JPH05340989A - 耐電圧検査装置 - Google Patents
耐電圧検査装置Info
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- JPH05340989A JPH05340989A JP14464292A JP14464292A JPH05340989A JP H05340989 A JPH05340989 A JP H05340989A JP 14464292 A JP14464292 A JP 14464292A JP 14464292 A JP14464292 A JP 14464292A JP H05340989 A JPH05340989 A JP H05340989A
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- voltage
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 耐電圧検査時に不良なＰＴＣサーミスタ素子
に起因する検査装置の損傷が起きない耐電圧検査装置を
提供することである。 【構成】 耐電圧検査装置であって、検査対象物に電圧
を印加する電圧印加手段と、回路に流れる電流を検出す
る検出手段と、この検出手段からの出力信号と基準信号
とを比較する比較手段と、この比較手段からの出力信号
により回路の開閉を行う開閉手段とを具備してなる耐電
圧検査装置。
に起因する検査装置の損傷が起きない耐電圧検査装置を
提供することである。 【構成】 耐電圧検査装置であって、検査対象物に電圧
を印加する電圧印加手段と、回路に流れる電流を検出す
る検出手段と、この検出手段からの出力信号と基準信号
とを比較する比較手段と、この比較手段からの出力信号
により回路の開閉を行う開閉手段とを具備してなる耐電
圧検査装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばＰＴＣサーミス
タ素子の耐電圧を検査する検査装置に関するものであ
る。
タ素子の耐電圧を検査する検査装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】計測器や回路の温度補償に際してＰＴＣ
サーミスタ（正特性サーミスタ）素子が広く使用されて
おり、このＰＴＣサーミスタ素子は、最大使用電圧以下
の電圧で破壊されないものであることを検査するため
に、１個づつ耐電圧検査が実施されている。このような
耐電圧検査には、従来、図４に示す様な耐電圧検査装置
が用いられて来た。
サーミスタ（正特性サーミスタ）素子が広く使用されて
おり、このＰＴＣサーミスタ素子は、最大使用電圧以下
の電圧で破壊されないものであることを検査するため
に、１個づつ耐電圧検査が実施されている。このような
耐電圧検査には、従来、図４に示す様な耐電圧検査装置
が用いられて来た。
【０００３】図４中、２１は交流電源であり、例えば２
００Ｖ〜１．５ｋＶ程度の電圧を印加できる。２２は交
流電源２１の最大電圧に対応した電圧計、２３は検査対
象であるＰＴＣサーミスタ素子であり、搬送装置（図示
せず）により１個づつこの位置にセットされるように構
成されている。２４は開閉器であり、電圧印加時間を設
定するタイマ２５に接続されており、ＰＴＣサーミスタ
素子２３に電圧が印加されてからタイマ２５に設定され
た時間が経過した時点で開閉器２４が開状態となり、Ｐ
ＴＣサーミスタ素子２３への通電が停止されるように構
成されている。
００Ｖ〜１．５ｋＶ程度の電圧を印加できる。２２は交
流電源２１の最大電圧に対応した電圧計、２３は検査対
象であるＰＴＣサーミスタ素子であり、搬送装置（図示
せず）により１個づつこの位置にセットされるように構
成されている。２４は開閉器であり、電圧印加時間を設
定するタイマ２５に接続されており、ＰＴＣサーミスタ
素子２３に電圧が印加されてからタイマ２５に設定され
た時間が経過した時点で開閉器２４が開状態となり、Ｐ
ＴＣサーミスタ素子２３への通電が停止されるように構
成されている。
【０００４】この耐電圧検査装置では、最大使用電圧以
下の電圧を一定時間印加して、外観や抵抗値に問題が無
いＰＴＣサーミスタ素子については合格とし、外観や抵
抗値が変化したものについては不良品と見なして取り除
く作業が行われている。
下の電圧を一定時間印加して、外観や抵抗値に問題が無
いＰＴＣサーミスタ素子については合格とし、外観や抵
抗値が変化したものについては不良品と見なして取り除
く作業が行われている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な耐電圧検査装置では、ＰＴＣサーミスタ素子が不良品
であった場合、過大な短絡電流が流れ、ＰＴＣサーミス
タ素子との接続端子やＰＴＣサーミスタ素子を搬送する
搬送機構が損傷することが起きる問題が有った。例え
ば、印加電圧１ｋＶ、印加時間１秒間で行う耐電圧検査
では、ＰＴＣサーミスタ素子が不良品であった場合、例
えば電圧を印加して約０．１秒後には回路が短絡状態に
なり、短絡状態が残り０．９秒間続き、過大な短絡電流
が回路に流れ続ける為、検査装置自体に損傷が生じてい
たのである。
な耐電圧検査装置では、ＰＴＣサーミスタ素子が不良品
であった場合、過大な短絡電流が流れ、ＰＴＣサーミス
タ素子との接続端子やＰＴＣサーミスタ素子を搬送する
搬送機構が損傷することが起きる問題が有った。例え
ば、印加電圧１ｋＶ、印加時間１秒間で行う耐電圧検査
では、ＰＴＣサーミスタ素子が不良品であった場合、例
えば電圧を印加して約０．１秒後には回路が短絡状態に
なり、短絡状態が残り０．９秒間続き、過大な短絡電流
が回路に流れ続ける為、検査装置自体に損傷が生じてい
たのである。
【０００６】従って、本発明の目的は、耐電圧検査時に
不良なＰＴＣサーミスタ素子に起因する検査装置の損傷
が起きない耐電圧検査装置を提供することである。
不良なＰＴＣサーミスタ素子に起因する検査装置の損傷
が起きない耐電圧検査装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記の問題点に対する研
究が鋭意押し進められていった結果、耐電圧検査装置に
ＰＴＣサーミスタ素子をセットし、そして電源をオンに
した時、回路に流れる電流を測定すると、電流波形には
図１に示すタイプの場合と図２に示すタイプの場合とが
有り、不良品であるＰＴＣサーミスタ素子の場合には図
１に示すタイプのものであり、合格品であるＰＴＣサー
ミスタ素子の場合には図２に示すタイプのものであるこ
とが判って来た。即ち、図１に示すのは、ＰＴＣサーミ
スタ素子が不良品であった為、破壊が引き起こされたこ
とに起因した電流波形であり、電流値の振幅が大きいと
いった特徴のものである。これに対して、図２に示すの
は、ＰＴＣサーミスタ素子が正常なものである為、電流
値は図１に比べて非常に小さな振幅で振動しながら減衰
し、平衡電流へと移行するといった特徴がある。
究が鋭意押し進められていった結果、耐電圧検査装置に
ＰＴＣサーミスタ素子をセットし、そして電源をオンに
した時、回路に流れる電流を測定すると、電流波形には
図１に示すタイプの場合と図２に示すタイプの場合とが
有り、不良品であるＰＴＣサーミスタ素子の場合には図
１に示すタイプのものであり、合格品であるＰＴＣサー
ミスタ素子の場合には図２に示すタイプのものであるこ
とが判って来た。即ち、図１に示すのは、ＰＴＣサーミ
スタ素子が不良品であった為、破壊が引き起こされたこ
とに起因した電流波形であり、電流値の振幅が大きいと
いった特徴のものである。これに対して、図２に示すの
は、ＰＴＣサーミスタ素子が正常なものである為、電流
値は図１に比べて非常に小さな振幅で振動しながら減衰
し、平衡電流へと移行するといった特徴がある。
【０００８】従って、このような特徴を検出すれば、例
えば電流の波形、絶対値などの特徴を基準値と比較し、
測定値が基準値から外れた場合には、検査装置の回路が
開くように構成させれば、検査しているＰＴＣサーミス
タ素子が不良品で有った場合でも、回路に過電流が長時
間流れる前に強制的に通電停止の状態にでき、検査装置
の損傷が起こらないようになることが判った。
えば電流の波形、絶対値などの特徴を基準値と比較し、
測定値が基準値から外れた場合には、検査装置の回路が
開くように構成させれば、検査しているＰＴＣサーミス
タ素子が不良品で有った場合でも、回路に過電流が長時
間流れる前に強制的に通電停止の状態にでき、検査装置
の損傷が起こらないようになることが判った。
【０００９】このような知見に基づいて本発明が達成さ
れたものであり、前記本発明の目的は、耐電圧検査装置
であって、検査対象物に電圧を印加する電圧印加手段
と、回路に流れる電流を検出する検出手段と、この検出
手段からの出力信号と基準信号とを比較する比較手段
と、この比較手段からの出力信号により回路の開閉を行
う開閉手段とを具備してなることを特徴とする耐電圧検
査装置によって達成される。
れたものであり、前記本発明の目的は、耐電圧検査装置
であって、検査対象物に電圧を印加する電圧印加手段
と、回路に流れる電流を検出する検出手段と、この検出
手段からの出力信号と基準信号とを比較する比較手段
と、この比較手段からの出力信号により回路の開閉を行
う開閉手段とを具備してなることを特徴とする耐電圧検
査装置によって達成される。
【００１０】ところで、検査装置の回路に流れる電流値
と上限電流値とを比較して、前者が後者をほんの一瞬で
もオーバーした時、ＰＴＣサーミスタ素子が不良品と判
定されるように構成されていると、本来、使用に耐え得
るものも不良品と判定される場合が起き得る。そこで、
更なる研究が鋭意押し進められていった結果、回路に流
れる電流値の時間積分値である通電量と上限通電量とを
比較し、前者が後者を越えた時には、開閉手段をオープ
ン状態とし、この時のＰＴＣサーミスタ素子が不良品で
あると判定するように構成すれば、耐電圧検査装置には
過電流による損傷が起こらず、しかも、選別の精度も格
段に向上することが判明した。
と上限電流値とを比較して、前者が後者をほんの一瞬で
もオーバーした時、ＰＴＣサーミスタ素子が不良品と判
定されるように構成されていると、本来、使用に耐え得
るものも不良品と判定される場合が起き得る。そこで、
更なる研究が鋭意押し進められていった結果、回路に流
れる電流値の時間積分値である通電量と上限通電量とを
比較し、前者が後者を越えた時には、開閉手段をオープ
ン状態とし、この時のＰＴＣサーミスタ素子が不良品で
あると判定するように構成すれば、耐電圧検査装置には
過電流による損傷が起こらず、しかも、選別の精度も格
段に向上することが判明した。
【００１１】従って、本発明の目的は、耐電圧検査装置
であって、検査対象物に電圧を印加する電圧印加手段
と、回路に流れる電流を検出する検出手段と、この検出
手段からの出力信号を積分する積分手段と、この積分手
段からの出力信号と基準信号とを比較する比較手段と、
この比較手段からの出力信号により回路の開閉を行う開
閉手段とを具備してなることを特徴とする耐電圧検査装
置によっても達成される。
であって、検査対象物に電圧を印加する電圧印加手段
と、回路に流れる電流を検出する検出手段と、この検出
手段からの出力信号を積分する積分手段と、この積分手
段からの出力信号と基準信号とを比較する比較手段と、
この比較手段からの出力信号により回路の開閉を行う開
閉手段とを具備してなることを特徴とする耐電圧検査装
置によっても達成される。
【００１２】尚、本発明の耐電圧検査装置における検出
手段としては、回路に組み込まれた低抵抗値の抵抗と、
この抵抗に対して設けられた電圧計からなるものを用い
ることができる。そして、本発明の耐電圧検査装置は、
検出手段により電流の検出が行われ、仮に、検出値が基
準値を上回った時には、開閉手段により通電が強制停止
させられ、この検査ＰＴＣサーミスタ素子は不良品と判
定されるようになるので、装置に損傷が起こらず、しか
も、不良なＰＴＣサーミスタ素子に対して流れる電流量
が少なくなるから、エネルギーの無駄をなくすことが出
来、ランニングコストの低減が図れる。
手段としては、回路に組み込まれた低抵抗値の抵抗と、
この抵抗に対して設けられた電圧計からなるものを用い
ることができる。そして、本発明の耐電圧検査装置は、
検出手段により電流の検出が行われ、仮に、検出値が基
準値を上回った時には、開閉手段により通電が強制停止
させられ、この検査ＰＴＣサーミスタ素子は不良品と判
定されるようになるので、装置に損傷が起こらず、しか
も、不良なＰＴＣサーミスタ素子に対して流れる電流量
が少なくなるから、エネルギーの無駄をなくすことが出
来、ランニングコストの低減が図れる。
【００１３】
【実施例】図３は、本発明に係る耐電圧検査装置の一実
施例を示す概略図である。図３中、１は交流電源であ
り、例えば２００Ｖ〜１．５ｋＶ程度の電圧を印加でき
る。２は交流電源１の最大電圧に対応した電圧計、３は
検査対象となるＰＴＣサーミスタ素子であり、搬送装置
（図示せず）によって１個づつこの位置にセットされる
ように構成されている。尚、ＰＴＣサーミスタ素子３と
電圧計２は並列に接続されているので、ＰＴＣサーミス
タ素子３にかかる電圧が電圧計２により測定できる。
施例を示す概略図である。図３中、１は交流電源であ
り、例えば２００Ｖ〜１．５ｋＶ程度の電圧を印加でき
る。２は交流電源１の最大電圧に対応した電圧計、３は
検査対象となるＰＴＣサーミスタ素子であり、搬送装置
（図示せず）によって１個づつこの位置にセットされる
ように構成されている。尚、ＰＴＣサーミスタ素子３と
電圧計２は並列に接続されているので、ＰＴＣサーミス
タ素子３にかかる電圧が電圧計２により測定できる。
【００１４】４は第１の開閉器であり、電圧印加時間を
設定するタイマ５に接続されていて、電圧が印加されて
から所定の設定時間が経過すると、タイマ５からの信号
により第１の開閉器４が開かれ、回路への通電が停止す
る。６は第２の開閉器、７は固定抵抗であり、この固定
抵抗７の抵抗値はＰＴＣサーミスタ素子３の抵抗値に比
べて極めて小さなもの（約１Ω）である。従って、交流
電源１の電圧の殆どはＰＴＣサーミスタ素子３に印加さ
れるように構成されている。
設定するタイマ５に接続されていて、電圧が印加されて
から所定の設定時間が経過すると、タイマ５からの信号
により第１の開閉器４が開かれ、回路への通電が停止す
る。６は第２の開閉器、７は固定抵抗であり、この固定
抵抗７の抵抗値はＰＴＣサーミスタ素子３の抵抗値に比
べて極めて小さなもの（約１Ω）である。従って、交流
電源１の電圧の殆どはＰＴＣサーミスタ素子３に印加さ
れるように構成されている。
【００１５】８は固定抵抗７の両端にかかる電圧を測定
し、この電圧値を固有抵抗７の抵抗値で除した値、即ち
電流値に変換する検出器であり、９は検出器８からの交
流電流値を直流電流値に変換するＡＣ−ＤＣコンバー
タ、１０はＡＣ−ＤＣコンバータ９に接続された積分器
であり、ＡＣ−ＤＣコンバータ９からの出力信号が積分
器１０により通電量に変換されるように構成されてい
る。
し、この電圧値を固有抵抗７の抵抗値で除した値、即ち
電流値に変換する検出器であり、９は検出器８からの交
流電流値を直流電流値に変換するＡＣ−ＤＣコンバー
タ、１０はＡＣ−ＤＣコンバータ９に接続された積分器
であり、ＡＣ−ＤＣコンバータ９からの出力信号が積分
器１０により通電量に変換されるように構成されてい
る。
【００１６】１１は積分器１０及び上限電流設定器１２
が接続された比較器であり、積分器１０から送られて来
る通電量と上限電流設定器１２から送られて来る上限通
電量とが比較器１１で比較され、前者が後者を上回った
時に、その旨の信号が出力され、この出力信号によって
開閉器６が開状態になり、又、前者が後者を越えない限
り開閉器６の閉状態が維持されるように構成されてい
る。尚、タイマ５の設定時間を越えた時には、開閉器４
が開状態になり、回路への通電が停止する。
が接続された比較器であり、積分器１０から送られて来
る通電量と上限電流設定器１２から送られて来る上限通
電量とが比較器１１で比較され、前者が後者を上回った
時に、その旨の信号が出力され、この出力信号によって
開閉器６が開状態になり、又、前者が後者を越えない限
り開閉器６の閉状態が維持されるように構成されてい
る。尚、タイマ５の設定時間を越えた時には、開閉器４
が開状態になり、回路への通電が停止する。
【００１７】上記のように構成させた耐電圧検査装置に
ＰＴＣサーミスタ素子がセットされ、交流電源１のスイ
ッチがオンになり、電圧計２が異常を示さなければ、こ
のＰＴＣサーミスタ素子は合格品であり、又、電圧計２
が異常を示した場合等には、このＰＴＣサーミスタ素子
は不良品であり、しかも、この時には開閉器６が作動す
るから、過電流が回路に流れることは防止され、耐電圧
検査装置が損傷しないものとなる。
ＰＴＣサーミスタ素子がセットされ、交流電源１のスイ
ッチがオンになり、電圧計２が異常を示さなければ、こ
のＰＴＣサーミスタ素子は合格品であり、又、電圧計２
が異常を示した場合等には、このＰＴＣサーミスタ素子
は不良品であり、しかも、この時には開閉器６が作動す
るから、過電流が回路に流れることは防止され、耐電圧
検査装置が損傷しないものとなる。
【００１８】因みに、上記構成の耐電圧検査装置を用い
て、下記の条件でＰＴＣサーミスタ素子の耐電圧検査を
実施した。 電源：交流５０Ｈｚ、最大電圧１．５ｋＶ、最大電流３
Ａ 試料：個数１０，０００、印加電圧１ｋＶ、印加時間５
秒間 抵抗値１０００±３００Ω この結果、積分器１０による通電量が基準値より大き
く、不良と判断されたＰＴＣサーミスタ素子は１４個あ
った。尚、この１４個のＰＴＣサーミスタ素子の抵抗値
を測定したところ、全て１３００Ω以上の抵抗値を示し
たものであって、前記の検査が正しいことを示してい
た。
て、下記の条件でＰＴＣサーミスタ素子の耐電圧検査を
実施した。 電源：交流５０Ｈｚ、最大電圧１．５ｋＶ、最大電流３
Ａ 試料：個数１０，０００、印加電圧１ｋＶ、印加時間５
秒間 抵抗値１０００±３００Ω この結果、積分器１０による通電量が基準値より大き
く、不良と判断されたＰＴＣサーミスタ素子は１４個あ
った。尚、この１４個のＰＴＣサーミスタ素子の抵抗値
を測定したところ、全て１３００Ω以上の抵抗値を示し
たものであって、前記の検査が正しいことを示してい
た。
【００１９】又、耐電圧検査後に、耐電圧検査装置の素
子搬送部及び電極部の損傷の有無を調べたが、何ら異常
は発見されなかった。次に、比較例として図４に示す耐
電圧検査装置を用いて、下記の条件でＰＴＣサーミスタ
素子の耐電圧検査を実施した。尚、試料として用いたＰ
ＴＣサーミスタ素子は上記で使用したＰＴＣサーミスタ
素子と同一のロットのものである。
子搬送部及び電極部の損傷の有無を調べたが、何ら異常
は発見されなかった。次に、比較例として図４に示す耐
電圧検査装置を用いて、下記の条件でＰＴＣサーミスタ
素子の耐電圧検査を実施した。尚、試料として用いたＰ
ＴＣサーミスタ素子は上記で使用したＰＴＣサーミスタ
素子と同一のロットのものである。
【００２０】電源：交流５０Ｈｚ、最大電圧１．５ｋ
Ｖ、最大電流３Ａ 試料：個数１０，０００、印加電圧１ｋＶ、印加時間５
秒間 抵抗値１０００±３００Ω この結果、電圧印加時に火花を出し、完全に破壊された
ＰＴＣサーミスタ素子は８個あった。そして、耐電圧検
査装置のＰＴＣサーミスタ素子の搬送部及び電極部の損
傷を調べると、樹脂製の搬送部は炭化した状態であり、
電極部にもかなりの変形が認められた。
Ｖ、最大電流３Ａ 試料：個数１０，０００、印加電圧１ｋＶ、印加時間５
秒間 抵抗値１０００±３００Ω この結果、電圧印加時に火花を出し、完全に破壊された
ＰＴＣサーミスタ素子は８個あった。そして、耐電圧検
査装置のＰＴＣサーミスタ素子の搬送部及び電極部の損
傷を調べると、樹脂製の搬送部は炭化した状態であり、
電極部にもかなりの変形が認められた。
【００２１】このように、本発明の耐電圧検査装置は、
ＰＴＣサーミスタ素子の良・不の選別に際して、ＰＴＣ
サーミスタ素子の不良に起因した過電流が長時間にわた
って回路に流れることがなく、耐電圧検査装置が故障せ
ず、ＰＴＣサーミスタ素子が発火して火災に至ると言っ
た事故は起こらず、極めて信頼性や安全性の高いもので
あり、しかも、不良なＰＴＣサーミスタ素子に対して流
れる電流量が少なくなるから、エネルギーの無駄をなく
すことが出来、ランニングコストの低減が図れる。
ＰＴＣサーミスタ素子の良・不の選別に際して、ＰＴＣ
サーミスタ素子の不良に起因した過電流が長時間にわた
って回路に流れることがなく、耐電圧検査装置が故障せ
ず、ＰＴＣサーミスタ素子が発火して火災に至ると言っ
た事故は起こらず、極めて信頼性や安全性の高いもので
あり、しかも、不良なＰＴＣサーミスタ素子に対して流
れる電流量が少なくなるから、エネルギーの無駄をなく
すことが出来、ランニングコストの低減が図れる。
【００２２】
【効果】ＰＴＣサーミスタ素子の不良に起因した過電流
が長時間にわたって回路に流れることがなく、耐電圧検
査装置が故障せず、ＰＴＣサーミスタ素子が発火して火
災に至ると言った事故は起こらず、極めて信頼性や安全
性の高いものであり、しかも、不良なＰＴＣサーミスタ
素子に対して流れる電流量が少なくなるから、エネルギ
ーの無駄をなくすことが出来、ランニングコストの低減
が図れる。
が長時間にわたって回路に流れることがなく、耐電圧検
査装置が故障せず、ＰＴＣサーミスタ素子が発火して火
災に至ると言った事故は起こらず、極めて信頼性や安全
性の高いものであり、しかも、不良なＰＴＣサーミスタ
素子に対して流れる電流量が少なくなるから、エネルギ
ーの無駄をなくすことが出来、ランニングコストの低減
が図れる。
【図１】不良ＰＴＣサーミスタ素子に流れる電流波形を
示すグラフ。
示すグラフ。
【図２】正常ＰＴＣサーミスタ素子に流れる電流波形を
示すグラフ。
示すグラフ。
【図３】本発明に係る耐電圧検査装置の回路図。
【図４】従来の耐電圧検査装置の回路図。
１ 交流電源 ３ ＰＴＣサーミスタ素子 ６ 第２の開閉器 ７ 固定抵抗 ８ 検出器 ９ ＡＣ−ＤＣコンバータ １０ 積分器 １１ 比較器 １２ 上限電流設定器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 工藤 照美 埼玉県熊谷市大字三ケ尻5310番地 秩父セ メント株式会社ファインセラミックス本部 内 (72)発明者 加藤 忠男 埼玉県熊谷市大字三ケ尻5310番地 秩父セ メント株式会社ファインセラミックス本部 内
Claims (3)
- 【請求項１】 耐電圧検査装置であって、検査対象物に
電圧を印加する電圧印加手段と、回路に流れる電流を検
出する検出手段と、この検出手段からの出力信号と基準
信号とを比較する比較手段と、この比較手段からの出力
信号により回路の開閉を行う開閉手段とを具備してなる
ことを特徴とする耐電圧検査装置。 - 【請求項２】 耐電圧検査装置であって、検査対象物に
電圧を印加する電圧印加手段と、回路に流れる電流を検
出する検出手段と、この検出手段からの出力信号を積分
する積分手段と、この積分手段からの出力信号と基準信
号とを比較する比較手段と、この比較手段からの出力信
号により回路の開閉を行う開閉手段とを具備してなるこ
とを特徴とする耐電圧検査装置。 - 【請求項３】 検出手段が、回路に組み込まれた低抵抗
値の抵抗と、この抵抗に対して設けられた電圧計からな
ることを特徴とする請求項１又は請求項２の耐電圧検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14464292A JPH05340989A (ja) | 1992-06-04 | 1992-06-04 | 耐電圧検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14464292A JPH05340989A (ja) | 1992-06-04 | 1992-06-04 | 耐電圧検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05340989A true JPH05340989A (ja) | 1993-12-24 |
Family
ID=15366816
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14464292A Pending JPH05340989A (ja) | 1992-06-04 | 1992-06-04 | 耐電圧検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05340989A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103163434A (zh) * | 2013-03-07 | 2013-06-19 | 苏州科技学院 | 用于特高压长电缆直流耐压试验后的恒流放电装置 |
| CN112611474A (zh) * | 2020-12-07 | 2021-04-06 | 句容市博远电子有限公司 | 多功能ntc温度传感器参数测试系统 |
| CN113777478A (zh) * | 2021-05-31 | 2021-12-10 | 北京航天光华电子技术有限公司 | 一种自动测试仪的全面自检方法 |
| CN113777478B (zh) * | 2021-05-31 | 2024-06-11 | 北京航天光华电子技术有限公司 | 一种自动测试仪的全面自检方法 |
-
1992
- 1992-06-04 JP JP14464292A patent/JPH05340989A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103163434A (zh) * | 2013-03-07 | 2013-06-19 | 苏州科技学院 | 用于特高压长电缆直流耐压试验后的恒流放电装置 |
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