斜が一定なXY
ステージを提供する。 【構成】試料台と、ベースと、前記試料台をXY方向に
駆動するための送り機構と、試料台の荷重を支える支持
機構とを有するXYステージにおいて、前記送り機構
と、前記支持機構とは、互いに独立の機構とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、顕微鏡の試料ステージ
に用いるXYステージに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のXYステージの概略斜視図を図5
に示す。図において、XYステージは、試料等を載置す
るための試料台51と、2つの1軸型の直動ステージ5
2、53から構成されている。直動ステージ52、53
は、互いの軸方向が90°ずれるように上下2段に重ね
られている。そして、上部に位置するステージ(図では
ステージ52)の上には、さらに試料台51が配置され
ている。つまり、従来のXYステージは、試料台51、
直動ステージ52、直動ステージ53が重なった3段構
造で、ベース57に取り付けられていた。
【0003】また、前記直動ステージは、それぞれモー
タ54、55、送りねじ56(一方のみ図示)、およ
び、図示していないベアリング部からなる送り機構部を
有している。前記ベアリング部は、移動方向に複数のベ
アリングを有しており、該ベアリングが試料台51や前
記直動ステージと接して、これらの荷重を支えている。
【0004】上述のようなXYステージにおいては、例
えばモータ54を駆動すると送りねじ56が送り出さ
れ、試料台51はベース57上をX方向に移動する。ま
た、モータ55を駆動すると図示していない方の送りね
じが送り出され、試料台51はベース57上をY方向に
移動する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、顕微鏡の倍
率が高くなり、分解能が上がると、顕微鏡の振動が問題
となってくる。例えば、光学顕微鏡の分解能が大体サブ
ミクロン単位であるが、STMのように、1Å〜1nm
まで分解能が上がると、ステージの振動をそれ以下に抑
える必要が生じる。
【0006】従来のXYステージにおいては、送り機構
部の試料台に対して2段目がX(orY)方向可動部、
3段目がY(orX)方向可動部という重層構造となっ
ており、上下方向の荷重を受けるベアリングが2段階あ
った。そのため、ベアリング部の有するバネ特性によ
り、試料の荷重を受けた場合、試料台が上下方向に可動
であり、振動に対して弱いという欠点があった。また、
複数のベアリングで、上部の荷重を支えているため、荷
重を支える支点が複数あり、ステージの移動に伴い重心
が移動すると、荷重を支える支点が変わり、試料面の傾
斜が変化するという問題があった。また、従来のXYス
テージにおいては、3層構造を取っており、ステージの
全高が高くなり、スペース上の制約を受けていた。
【0007】本発明は、上下に振動せず、試料面の傾斜
が一定であり、また、全高を低くすることが可能なXY
ステージを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決する為の手段】前記課題を解決するため
に、請求項1記載の発明(以下、第1の態様という)に
おいては、試料台と、前記試料台を搭載するベースと、
前記ベース上で前記試料台を支える支持機構と、前記ベ
ース上で前記試料台をXY方向に駆動する送り機構とを
有するXYステージにおいて、前記支持機構が、前記試
料台の荷重を前記送り機構を介さずに支持するようにし
た。
【0009】また、請求項2記載の発明(以下、第2の
態様という)においては、ベースと、該ベースと3点で
接してベース面上をしゅう動可能な試料台と、該試料台
の移動方向を案内するための互いに直交する2つの部材
を有する案内部材と、前記試料台と前記案内部材の2つ
の部材のそれぞれに対応して係合する従動子とでXYス
テージを構成した。
【0010】
【作用】本発明の第1の態様では、XY方向に試料台を
駆動するための送り機構と、荷重を支持する支持機構を
互いに独立にした。支持機構は、上下荷重は支持する機
能のみを有し、送り機構は、上下の荷重を全く支持せ
ず、駆動のための機能のみを有する。そのため、送り機
構が駆動のために有する寸法余裕やバネ特性によって、
試料台が、上下方向の振動を生じることを防ぐことがで
きる。また、支持機構は、3点のみで荷重を支持する構
造にすることで、荷重を支える支点が変わることはな
く、試料台の傾斜に変化が生じることも無くなる。
【0011】本発明の第2の態様では、試料台は、下面
の3点でベースと接して、上下方向の荷重を支持し、ま
たこの3点によって、ベース面上をXY方向にしゅう動
可能とした。送り機構は、XY方向に試料台を案内する
ための直交する2つの部材を有する案内部材と、試料台
とベースをそれぞれ案内部材と係合するための従動子を
有する。ベースの従動子は、案内部材の移動方向を拘束
することにより、案内部材と試料台が係合してベース上
を一方向にのみ移動するようにする。試料台の従動子
は、試料台の移動方向を拘束し、試料台が、案内部材が
ベース上を移動した方向と直交する方向のみに、案内部
材上を移動することを可能にする。この態様において
も、箱型の試料台の一部が3点のみでベースと接するこ
とにより荷重を支え、試料台を移動する送り機構は、試
料台の荷重を支えることは無く、上下方向の振動や、試
料台の傾斜に変化が生じることは無い。また、案内部材
を、試料台とベース間に作製した空間に配置することに
より、XYステージを試料台とベースの2段重ね構造に
することが可能であり、XYステージの全高を、従来の
3段重ね構造より低くすることが可能である。
【0012】
【実施例】本発明の第1の実施例を、図1および図2を
用いて説明する。図1および図2に示すように、ベース
6上には、底の開いた箱型の試料台1が配置されてい
る。箱型の試料台の内部の空間には、送り機構の一部の
案内部材として、略+型の直交ガイド2が配置されてい
る。直交ガイド2の部材2xには、ベース6側に開口部
を有する幅2l深さ2tの溝部が形成されている。直交
ガイド2の部材2yには、試料台側に開口部を有する幅
2m深さ2hの溝部が形成されている。ベース6には、
モータ4xが治具4aを介して固定されており、モータ
4xの回転軸に取り付けられた送りねじ3の片端は、治
具4bを介して、直交ガイド2の部材2xに固定されて
いる。試料台1には、治具4cを介して、モータ4yが
固定されているおり、モータ4yの回転軸に取り付けら
れた送りねじ(図示せず)の片端は治具4dを介して直
交ガイド2の部材2yに固定されている。
【0013】また、試料台1のベース6と接する面に
は、試料台1の荷重を3点支持する支持機構として、3
つの突起状のしゅう動面7a、7b、7cが形成されて
おり、試料台1が移動するときには、ベース6の表面を
しゅう動する。直交ガイド2の高さ2pは、試料台の内
のりの高さ1pより小さく、試料台の荷重を支えること
はない。ベース6上には、ベアリングを有する突起状の
従動子15a、15bが、X軸方向に並んでおり、直交
ガイド2の部材2xの溝部の内側に入り、直交ガイドを
ベース6に係合させる。従動子15a、15bのY方向
の外径15lは、X方向の部材2xの溝部の幅2lより
小さくしてある。この場合、直交ガイド2の移動時に従
動子と溝部との間にガタが生じないように、外形151
と溝部の幅21との差を数十μm程度に設定すれば、精
度良くXYステージの移動ができる。また、従動子15
a、15bの高さ15tは、X方向の部材2xの溝部の
深さ2tより小さく、直交ガイドの荷重を受けることは
ない。また、試料台の裏面にも、ベアリングを有する突
起状の従動子5a、5bが、Y軸方向に並んでおり、直
交ガイド2の部材2yの溝部の内側に入り、直交ガイド
2を試料台1に係合する。従動子5a、5bのX方向の
外径5mは、部材2yの溝部の幅2mより小さくしてあ
る。この場合、直交ガイド2の移動時に従動子と溝部と
の間にガタが生じないように、外形5mと溝部の幅2m
との差を数十μm程度に設定すれば、精度良くXYステ
ージの移動ができる。また、従動子5a、5bの高さ5
hは、以下の式を満たすように形成されており、Y方向
の溝部の底部に接触することはない。
【0014】 (高さ5h)>(試料台の内のりの高さ1p)−(直交ガイドの高さ2p) (高さ5h)<(試料台の内のりの高さ1p)−(直交ガイドの高さ2p) +(部材2yの溝部の深さ2h) 上述のような構造となっているため、試料台の荷重はす
べて、しゅう動面7a、7b、7cが3点支持する。そ
のため、試料台の傾斜は、この3点により一義的に決ま
り、他の傾きになるなることはない。また、試料台1の
荷重を支持する支点7a、7b、7cは、バネ特性や空
隙等の振動する要素を有していないため、試料台が上下
方向に振動することはない。
【0015】次に、上記構成のXYステージにおける動
作の説明をする。モータ4xを駆動すると、送りねじ3
が送り出され、直交ガイド2と試料台1は、従動子15
a、15bに沿って、ベース6上をX方向に移動する。
この時、試料台1は直交ガイド2に、従動子5a、5b
により係合されている。直交ガイド2は、底面で、試料
台1は、しゅう動面7a、7b、7cで、ベース6上を
X方向にしゅう動する。つぎに、モータ4yを駆動する
と、送りねじ(図示せず)が送り出され、試料台1は、
直交ガイドのY方向の溝部に沿って、Y方向に移動す
る。この時、ベース6は直交ガイド2に、従動子15a
15bにより係合されている。試料台1は、しゅう動面
7a、7b、7cでベース上をY方向にしゅう動する。
直交ガイド2と従動子5、15を、試料台とベース間の
空間に設けることにより、試料台1とベース6の2段構
造でXYステージを構成することができる。従って、従
来のXYステージのように、試料台と1軸方向に直動す
るステージ2段の計3段構造を取る必要がなく、試料台
1とベース6の2段構造でよいため、XYステージの全
高を低くすることができる。
【0016】本実施例では、駆動部にモータと送りねじ
を使用したが、他の駆動方法を用いいることも可能であ
る。図3に示したのは、駆動部にラックとピニオンを使
用した例である。
【0017】図3において、ベース6、直交ガイド2の
溝部の深さおよび幅、試料台1およびベース6に配置さ
れた従動子(図示せず)は、実施例1と同様である。試
料台1は、X方向とY方向の側面に、それぞれ開口部を
有している。直交ガイド2は、部材の端部は試料台1の
開口部から外部に露出しており、ラック8x、8yが刻
設されている。ベース6上には、モータ4xとピニオン
(図示せず)が、治具16xを介して固定されており、
ピニオンは、直交ガイド2のX方向の部材の端部のラッ
クとかみあい、モータ4Xの回転により直交ガイド2お
よび試料台をX方向に駆動する。また、試料台1の側面
には、モータ4yとピニオン9yが治具16yを介して
固定されており、ピニオン9yは直交ガイドのY方向の
部材の端部のラックとかみあい、モータ4yの回転によ
り試料台1をY方向に駆動する。
【0018】次に、本発明の第2実施例を、図4を用い
て説明する。本発明は、実施例1に示した構造とほぼ同
様であるが、案内部材として、溝部を有しないL字型の
ガイド11を用いる。ベース6上には、X方向に略平行
に2個づつのベアリングを有する従動子20aから20
dが、試料台1の内側にはY方向に略平行に2個づつの
従動子10aから10dが設けられている。ベース6上
の従動子のY方向の間隙20mは、L字型のガイド11
の部材11xの幅11mより、数十μm広くなってお
り、従動子がL字型のガイド11の部材11xを挟み、
ベース6をL字型のガイド11に係合する。また、試料
台1の従動子のX方向の間隙10lは、L字型のガイド
11の部材11yの幅11lより広くしてある。この場
合、L字型ガイド11と従動子と溝部との間にガタが生
じないように、間隙101と幅111との差を数十μm
程度に設定すれば、精度良くXYステージの移動ができ
る。
【0019】試料台1の内のりの高さと、L字型のガイ
ドの高さ、従動子および従動子の高さは、実施例1と同
様に、従動子が、上下方向の荷重を支えることはないよ
うに形成されている。
【0020】本実施例においては、直交ガイドは、底部
でベース表面をしゅう動する構造を示したが、底部にベ
アリング等を設けて、摩擦係数を小さくすることにより
XY方向の移動を容易にすることが可能である。
【0021】また、本実施例においては、試料台を底の
開いた箱型し、支持機構をその一部に設けたが、本発明
は、この形状に限られるものではなく、3点支持で、試
料台がベース上をしゅう動できる形状であれば良い。
【0022】上述のように、本実施例を用いることによ
り、支持機構と送り機構を互いに独立にすることがで
き、試料台の荷重を支持機構が支持し、試料台の移動を
送り機構が行なうため、送り機構の有する寸法余裕やバ
ネ特性による、上下方向の振動を防ぐことができる。ま
た、支持機構の、支点を3点のみにすることにより、試
料台の傾斜が、一義的に決まり傾斜の変化を防ぐことが
できる。さらに、本実施例のように、試料台とベースの
2段構造を取ることにより、XYステージの全高を低く
することが可能である。
【0023】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、支持機
構と送り機構を互いに独立にすることにより、上下に振
動しないXYステージを提供することができる。また、
支持機構の支点を3点にすることにより、試料面の傾斜
が一定なXYステージを提供することができる。さら
に、XYステージの全高が低くなることで、スペース上
の制約を受け難くなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による第1の実施例の斜視図。
【図2】本発明の第1の実施例の内部の構成を示す説明
図。
【図3】本発明による別の実施例の斜視図。
【図4】本発明による第3の実施例の内部の構成を示す
説明図。
【図5】従来のXYステージの斜視図。
【符号の説明】
1…試料台、2…直交ガイド(十字型)、3…送りね
じ、4…モータ、5…従動子、6…ベース、7…しゅう
動面、8…ラック、9…ピニオン、10…従動子、11
…直交ガイド(L字型)、15…従動子、20…従動
子。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】試料台と、前記試料台を搭載するベース
    と、前記ベース上で前記試料台を支える支持機構と、前
    記ベース上で前記試料台をXY方向に駆動する送り機構
    とを有するXYステージにおいて、 前記支持機構は、前記試料台の荷重を前記送り機構を介
    さずに支持することを特徴とするXYステージ。
  2. 【請求項2】請求項1において、前記送り機構は、前記
    ベースと前記試料台を互いに直交する方向に相対移動を
    案内する案内部材と、前記試料台と前記ベースに設けら
    れて、それぞれ対応する案内部材に係合して案内される
    従動子とを有することを特徴とするXYステージ。
  3. 【請求項3】請求項1または2において、前記支持機構
    は、3点のみで試料台の荷重を支持する3点支持である
    ことを特徴とするXYステージ。
  4. 【請求項4】ベースと、前記ベースと3点で接しベース
    面上をXY方向にしゅう動可能な、試料台と、前記試料
    台の移動方向を案内するための互いに直交する2つの部
    材を有する案内部材と、前記試料台と前記ベースに設け
    られ、前記案内部材の2つの部材のそれぞれに対応し
    て、係合する従動子を有することを特徴とするXYステ
    ージ。
JP3197908A 1991-08-07 1991-08-07 Xyステージ Pending JPH0540229A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120147461A1 (en) * 2010-12-10 2012-06-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope stage

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120147461A1 (en) * 2010-12-10 2012-06-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Microscope stage
JP2012128417A (ja) * 2010-12-10 2012-07-05 Leica Microsystems Cms Gmbh 顕微鏡ステージ
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