JPH05290584A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
- Publication number
- JPH05290584A JPH05290584A JP11542392A JP11542392A JPH05290584A JP H05290584 A JPH05290584 A JP H05290584A JP 11542392 A JP11542392 A JP 11542392A JP 11542392 A JP11542392 A JP 11542392A JP H05290584 A JPH05290584 A JP H05290584A
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- JP
- Japan
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- data
- command
- circuit
- detection circuit
- bits
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 コマンドデータの入力に伴う書込みや一括消
去が電気的に可能な不揮発性メモリにおいて、ノイズ等
による誤動作の防止、及び回路構成の簡素化を図る。 【構成】 上位と下位が同じデータであるコマンドデー
タを用い、そのデータの上位と下位とを比較回路2によ
り比較一致することを確認し、その結果をコマンド検出
回路1に入力し、コマンド検出を制御する。
去が電気的に可能な不揮発性メモリにおいて、ノイズ等
による誤動作の防止、及び回路構成の簡素化を図る。 【構成】 上位と下位が同じデータであるコマンドデー
タを用い、そのデータの上位と下位とを比較回路2によ
り比較一致することを確認し、その結果をコマンド検出
回路1に入力し、コマンド検出を制御する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体記憶装置に関
し、特にコマンド検出回路に関する。
し、特にコマンド検出回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の電気的一括消去可能な不揮発性メ
モリ(以後、フラッシュ・メモリという)について説明
する。従来のフラッシュ・メモリの書きこみや消去処理
において図3に示すタイミング図のように書きこみの場
合は、まず初めに書きこみコマンドデータを入力し、そ
の後に書きこむべきデータを入力すると、書きこみが行
われる。
モリ(以後、フラッシュ・メモリという)について説明
する。従来のフラッシュ・メモリの書きこみや消去処理
において図3に示すタイミング図のように書きこみの場
合は、まず初めに書きこみコマンドデータを入力し、そ
の後に書きこむべきデータを入力すると、書きこみが行
われる。
【0003】コマンドテータには、書きこみ,ベリファ
イ,消去等があり、8bitのデバイスの場合、8bi
tのデータで与えられる。フラッシュ・メモリ内には、
そのコマンドデータを検知してメモリ内をその動作可能
な状態にするコマンド検出回路があり、書きこみ,ベリ
ファイ,消去等が正しく動作するように制御する。
イ,消去等があり、8bitのデバイスの場合、8bi
tのデータで与えられる。フラッシュ・メモリ内には、
そのコマンドデータを検知してメモリ内をその動作可能
な状態にするコマンド検出回路があり、書きこみ,ベリ
ファイ,消去等が正しく動作するように制御する。
【0004】次にコマンド検出回路について説明する。
図2に、従来の8bit入出力のフラッシュ・メモリの
コマンド検出回路のブロック図を示す。コマンド検出回
路1は、メモリ回路5の前段に設けられ、データ入力信
号D0〜D7をデコードとするコマンドデコーダ回路3
と、その出力データをラッチするラッチ回路4とからな
る。コマンド検出回路は、データ入力信号D0〜D7によ
りコマンドが入力すると、コマンドデコーダ回路3で入
力したコマンドデータが指定した動作を活性化する信号
を選択し、各イネーブル信号を出力する。そのイネーブ
ル信号によってメモリデバイス内は入力したコマンドデ
ータが指定した、書きこみ,ベリファイ,消去などが可
能な状態になる。
図2に、従来の8bit入出力のフラッシュ・メモリの
コマンド検出回路のブロック図を示す。コマンド検出回
路1は、メモリ回路5の前段に設けられ、データ入力信
号D0〜D7をデコードとするコマンドデコーダ回路3
と、その出力データをラッチするラッチ回路4とからな
る。コマンド検出回路は、データ入力信号D0〜D7によ
りコマンドが入力すると、コマンドデコーダ回路3で入
力したコマンドデータが指定した動作を活性化する信号
を選択し、各イネーブル信号を出力する。そのイネーブ
ル信号によってメモリデバイス内は入力したコマンドデ
ータが指定した、書きこみ,ベリファイ,消去などが可
能な状態になる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】この従来のコマンド検
出回路を16bit入出力のフラッシュ・メモリに用い
た場合、下位の8bitのみでコマンドデータを検知す
ることもできるが、16bitすべて用いた方が誤動作
防止にも有効である。
出回路を16bit入出力のフラッシュ・メモリに用い
た場合、下位の8bitのみでコマンドデータを検知す
ることもできるが、16bitすべて用いた方が誤動作
防止にも有効である。
【0006】しかし、16bitのデータで検知する場
合、コマンド検出回路のコマンドデータ回路が16デー
タ分デコードしなければならず、回路が大きくなりすぎ
るという問題点があった。
合、コマンド検出回路のコマンドデータ回路が16デー
タ分デコードしなければならず、回路が大きくなりすぎ
るという問題点があった。
【0007】本発明の目的は、回路構成を簡素化した半
導体記憶装置を提供することにある。
導体記憶装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体記憶装置は、コマンド検出回路
と、メモリ回路と、比較回路とを有する半導体記憶装置
であって、コマンド検出回路は、コマンドデータを検出
してメモリ回路内を動作可能な状態にするものであり、
比較回路は、上位と下位とが同じデータであるコマンド
データを用い、そのデータの上位と下位を比較一致する
ことを確認し、確認信号をコマンド検出回路に出力する
ものである。
め、本発明に係る半導体記憶装置は、コマンド検出回路
と、メモリ回路と、比較回路とを有する半導体記憶装置
であって、コマンド検出回路は、コマンドデータを検出
してメモリ回路内を動作可能な状態にするものであり、
比較回路は、上位と下位とが同じデータであるコマンド
データを用い、そのデータの上位と下位を比較一致する
ことを確認し、確認信号をコマンド検出回路に出力する
ものである。
【0009】また、前記コマンド検出回路は、16bi
tデータの場合に下位8bitのみを入力するものであ
る。
tデータの場合に下位8bitのみを入力するものであ
る。
【0010】
【作用】上位と下位が同じデータであるようなコマンド
データを用い、データの上位と下位とを比較し一致する
ことを確認することにより、コマンド検出を制御する。
データを用い、データの上位と下位とを比較し一致する
ことを確認することにより、コマンド検出を制御する。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図により説明す
る。図1は、本発明の一実施例を示すブロック図であ
る。
る。図1は、本発明の一実施例を示すブロック図であ
る。
【0012】図1において、本実施例では、図3に示す
メモリ回路5と、コマンドデータを検出してメモリ回路
5内を動作可能な状態にするコマンド検出回路1とに加
えて、比較回路2を有している。
メモリ回路5と、コマンドデータを検出してメモリ回路
5内を動作可能な状態にするコマンド検出回路1とに加
えて、比較回路2を有している。
【0013】メモリ回路5は、コマンドデータを入力し
て電気的に書き込み,一括消去可能な不揮発性メモリで
ある。
て電気的に書き込み,一括消去可能な不揮発性メモリで
ある。
【0014】比較回路2は、上位と下位とが同じデータ
であるようなコマンドデータを用い、その上位データD
8〜D15と下位データD0〜D7を比較一致することを確
認するものである。
であるようなコマンドデータを用い、その上位データD
8〜D15と下位データD0〜D7を比較一致することを確
認するものである。
【0015】従来の8bitのフラッシュ・メモリで
は、8bitのデータのコマンドで動作を制御してい
た。16bitのフラッシュ・メモリでも動作制御のコ
マンドは、8bitデータでも可能である。しかし、1
6bitデータのコマンドを用いた方がより誤動作が少
ないと考えられるが、16bit分のデータを選択する
ためには検出回路が大きくなるという欠点がある。
は、8bitのデータのコマンドで動作を制御してい
た。16bitのフラッシュ・メモリでも動作制御のコ
マンドは、8bitデータでも可能である。しかし、1
6bitデータのコマンドを用いた方がより誤動作が少
ないと考えられるが、16bit分のデータを選択する
ためには検出回路が大きくなるという欠点がある。
【0016】本発明では8bitのコマンドデータが
“20H”であるならば、16bitの場合は、上位,
下位8bitに同じデータであるような“2020
(H)”にし、比較回路2で上位と下位のデータの比較
を行い一致した時のみ、下位8bitのデータでコマン
ドの検知を行う。この場合、16bitのコマンドデー
タを上位と下位との8bitデータを比較しているの
で、8bitのコマンドデータよりノイズ等による誤動
作に強い。しかも、実際には下位8bitのデータでコ
マンドの検知を行うので、コマンド検出回路1は従来の
回路と同じ程度ですむ。
“20H”であるならば、16bitの場合は、上位,
下位8bitに同じデータであるような“2020
(H)”にし、比較回路2で上位と下位のデータの比較
を行い一致した時のみ、下位8bitのデータでコマン
ドの検知を行う。この場合、16bitのコマンドデー
タを上位と下位との8bitデータを比較しているの
で、8bitのコマンドデータよりノイズ等による誤動
作に強い。しかも、実際には下位8bitのデータでコ
マンドの検知を行うので、コマンド検出回路1は従来の
回路と同じ程度ですむ。
【0017】次に本実施例の動作を図面を参照して説明
する。比較回路2は、上位・下位のデータを比較して一
致すると、コマンド検出回路1をイネーブルする信号を
出力する。
する。比較回路2は、上位・下位のデータを比較して一
致すると、コマンド検出回路1をイネーブルする信号を
出力する。
【0018】下位入力データDnと上位入力データDn+8
(n=0〜7)とのEX−ORをとることで、上位と下
位のデータが一致しているか否かを比較し、一致の場合
は出力DEX0〜7が“1”になる。次に出力DEX0〜7のN
AND条件をとり、コマンド検出回路1のイネーブル信
号として入力する。
(n=0〜7)とのEX−ORをとることで、上位と下
位のデータが一致しているか否かを比較し、一致の場合
は出力DEX0〜7が“1”になる。次に出力DEX0〜7のN
AND条件をとり、コマンド検出回路1のイネーブル信
号として入力する。
【0019】この場合、出力DEX0〜7がすべて“1”の
場合のみイネーブル信号en(反転)は“0”で、コマ
ンド検出回路をアクティブにする。
場合のみイネーブル信号en(反転)は“0”で、コマ
ンド検出回路をアクティブにする。
【0020】コマンド検出回路1は従来の8bitのそ
れと同じであるが、16bitの場合は下位8bitの
み入力として用いる。
れと同じであるが、16bitの場合は下位8bitの
み入力として用いる。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、16bi
tのデータ長をもつフラッシュ・メモリの場合、書きこ
み,消去等のコマンドデータが8bitの場合、“20
(H)”であるならば、16bitの場合は“2020
(H)”のように上位8bitと下位8bitとの同じ
データの16bitのコマンドを用い、上位と下位のデ
ータを比較し一致したときのみ、コマンドの検知を可能
にする比較回路を有するため、8bitのコマンドを用
いる場合より、ノイズ等による誤動作に強いという効果
を有する。
tのデータ長をもつフラッシュ・メモリの場合、書きこ
み,消去等のコマンドデータが8bitの場合、“20
(H)”であるならば、16bitの場合は“2020
(H)”のように上位8bitと下位8bitとの同じ
データの16bitのコマンドを用い、上位と下位のデ
ータを比較し一致したときのみ、コマンドの検知を可能
にする比較回路を有するため、8bitのコマンドを用
いる場合より、ノイズ等による誤動作に強いという効果
を有する。
【0022】また実際にコマンド検出回路に入力される
のは、下位の8bitであるので、コマンド検出回路の
大きさが16bitのコマンドデータを用いても、8b
itのコマンドデータの場合と変わらないという効果を
有する。
のは、下位の8bitであるので、コマンド検出回路の
大きさが16bitのコマンドデータを用いても、8b
itのコマンドデータの場合と変わらないという効果を
有する。
【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図2】従来例を示すブロック図である。
【図3】従来例における書込みのタイミング図である。
1 コマンド検出回路 2 比較回路 3 コマンドデコーダ回路 4 ラッチ回路 5 メモリ回路
Claims (2)
- 【請求項1】 コマンド検出回路と、メモリ回路と、比
較回路とを有する半導体記憶装置であって、 コマンド検出回路は、コマンドデータを検出してメモリ
回路内を動作可能な状態にするものであり、 比較回路は、上位と下位とが同じデータであるコマンド
データを用い、そのデータの上位と下位を比較一致する
ことを確認し、確認信号をコマンド検出回路に出力する
ものであることを特徴とする半導体記憶装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の半導体記憶装置であっ
て、 前記コマンド検出回路は、16bitデータの場合に下
位8bitのみを入力するものであることを特徴とする
半導体記憶装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11542392A JPH05290584A (ja) | 1992-04-08 | 1992-04-08 | 半導体記憶装置 |
US08/044,167 US5295108A (en) | 1992-04-08 | 1993-04-08 | Electrically erasable and programmable read only memory device with simple controller for selecting operational sequences after confirmation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11542392A JPH05290584A (ja) | 1992-04-08 | 1992-04-08 | 半導体記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05290584A true JPH05290584A (ja) | 1993-11-05 |
Family
ID=14662207
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11542392A Pending JPH05290584A (ja) | 1992-04-08 | 1992-04-08 | 半導体記憶装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5295108A (ja) |
JP (1) | JPH05290584A (ja) |
Families Citing this family (61)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3218103B2 (ja) * | 1992-12-25 | 2001-10-15 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
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