JPH05283746A - 面発光ダイオード - Google Patents

面発光ダイオード

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JPH05283746A
JPH05283746A JP10410092A JP10410092A JPH05283746A JP H05283746 A JPH05283746 A JP H05283746A JP 10410092 A JP10410092 A JP 10410092A JP 10410092 A JP10410092 A JP 10410092A JP H05283746 A JPH05283746 A JP H05283746A
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JP
Japan
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light
emitting diode
light emitting
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JP10410092A
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English (en)
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Takashi Andou
孝止 安東
Akira Oki
明 大木
Sakae Maebotoke
栄 前仏
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 青〜青緑色発光領域の発光波長が得られ、か
つこの発光が高効率で得られるようにする。 【構成】 n+ −GaAs基板11上にn型ZnS0.07
Se0.93からなるバッファ層12を形成し、その上にZ
nSqSe1-q−ZnSrSe1-r:q=0,r=1:厚さ
50Å×50層からなるn型超格子光反射層13および
ZnSxSe1-x−CdyZn1-ySe−ZnSxSe1-x
x=0.1,y=0.2,各層厚100Å,集積回数=
5からなる絶縁型の多重量子井戸発光層14を順次形成
し、さらにその上にp型ZnSpSe1-p:p=0.1か
らなる光透過層15を形成し、光透過層15に上には半
透明電極16を形成し、n+ −GaAs基板11の下部
には下部電極17を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、青色または青〜緑色に
対応する広いバンドギャップエネルギを有する単一量子
井戸構造または多重量子井戸構造からなる発光層と、こ
の発光層に効率的に光を反射させる単一または多重の光
反射層とを有する面発光ダイオードに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、青色など可視短波長領域の実用的
発光ダイオードの開発に関して化合物半導体材料および
デバイス技術の多くの研究が進められており、現段階で
は、ZnSeやSiC結晶のpn接合型発光ダイオー
ド,GaN系結晶のMIS型発光ダイオードなどが実用
的な発光ダイオードに近い素子として開発が進められて
いる。しかし、前述した発光ダイオードは、結晶材料と
しての問題点を有しており、実用的発光素子としては、
以下に説明するような解決すべき多くの課題が残ってい
る。
【0003】ZnSe結晶のpn接合型発光ダイオード
は、近年、p,nの伝導型制御が可能となり、分子線エ
ピタキシー(以下、MBEという)成長法などによりそ
の研究が活発に進められている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この構
造の重要な問題点は、pn接合形成後、その上部および
下部に金属電極を形成する段階で必要な熱処理(200
〜400℃)により、多くの欠陥が発生し、著しい効率
の低下およびオレンジ色や赤色などの深い欠陥準位によ
る発光が出現してくることである。実用的素子の観点か
らは、透明または半透明の金属電極を真空蒸着法やスパ
ッタリング法などで形成し、金属−半導体接着を強固に
するため、あるいは電気的特性を改善するために前述し
た熱処理工程は必須のものであり、この熱処理の課題を
克服する手法は未だに見い出だされていない。
【0005】ZnSe結晶のpn接合型発光ダイオード
の他の問題点は、キャリア(電子/正孔)の再結合によ
り発生した青色の光がZnSe結晶自身により吸収され
る効果(自己吸収)やZnSe(−pn接合)結晶膜を
エピタキシー法で成長させるのに必要な基板(GaAs
バルク結晶などが用いられる)により吸収され、外部へ
の有効な光出力成分が減少してしまうなどの問題があ
る。
【0006】SiC結晶のpn接合型発光ダイオード
は、結晶のバンドギャップが青色光より遥かに大きいた
め、前述した自己吸収などの問題または電極の熱処理に
よる欠陥の発生の問題はない。しかし、この結晶による
素子の大きな問題点は、SiC結晶が間接遷移型のバン
ド構造を有していることである。このため、発光効率を
左右する、電子−正孔再結合発光効率(量子発光効率)
が現在実用となっているGaAsやInP結晶系などよ
り数桁低いという問題がある。
【0007】GaN系半導体結晶をベースにしたMIS
型発光素子は、pn接合形式が困難なため、GaN結晶
と表面の金属電極との間に薄膜絶縁層(50〜1000
Å)を付与し、MIS構造で発光ダイオードを形成する
が、前述した薄膜絶縁層形成の制御性やGaN系半導体
結晶−絶縁層界面の欠陥などのため、再現性良く、高効
率の青〜緑色光の発光素子を作製することは困難であ
る。この構造の基本的な問題点は、発光層が絶縁層直下
のGaN結晶表面近傍になるためであり、素子作製のプ
ロセス中に誘起される欠陥,ダメージの影響を発光層が
直接受けることによる。
【0008】したがって本発明は、前述した従来の課題
を解決するためになされたものであり、その目的は、青
〜青緑色光領域の発光波長が得られ、かつこの発光が高
効率で得られる面発光ダイオードを提供することにあ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明による面発光ダイオードは、ZnSx
1-x−CdyZn1-ySe−ZnSxSe1-x(ただし0
≦x≦1,0<y<1)からなる単一量子井戸構造また
は複数回繰り返した多量量子井戸構造から形成される発
光層と、ZnSwSe1-w(ただし0≦w≦1)からなる
光反射層との積層構造から構成するものである。また、
本発明による他の面発光ダイオードは、ZnSxSe1-x
−CdyZn1-ySe−ZnSxSe1-x(ただし0≦x≦
1,0<y<1)からなる単一量子井戸構造または複数
回繰り返した多量量子井戸構造から形成される発光層
と、ZnSzSe1-z−ZnSpSe1-p(ただし0<z<
1,0<p<1)からなる光反射層との積層構造から構
成するものである。
【0010】
【作用】本発明においては、ZnSxSe1-x−Cdy
1-ySe−ZnSxSe1-x(ただし0≦x≦1,0<
y<1)からなる単一量子井戸構造または複数回繰り返
した多量量子井戸構造から形成される発光層により、電
子−正孔の再結合発光が効率良く行われ、高効率の面発
光が可能となる。
【0011】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に
説明する。図1(a),(b)は本発明による面発光ダ
イオードの基本的な素子構造を示す断面図である。図1
(a)において、1は半導体結晶基板、2はバッファ
層、3は単一光反射層、4は量子井戸発光層、5は光透
過層、6は透明または半透明電極、7は下部電極であ
り、また、図1(b)において、8は多重光反射層であ
る。
【0012】次に図1の基本構成要素である発光層,光
反射層および光透過層について構成材料とその特徴につ
いて説明する。光発光層4は、CdyZn1-ySe−Zn
xSe1-x(ただし0<y<1,0≦x≦1)の量子井
戸構造をとる。単一量子井戸の場合は30〜200Å程
度の厚さのCdyZn1-ySeを、50〜300Å程度の
厚さのZnSxSe1-xで挟み込むサンドイッチ構造から
なる。このサンドイッチ構造を、複数回積層して発光層
形成する場合(多重量子井戸:MQW)と単一で用いる
場合(単一量子井戸:SQW)との2通りが可能であ
り、共に電子−正孔の高い発光再結合効率を有しかつ素
子の電極形成,アニール過程(約300℃)で熱的な劣
化を生じないことを確認している。
【0013】また、光反射層3,8は、発光層4から半
導体結晶基板1側に放射される光を効率良く反射し、上
部の光透過層5の方向へ導く役割をするもので、図1
(a)の単一光反射層3は、単一のZnSwSe1-w(た
だし0<w≦1)層(1〜2μm)で構成され、図1
(b)の多重光反射層8は、ZnSqSe1-q−ZnSr
Se1-r(ただし0<q<1,0<r<1)の超薄膜
(30〜100Å)の多重積層膜(超格子層)で構成さ
れている。
【0014】単一光反射層3では、ZnSwSe1-w(た
だし0<w≦1)の組成wを発光層4より屈折率(n)
が小さくなるように(w>x)選択し、反射効率を50
%程度に設定することができる。また、多重光反射層8
では、ZnSqSe1-q−ZnSrSe1-r超格子層で形成
することによって光反射の効率はさらに向上する。ま
た、この多重光反射層8を構成するZnSqSe1-q−Z
nSrSe1-r超格子層の単一層厚を変えることにより発
光波長に適合した領域で反射効率を最大にすることが可
能であり、一例として50Åの超格子反射層では50回
程度の多重構造の条件で波長が470nm近傍で70%
以上の高い反射率が得られる。
【0015】また、図1の光透過層5は、ZnSpSe
1-p(ただし0<p<1)で構成され、発光層4の光を
効率良く外部へ取り出す働きをさせるために発光層4の
量子井戸の屈折率と同じか少し高い程度に組成pを決定
する。つまりp≒xまたはp<xのように選び、厚さは
0.1〜1μmの範囲で形成する。
【0016】次にこのように構成された基本構成要素が
面発光ダイオードとして動作するための電気伝導特性に
ついて説明する。面発光ダイオードの基本的素子構造
は、ダイオードであるために伝導型としてp−i−nま
たはn−i−p接合から構成される。基本的には量子井
戸型発光層4は、絶縁性(i型)であり、それを上部の
光透過層(pまたはn型)5および下部の光反射層(n
またはp型)3,8で接続した構成をとる。p−i−n
またはn−i−p接合型には、本質的差異はなく、例え
ば半導体結晶基板1の基板結晶(GaAs結晶など)の
伝導型がn型の場合は上部光透過層5はp型,下部光反
射層3,8をn型にしたp−i−n型をとり、また、半
導体結晶基板1の伝導型がp型の場合はその逆の構成を
とることは勿論である。
【0017】また、実施例でも示すようにp−i−n
(またはn−i−p)型とは、本質的に小数キャリア注
入の機構の異なるi−i−n型(上部光透過層および発
光層が共に絶縁性)構成で高い発光効率を示す面発光ダ
イオードが作製し得ることが確認されている。この構造
では上部金属電極からの正孔注入が重要なポイントにな
っており、p型層を形成するプロセスなしでダイオード
が実現できる大きな特長を有している。
【0018】また、この基本的素子は、n+またはp+
の単結晶基板上にエピタキシャル成長により全て形成す
るが、その手法として分子線エピタキシー(MBE)
法,有機金属気相成長(MOVPE)法および通常の気
相成長(VPE)法などを使用することができる。
【0019】以下、実施例に基づいて電気的特性につい
て詳細に説明する。本発明による面発光ダイオードの特
性を実際にMOVPE法により作製した例をもとに説明
する。MOVPE法では、ジエチル亜鉛(DEZn:Z
n供給),セレン化水素(H2 Se:Se供給),水素
ガス希釈ジメチルカドミウム(H2−DMCd:Cd供
給)および硫化水素(H2 S:S供給)を原材料として
用い、ZnSSe,ZnCdSe化合物半導体結晶膜を
形成した。前述した原料は、各々流量コントローラによ
り流量制御され、水素キャリアガスとともに減圧(0.
1〜10Torr)の反応成長室に導入されている。
【0020】単結晶基板は、(100)面のn型GaA
sバルク結晶を用い、成長時の基板温度を280〜38
0℃で膜成長を行った。n型不純物の添加には沃素
(I)を用い、また、p型に対しては窒素(N)の添加
を行った。半絶縁層は、マトリクス原料のみを導入する
ことで行い、108Ωcm以上の高抵抗層を形成した。
【0021】(ダイオード特性) (1)p−i−n型面発光ダイオード 作製したp−i−n型面発光ダイオードの構造を図2に
示す。図2において、厚さ約350μmのn+ −GaA
s基板11上に厚さ約1μmのn型ZnS0.07Se0.93
からなるバッファ層12を形成し、その上にZnSq
1-q−ZnSrSe1-r:q=0、r=1:厚さ50Å
×50層からなるn型の超格子光反射層13およびZn
xSe1-x−CdyZn1-ySe−ZnSxSe1-x:x=
0.1,y=0.2,各層厚=100Å,積層回数=5
からなる絶縁型の多重量子井戸発光層14を順次形成
し、さらにその上にp型ZnSpSe1-p:p=0.1か
らなる光透過層15を形成した。ここでn層の電子濃度
は約1×1017cm-3,p層の正孔濃度は約1×1016
cm-3である。
【0022】次にこの光透過層15の上部に厚さ約30
0ÅのAu蒸着膜からなる半透明電極16を形成し、さ
らにこのn+ −GaAs基板11の下部に同様に厚さ約
300ÅのAu−Ge−Ni蒸着膜からなる下部電極1
7を形成している。なお、このダイオードの有効発光面
積は6mm×6mmである。また、hνは放射光であ
る。
【0023】図3(a)はこのように形成されたp−i
−n型面発光ダイオードの電流−電圧特性を、図3
(b)はその発光スペクトルを示したものである。図3
(a)に示すようにp−i−n型構造の電流−電圧特性
においては、順方向の立ち上がり電圧は、4〜6Vであ
り、約5V近傍より発光が明確に確認されるようにな
る。また、図3(b)に示すようにこのp−i−n型面
発光ダイオードの最大ピーク波長(λP )は480nm
であり、この発光帯以外の深い欠陥準位からのオレンジ
または赤色の発光は検出されない。この面発光ダイオー
ドの発光効率η(η≡発光パワー/I・V×100)
は、注入電流を40mAの条件でη=0.1%の値が得
られる。
【0024】(2)i−i−n型面発光ダイオード このダイオード構造は、p−i−n型ダイオードの上部
のp型透過層15を107 Ωcm以上の高抵抗層(半絶
縁性)で置き換えたものであり、上部の半透明電極16
からの効率的正孔注入を利用するものである。
【0025】本発明による面発光ダイオードを実際にM
OVPE法により作製したi−i−n型面発光ダイオー
ドの構造を図4に示す。図4において、厚さ約350μ
mのn+ −GaAs基板21上に厚さ約1.5μmのn
型ZnS0.07Se0.93からなるバッファ層22を形成
し、その上にn型ZnS0.18Se0.82からなる単一光反
射層23およびその上にZnS0.07Se0.93−Zn0.18
Cd0.82Se−ZnS0. 07Se0.93(各層厚=約100
Å)からなる絶縁性型単一量子井戸発光層24を順次形
成し、さらにその上にZnS0.07Se0.93からなる厚さ
0.4μmのi型(半絶縁性:ρ=108 Ωcm)光透
過層25を形成した。
【0026】電極は前述したp−i−n型と同様にこの
光透過層25の上部に厚さ約300ÅのAu蒸着膜から
なる半透明電極26を形成し、さらにこのn+ −GaA
s基板21の下部に同様に厚さ約300ÅのAu−Ge
−Ni蒸着膜からなる下部電極27を形成している。
【0027】図5(a)は、このように形成されたi−
i−n型面発光ダイオードの電流−電圧特性を示したも
のである。厚さ0.4μmのi型光透過層25では、順
方向の立ち上がり電圧は、約6V近傍で非常にシャープ
に半透明電極26からの電流(正孔)注入が生じる。半
透明電極26から注入された正孔は単一量子井戸発光層
24へ導かれ、下部の単一光反射層23として機能する
n型ZnS0.18Se0. 82からの注入された電子と介合
し、効率良く単一量子井戸発光層24で再結合発光を行
う。
【0028】前述したようにこのi−i−n型構造で
は、p型層を使用せず、金属電極からの正孔注入を利用
するため、素子の微分抵抗が極めて小さい特長を有して
いる。
【0029】図5(b)はi−i−n型面発光ダイオー
ドの発光スペクトルを示したものである。同図に示すよ
うに発光の最大ピーク波長(λP )は、467μmであ
り、それ以外の可視光域発光は完全に抑制されている。
この最大ピーク波長λP は、単一量子井戸発光層24の
構成材料であるZnyCd1-ySeの組成yおよび井戸層
厚を変えることにより、制御でき、最大ピーク波長λP
=460〜530nmの範囲を設定することが可能であ
る。
【0030】このi−i−n型構造の発光ダイオードの
発光効率ηは、注入電流が80mAの条件でη≧0.1
%の値が得られる。また、単一光反射層23,単一量子
井戸発光層24,光透過層25および上部の半透明電極
26の最適化を行うことで0.2%以上の発光効率が可
能となる。
【0031】なお、前述した実施例では、面発光ダイオ
ードの素子構造をMOVPE法により作製した場合につ
いて説明したが、分子線エピタキシー(MBE)法,有
機金属気相成長(MOVPE)法および気相成長(VP
E)法などなどによっても実現できることは自明であ
る。
【0032】また、前述した実施例では、面発光ダイオ
ードの素子構成,形成法としてGaAs結晶基板を使用
した場合について説明したが、他の基板としてGe,Z
nSeなどのバルク単結晶を用いることは勿論可能であ
る。
【0033】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
近年まで実用素子として開発されていなかった青〜緑色
光領域の発光波長を有し、かつこの発光が高い発光効率
で得られる面型発光ダイオードが実現可能となり、既に
開発されている赤色発光ダイオードと組み合わせて使用
することでカラーディスプレイ素子およびそのシステム
が実現可能となるなどの極めて優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による面型発光ダイオードの基本構成を
示す断面図である。
【図2】本発明による面型発光ダイオードの一実施例に
よるp−i−n型面発光ダイオードの構成を示す斜視図
である。
【図3】(a)はp−i−n型面発光ダイオードの電流
−電圧特性を示す図、(b)は発光スペクトルを示す図
である。
【図4】本発明による面型発光ダイオードの他の実施例
によるi−i−n型面発光ダイオードの構成を示す斜視
図である。
【図5】(a)はi−i−n型面発光ダイオードの電流
−電圧特性を示す図、(b)は発光スペクトルを示す図
である。
【符号の説明】
11 GaAs基板 12 バッファ層 13 超格子光反射層 14 多重量子井戸発光層 15 光透過層 16 半透明電極 17 下部電極 21 GaAs基板 22 バッファ層 23 単一光反射層 24 単一量子井戸発光層 25 光透過層 26 半透明電極 27 下部電極

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ZnSxSe1-x−CdyZn1-ySe−Z
    nSxSe1-x(ただし0≦x≦1,0<y<1)からな
    る単一量子井戸構造の少なくとも1層から形成される発
    光層と、ZnSwSe1-w(ただし0≦w≦1)からなる
    光反射層との積層構造を有することを特徴とする面発光
    ダイオード。
  2. 【請求項2】 ZnSxSe1-x−CdyZn1-ySe−Z
    nSxSe1-x(ただし0≦x≦1,0<y<1)からな
    る単一量子井戸構造の少なくとも1層から形成される発
    光層と、ZnSzSe1-z−ZnSpSe1-p(ただし0<
    z<1,0<p<1)からなる光反射層との積層構造を
    有することを特徴とする面発光ダイオード。
JP10410092A 1992-03-31 1992-03-31 面発光ダイオード Pending JPH05283746A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6872649B2 (en) 1999-04-15 2005-03-29 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Method of manufacturing transparent conductor film and compound semiconductor light-emitting device with the film

Cited By (2)

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US6872649B2 (en) 1999-04-15 2005-03-29 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Method of manufacturing transparent conductor film and compound semiconductor light-emitting device with the film
US6876003B1 (en) 1999-04-15 2005-04-05 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Semiconductor light-emitting device, method of manufacturing transparent conductor film and method of manufacturing compound semiconductor light-emitting device

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