JPH05326628A - フリップチップの実装方法 - Google Patents
フリップチップの実装方法Info
- Publication number
- JPH05326628A JPH05326628A JP12866492A JP12866492A JPH05326628A JP H05326628 A JPH05326628 A JP H05326628A JP 12866492 A JP12866492 A JP 12866492A JP 12866492 A JP12866492 A JP 12866492A JP H05326628 A JPH05326628 A JP H05326628A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- groove
- adhesive
- chip
- circuit board
- flip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L24/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/2901—Shape
- H01L2224/29016—Shape in side view
- H01L2224/29018—Shape in side view comprising protrusions or indentations
- H01L2224/29019—Shape in side view comprising protrusions or indentations at the bonding interface of the layer connector, i.e. on the surface of the layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73203—Bump and layer connectors
- H01L2224/73204—Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8319—Arrangement of the layer connectors prior to mounting
- H01L2224/83192—Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/838—Bonding techniques
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/06—Polymers
- H01L2924/078—Adhesive characteristics other than chemical
- H01L2924/0781—Adhesive characteristics other than chemical being an ohmic electrical conductor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/321—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by conductive adhesives
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3452—Solder masks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 回路基板上に感光性樹脂で形成した溝部に接
着材を充填し、この溝部の中にICチップ等のバンプを
位置せしめて電気的に接続するようにしたフリップチッ
プの実装方法。 【構成】 A工程の回路基板1には回路部2が設けてあ
り、B工程では、前記回路基板1の回路2側の上面のフ
リップチップ実装エリアに、ポリイアミド等の感光性樹
脂3をスピンコーター等の塗布機器を使用して、所要の
厚さに、均一に塗布し、つづいて、C工程では、フォト
マスク等を用いて露光・硬化することによりバンプの接
続部の感光性樹脂3を除去し、所定の幅の溝部4を形成
し、D工程では、スクリーン印刷により、前記溝部4に
導電性の接着材5を充填し、さらにE工程では、位置合
わせを行って、ICチップ等6に直接形成されたバンプ
7を前記接着材5を充填した溝部4に位置せしめ、F工
程では、所定の条件で、例えば150度で1時間の条件
で硬化することにより、回路基板1とICチップ等6は
電気的に接続される。
着材を充填し、この溝部の中にICチップ等のバンプを
位置せしめて電気的に接続するようにしたフリップチッ
プの実装方法。 【構成】 A工程の回路基板1には回路部2が設けてあ
り、B工程では、前記回路基板1の回路2側の上面のフ
リップチップ実装エリアに、ポリイアミド等の感光性樹
脂3をスピンコーター等の塗布機器を使用して、所要の
厚さに、均一に塗布し、つづいて、C工程では、フォト
マスク等を用いて露光・硬化することによりバンプの接
続部の感光性樹脂3を除去し、所定の幅の溝部4を形成
し、D工程では、スクリーン印刷により、前記溝部4に
導電性の接着材5を充填し、さらにE工程では、位置合
わせを行って、ICチップ等6に直接形成されたバンプ
7を前記接着材5を充填した溝部4に位置せしめ、F工
程では、所定の条件で、例えば150度で1時間の条件
で硬化することにより、回路基板1とICチップ等6は
電気的に接続される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はICチップ等に直接形成
されたバンプを用いて回路基板と接続するフリップチッ
プ実装法に関する。
されたバンプを用いて回路基板と接続するフリップチッ
プ実装法に関する。
【0002】
【従来の技術】電子機器モジュールの小型化、多機能
化、高性能化に伴い、半導体素子の実装においては、高
密度実装が求められており、特に、半導体素子に直接形
成したバンプを用いて基板と接続するフリップチップは
高密度実装法として有効である。このフリップチップの
実装方法としては、半導体素子上にメッキ方式や蒸着方
式等により形成したバンプと、基板上に、前記バンプに
対応する位置に予め供給しておいた接着材若しくは半田
等と位置合わせを行い実装する。通常のワイヤボンディ
ングによってバンプを形成した場合でのバンプ間のピッ
チは130ミクロン程度であるが、フリップチップによ
ってメッキ方式等によりバンプを形成した場合では、バ
ンプ間のピッチは20ミクロン程度まで可能とされてい
る。ところが、このようにバンプ間のピッチが狭くなる
と、基板に供給される接着材等の供給量と位置精度が重
要となり、製品の歩留りや品質に大きく関係する。
化、高性能化に伴い、半導体素子の実装においては、高
密度実装が求められており、特に、半導体素子に直接形
成したバンプを用いて基板と接続するフリップチップは
高密度実装法として有効である。このフリップチップの
実装方法としては、半導体素子上にメッキ方式や蒸着方
式等により形成したバンプと、基板上に、前記バンプに
対応する位置に予め供給しておいた接着材若しくは半田
等と位置合わせを行い実装する。通常のワイヤボンディ
ングによってバンプを形成した場合でのバンプ間のピッ
チは130ミクロン程度であるが、フリップチップによ
ってメッキ方式等によりバンプを形成した場合では、バ
ンプ間のピッチは20ミクロン程度まで可能とされてい
る。ところが、このようにバンプ間のピッチが狭くなる
と、基板に供給される接着材等の供給量と位置精度が重
要となり、製品の歩留りや品質に大きく関係する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような点
に鑑みなされたもので、接着材等の塗布量と塗布位置の
精度を大幅に向上することにより、結果として、作業
性、信頼性が大きく向上するようなフリップチップの実
装方法を提供するものである。
に鑑みなされたもので、接着材等の塗布量と塗布位置の
精度を大幅に向上することにより、結果として、作業
性、信頼性が大きく向上するようなフリップチップの実
装方法を提供するものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は上述の課題を解
決するため、ICチップ等に直接形成されたバンプを用
いて回路基板と接続するフリップチップ実装法におい
て、回路基板のフリップチップ実装エリアにポリイミド
等の感光性樹脂を所定の厚さに塗布し、フォトマスクを
用いた露光・硬化によりバンプの接続部に所定の幅の溝
部を形成した後、スクリーン印刷により前記溝部に導電
性の接着材を充填し、位置合わせを行って、前記ICチ
ップ等に形成されたバンプを前記接着材を充填した溝部
に位置せしめ、所定の硬化条件で硬化するようにしたフ
リップチップの実装方法を提供するものである。
決するため、ICチップ等に直接形成されたバンプを用
いて回路基板と接続するフリップチップ実装法におい
て、回路基板のフリップチップ実装エリアにポリイミド
等の感光性樹脂を所定の厚さに塗布し、フォトマスクを
用いた露光・硬化によりバンプの接続部に所定の幅の溝
部を形成した後、スクリーン印刷により前記溝部に導電
性の接着材を充填し、位置合わせを行って、前記ICチ
ップ等に形成されたバンプを前記接着材を充填した溝部
に位置せしめ、所定の硬化条件で硬化するようにしたフ
リップチップの実装方法を提供するものである。
【0005】
【作用】以上のように構成したので、本発明におけるフ
リップチップの実装方法においては、回路基板に所定の
厚さにポリイアミド等の感光性の樹脂を均一に塗布し、
フォトマスクを用いた露光・硬化によりバンプの接続部
に所定の幅の溝部を形成し、この溝部にスクリーン印刷
により導電性の接着材を充填するようにしたので、接着
材の塗布位置の精度はフォトプロセスの精度であるプラ
ス・マイナス数ミクロン以下にすることができ、スクリ
ーン印刷の条件をコントロールすることにより塗布量の
均一化が可能であり、さらに前記溝部に隣接する部分は
ポリイミド等の感光性の樹脂で囲まれて絶縁されている
ので、ショートの可能性はない。
リップチップの実装方法においては、回路基板に所定の
厚さにポリイアミド等の感光性の樹脂を均一に塗布し、
フォトマスクを用いた露光・硬化によりバンプの接続部
に所定の幅の溝部を形成し、この溝部にスクリーン印刷
により導電性の接着材を充填するようにしたので、接着
材の塗布位置の精度はフォトプロセスの精度であるプラ
ス・マイナス数ミクロン以下にすることができ、スクリ
ーン印刷の条件をコントロールすることにより塗布量の
均一化が可能であり、さらに前記溝部に隣接する部分は
ポリイミド等の感光性の樹脂で囲まれて絶縁されている
ので、ショートの可能性はない。
【0006】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明による実施例を
詳細に説明する。図1は本発明によるフリップチップの
実装方法の一実施例の処理工程図である。図において、
A工程の回路基板1には回路部2が設けてあり、B工程
では、前記回路基板1の回路2側の上面のフリップチッ
プ実装エリアに、ポリイアミド等の感光性樹脂3をスピ
ンコーター等の塗布機器を使用して、所要の厚さに、均
一に塗布し、つづいて、C工程では、フォトマスク等を
用いて露光・硬化することによりバンプの接続部の感光
性樹脂3を除去し、所定の幅の溝部4を形成し、D工程
では、スクリーン印刷により、前記溝部4に導電性の接
着材5を充填し、さらにE工程では、位置合わせを行っ
て、ICチップ等6に直接形成されたバンプ7を前記接
着材5を充填した溝部4に位置せしめ、F工程では、所
定の条件で、例えば150度で1時間の条件で硬化する
ことにより、回路基板1とICチップ6は電気的に接続
される。
詳細に説明する。図1は本発明によるフリップチップの
実装方法の一実施例の処理工程図である。図において、
A工程の回路基板1には回路部2が設けてあり、B工程
では、前記回路基板1の回路2側の上面のフリップチッ
プ実装エリアに、ポリイアミド等の感光性樹脂3をスピ
ンコーター等の塗布機器を使用して、所要の厚さに、均
一に塗布し、つづいて、C工程では、フォトマスク等を
用いて露光・硬化することによりバンプの接続部の感光
性樹脂3を除去し、所定の幅の溝部4を形成し、D工程
では、スクリーン印刷により、前記溝部4に導電性の接
着材5を充填し、さらにE工程では、位置合わせを行っ
て、ICチップ等6に直接形成されたバンプ7を前記接
着材5を充填した溝部4に位置せしめ、F工程では、所
定の条件で、例えば150度で1時間の条件で硬化する
ことにより、回路基板1とICチップ6は電気的に接続
される。
【0007】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明における
フリップチップの実装方法においては、回路基板に所定
の厚さにポリイアミド等の感光性の樹脂を均一に塗布
し、フォトマスクを用いた露光・硬化によりバンプの接
続部に所定の幅の溝部を形成し、この溝部にスクリーン
印刷により導電性の接着材を充填するようにしたので、
接着材の塗布位置の精度はフォトプロセスの精度である
プラス・マイナス数ミクロン以下にすることができ、ス
クリーン印刷の条件をコントロールすることにより塗布
量を均一化が可能であり、さらに前記溝部に隣接する部
分はポリイミド等の感光性の樹脂で囲まれて絶縁されて
いるので、ショートの可能性はないので、結果として作
業性、信頼性が大幅に向上する。
フリップチップの実装方法においては、回路基板に所定
の厚さにポリイアミド等の感光性の樹脂を均一に塗布
し、フォトマスクを用いた露光・硬化によりバンプの接
続部に所定の幅の溝部を形成し、この溝部にスクリーン
印刷により導電性の接着材を充填するようにしたので、
接着材の塗布位置の精度はフォトプロセスの精度である
プラス・マイナス数ミクロン以下にすることができ、ス
クリーン印刷の条件をコントロールすることにより塗布
量を均一化が可能であり、さらに前記溝部に隣接する部
分はポリイミド等の感光性の樹脂で囲まれて絶縁されて
いるので、ショートの可能性はないので、結果として作
業性、信頼性が大幅に向上する。
【図1】本発明によるフリップチップの実装方法による
一実施例の処理工程図である。
一実施例の処理工程図である。
【符号の説明】 1 回路基板 2 回路部 3 感光性樹脂 4 溝部 5 接着材 6 ICチップ等 7 バンプ
Claims (1)
- 【請求項1】 ICチップ等に直接形成されたバンプを
用いて回路基板と接続するフリップチップ実装法におい
て、回路基板のフリップチップ実装エリアにポリイミド
等の感光性樹脂を所定の厚さに塗布し、フォトマスクを
用いた露光・硬化によりバンプの接続部に所定の幅の溝
部を形成した後、スクリーン印刷により前記溝部に導電
性の接着材を充填し、位置合わせを行って、前記ICチ
ップ等に形成されたバンプを前記接着材を充填した溝部
に位置せしめ、所定の硬化条件で硬化するようにしたフ
リップチップの実装方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12866492A JPH05326628A (ja) | 1992-05-21 | 1992-05-21 | フリップチップの実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12866492A JPH05326628A (ja) | 1992-05-21 | 1992-05-21 | フリップチップの実装方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05326628A true JPH05326628A (ja) | 1993-12-10 |
Family
ID=14990396
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12866492A Pending JPH05326628A (ja) | 1992-05-21 | 1992-05-21 | フリップチップの実装方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05326628A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5759737A (en) * | 1996-09-06 | 1998-06-02 | International Business Machines Corporation | Method of making a component carrier |
US6268739B1 (en) | 1998-03-30 | 2001-07-31 | International Business Machines Corporation | Method and device for semiconductor testing using electrically conductive adhesives |
US6670264B2 (en) | 2001-10-29 | 2003-12-30 | Fujitsu Limited | Method of making electrode-to-electrode bond structure and electrode-to-electrode bond structure made thereby |
KR20130072759A (ko) * | 2011-12-22 | 2013-07-02 | 김정식 | 테두리 전극부를 형성한 투명유리판의 제조방법과 그에 의하여 제작된 투명유리판 |
CN114725031A (zh) * | 2021-11-19 | 2022-07-08 | 杰华特微电子股份有限公司 | 倒装芯片的封装结构 |
-
1992
- 1992-05-21 JP JP12866492A patent/JPH05326628A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5759737A (en) * | 1996-09-06 | 1998-06-02 | International Business Machines Corporation | Method of making a component carrier |
US6268739B1 (en) | 1998-03-30 | 2001-07-31 | International Business Machines Corporation | Method and device for semiconductor testing using electrically conductive adhesives |
US6288559B1 (en) | 1998-03-30 | 2001-09-11 | International Business Machines Corporation | Semiconductor testing using electrically conductive adhesives |
US6559666B2 (en) | 1998-03-30 | 2003-05-06 | International Business Machines Corporation | Method and device for semiconductor testing using electrically conductive adhesives |
US6670264B2 (en) | 2001-10-29 | 2003-12-30 | Fujitsu Limited | Method of making electrode-to-electrode bond structure and electrode-to-electrode bond structure made thereby |
US6873056B2 (en) | 2001-10-29 | 2005-03-29 | Fujitsu Limited | Electrode-to-electrode bond structure |
KR20130072759A (ko) * | 2011-12-22 | 2013-07-02 | 김정식 | 테두리 전극부를 형성한 투명유리판의 제조방법과 그에 의하여 제작된 투명유리판 |
CN114725031A (zh) * | 2021-11-19 | 2022-07-08 | 杰华特微电子股份有限公司 | 倒装芯片的封装结构 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100265616B1 (ko) | 도전성 폴리머 및 유전체를 이용한 플립칩 | |
US6190940B1 (en) | Flip chip assembly of semiconductor IC chips | |
US5633535A (en) | Spacing control in electronic device assemblies | |
US8929091B2 (en) | Method of manufacturing a printed circuit board (PCB) | |
JP3277997B2 (ja) | ボールグリッドアレイパッケージとその製造方法 | |
JP3450236B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
US6169022B1 (en) | Method of forming projection electrodes | |
US6341418B1 (en) | Method for direct chip attach by solder bumps and an underfill layer | |
JP2003007902A (ja) | 電子部品の実装基板及び実装構造 | |
US20060068332A1 (en) | Method for fabricating carrier structure integrated with semiconductor element | |
JPH05326628A (ja) | フリップチップの実装方法 | |
US8168525B2 (en) | Electronic part mounting board and method of mounting the same | |
JP4018936B2 (ja) | 回路モジュールの製造方法 | |
EP0714553B1 (en) | Method of forming electrically conductive polymer interconnects on electrical substrates | |
JPH05326629A (ja) | フリップチップの実装方法 | |
JPH11145173A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
KR100306116B1 (ko) | 반도체베어칩의다이렉트어테치본딩방법 | |
JPH05326630A (ja) | フリップチップの実装方法 | |
JPH0888248A (ja) | フェイスダウンボンディング方法及びそれに用いる接続材料 | |
US20220328390A1 (en) | Multi-layered board, semiconductor package, and method of manufacturing semiconductor package | |
JP2005303021A (ja) | 配線基板、半導体装置およびこれらの製造方法 | |
JP3598189B2 (ja) | チップサイズパッケージ、その製造方法、およびその実装位置合わせの方法 | |
KR19990002343A (ko) | 플립(Flip) 칩 실장 인쇄회로기판 및 그 제조방법 | |
JPH06310567A (ja) | 半導体装置の実装方法およびその実装構造 | |
JP3349361B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 |