JPH0534119A - 焦点合わせ装置 - Google Patents

焦点合わせ装置

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JPH0534119A
JPH0534119A JP19400591A JP19400591A JPH0534119A JP H0534119 A JPH0534119 A JP H0534119A JP 19400591 A JP19400591 A JP 19400591A JP 19400591 A JP19400591 A JP 19400591A JP H0534119 A JPH0534119 A JP H0534119A
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JP
Japan
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light
focusing
reflected light
objective lens
receiving element
Prior art date
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Pending
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JP19400591A
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English (en)
Inventor
Rikako Takei
利佳子 武井
Hiroyuki Hasegawa
浩幸 長谷川
Masahiko Uto
正彦 宇都
Akihiro Ito
彰洋 伊藤
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Brother Industries Ltd
Original Assignee
Brother Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 焦点合わせ装置を備えた形状測定装置におい
て、焦点合わせを敏速に行う。 【構成】 焦点合わせ装置を備えた形状測定装置は、測
定用光線束を対物レンズを通して対象物に照射する。そ
して、対象物からの反射光は分割手段により第1反射光
と第2反射光に分割され、上記第1反射光はピンホール
を通過し第1受光素子に照射する。このとき、第1受光
素子の出力は対物レンズと対象物との距離により変化す
る。第2反射光はそのまま第2受光素子に照射される。
そして、CPUは、第1受光素子の出力と第2受光素子
の出力が一致する点を検出し、その検出に従いモータは
上記対象物と上記対物レンズの離隔を合焦点位置に移動
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、焦点合わせ装置に関
し、詳しくは対象物の表面形状を測定する光学機器と対
象物との焦点を合わせる焦点合わせ装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来、顕微鏡,撮像装置等の光学機器の
焦点合わせ装置においては、対象物との焦点を合わせる
場合、焦点合わせ用の光(測定用光線束)を対象物に照
射し、その出力に基づいて焦点合わせを行っている。例
えば、図6に示すように、光ビーム80を対物レンズ8
2に入射させて対象物84の表面から反射した光ビーム
80をビームスプリッタ86にて反射させる。そして、
その反射した光ビーム80をピンホール88を通過させ
て受光素子90に照射する。その受光素子90の出力は
対物レンズ82を矢印方向に上下に走査することにより
図7に示すように変化する。この場合、受光素子90の
出力が最大になった時が対物レンズ82の合焦点位置と
なる。
【0003】従って、対物レンズ82を矢印方向に一度
走査した後、受光素子90の出力に基づいて最高出力の
位置を検出し再び最高出力の位置まで戻るというように
焦点合わせが行われている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
様な焦点合わせ装置は、受光素子90の出力が最大にな
る位置を識別するために、対物レンズ82を受光素子9
0の出力の最大位置すなわち合焦点位置を一度通過させ
た後再び合焦点位置に戻す必要があるため、焦点合わせ
をするのに時間がかかっていた。
【0005】本発明は、上述した問題点を解決するため
になされたものであり、焦点合わせ動作を敏速に行うこ
とができる焦点合わせ装置を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の焦点合わせ装置は、図1に示すように、対象
物の表面形状を測定する光学機器と該対象物との焦点を
合わせるものであり、光学機器の対物レンズを光軸とし
て、対象物に測定用光線束を照射する光源と、対象物か
らの反射光を第1反射光と第2反射光に分割する分割手
段と、第1反射光を光路を制限する光路規制手段と、光
路規制手段を通過した後受光する第1受光素子と、第2
反射光を受光する第2受光素子と、該照射された第1,
第2受光素子の出力に応じて上記焦点のずれを検出する
焦点ずれ検出手段と、焦点ずれ検出手段にて検出した焦
点ずれに応じて、対象物と対物レンズとの離隔を変更す
る離隔変更手段とを備えている。
【0007】
【作用】上記の構成を有する本発明の焦点合わせ装置
は、測定用光線束を対物レンズを通して対象物に照射す
る。そして、対象物からの反射光は分割手段により第1
反射光と第2反射光に分割され、その第1反射光は光路
規制手段を通過し第1受光素子に照射する。このとき、
第1受光素子の出力は対物レンズと対象物との距離によ
り変化する。第2反射光はそのまま第2受光素子に照射
される。そして、焦点ずれ検出手段は、第1受光素子の
出力と第2受光素子の出力が一致する点を検出し、その
検出に従い離隔変更手段は上記対象物と上記対物レンズ
の離隔を合焦点位置に移動する。
【0008】
【実施例】以下、本発明の焦点合わせ装置の好適な一実
施例について説明する。
【0009】図2及び図3は、本発明の焦点合わせ装置
を備えた形状測定装置を示す図であり、形状測定装置
は、光学式ユニット1と合焦制御装置40とから構成さ
れている。
【0010】光学式ユニット1は、ステージ3に載置さ
れたワーク2の表面を撮像するものであり、ワーク2を
載置するステージ3に対して、上下方向(図2の矢印方
向)に摺動可能に設けられる。ステージ3と対向する位
置には、対物レンズ5が光学式ユニット1に着脱可能に
設けられている。対物レンズ5の上方には、対物レンズ
5の軸心と整合した状態でCCDカメラ6が配置されて
いる。そして、CCDカメラ6の焦点を合わせるために
以下に示す光学式機構を備えている。
【0011】半導体レーザ8は焦点合わせ用の光源であ
り、半導体レーザ8から射出した光束は、コリメータレ
ンズ9により平行光に補正された後、補正プリズム9に
より断面形状が円形に補正される。更に、その光束はレ
ンズ11,偏向ビームスプリッタ13を通過後、ダイク
ロイックミラー12により反射して対物レンズ5を通過
しワーク2表面に照射される。ダイクロイックミラー1
2は、反射光と透過光が異なった分光特性を持ち、対物
レンズ5からの光束が、可視光であれば透過し赤外光で
あれば反射するものである。
【0012】ワーク2表面により反射した光束は、対物
レンズ5を通過した後ダイクロイックミラー12でビー
ムスプリッタ13に向けて反射する。ダイクロイックミ
ラー12から反射した光束はビームスプリッタ13で反
射する。この反射した光束の光路には、本発明の分割手
段であるビームスプリッタ14が配置される。このビー
ムスプリッタ14により、光束は50:50の割合で透
過および反射する。そして、反射方向には本発明の光路
規制手段としてのピンホール17及び第1受光素子15
が配設され、また透過方向には受光素子16が配設され
ている。
【0013】上記ビームスプリッタ14から反射した光
束は、合焦点時にピンホール17を全て通過し第1受光
素子15に照射される光束は最大になる。焦点がずれて
いるとき、ピンホール17に到達した光束はピンホール
17より大きくなり合焦点時より少ない光束が受光素子
15に照射される。一方、上記ビームスプリッタ14を
透過した光束は第2受光素子16に照射される。上記第
2受光素子16に照射された光量は合焦点時に受光素子
15に照射される光量と一致する。
【0014】また、光学式ユニット1の位置はフレーム
70に固定されたモータ22により設定される。即ち、
モータ22の回転をボールネジ23に伝達して、光学式
ユニット1自身を上下方向に駆動するのである。従っ
て、モータ22の回転により、ステージ3と光学式ユニ
ット1の離隔、即ち、ワーク2表面と対物レンズ5との
離隔が変更され焦点合わせを行うことができる。
【0015】また、光学式ユニット1の側面には、その
上下位置を検出するための光学式リニアエンコーダ21
が設けられる。光学式リニアエンコーダ21は、周知の
直線位置センサで、フレーム70に固定されるメインス
ケール21Aと、光学式ユニット1側面に固定され光
源,受光素子,インデックススケール等を内臓するセン
サヘッド21Bとからなる。光学式ユニット1とともに
上下動するセンサヘッド21Bのインデックススケール
がフレーム70に固定されたメインスケール21Aのど
の部分に位置しているかを検出することにより、光学式
ユニット1の上下位置が検出される。
【0016】次に、合焦制御装置40の構成について図
3を参照して説明する。
【0017】合焦制御装置40は、周知のCPU51,
ROM52,RAM53,入出力インターフェース5
4,バス55等から構成される電子制御装置50と、モ
ータ22を駆動するモータドライバ61と、液晶を用い
て7セグメント表示をするLCD63と、LCD63を
駆動するLCDドライバ62と、操作スイッチ64等を
備えている。また、入出力インターフェース54には、
前記光学式リニアエンコーダ21及び第1・第2受光素
子15,16が接続されている。更に、光学式ユニット
1の位置と焦点ずれに対応する出力Cとの関係は図5に
示す様になるが、ROM52には、出力Cの値と、出力
Cの値に対応する位置から合焦点位置までの距離に応じ
たモータ22の駆動量を記憶したテーブルが格納されて
いる。
【0018】次に、このように構成された測定装置の焦
点合わせ動作について図4及び図5を参照して説明す
る。
【0019】上述した様に半導体レーザ8から射出した
光束は、コリメータレンズ9により平行光に補正された
後、補正プリズム9により断面形状が円形に補正され
る。その光束はレンズ11,偏向ビームスプリッタ13
を通過後、ダイクロイックミラー12により反射して対
物レンズ5を通過しワーク2表面に照射される。
【0020】ワーク2表面により反射した光束は、対物
レンズ5を通過した後ダイクロイックミラー12でビー
ムスプリッタ13に向けて反射する。ダイクロイックミ
ラー12から反射した光束はビームスプリッタ13で反
射し、更にビームスプリッタ14により、光束は50:
50の割合で透過,反射する。そして、反射光はピンホ
ール17を介して第1受光素子15を、透過光は直接第
2受光素子16を照射している。この状態で操作スイッ
チ部64を操作することにより、図4に示す合焦制御ル
ーチンが起動する。
【0021】まず、第1受光素子15の出力信号A1及
び第2受光素子16の出力信号B1を入出力インターフ
ェース54においてA−D変換を行った後CPU51が
読み込む(S1)。
【0022】CPU51は、焦点ずれに対応する出力C
1を、C1=A1/B1から計算する(S2)。次い
で、焦点ずれに対応する出力C1がC1=1であるかど
うかをCPU51で判断する(S3)。そして、図5に
示す様にC1=1のとき(S3:YES)には光学式ユ
ニット1は合焦点位置にあることになり、そのことをL
CD63に表示し、焦点合わせは終了する。
【0023】C1=1でないとき(S3:NO)には、
CPU51はモータ22により光学式ユニット1を図2
に示す上方向に微小駆動させる(S4)。再び、第1受
光素子15の出力A2と第2受光素子16の出力B2と
をCPU51により読み込む(S5)。このときの出力
C2をC2=A2/B2から計算する(S6)。
【0024】そして、C2−C1の値が正であるか負で
あるかをCPU51により判断する(S7)。その判断
に基づきモータ22の駆動方向を決める。すなわち、C
2−C1の値が正である場合にはモータ22を正方向に
回転させ、C2−C1の値が負である場合にはモータ2
2を負方向に回転させる。続いて、CPU51が出力C
2に基づいて前記ROM52のテーブルからモータ22
の駆動量を読み出し、その駆動量に応じただけモータ2
2を駆動する(S8,S9)。従って、焦点ずれに応じ
た距離だけ光学式ユニット1が移動して焦点合わせが行
われ、LCD63にそのことを表示し焦点合わせは終了
する。
【0025】以上説明した様に、本実施例の焦点合わせ
装置を備えた形状測定装置によれば、レーザー光を対物
レンズ5の軸心を通過させてワーク2表面に照射し、そ
の反射光を2分割し焦点ずれの位置を検出している。こ
のため、従来の様に対物レンズと対象物との間を合焦点
位置をはさんで走査し、一度合焦点を通過した後、再び
最高出力の位置に戻らなくても焦点合わせを実行でき
る。
【0026】尚、前記実施例においては、出力C2に応
じたモータ22の駆動量を記憶したテーブルをROM5
2に設けていたが、そのテーブルを設けず前記S7の判
断の後モータ22を一定量ずつ駆動させそのときの第1
・第2受光素子15,16の信号A・Bを読み込み、C
=A/Bの値が1になるまで、モータ22を駆動するよ
うにしてもよい。
【0027】また、前記ビームスプリッタ14により光
束が透過および反射した後、透過方向にピンホール17
を設けてもよい。
【0028】
【発明の効果】以上説明したことから明かなように、本
発明の焦点合わせ装置によれば焦点合わせが非常に敏速
にできるという優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基本的発明を例示するブロック図であ
る。
【図2】焦点合わせ装置を備えた形状測定装置の機械部
分の概略構成図である
【図3】焦点合わせ装置を備えた形状測定装置の制御部
分の概略構成図である
【図4】合焦制御ルーチンを表すフローチャートである
【図5】焦点ずれの検出方法を説明する図である。
【図6】従来の焦点ずれの検出方法を説明する図であ
る。
【図7】従来の焦点ずれの検出方法を説明する図であ
る。
【符号の説明】
1 光学式ユニット 2 ワーク 3 ステージ 5 対物レンズ 8 半導体レーザ 15 第1受光素子 16 第2受光素子 22 モータ 40 合焦制御装置 50 電子制御装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 彰洋 名古屋市瑞穂区苗代町15番1号ブラザー工 業株式会社内

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 対象物の表面形状を測定する光学機器と
    該対象物との焦点を合わせる焦点合わせ装置において、 上記光学機器の対物レンズを光軸として、上記対象物に
    測定用光線束を照射する光源と、 上記対象物からの反射光を第1反射光と第2反射光に分
    割する分割手段と、 上記第1反射光を光路を制限する光路規制手段と、 該光路規制手段を通過した後受光する第1受光素子と、 上記第2反射光を受光する第2受光素子と、 該照射された第1,第2受光素子の出力に応じて焦点の
    ずれを検出する焦点ずれ検出手段と、 該焦点ずれ検出手段にて検出した焦点ずれに応じて、上
    記対象物と上記対物レンズとの離隔を変更する離隔変更
    手段とを備えたことを特徴とする焦点合わせ装置。
JP19400591A 1991-08-02 1991-08-02 焦点合わせ装置 Pending JPH0534119A (ja)

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JP19400591A JPH0534119A (ja) 1991-08-02 1991-08-02 焦点合わせ装置

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006162554A (ja) * 2004-12-10 2006-06-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 測距方法、傾き検出方法、およびフリップチップ実装方法
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