JPH0529582A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

Info

Publication number
JPH0529582A
JPH0529582A JP3206389A JP20638991A JPH0529582A JP H0529582 A JPH0529582 A JP H0529582A JP 3206389 A JP3206389 A JP 3206389A JP 20638991 A JP20638991 A JP 20638991A JP H0529582 A JPH0529582 A JP H0529582A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
redundant
selection information
dynamic ram
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3206389A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasushi Nagashima
靖 永島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP3206389A priority Critical patent/JPH0529582A/ja
Publication of JPH0529582A publication Critical patent/JPH0529582A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 欠陥救済方式を採るダイナミック型RAM等
のアドレス選択動作に要する時間を短縮し、特にページ
モードやスタティックカラムモード等の高速モードにお
けるダイナミック型RAM等のサイクルタイムを高速化
する。 【構成】 冗長ワード線及び冗長ビット線を備えかつメ
モリアレイMARYの実質的なアドレス選択情報を内部
制御信号YL2に従って取り込み保持する選択情報保持
手段すなわちYアドレスラッチYL等を備えるダイナミ
ック型RAM(DRAM)等において、指定されたアド
レスと冗長ワード線又は冗長ビット線に割り当てられた
救済アドレスとのY系冗長アドレス比較回路YRによる
アドレス比較照合動作を、上記YアドレスラッチYLに
よるアドレス選択情報の取り込み動作に先立って行わせ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体記憶装置に関
するもので、例えば、冗長ワード線及び冗長ビット線を
備えるダイナミック型RAM(ランダムアクセスメモ
リ)等に利用して特に有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ダイナミック型RAM等のメモリアレイ
に冗長ワード線及び冗長ビット線を設け、これらの冗長
ワード線又は冗長ビット線を障害が発生したワード線又
はビット線と置き換えることによって、ダイナミック型
RAM等の製品歩留まりを高めるいわゆる欠陥救済方式
が一般化されている。欠陥救済方式を採るダイナミック
型RAMは、指定されたアドレスと冗長ワード線又は冗
長ビット線に割り当てられた救済アドレスとを比較照合
して、冗長ワード線又は冗長ビット線を選択的に選択状
態とするための冗長アドレス比較回路を備える。
【0003】ダイナミック型RAM等の欠陥救済方式に
ついては、例えば、日経マグロウヒル社発行、1985
年6月3日付『日経エレクトロニクス』の第209頁〜
第231頁に記載されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】欠陥救済方式を採る従
来のダイナミック型RAM等において、冗長ワード線及
び冗長ビット線に対応して設けられるX系冗長アドレス
比較回路XR及びY系冗長アドレス比較回路YRは、図
5に例示されるように、XアドレスバッファXB又はY
アドレスバッファYBの後段に設けられる。Xアドレス
バッファXB及びYアドレスバッファYBによって保持
されるアドレス信号は、X系冗長アドレス比較回路XR
又はY系冗長アドレス比較回路YRに供給されるととも
に、メモリアレイMARYの実質的なアドレス選択情報
として、対応するXアドレスデコーダXD又はYアドレ
スデコーダYDに供給される。
【0005】つまり、上記のような従来のダイナミック
型RAM等において、X系冗長アドレス比較回路XR及
びY系冗長アドレス比較回路YRによるアドレス比較照
合動作は、XアドレスデコーダXD又はYアドレスデコ
ーダYDによるメモリアレイMARYのアドレス選択動
作と同時に開始され、これらの冗長アドレス比較回路に
よるアドレス比較照合動作の結果を待って各アドレスデ
コーダによるワード線又はビット線の実質的な選択動作
が実行される。その結果、メモリアレイMARYのアド
レス選択動作に要する時間が長くなり、特にページモー
ドやスタティックカラムモード等の高速モードにおいて
ダイナミック型RAM等のサイクルタイムが制限される
という問題が生じる。
【0006】この発明の目的は、欠陥救済方式を採るダ
イナミック型RAM等のアドレス選択動作に要する時間
を短縮し、そのページモードやスタティックカラムモー
ド等の高速モードにおけるサイクルタイムを高速化する
ことにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記
の通りである。すなわち、冗長ワード線及び冗長ビット
線を備えかつメモリアレイの実質的なアドレス選択情報
を所定の内部制御信号に従って取り込み保持する選択情
報保持手段を備えるダイナミック型RAM等において、
指定されたアドレスと冗長ワード線又は冗長ビット線に
割り当てられた救済アドレスとの比較照合動作を、上記
選択情報保持手段によるアドレス選択情報の取り込み動
作に先立って行わせるものである。
【0008】
【作用】上記手段によれば、指定されたアドレスと冗長
ワード線又は冗長ビット線に割り当てられた救済アドレ
スとの比較照合動作を、メモリアレイの実質的なアドレ
ス選択動作に影響を与えることなく行うことができる。
その結果、欠陥救済方式を採るダイナミック型RAM等
の実質的なアドレス選択動作に要する時間を短縮し、特
にページモードやスタティックカラムモード等の高速モ
ードにおけるダイナミック型RAM等のサイクルタイム
を高速化することができる。
【0009】
【実施例】図1には、この発明が適用されたダイナミッ
ク型RAM(DRAM)の一実施例のブロック図が示さ
れている。また、図2には、図1のダイナミック型RA
Mの一実施例の信号波形図が示されている。これらの図
をもとに、この実施例のダイナミック型RAMの構成と
動作の概要ならびにその特徴について説明する。なお、
図1の各ブロックを構成する回路素子は、特に制限され
ないが、単結晶シリコンのような1個の半導体基板上に
形成される。
【0010】図1において、ダイナミック型RAMは、
半導体基板面の大半を占めて配置されるメモリアレイM
ARYをその基本構成とする。メモリアレイMARY
は、特に制限されないが、同図の垂直方向に平行して配
置される複数のワード線ならびに1本の冗長ワード線
と、水平方向に平行して配置される複数組の相補ビット
線ならびに1組の冗長ビット線とを含む。これらのワー
ド線及びビット線の交点には、多数のダイナミック型メ
モリセルが格子状に配置される。
【0011】メモリアレイMARYを構成するワード線
及び冗長ワード線は、XアドレスデコーダXDに結合さ
れ、択一的に選択状態とされる。XアドレスデコーダX
Dには、特に制限されないが、XアドレスバッファXB
からi+1ビットの内部アドレス信号X0〜Xiが供給
され、X系冗長アドレス比較回路XRから内部信号XR
Sが供給される。また、XアドレスバッファXBには、
アドレス入力端子A0〜Aiを介してi+1ビットのX
アドレス信号AX0〜AXiが供給され、タイミング発
生回路TGから内部制御信号XLが供給される。内部ア
ドレス信号X0〜Xiは、X系冗長アドレス比較回路X
Rにも供給される。なお、内部信号XRSは、後述する
ように、外部から供給されるXアドレス信号AX0〜A
XiとメモリアレイMARYの冗長ワード線に割り当て
られた救済アドレスとが全ビット一致したとき、選択的
にハイレベルとされる。
【0012】XアドレスデコーダXDは、タイミング発
生回路TGから供給される図示されない内部制御信号に
従って選択的に動作状態とされる。この動作状態におい
て、XアドレスデコーダXDは、上記内部信号XRSが
ロウレベルとされることを条件に、内部アドレス信号X
0〜Xiをデコードし、メモリアレイMARYの対応す
るワード線を択一的にハイレベルの選択状態とする。内
部信号XRSがハイレベルとされるとき、Xアドレスデ
コーダXDは、内部アドレス信号X0〜Xiによるワー
ド線の選択動作を停止し、メモリアレイMARYの冗長
ワード線をハイレベルの選択状態とする。つまり、この
実施例のダイナミック型RAMのX系アドレス選択回路
では、X系冗長アドレス比較回路XRがXアドレスバッ
ファXBの後段に設けられ、指定されたXアドレスと冗
長ワード線に割り当てられた救済アドレスとの比較照合
動作は、従来のダイナミック型RAMと同様に、メモリ
アレイMARYの実質的なアドレス選択動作と同時に開
始される。
【0013】X系冗長アドレス比較回路XRは、特に制
限されないが、ヒューズ手段を含む読み出し専用メモリ
を備え、メモリアレイMARYの冗長ワード線に割り当
てられた救済アドレスを保持するとともに、この救済ア
ドレスと外部から供給されるXアドレス信号AX0〜A
Xiすなわち内部アドレス信号X0〜Xiとをビットご
とに比較照合する。その結果、これらのアドレスが全ビ
ット一致すると内部信号XRSをハイレベルとし、1ビ
ットでも異なるとロウレベルとする。
【0014】XアドレスバッファXBは、アドレス入力
端子A0〜Aiを介して供給されるXアドレス信号AX
0〜AXiを内部制御信号XLに従って取り込み保持す
るとともに、これらのXアドレス信号をもとに内部アド
レス信号X0〜Xiを形成して、XアドレスデコーダX
D及びX系冗長アドレス比較回路XRに供給する。
【0015】次に、メモリアレイMARYを構成する相
補ビット線及び冗長ビット線は、センスアンプSAの対
応する単位回路に結合される。センスアンプSAの単位
回路のそれぞれは、特に制限されないが、メモリアレイ
MARYの各相補ビット線又は冗長ビット線に対応して
設けられる単位増幅回路ならびにスイッチMOSFET
対を含む。このうち、単位増幅回路は、タイミング発生
回路TGから供給される図示されない内部制御信号に従
って選択的にかつ一斉に動作状態とされ、メモリアレイ
MARYの選択されたワード線又は冗長ワード線に結合
される複数のメモリセルから対応する相補ビット線又は
冗長ビット線を介して出力される微小読み出し信号を増
幅して、ハイレベル又はロウレベルの2値読み出し信号
とする。一方、センスアンプSAの各対のスイッチMO
SFETは、YアドレスデコーダYDから供給されるビ
ット線選択信号が択一的にハイレベルとされることで選
択的にオン状態とされ、メモリアレイMARYの対応す
る相補ビット線又は冗長ビット線と共通データ線CDと
を選択的に接続状態とする。
【0016】YアドレスデコーダYDには、特に制限さ
れないが、選択情報保持手段となるYアドレスラッチY
Lからi+1ビットの内部アドレス信号Y0〜Yiが供
給され、Y系冗長切り換え回路YRから内部信号YRS
が供給される。YアドレスラッチYL及びY系冗長切り
換え回路YRには、YアドレスバッファYBから内部ア
ドレス信号YP0〜YPiが供給され、タイミング発生
回路TGから内部制御信号YL2が供給される。また、
YアドレスバッファYBには、アドレス入力端子A0〜
Aiを介してYアドレス信号AY0〜AYiが時分割的
に供給され、タイミング発生回路TGから内部制御信号
YL1が供給される。なお、内部制御信号YL1及びY
L2は、特に制限されないが、ダイナミック型RAMが
通常の動作モードとされるとき、カラムアドレスストロ
ーブ信号CASB(ここで、それが有効とされるとき選
択的にロウレベルとされるいわゆる反転信号については
その名称の末尾にBを付して表す。以下同様)に従って
ほぼ同時にかつ一時的にハイレベルとされる。ダイナミ
ック型RAMがパイプラインページモードとされると
き、内部制御信号YL2は、内部制御信号YL1よりカ
ラムアドレスストローブ信号CASBの1サイクル分だ
け遅れて形成されるが、パイプラインページモードの途
中で見た場合、図2に示されるように、内部制御信号Y
L1とほぼ同相に見える。内部信号YRSは、後述する
ように、外部から供給されるYアドレス信号AY0〜A
YiとメモリアレイMARYの冗長ビット線に割り当て
られた救済アドレスとが全ビット一致したとき、選択的
にハイレベルとされる。
【0017】YアドレスデコーダYDは、タイミング発
生回路TGから供給される図示されない内部制御信号に
従って選択的に動作状態とされる。この動作状態におい
て、YアドレスデコーダYDは、上記内部信号YRSが
ロウレベルとされることを条件に、内部アドレス信号Y
0〜Yiをデコードして、メモリアレイMARYの対応
する相補ビット線に対応した上記ビット線選択信号を択
一的にハイレベルとする。内部信号YRSがハイレベル
とされるとき、YアドレスデコーダYDは、内部アドレ
ス信号Y0〜Yiによる相補ビット線の選択動作を停止
し、メモリアレイMARYの冗長ビット線に対応したビ
ット線選択信号をハイレベルとする。なお、ダイナミッ
ク型RAMがパイプラインページモードとされる間、Y
アドレスデコーダYDを動作状態するための上記内部制
御信号は継続してハイレベルとされる。この間、Yアド
レスデコーダYDによるビット線の選択動作は、Yアド
レスラッチYLに新しいYアドレス信号が取り込まれる
たびに更新され、これによって複数のカラムアドレスに
対するアクセスが実現される。
【0018】YアドレスラッチYLは、いわゆる選択情
報保持手段として機能し、YアドレスバッファYBから
供給される内部アドレス信号YP0〜YPiを上記内部
制御信号YL2に従って取り込み保持するとともに、こ
れらの内部アドレス信号YP0〜YPiをもとに内部ア
ドレス信号Y0〜Yiを形成して、Yアドレスデコーダ
YDに供給する。内部アドレス信号Y0〜Yiがメモリ
アレイMARYの実質的なアドレス選択情報であること
は言うまでもない。
【0019】Y系冗長アドレス比較回路YRは、上記X
系冗長アドレス比較回路XRと同様に、ヒューズ手段を
含む読み出し専用メモリを備え、メモリアレイMARY
の冗長ビット線に割り当てられた救済アドレスを保持す
るとともに、この救済アドレスと外部から供給されるY
アドレス信号AY0〜AYiすなわち内部アドレス信号
Y0〜Yiとをビットごとに比較照合する。その結果、
これらのアドレスが全ビット一致すると内部信号YRS
をハイレベルとし、1ビットでも異なるとロウレベルと
する。なお、Y系冗長切り換え回路YRの出力信号すな
わち内部信号YRSは、特に制限されないが、図2に点
線で示されるように、内部制御信号YL2の立ち上がり
エッジを受けてその論理レベルが確定される。
【0020】YアドレスバッファYBは、アドレス入力
端子A0〜Aiを介して供給されるYアドレス信号AY
0〜AYiを内部制御信号YL1に従って取り込み保持
するとともに、これらのYアドレス信号AY0〜AYi
をもとに内部アドレス信号YP0〜YPiを形成して、
YアドレスラッチYL及びY系冗長アドレス比較回路Y
Rに供給する。
【0021】ところで、ダイナミック型RAMがパイプ
ラインページモードとされるとき、内部制御信号YL2
は、前述のように、内部制御信号YL1よりカラムアド
レスストローブ信号CASBの1サイクル分ずつ遅れて
形成される。このため、例えばアドレス入力端子A0〜
Aiを介して供給される第n番目のYアドレス信号YA
nは、図2に示されるように、対応するサイクルでYア
ドレスバッファYBに取り込まれ内部アドレス信号YP
0〜YPiとなるが、YアドレスラッチYLには次のサ
イクルで取り込まれ内部アドレス信号Y0〜Yiとな
る。さらに、この実施例のダイナミック型RAMにおい
て、メモリアレイMARYの実質的なアドレス選択動作
は、YアドレスラッチYLの出力信号すなわち内部アド
レス信号Y0〜Yiによって行われるが、Y系冗長切り
換え回路YRによる指定されたYアドレスとメモリアレ
イMARYの冗長ビット線に割り当てられた救済アドレ
スとの比較照合動作は、前述のように、Yアドレスバッ
ファYBの出力信号すなわち内部アドレス信号YP0〜
YPiにより、言わば選択情報保持手段となるYアドレ
スラッチYLのアドレス選択情報の取り込み動作に先立
って行われる。
【0022】これらのことから、この実施例のダイナミ
ック型RAMにおける指定されたYアドレスと冗長ビッ
ト線に割り当てられた救済アドレスとの比較照合動作
は、メモリアレイMARYの実質的なアドレス選択動作
の合間をぬって、言い換えるならばメモリアレイMAR
Yの実質的なアドレス選択動作に影響を与えることなく
行われる結果となり、これによってダイナミック型RA
Mのパイプラインページモードにおけるサイクルタイム
が高速化されるものとなる。
【0023】図1の説明に戻ろう。メモリアレイMAR
Yの指定された相補ビット線又は冗長ビット線が選択的
に接続される共通データ線CDは、ライトアンプWAの
出力端子に結合され、メインアンプMAの入力端子に結
合される。ライトアンプWAの入力端子はデータ入力バ
ッファIBの出力端子に結合され、データ入力バッファ
IBの入力端子はデータ入力端子Dinに結合される。
また、メインアンプMAの出力端子はデータ出力バッフ
ァOBの入力端子に結合され、データ出力バッファOB
の出力端子はデータ出力端子Doutに結合される。
【0024】データ入力バッファIBは、ダイナミック
型RAMが書き込みモードで選択状態とされるとき、デ
ータ入力端子Dinを介して供給される書き込みデータ
を取り込み、ライトアンプWAに伝達する。ライトアン
プWAは、データ入力バッファIBを介して供給される
書き込みデータをもとに所定の相補書き込み信号を形成
し、共通データ線CDを介してメモリアレイMARYの
選択されたメモリセルに書き込む。一方、メインアンプ
MAは、ダイナミック型RAMが読み出しモードで選択
状態とされるとき、メモリアレイMARYの選択された
メモリセルから共通データ線CDを介して出力される読
み出し信号をさらに増幅して、データ出力バッファOB
に伝達する。データ出力バッファOBは、メインアンプ
MAを介して出力される読み出し信号を、データ出力端
子Doutから送出する。
【0025】タイミング発生回路TGは、外部から起動
制御信号として供給されるロウアドレスストローブ信号
RASB及びカラムアドレスストローブ信号CASBな
らびにライトイネーブル信号WEBをもとに、上記各種
の内部制御信号を形成し、ダイナミック型RAMの各部
に供給する。
【0026】以上の本実施例に示されるように、この発
明を冗長ワード線及び冗長ビット線を備えるダイナミッ
ク型RAM等の半導体記憶装置に適用することで、次の
ような作用効果が得られる。すなわち、 (1)冗長ワード線及び冗長ビット線を備えかつメモリ
アレイの実質的なアドレス選択情報を所定の内部制御信
号に従って取り込み保持する選択情報保持手段を備える
ダイナミック型RAM等において、指定されたアドレス
と冗長ワード線又は冗長ビット線に割り当てられた救済
アドレスとの比較照合動作を、上記選択情報保持手段に
よるアドレス選択情報の取り込み動作に先立って行わせ
ることで、指定されたアドレスと冗長ワード線又は冗長
ビット線に割り当てられた救済アドレスとの比較照合動
作を、メモリアレイの実質的なアドレス選択動作に影響
を与えることなく行うことができるという効果が得られ
る。 (2)上記(1)項により、欠陥救済方式を採るダイナ
ミック型RAM等のアドレス選択動作に要する時間を短
縮できるという効果が得られる。 (3)上記(1)項及び(2)項により、特にページモ
ードやスタティックカラムモード等の高速モードにおけ
るダイナミック型RAM等のサイクルタイムを高速化す
ることができるという効果が得られる。
【0027】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、この発明は、上記実
施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない
範囲で種々変更可能であることは言うまでもない。例え
ば、図1において、ダイナミック型RAMのメモリアレ
イMARYは、複数のメモリマットあるいはサブメモリ
アレイに分割することができるし、それぞれ複数の冗長
ワード線及び冗長ビット線を備えることもできる。ま
た、ダイナミック型RAMは、複数ビットの記憶データ
を同時に入出力するいわゆる多ビット構成を採ることが
できるし、アドレスマルチプレクス方式を採ることを必
要条件ともしない。この実施例において、X系冗長切り
換え回路XRは、従来のダイナミック型RAMと同様
に、X系アドレス選択回路の選択情報保持手段となるX
アドレスバッファXBの後段に設けているが、Y系アド
レス選択回路と同様なXアドレスラッチXLを設け、パ
イプライン処理してもよい。X系冗長アドレス比較回路
XR及びY系冗長アドレス比較回路YRは、図3に例示
されるように、選択情報保持手段となるXアドレスバッ
ファXB及びYアドレスバッファYBと実質的に並列形
態となるように設けてもよい。この場合、図4に示され
るように、Xアドレス信号XAとロウアドレスストロー
ブ信号RASBの立ち下がりエッジとの間ならびにYア
ドレス信号とカラムアドレスストローブ信号CASBの
立ち下がりエッジとの間に所定のセットアップ時間tRS
又はtCSをとり、X系冗長切り換え回路XR及びY系冗
長アドレス比較回路YRによるアドレス比較照合動作を
XアドレスバッファXB及びYアドレスバッファYBの
アドレス取り込み動作に先立って行うことによって、ダ
イナミック型RAMの通常の動作モードにおけるアドレ
ス選択動作を高速化することもできる。図1及び図3に
示されるダイナミック型RAMのブロック構成や図2及
び図4に示される起動制御信号及び各内部制御信号等の
論理レベルならびにその組み合わせ等は、種々の実施形
態を採りうる。
【0028】以上の説明では、主として本発明者によっ
てなされた発明をその背景となった利用分野であるダイ
ナミック型RAMに適用した場合について説明したが、
それに限定されるものではなく、例えば、スタティック
型RAM及びバイポーラCMOSダイナミック型RAM
等の各種メモリ集積回路装置やこのようなメモリ集積回
路を含むゲートアレイ集積回路装置等にも適用できる。
この発明は、少なくとも欠陥救済方式を採る半導体記憶
装置ならびにこのような半導体記憶装置を含むディジタ
ル集積回路装置に広く適用できる。
【0029】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
の通りである。すなわち、冗長ワード線及び冗長ビット
線を備えかつメモリアレイの実質的なアドレス選択情報
を所定の内部制御信号に従って取り込み保持する選択情
報保持手段を備えるダイナミック型RAM等において、
指定されたアドレスと冗長ワード線又は冗長ビット線に
割り当てられた救済アドレスとの比較照合動作を、選択
情報保持手段によるアドレス選択情報の取り込み動作に
先立って行わせることで、指定されたアドレスと冗長ワ
ード線又は冗長ビット線に割り当てられた救済アドレス
との比較照合動作を、メモリアレイの実質的なアドレス
選択動作に影響を与えることなく行うことができる。そ
の結果、欠陥救済方式を採るダイナミック型RAM等の
アドレス選択動作に要する時間を短縮し、特にページモ
ードやスタティックカラムモード等の高速モードにおけ
るダイナミック型RAM等のサイクルタイムを高速化す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明が適用されたダイナミック型RAMの
第1の実施例を示すブロック図である。
【図2】図1のダイナミック型RAMの一実施例を示す
信号波形図である。
【図3】この発明が適用されたダイナミック型RAMの
第2の実施例を示すブロック図である。
【図4】図3のダイナミック型RAMの一実施例を示す
信号波形図である。
【図5】従来のダイナミック型RAMの一例を示すブロ
ック図である。
【符号の説明】
MARY・・・メモリアレイ、SA・・・センスアン
プ、XD・・・Xアドレスデコーダ、YD・・・Yアド
レスデコーダ、XB・・・Xアドレスバッファ、YB・
・・Yアドレスバッファ、YL・・・Yアドレスラッ
チ、XR・・・X系冗長アドレス比較回路、YR・・・
Y系冗長アドレス比較回路、WA・・・ライトアンプ、
MA・・・メインアンプ、IB・・・データ入力バッフ
ァ、OB・・・データ出力バッファ、TG・・・タイミ
ング発生回路。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 冗長ワード線及び/又は冗長ビット線を
    含むメモリアレイと、上記メモリアレイの実質的なアド
    レス選択情報を所定の内部制御信号に従って取り込み保
    持する選択情報保持手段とを具備し、かつ指定されたア
    ドレスと上記冗長ワード線又は冗長ビット線に割り当て
    られた救済アドレスとの比較照合動作が上記選択情報保
    持手段による上記アドレス選択情報の取り込み動作に先
    立って行われることを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 上記半導体記憶装置は、複数のアドレス
    に対して連続アクセスしうる高速モードを備えるもので
    あり、かつ外部から供給されるアドレス信号を他の所定
    の内部制御信号に従って取り込み保持するアドレスバッ
    ファと、上記アドレスバッファによって保持される上記
    アドレス信号を受け上記救済アドレスと比較照合する冗
    長アドレス比較回路とを具備するものであって、上記高
    速モードにおいて、上記アドレスバッファに取り込まれ
    た上記アドレス信号は、次のサイクルで上記アドレス選
    択情報として上記選択情報保持手段に伝達されるもので
    あることを特徴とする請求項1の半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 上記半導体記憶装置は、ダイナミック型
    RAMであって、上記高速モードは、パイプラインペー
    ジモードであることを特徴とする請求項1又は請求項2
    の半導体記憶装置。
JP3206389A 1991-07-23 1991-07-23 半導体記憶装置 Pending JPH0529582A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3206389A JPH0529582A (ja) 1991-07-23 1991-07-23 半導体記憶装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3206389A JPH0529582A (ja) 1991-07-23 1991-07-23 半導体記憶装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0529582A true JPH0529582A (ja) 1993-02-05

Family

ID=16522539

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3206389A Pending JPH0529582A (ja) 1991-07-23 1991-07-23 半導体記憶装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0529582A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6212118B1 (en) 1997-12-12 2001-04-03 Nec Corporation Semiconductor memory

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6212118B1 (en) 1997-12-12 2001-04-03 Nec Corporation Semiconductor memory

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2607814B2 (ja) 半導体メモリ装置
US4719602A (en) Memory with improved column access
US7426683B2 (en) Semiconductor memory device equipped with error correction circuit
US6421294B2 (en) Semiconductor memory device having large data I/O width and capable of speeding up data input/output and reducing power consumption
JPH05298891A (ja) ダイナミック型連想メモリ装置
US10867692B2 (en) Apparatuses and methods for latching redundancy repair addresses at a memory
US5361230A (en) Memory device delaying timing of outputting data in a test mode as compared with a normal operating mode
KR940026948A (ko) 결함구제회로
JPS6177946A (ja) 半導体記憶装置
JPH0816486A (ja) 欠陥救済用lsiとメモリ装置
US5029330A (en) Semiconductor memory device
JP2700640B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS6061977A (ja) 高速メモリ・アクセス方法及びその装置
JP2829134B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS6353785A (ja) Cmos半導体メモリのワ−ドまたはビツト線の復号方法
JPH0529582A (ja) 半導体記憶装置
US4875189A (en) Random access memory device with nibble mode operation
JPH10302463A (ja) 半導体記憶装置
US5936909A (en) Static random access memory
US6925579B2 (en) Device and method for configuring a cache tag in accordance with burst length
JP2000030487A (ja) 半導体記憶装置
US5708613A (en) High performance redundancy in an integrated memory system
KR960005625A (ko) 테스트타임이 단축되는 반도체메모리장치 및 이를 위한 컬럼선택트랜지스터 제어방법
US6621748B2 (en) Recovery of useful areas of partially defective synchronous memory components
JP2000163990A (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 11

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090403

EXPY Cancellation because of completion of term