JPH0534276A - 紫外線吸収検出器 - Google Patents
紫外線吸収検出器Info
- Publication number
- JPH0534276A JPH0534276A JP3596291A JP3596291A JPH0534276A JP H0534276 A JPH0534276 A JP H0534276A JP 3596291 A JP3596291 A JP 3596291A JP 3596291 A JP3596291 A JP 3596291A JP H0534276 A JPH0534276 A JP H0534276A
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- concave mirror
- sample
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Abstract
(57)【要約】
【目的】２種類の試料を同時に測定したり１つの試料を
異なった分離カラムで分離してのち検出できるようにし
た紫外線吸収検出器を提供することにある。 【構成】紫外線吸収検出器において、第３凹面鏡とサン
プル光用出射スリットの間に配設されたハ―フミラ―
と、上下２段に設けられた第１及び第２のフロ―セル
と、上下２段に配置された第１及び第２のサンプル光セ
ンサ―と、リファレンス用出射スリットと、上下２段に
配置された第１及び第２のリファレンス光センサ―とを
設け、第３凹面鏡に各曲面の主軸が上下平行に設けられ
た第１及び第２の球面を形成し、該凹面鏡で２つに分け
られた光がサンプル光用出射スリットを通過し第１及び
第２のフロ―セルをそれぞれ通過したのち第１及び第２
のサンプル光センサ―で検出されると共に、第３凹面鏡
で２つに分けられたのちハ―フミラ―で２つに分けられ
た光の一方がリファレンス用出射スリットを通過し第１
及び第２のリファレンス光センサ―で検出されるように
したもの。
異なった分離カラムで分離してのち検出できるようにし
た紫外線吸収検出器を提供することにある。 【構成】紫外線吸収検出器において、第３凹面鏡とサン
プル光用出射スリットの間に配設されたハ―フミラ―
と、上下２段に設けられた第１及び第２のフロ―セル
と、上下２段に配置された第１及び第２のサンプル光セ
ンサ―と、リファレンス用出射スリットと、上下２段に
配置された第１及び第２のリファレンス光センサ―とを
設け、第３凹面鏡に各曲面の主軸が上下平行に設けられ
た第１及び第２の球面を形成し、該凹面鏡で２つに分け
られた光がサンプル光用出射スリットを通過し第１及び
第２のフロ―セルをそれぞれ通過したのち第１及び第２
のサンプル光センサ―で検出されると共に、第３凹面鏡
で２つに分けられたのちハ―フミラ―で２つに分けられ
た光の一方がリファレンス用出射スリットを通過し第１
及び第２のリファレンス光センサ―で検出されるように
したもの。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、紫外線吸収検出器に関
し、更に詳しくは、高速液体クロマトグラフ等の検出器
として使用されフロ―セル内を流れる試料に紫外線を照
射し該紫外線の減少量から前記試料中の被測定成分を検
出する紫外線吸収検出器に関する。
し、更に詳しくは、高速液体クロマトグラフ等の検出器
として使用されフロ―セル内を流れる試料に紫外線を照
射し該紫外線の減少量から前記試料中の被測定成分を検
出する紫外線吸収検出器に関する。
【０００２】
【従来の技術】第５図は、紫外線吸収検出器の一般的な
構成説明図であり、図中、１は光源、２，４，６は凹面
鏡、３は入射スリット、５は回折格子、７はハ―フミラ
―、８，１１は出射スリット、９はフロ―セル、１０は
サンプル光センサ―、１２は比較光センサ―である。こ
のような構成からなる従来の紫外線吸収検出器におい
て、光源１から照射された光は凹面鏡２で反射されて入
射スリット３に集光される。また、入射スリット３を通
った光は、凹面鏡４で反射されて平行光となり回折格子
５によって種々の波長の光に分光される。
構成説明図であり、図中、１は光源、２，４，６は凹面
鏡、３は入射スリット、５は回折格子、７はハ―フミラ
―、８，１１は出射スリット、９はフロ―セル、１０は
サンプル光センサ―、１２は比較光センサ―である。こ
のような構成からなる従来の紫外線吸収検出器におい
て、光源１から照射された光は凹面鏡２で反射されて入
射スリット３に集光される。また、入射スリット３を通
った光は、凹面鏡４で反射されて平行光となり回折格子
５によって種々の波長の光に分光される。
【０００３】このようにして分光された凹面鏡６に入射
した平行光のうち特定波長の光は、凹面鏡６の焦点付近
に配設されている出射スリット８とフロ―セル９を通
り、サンプル光センサ―１０で検出される。また、凹面
鏡６に入射した平行光の一部は、ハ―フミラ―７で反射
されてのち出射スリット１１を通り、リファレンス光セ
ンサ―１２で検出される。
した平行光のうち特定波長の光は、凹面鏡６の焦点付近
に配設されている出射スリット８とフロ―セル９を通
り、サンプル光センサ―１０で検出される。また、凹面
鏡６に入射した平行光の一部は、ハ―フミラ―７で反射
されてのち出射スリット１１を通り、リファレンス光セ
ンサ―１２で検出される。
【０００４】一方、フロ―セル９の中には試料が流され
ており、該試料の成分濃度に応じてサンプルの光強度が
変化する。このため、Ａ，Ｉ，Ｉo をそれぞれ吸光度，
サンプル光出力，比較光出力とするとき、下式（１）に
示すランベルト・ベアの法則に従って吸光度Ａの変化が
出力されるようになっている。 Ａ＝ｌＬｏｇ（Ｉo ／Ｉ）…………………（１）
ており、該試料の成分濃度に応じてサンプルの光強度が
変化する。このため、Ａ，Ｉ，Ｉo をそれぞれ吸光度，
サンプル光出力，比較光出力とするとき、下式（１）に
示すランベルト・ベアの法則に従って吸光度Ａの変化が
出力されるようになっている。 Ａ＝ｌＬｏｇ（Ｉo ／Ｉ）…………………（１）
【０００５】因みに、サンプル光出力Ｉが０．１％変化
すると、吸光度Ａは下式（２）に示すように−４．４×
１０-4だけ変化するようになる。 ΔＡ＝Ｌｏｇ（Ｉo ／Ｉ）−Ｌｏｇ｛Ｉo ／（０．９９９Ｉ）｝ ＝Ｌｏｇ（０．９９９） ＝−４．４×１０-4…………………………（２）
すると、吸光度Ａは下式（２）に示すように−４．４×
１０-4だけ変化するようになる。 ΔＡ＝Ｌｏｇ（Ｉo ／Ｉ）−Ｌｏｇ｛Ｉo ／（０．９９９Ｉ）｝ ＝Ｌｏｇ（０．９９９） ＝−４．４×１０-4…………………………（２）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】然しながら、上記従来
例においては、２種類の試料を同時に測定したり１つの
試料を異なった分離カラムで分離してのち検出したりす
ることができないという欠点があった。本発明は、かか
る従来例の欠点に鑑みてなされたものであり、その目的
は、２種類の試料を同時に測定したり１つの試料を異な
った分離カラムで分離してのち検出できるようにした紫
外線吸収検出器を提供することにある。
例においては、２種類の試料を同時に測定したり１つの
試料を異なった分離カラムで分離してのち検出したりす
ることができないという欠点があった。本発明は、かか
る従来例の欠点に鑑みてなされたものであり、その目的
は、２種類の試料を同時に測定したり１つの試料を異な
った分離カラムで分離してのち検出できるようにした紫
外線吸収検出器を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、紫外線吸収検
出器において、第３凹面鏡とサンプル光用出射スリット
の間に配設されたハ―フミラ―と、上下２段に設けられ
た第１及び第２のフロ―セルと、上下２段に配置された
第１及び第２のサンプル光センサ―と、リファレンス用
出射スリットと、上下２段に配置された第１及び第２の
リファレンス光センサ―とを設け、第３凹面鏡に各曲面
の主軸が上下平行に設けられた第１及び第２の球面を形
成し、該凹面鏡で２つに分けられた光がサンプル光用出
射スリットを通過し第１及び第２のフロ―セルをそれぞ
れ通過したのち第１及び第２のサンプル光センサ―で検
出されると共に、第３凹面鏡で２つに分けられたのちハ
―フミラ―で２つに分けられた光の一方がリファレンス
用出射スリットを通過し第１及び第２のリファレンス光
センサ―で検出されるようにすることによって前記課題
を解決したものである。
出器において、第３凹面鏡とサンプル光用出射スリット
の間に配設されたハ―フミラ―と、上下２段に設けられ
た第１及び第２のフロ―セルと、上下２段に配置された
第１及び第２のサンプル光センサ―と、リファレンス用
出射スリットと、上下２段に配置された第１及び第２の
リファレンス光センサ―とを設け、第３凹面鏡に各曲面
の主軸が上下平行に設けられた第１及び第２の球面を形
成し、該凹面鏡で２つに分けられた光がサンプル光用出
射スリットを通過し第１及び第２のフロ―セルをそれぞ
れ通過したのち第１及び第２のサンプル光センサ―で検
出されると共に、第３凹面鏡で２つに分けられたのちハ
―フミラ―で２つに分けられた光の一方がリファレンス
用出射スリットを通過し第１及び第２のリファレンス光
センサ―で検出されるようにすることによって前記課題
を解決したものである。
【０００８】
【作用】本発明は次のように作用する。即ち、第３凹面
鏡は２つの曲面を有しており、第１球面で反射された光
は、その焦点付近に配設されている出射スリットの第１
穴を通過し限定されたバンド幅の光となってフロ―セル
を通り、サンプル光センサ―で検出される。また、第２
球面で反射された光は、その焦点付近に配設されている
出射スリットの第２穴を通過し限定されたバンド幅の光
となってフロ―セル１５を通り、サンプル光センサ―で
検出される。
鏡は２つの曲面を有しており、第１球面で反射された光
は、その焦点付近に配設されている出射スリットの第１
穴を通過し限定されたバンド幅の光となってフロ―セル
を通り、サンプル光センサ―で検出される。また、第２
球面で反射された光は、その焦点付近に配設されている
出射スリットの第２穴を通過し限定されたバンド幅の光
となってフロ―セル１５を通り、サンプル光センサ―で
検出される。
【０００９】一方、第３凹面鏡の第１球面で反射された
平行光の一部は、ハ―フミラ―で反射されたのち、リフ
ァレンス光用出射スリットの第１穴を通過し限定された
バンド幅の光となってリファレンス光センサ―で検出さ
れる。また、第３凹面鏡６の第２球面で反射された平行
光の一部は、ハ―フミラ―で反射されたのち、リファレ
ンス光用出射スリットの第１穴を通過し限定されたバン
ド幅の光となってリファレンス光センサ―で検出され
る。
平行光の一部は、ハ―フミラ―で反射されたのち、リフ
ァレンス光用出射スリットの第１穴を通過し限定された
バンド幅の光となってリファレンス光センサ―で検出さ
れる。また、第３凹面鏡６の第２球面で反射された平行
光の一部は、ハ―フミラ―で反射されたのち、リファレ
ンス光用出射スリットの第１穴を通過し限定されたバン
ド幅の光となってリファレンス光センサ―で検出され
る。
【００１０】
【実施例】以下、本発明について図を用いて詳細に説明
する。図１は本発明実施例を説明するための構成説明図
であり、図２は図１の第３凹面鏡６からサンプル光セン
サ―に至る部分を横から見た説明図である。また、図３
はハ―フミラ―からリファレンス光センサ―に至る部分
を横から見た説明図であり、図４は凹面鏡６の立体斜視
図である。
する。図１は本発明実施例を説明するための構成説明図
であり、図２は図１の第３凹面鏡６からサンプル光セン
サ―に至る部分を横から見た説明図である。また、図３
はハ―フミラ―からリファレンス光センサ―に至る部分
を横から見た説明図であり、図４は凹面鏡６の立体斜視
図である。
【００１１】尚、図２乃至図４において図１や図５と同
一記号は同一意味を持たせて使用しここでの重複説明は
省略する。また、６ａは第３凹面鏡６の第１球面、６ｂ
は第３凹面鏡６の第２球面、１３は回折格子５を回転さ
せるためのモ―タである。更に、第１及び第２球面６
ａ，６ｂの焦点距離は自由に設定できるが、本発明実施
例においては高さだけが異なるようになっており、各局
面の主軸は図４に示すように上下に平行となっている。
一記号は同一意味を持たせて使用しここでの重複説明は
省略する。また、６ａは第３凹面鏡６の第１球面、６ｂ
は第３凹面鏡６の第２球面、１３は回折格子５を回転さ
せるためのモ―タである。更に、第１及び第２球面６
ａ，６ｂの焦点距離は自由に設定できるが、本発明実施
例においては高さだけが異なるようになっており、各局
面の主軸は図４に示すように上下に平行となっている。
【００１２】このような構成からなる本発明の実施例に
おいて、光源１から照射された光は凹面鏡２で反射され
て入射スリット３に集光される。また、入射スリット３
を通った光は、凹面鏡４を通って平行光となり回折格子
５によって種々の波長の光に分光される。このようにし
て分光され凹面鏡６に入射した平行光のうち特定波長の
光は、その焦点に集光する。
おいて、光源１から照射された光は凹面鏡２で反射され
て入射スリット３に集光される。また、入射スリット３
を通った光は、凹面鏡４を通って平行光となり回折格子
５によって種々の波長の光に分光される。このようにし
て分光され凹面鏡６に入射した平行光のうち特定波長の
光は、その焦点に集光する。
【００１３】ここで、第３凹面鏡６は図４や図２に示す
ように第１球面６ａと第２球面６ｂの２つの曲面を有し
ており、第１球面６ａの焦点と第２球面６ｂの焦点は異
なっている。このため、第１球面６ａで反射された光
は、その焦点付近に配設されている出射スリット８の第
１穴８１を通過し限定されたバンド幅の光となってフロ
―セル９を通り、サンプル光センサ―１０で検出され
る。また、第２球面６ｂで反射された光は、その焦点付
近に配設されている出射スリット８の第２穴８２を通過
し限定されたバンド幅の光となってフロ―セル１５を通
り、サンプル光センサ―１４で検出される。
ように第１球面６ａと第２球面６ｂの２つの曲面を有し
ており、第１球面６ａの焦点と第２球面６ｂの焦点は異
なっている。このため、第１球面６ａで反射された光
は、その焦点付近に配設されている出射スリット８の第
１穴８１を通過し限定されたバンド幅の光となってフロ
―セル９を通り、サンプル光センサ―１０で検出され
る。また、第２球面６ｂで反射された光は、その焦点付
近に配設されている出射スリット８の第２穴８２を通過
し限定されたバンド幅の光となってフロ―セル１５を通
り、サンプル光センサ―１４で検出される。
【００１４】一方、第３凹面鏡６の第１球面６ａで反射
された平行光の一部は、ハ―フミラ―７で反射されたの
ち、リファレンス光用出射スリット１１の第１穴１１ａ
を通過し限定されたバンド幅の光となってリファレンス
光センサ―１２で検出される。また、第３凹面鏡６の第
２球面６ｂで反射された平行光の一部は、ハ―フミラ―
７で反射されたのち、リファレンス光用出射スリット１
１の第１穴１１ｂを通過し限定されたバンド幅の光とな
ってリファレンス光センサ―１６で検出される。
された平行光の一部は、ハ―フミラ―７で反射されたの
ち、リファレンス光用出射スリット１１の第１穴１１ａ
を通過し限定されたバンド幅の光となってリファレンス
光センサ―１２で検出される。また、第３凹面鏡６の第
２球面６ｂで反射された平行光の一部は、ハ―フミラ―
７で反射されたのち、リファレンス光用出射スリット１
１の第１穴１１ｂを通過し限定されたバンド幅の光とな
ってリファレンス光センサ―１６で検出される。
【００１５】このようにして、サンプル光センサ―１０
で検出された検出信号（Ｉ）と比較光センサ―１２で検
出された検出信号（Ｉo ）に基いて前記第（１）式に示
したような演算が行われ、フロ―セル９内を流れる流体
の紫外線吸光度が検出される。同様に、サンプル光セン
サ―１４で検出された検出信号（Ｉ）と比較光センサ―
１６で検出された検出信号（Ｉo ）に基いて前記第
（１）式に示したような演算が行われ、フロ―セル１５
内を流れる流体の紫外線吸光度が検出される。
で検出された検出信号（Ｉ）と比較光センサ―１２で検
出された検出信号（Ｉo ）に基いて前記第（１）式に示
したような演算が行われ、フロ―セル９内を流れる流体
の紫外線吸光度が検出される。同様に、サンプル光セン
サ―１４で検出された検出信号（Ｉ）と比較光センサ―
１６で検出された検出信号（Ｉo ）に基いて前記第
（１）式に示したような演算が行われ、フロ―セル１５
内を流れる流体の紫外線吸光度が検出される。
【００１６】尚、本発明は第１図の実施例に限定される
ことなく種々の変形が可能であり、例えば次のやの
ようにしても良いものとする。紫外線吸収検出器だけ
でなく赤外線その他の光学系検出器に用いる。凹面鏡
６の主軸を上下方向に平行でなく、焦点距離をずらすよ
うにする。
ことなく種々の変形が可能であり、例えば次のやの
ようにしても良いものとする。紫外線吸収検出器だけ
でなく赤外線その他の光学系検出器に用いる。凹面鏡
６の主軸を上下方向に平行でなく、焦点距離をずらすよ
うにする。
【００１７】
【発明の効果】以上詳しく説明したような本発明によれ
ば、フロ―セル９，１５にそれぞれ流される２種類の試
料を同時に測定したり１つの試料を異なった分離カラム
で分離してのち検出できる紫外線吸収検出器が実現す
る。
ば、フロ―セル９，１５にそれぞれ流される２種類の試
料を同時に測定したり１つの試料を異なった分離カラム
で分離してのち検出できる紫外線吸収検出器が実現す
る。
【図１】本発明実施例の構成説明図である。
【図２】第１図の第３凹面鏡からサンプル光センサ―に
至る部分を横から見た説明図である。
至る部分を横から見た説明図である。
【図３】第１図のハ―フミラ―からリファレンス光セン
サ―に至る部分を横から見た説明図である。
サ―に至る部分を横から見た説明図である。
【図４】第１図の第３凹面鏡を示す拡大斜視図である。
【図５】従来例の構成説明図である。 １ 光源 ２，４，６ 凹面鏡 ３ 入射スリット ５ 回折格子 ７ ハ―フミラ― ８，１１ 出射スリット ９ フロ―セル １０ サンプル光センサ― １２ リファレンス光センサ― １３ モ―タ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】光源から照射された光が第１凹面鏡で反射
されて入射スリットに集光され、該入射スリットを通っ
た光が第２凹面鏡を通って平行光となり回折格子によっ
て種々の波長の光に分光されて後、第３凹面鏡に入射し
て平行となった光のうち特定波長の光を、前記第３凹面
鏡の焦点付近に配設されているサンプル光用出射スリッ
トとフロ―セルを通し、サンプル光センサ―で検出して
前記フロ―セル内を流れる試料中の被測定成分を検出す
る紫外線吸収検出器において、前記第３凹面鏡とサンプ
ル光用出射スリットの間に配設されたハ―フミラ―と、
上下２段に設けられた第１及び第２のフロ―セルと、上
下２段に配置された第１及び第２のサンプル光センサ―
と、リファレンス用出射スリットと、上下２段に配置さ
れた第１及び第２のリファレンス光センサ―とを具備
し、前記第３凹面鏡に各曲面の主軸が上下平行に設けら
れた第１及び第２の球面を形成し、該凹面鏡で２つに分
けられた光が前記サンプル光用出射スリットを通過し前
記第１及び第２のフロ―セルをそれぞれ通過したのち前
記第１及び第２のサンプル光センサ―で検出されると共
に、前記第３凹面鏡で２つに分けられたのち前記ハ―フ
ミラ―で２つに分けられた光の一方が前記リファレンス
用出射スリットを通過し前記第１及び第２のリファレン
ス光センサ―で検出されることを特徴とする紫外線吸収
検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3596291A JPH0534276A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 紫外線吸収検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3596291A JPH0534276A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 紫外線吸収検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0534276A true JPH0534276A (ja) | 1993-02-09 |
Family
ID=12456587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3596291A Pending JPH0534276A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 紫外線吸収検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0534276A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20120101415A (ko) * | 2009-10-26 | 2012-09-13 | 센스에어 아베 | 분광 분석에 적합한 측정 셀 |
-
1991
- 1991-03-01 JP JP3596291A patent/JPH0534276A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20120101415A (ko) * | 2009-10-26 | 2012-09-13 | 센스에어 아베 | 분광 분석에 적합한 측정 셀 |
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