JPH05312759A - 電解質分析装置 - Google Patents

電解質分析装置

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Publication number
JPH05312759A
JPH05312759A JP4123249A JP12324992A JPH05312759A JP H05312759 A JPH05312759 A JP H05312759A JP 4123249 A JP4123249 A JP 4123249A JP 12324992 A JP12324992 A JP 12324992A JP H05312759 A JPH05312759 A JP H05312759A
Authority
JP
Japan
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block
cooling
electrode
heating element
heating
Prior art date
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Pending
Application number
JP4123249A
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English (en)
Inventor
Atsushi Maeda
淳 前田
Terumi Tamura
輝美 田村
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】電解質分析装置の恒温槽を、小形,低価格で構
成し、かつ、良好な温度制御系を得ることにある。 【構成】イオン選択電極からなる電極ブロック部1と比
較電極せる2及び試薬導入ブロック3は、共に1つの電
熱性の高いヒートブロック4内に配置され、ヒートブロ
ック4には冷熱素子5及び加熱器6を配置し、ヒートブ
ロック4の温度を一定に保つ。冷熱素子5の余熱は放熱
フィン7により恒温槽8の外部に放熱される。冷熱素子
5は試料導入ブロック3の近傍に配置する。 【効果】恒温層の温度制御系を冷熱素子のみで構成した
場合と比較して、小形化,低価格化が図れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電解質分析装置の恒温
槽における温度制御系に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の装置は、特開昭61−51556 号公報
に記載のように、イオン選択電極からなる電極ブロック
と比較電極セルと試薬導入ブロックは共に1つの空気恒
温槽に配置され、恒温槽には冷熱素子によって温度制御
される制御フィンが設置されており、フィンの熱をファ
ンにより恒温槽内を強制対流させ、冷熱素子の余分の熱
は放熱フィンで外部放熱される。そして、電極ブロック
と比較電極セル部及び試料導入ブロックは一定温度に保
持される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来装置では、小
形で高速処理の装置を構成するときに、外気温,試料温
度と恒温槽制御温度の差が大きいと、試料導入ブロック
での熱交換が十分でない為に、電極ブロックに導入され
る試料の温度と電極ブロックのイオン選択膜の温度の間
に温度勾配が生じ、その為、電極電位が安定せず、濃度
応答出力が過渡的になる点について配慮がされておら
ず、装置の高速化の妨げとなる問題があった。
【0004】本発明の目的は、高速処理の電解質分析装
置の恒温槽を小形で構成することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、試料導入ブロックの近くに加熱器を配置し、電極ブ
ロック部と比較電極セル部の近くに加熱器あるいは冷熱
器を配置したものである。
【0006】
【作用】冷熱器を試料導入ブロックの近くに配置し、冷
熱器の発熱量を効率よく試料導入ブロックに供給するの
で、試料の試料導入ブロックでの熱交換を良くするため
に冷熱器を大容量化する必要がない。
【0007】試料導入ブロックと電極ブロックが離れて
いると冷熱器での熱は電極ブロックまで伝達しきらない
ことが予想されるが、加熱器あるいは冷熱器により補
う。比較電極セル部に導入される比較電極液は試料と比
べ約1/10の液量であり、試薬導入部より電極ブロッ
ク部に導入される試料はすでに加熱されていることか
ら、電極ブロック部,比較電極セル部を恒温化するのに
要する熱量はわずかであるので、電極ブロック部,比較
電極セル部の加熱器,冷熱器は試料導入部と比べて小形
のものとなる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1により説明す
る。イオン選択電極からなる電極ブロック部1と比較電
極セル2及び試薬導入ブロック3は、共に1つの電熱性
の高いヒートブロック4内に配置され、ヒートブロック
4には冷熱素子5及び加熱器6を配置し、ヒートブロッ
ク4の温度を一定に保つ。冷熱素子5の余熱は放熱フィ
ン7により恒温槽8の外部に放熱される。冷熱素子5は
試料導入ブロック3の近傍に配置する。
【0009】試料ボトル9よりの試料は試薬導入ブロッ
ク3において制御温度にまで加熱され、電極ブロック部
1に送られる。比較電極液はシリンジ10により比較電
極セル2に送られる。
【0010】電解質測定装置は接地電位に対するイオン
選択電極の電位と、比較電極の電位の差により測定す
る。イオン選択電極部の電位は、イオン選択膜と試料の
温度差が生じると、イオン選択膜内に非定常な熱移動に
もとづく温度勾配が生じ電極電位が不安定となり、濃度
応答出力が過渡的になり、装置高速化の妨げとなるた
め、イオン選択膜と、試料の間に温度差を生じさせては
ならない。装置の処理速度が増すにつれ、時間あたりの
試料導入量は増し、冷熱素子5により恒温槽8全体を加
熱する方法では試料導入ブロック3及び冷熱素子5を大
型化する必要があるが、冷熱素子5は主として試薬導入
ブロック3を加熱し、電極ブロック部1,比較電極セル
2は加熱器6及び冷熱素子5の余熱により恒温化する。
試料導入ブロック3と冷熱素子5を近くに配置すること
で、試料導入ブロック3での熱交換の効率を良くする。
【0011】本実施例によれば、高速処理の電解質分析
装置の恒温槽を小形に構成できる効果がある。
【0012】
【発明の効果】一般に冷熱素子は同出力容量の加熱器と
比較すると大型,高価格である。本発明によれば、恒温
層の温度制御系を冷熱素子のみで構成した場合と比較し
て、小形化,低価格化が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施例を示す図である。
【符号の説明】
1…電極ブロック部、2…比較電極セル、3…試薬導入
ブロック、4…ヒートブロック、5…冷熱素子、6…加
熱器、7…放熱フィン、8…恒温槽、9…試薬ボトル、
10…シリンジ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】イオン選択電極からなる電極ブロック部と
    比較電極セル部と試薬導入部を内部に含む恒温槽におい
    て、試薬導入部近傍に冷熱素子を配置し、電極ブロック
    部と比較電極セル部近傍にも加熱器あるいは冷熱素子を
    配置したことを特徴とする電解質分析装置。
JP4123249A 1992-05-15 1992-05-15 電解質分析装置 Pending JPH05312759A (ja)

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JP4123249A JPH05312759A (ja) 1992-05-15 1992-05-15 電解質分析装置

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JPH05312759A true JPH05312759A (ja) 1993-11-22

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