JPH0528446B2 - - Google Patents

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JPH0528446B2
JPH0528446B2 JP62259266A JP25926687A JPH0528446B2 JP H0528446 B2 JPH0528446 B2 JP H0528446B2 JP 62259266 A JP62259266 A JP 62259266A JP 25926687 A JP25926687 A JP 25926687A JP H0528446 B2 JPH0528446 B2 JP H0528446B2
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temperature
oxide
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JP62259266A
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JPH01102805A (ja
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Goro Nishioka
Yukio Sakabe
Masayuki Yamada
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は温度補償用誘電体磁器組成物に関
し、特にたとえば積層コンデンサの誘電体磁器と
して用いられる温度補償用誘電体磁器組成物に関
する。
(従来技術) 従来、この種の温度補償用誘電体磁器組成物と
しては、MgTiO3−CaTiO3系の磁器が用いられ
ていた。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、MgTiO3−CaTiO3系の磁器で
は、その焼結温度が1300℃以上と高く、さらに、
非酸化性雰囲気中で焼成した場合に磁器が還元さ
れて絶縁抵抗値が著しく低下するという問題点を
有していた。
また、積層セラミツクコンデンサの一般的な製
法においては、ドクタブレード法などの方法によ
つて得られたグリーンシートと呼ばれる焼成前の
セラミツクシート上に内部電極となる導体金属粉
末ペーストを印刷塗布し、これを複数枚交互に積
層し圧着したものを焼成する工程がとられてい
る。
そのため、従来の材料では焼成コストが高くつ
くばかりでなく、誘電体セラミツクと同時に焼成
される積層コンデンサの内部電極の材料として、
誘電体セラミツクが焼結する温度で溶融せず、か
つ、セラミツクが半導体化しない高い酸素分圧下
で焼成されても酸化されない金属を用いなければ
ならない。このため、従来の材料を積層コンデン
サの誘電体磁器として用いる際には、内部電極の
材料として高融点かつ高温で酸化しにくい高価な
パラジウムや白金を使用しなければならず、積層
コンデンサのコスト低減の障害となつていた。
以上のことから、積層セラミツクコンデンサの
低価格化および小型大容量化のために内部電極の
材料を高価な貴金属から安価な卑金属にすること
が望まれていたが、卑金属たとえば銅を内部電極
として用いるためには、銅が酸化あるいは溶融し
ない酸素分圧の低い中性または還元雰囲気中で
1000℃以下で半導体化することなく焼結し、コン
デンサ用誘電体として十分に高い比抵抗と優れた
誘電特性を有する誘電体磁器組成物が必要とされ
ていた。
それゆえに、この発明の主たる目的は、1000℃
以下の低温で焼結し、かつ、非酸化性雰囲気中で
焼成しても磁器の比抵抗値が1012Ωcm以上と高い
温度補償用誘電体磁器組成物を提供することであ
る。
(問題点を解決するための手段) この発明は、酸化バリウム、酸化珪素および酸
化ジルコニウムを主成分として含み、酸化バリウ
ムの含有量をBaOに換算してX重量部とし、酸
化珪素の含有量をSiO2に換算してY重量部とし、
酸化ジルコニウムの含有量をZrO2に換算してZ
重量部としたとき(ただし、X+Y+Z=100)、
次の各点A、B、CおよびD(X、Y、Z) A(50、49、1) B(50、20、30) C(15、20、65) D(15、84、1) を頂点とした多角形で囲まれる範囲にある組成の
うち、ZrO2の一部をTiO2およびSnO2のうちの1
種以上で1〜30重量部置換した、温度補償用誘電
体磁器組成物である。
(発明の効果) この発明によれば、1000℃以下の低温で焼結
し、かつ、非酸化性雰囲気中で焼成しても比抵抗
値が1012Ωcm以上と高い温度補償用誘電体磁器組
成物が得られる。そのため、この温度補償用誘電
体磁器組成物を積層コンデンサの誘電体磁器とし
て用いれば、焼成コストを安価することができ、
かつ、抵抗値が低くて安価な銅、銅系合金あるい
はその他の卑金属を内部電極として用いることが
できるので、従来に比べて、積層コンデンサの大
幅なコストダウンを図ることができる。
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴お
よび利点は、図面を参照して行う以下の実施例の
詳細な説明から一層明らかとなろう。
(実施例) まず、原料として、BaCO3、SiO2、ZrO2
TiO2、SnO2およびAl2O3を別表1に示す組成と
なるように秤量し、それらをボールミルで16時間
湿式混合した後、蒸発乾燥して混合粉末を得た。
次に、この混合粉末を850℃で2時間仮焼し、
これに結合材として酢酸ビニルを5重量部加え、
再びボールミルで16時間湿式混合、粉砕して粉砕
物を得た。
そして、この粉砕物を蒸発乾燥して整粒し、果
粒状の粉末を得た。
それから、こうして得た果粒状の粉末を乾式プ
レス機で2ton/cm2の圧力で加圧し、直径22mm、厚
さ1.0mmの円板状に成形して成形物を得た。
次に、この成形物をN2−H2ガス雰囲気中で別
表2に示した各温度条件で2時間焼成を行つて、
焼成物を得た。
さらに、これらの焼成物の両主面に、電極を形
成する際に磁器が特性の変化を受けることを避け
るために、In−Ga合金を塗布して電極を形成し
試料1〜16とした。
そして、これらの試料について、次に示す各特
性をそれぞれの条件や測定方法で測定し、その結
果を別表2に示した。
(1) 比誘電率:周波数1MHz、温度25℃の条件下
で測定した。
(2) Q値(品質係数):周波数1MHz、温度25℃の
条件下で測定した。
(3) 低温側の静電容量の温度係数(ppm/℃):
25℃での静電容量C1を基準として、これと−
55℃での静電容量C2とから次式(1)によつて算
出した。
低温側の静電容量の温度係数(ppm/℃) =(C2−C1)×106/C1(−55−25)……(1) (4) 高温側の静電容量の温度係数(ppm/℃):
25℃での静電容量C1を基準として、これと125
℃での静電容量C3とから次式(2)によつて算出
した。
高温側の静電容量の温度係数(ppm/℃) =(C3−C1)×106/C1(125−25) ……(2) (5) 比抵抗:25℃で500V直流電圧を印加して電
流値を測定し、それらから算出した。
なお、別表1および別表2中で*印を付したも
のはこの発明の範囲外のものであり、それ以外は
この発明の範囲内のものである。
また、別表1および別表2に示した各試料の主
成分の組成を図中に3成分組成図で示した。この
図面において○印を付した数字は各試料番号を示
す。
さらに、この図中には、この発明の組成物の主
成分の組成比を示す領域を、組成点A、B、Cお
よびDを頂点とした4角形で示した。すなわち、
酸化バリウムの含有量をBaOに換算してX重量
部とし、酸化珪素の含有量をSiO2に換算してY
重量部とし、酸化ジルコニウムの含有量をZrO2
に換算してZ重量部としたとき(ただし、X+Y
+Z=100)、この発明の組成物の主成分の組成比
(X、Y、Z)は、組成点A(50、49、1)、B
(50、20、30)、C(15、20、65)およびD(15、
84、1)を頂点とした多角形で囲まれる領域内の
組成比に相当するのである。
そして、この発明にかかる組成物は、上述の主
成分中のZrO2の一部がTiO2およびSnO2のうちの
1種以上で1〜30重量部置換され、さらに、必要
に応じて、主成分100重量部に対して酸化アルミ
ニウムがAl2O3に換算して20重量部以下(0重量
部を含まず)添加含有される。
なお、各試料の主成分中のZrO2の一部をTiO2
およびSnO2で置換した割合は、別表1に示され
図中には示されていない。
次に、この発明にかかる温度補償用誘電体磁器
組成物を上述の範囲に限定した理由について説明
する。
(1) 3成分組成図に示す組成点AおよびBを結ぶ
線分の外側の組成領域では、Q値が1000以下と
なりかつ静電容量の温度係数が+100ppm/℃
以上となり、しかも、焼結磁器素体の表面上に
ガラス質が浮くので好ましくない(試料番号6
参照)。
(2) 3成分組成図に示す組成点AおよびDを結ぶ
線分の外側の組成領域でも、Q値が1000以下と
なりかつ静電容量の温度係数が+100ppm/℃
以上となり、しかも、焼結磁器素体の表面上に
ガラス質が浮くので好ましくない(試料番号5
参照)。
(3) 3成分組成図に示す組成点BおよびCを結ぶ
線分の外側の組成領域では、1150℃の温度で焼
成しても緻密な焼結体が得られないので好まし
くない(試料番号7参照)。
(4) 3成分組成図に示す組成点CおよびDを結ぶ
線分の外側の組成領域でも、1150℃の温度で焼
成しても緻密な焼結体が得らないので好ましく
ない(試料番号8参照)。
(5) ZrO2の一部をTiO2、SnO2で置換することに
よつて、高温側と低温側とにおける静電容量の
温度係数の差が小さくなる。これは、ZrO2
うちの1重量部以上をTiO2あるいはSnO2で置
換することによつて効果を確認することができ
る(試料番号12および14参照)。
しかし、ZrO2のうちの30重量部より多く
TiO2あるいはSnO2で置換すると磁器の焼結性
が低下し焼結温度が1150℃以上と高くなるため
好ましくない(試料番号15参照)。
(6) さらに、Al2O3を主成分100重量部に対して
20重量部以下添加含有すると、磁器の特性にば
らつきが少なくなりかつ特性が一定の水準でそ
ろう。しかし、Al2O3の添加量が20重量部を超
えると焼結温度が1150℃以上と高くなるため好
ましくない(試料番号11参照)。
それに対して、この発明の範囲内の試料で
は、還元雰囲気中で1000℃以下で焼結し、温度
に対する静電容量の温度係数の絶対値が
100ppm/℃以下と小さく、品質係数(Q値)
が1000以上と高く、25℃における比抵抗が
1012Ωcm以上の特性が得られる。
したがつて、この発明にかかる誘電体磁器組成
物をセラミツクコンデンサの誘電体として用いれ
ば、焼成コストの低減が可能となる。また、この
発明にかかる誘電体磁器組成物を積層セラミツク
コンデンサの誘電体として用いれば、従来の高価
な貴金属に比べて安価な銅、ニツケル、鉄、クロ
ムなどの卑金属あるいはこれらからなる合金を内
部電極とすることが可能になり、積層セラミツク
コンデンサの大容量化にともなう電極コストの増
大を解消することができ、低価格な積層セラミツ
クコンデンサを得ることができる。
なお、上述の実施例において焼成雰囲気として
N2−H2からなる還元性雰囲気を用いたが、この
発明では、Ar、CO、CO2、H2、N2およびこれ
らの混合雰囲気ガスを用いてもよいことはいうま
でもない。
【図面の簡単な説明】
図はこの発明の組成物の主成分の配合比を示す
3成分組成図である。
【表】
【表】

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 酸化バリウム、酸化珪素および酸化ジルコニ
    ウムを主成分として含み、 前記酸化バリウムの含有量をBaOに換算して
    X重量部とし、前記酸化珪素の含有量をSiO2
    換算してY重量部とし、前記酸化ジルコニウムの
    含有量をZrO2に換算してZ重量部としたとき
    (ただし、X+Y+Z=100)、次の各点A、B、
    CおよびD(X、Y、Z) A(50、49、1) B(50、20、30) C(15、20、65) D(15、84、1) を頂点とした多角形で囲まれる範囲にある組成の
    うち、ZrO2の一部をTiO2およびSnO2のうちの1
    種以上で1〜30重量部置換した、温度補償用誘電
    体磁器組成物。 2 前記主成分100重量部に対して、さらに酸化
    アルミニウムをAl2O3に換算して20重量部以下
    (0重量部を含まず)添加含有した、特許請求の
    範囲第1項記載の温度補償用誘電体磁器組成物。
JP62259266A 1987-10-14 1987-10-14 温度補償用誘電体磁器組成物 Granted JPH01102805A (ja)

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