JPH05282858A - 半導体メモリ装置 - Google Patents

半導体メモリ装置

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Publication number
JPH05282858A
JPH05282858A JP4074960A JP7496092A JPH05282858A JP H05282858 A JPH05282858 A JP H05282858A JP 4074960 A JP4074960 A JP 4074960A JP 7496092 A JP7496092 A JP 7496092A JP H05282858 A JPH05282858 A JP H05282858A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
active level
write
address strobe
strobe signal
signal
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4074960A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Tokushige
和雄 徳重
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH05282858A publication Critical patent/JPH05282858A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ライトパービットモードの高速化をはかる。 【構成】書込み制御信号WEを、カラムアドレスストロ
ーブ信号CASの能動レベルへの変化時の所定期間及び
能動レベルの後半の所定の期間能動レベルとなるように
し、ライトパービット判定制御回路4により、カラムア
ドレスストローブ信号CASの能動レベルへの変化時に
書込み制御信号WEが能動レベルであれば書込み制御回
路5のマスクレジスタの内容をマスクデータで設定す
る。カラムアドレスストローブ信号CASの能動レベル
の後半の書込み制御信号WEの能動レベルのときマスク
レジスタの内容に従って書込み用のデータをメモリセル
アレイ1の所定のアドレスに書込む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体メモリ装置に関
し、特にライトパービットモードを有する半導体メモリ
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の半導体メモリ装置は、一
例として図4及び図5に示すように、カラムアドレスス
トローブ信号CASが高レベルの非能動レベルでローア
ドレスストローブ信号RASが高レベルの非能動レベル
から低レベルの能動レベルへ変化するとき、書込み制御
信号WEが低レベルの能動レベルであればライトパービ
ットモードと判定し、能動レベルのライトパービットモ
ード信号WPBを発生し、ローアドレスストローブ信号
RAS及びカラムアドレスストローブ信号CASが共に
能動レベルで書込み制御信号WEが能動レベルのとき能
動レベルの書込み許可信号WAを出力するライトパービ
ットモード判定制御回路4aと、マスクレジスタを備え
ライトパービットモード信号WPBが能動レベルのとき
入力されたデータDI(マスクデータMD)に応じてマ
スクレジスタの内容を設定し書込み許可信号WAが能動
レベルのときこのマスレジスタの設定内容に従って入力
されたデータDI(書込み用のデータWD)を出力する
書込み制御回路5と、この書込み制御回路5からの書込
み用のデータWDを行選択回路2及び列選択回路3によ
り指定されたメモリセルアレイ1の指定されたアドレス
からデータを読出す書込み・読出し回路6とを有する構
成となっていた。
【0003】このライトパービットモードは、1サイク
ルで1つずつの行アドレス,列アドレスを指定して書込
みを行う通常のライトモードで行なわれ、1つの行アド
レスに対して複数の列アドレスを指定して書込みを行う
ページモードでは行っていなかった。
【0004】なお、この半導体メモリ装置においては、
ローアドレスストローブ信号RASが非能動レベルに変
化するとき書込み制御回路5のマスクレジスタはノンマ
スク状態にリセットされる。また、ローアドレスストロ
ーブ信号RASが能動レベルに変化するとき書込み制御
信号WEが非能動レベルであればライトパービットモー
ド信号WPBは非能動レベルのままとなり、書込み制御
回路5のマスクレジスタは設定されずノンマスク状態の
ままとなり、通常の書込みモードとして動作する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】この従来の半導体メモ
リ装置においては、1サイクルで1行アドレス、1列ア
ドレスを指定して書込み通常のライトモードと同様のラ
イトパービットモードとなっているので、グラフィック
ディスプレイ等における1ライン中の所定の範囲のデー
タを連続して書換えるような場合、1ドットごとに行ア
ドレス,列アドレスを指定する必要があるため、高速動
作ができないという欠点があった。
【0006】本発明の目的は、ライトパービットモード
の動作を高速化した半導体メモリ装置を提供することに
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体メモリ装
置は、ローアドレスストローブ信号が能動レベルでカラ
ムアドレスストローブ信号が非能動レベルから能動レベ
ルへと変化するとき書込み制御信号が能動レベルであれ
ば能動レベルのライトパービットモード信号を出力し前
記カラムアドレスストローブ信号及び書込み制御信号が
能動レベルのとき能動レベルの書込み許可信号を出力す
るライトパービットモード判定制御回路と、マスクレジ
スタを備え前記ライトパービットモード信号が能動レベ
ルになったとき供給されたマスクデータに従って前記マ
スクレジスタの内容を設定し前記書込み許可信号が能動
レベルのとき前記マスクレジスタの内容に応じて供給さ
れた書込み用のデータを出力する書込み制御回路と、こ
の書込み制御回路からの書込み用のデータをメモリセル
アレイの所定のアドレスに書込む書込み回路とを含み、
前記書込み制御信号を、前記ローアドレスストローブ信
号が能動レベルのときの前記カラムアドレスストローブ
信号の各能動レベルと対応して、このローアドレススト
ローブ信号の非能動レベルから能動レベルへの変化前か
ら変化後の所定の期間及び能動レベルの後半の所定の期
間能動レベルとなるようにした構成を有している。
【0008】また、ローアドレスストローブ信号が能動
レベルのときカラムアドレスストローブ信号が複数回能
動レベルとなるときの書込み制御信号を、前記カラムア
ドレスストローブ信号の複数の能動レベルのうちの奇数
回目の能動レベルへの変化前から変化後の所定の期間及
び偶数回目の能動レベルの後半の所定の期間能動レベル
となるようにした構成を有している。
【0009】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
【0010】図1は本発明の第1の実施例のブロック
図、図2はこの実施例の各部信号のタイミング図であ
る。
【0011】この実施例が図4及び図5に示された従来
の半導体メモリ装置を相違する点は、ライトピービット
モード判定制御回路4を、ローアドレスストローブ信号
RASが能動レベルでカラムアドレスストローブ信号C
ASが非能動レベルから能動レベルへと変化するとき書
込み制御信号WEが能動レベルであれば能動レベルのラ
イトピービットモード信号WPBを出力しカラムアドレ
スストローブ信号CAS及び書込み制御信号WEが能動
レベルのとき能動レベルの書込み許可信号WEを出力す
る回路とし、書込み制御信号WEを、ロードアドレスス
トローブ信号RASが能動レベルのときのカラムアドレ
スストローブ信号CASの各能動レベルの対応して、こ
のカラムアドレスストローブ信号CASの非能動レベル
から能動レベルへの変化前から変化後の所定の期間及び
能動レベルの後半の所定の期間能動レベルとなるように
設定した点にある。なお書込み制御信号WEの制御は、
図示してないが、この半導体メモリ装置全体を制御する
制御回路によって行なわれる。
【0012】従って、図2に示すように、ローアドレス
ストローブ信号RASが1回の能動レベルの期間(1つ
の行アドレス指定)に対しカラムアドレスストローブ信
号CASが複数回能動レベルとなる(複数の列アドレス
指定)ページモードにおいてもライトピービットモード
を設定することができ、カラムアドレスストローブ信号
CASの各能動レベルと対応して書込み制御回路5のマ
スクレジスタの内容が設定されこの設定されたマスクレ
ジスタの内容に応じて書込み用のデータWDが行選択回
路2及び列選択回路3によって指定されたメモリセルア
レイ1のアドレスに書込まれるので、グラフィックディ
スプレイにおける描画画面の書換え動作等を高速化する
ことができる。
【0013】図3は本発明の第2の実施例の各部信号の
タイミング図である。
【0014】この実施例は、ローアドレスストローブ信
号RASが能動レベルのときカラムアドレスストローブ
信号CASが複数回能動レベルとなるページモードとき
の書込み制御信号WEを、カラムアドレスストローブ信
号CASの複数の能動レベルのうちの奇数回目の能動レ
ベルへの変化前から変化後の所定の期間及び偶数回目の
能動レベルの後半の所定の期間能動レベルとなるように
したものである。
【0015】カラムアドレスストローブ信号CASの能
動レベルの期間が短かく、1回の能動レベルに対して書
込み制御信号WEを2回能動レベルにすることができな
い場合にはこの実施例を適用することができる。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、書込み制
御信号をカラムアドレスストローブ信号の能動レベルの
変化時の所定の期間及び能動レベルの後半の所定の期間
能動レベルとなるようにし、カラムアドレスストローブ
信号の能動レベルへの変化時に書込み制御信号が能動レ
ベルであれば書込み制御回路のマスクレジスタの内容を
マスクデータにより設定し、カラムアドレスストローブ
信号の能動レベルの後半の書込み制御信号の能動レベル
のときマスクレジスタの内容に従って書込み用のデータ
をメモリセルアレイの所定とアドレスに書込む構成とす
ることにより、ページモードのライトパービットモード
を設定できるので、ライトパービットモードの動作を高
速化することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示すブロック図であ
る。
【図2】図1に示された実施例の各部信号のタイミング
図である。
【図3】本発明の第2の実施例の各部信号のタイミング
図である。
【図4】従来の半導体メモリ装置の一例を示すブロック
図である。
【図5】図4に示された半導体メモリ装置の各部信号の
タイミング図である。
【符号の説明】
1 メモリセルアレイ 2 行選択回路 3 列選択回路 4,4a ライトパービットモード判定制御回路 5 書込み制御回路 6 書込み・読出し回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ローアドレスストローブ信号が能動レベ
    ルでカラムアドレスストローブ信号が非能動レベルから
    能動レベルへと変化するとき書込み制御信号が能動レベ
    ルであれば能動レベルのライトパービットモード信号を
    出力し前記カラムアドレスストローブ信号及び書込み制
    御信号が能動レベルのとき能動レベルの書込み許可信号
    を出力するライトパービットモード判定制御回路と、マ
    スクレジスタを備え前記ライトパービットモード信号が
    能動レベルになったとき供給されたマスクデータに従っ
    て前記マスクレジスタの内容を設定し前記書込み許可信
    号が能動レベルのとき前記マスクレジスタの内容に応じ
    て供給された書込み用のデータを出力する書込み制御回
    路と、この書込み制御回路からの書込み用のデータをメ
    モリセルアレイの所定のアドレスに書込む書込み回路と
    を含み、前記書込み制御信号を、前記ローアドレススト
    ローブ信号が能動レベルのときの前記カラムアドレスス
    トローブ信号の各能動レベルと対応して、このローアド
    レスストローブ信号の非能動レベルから能動レベルへの
    変化前から変化後の所定の期間及び能動レベルの後半の
    所定の期間能動レベルとなるようにしたことを特徴とす
    る半導体メモリ装置。
  2. 【請求項2】 ローアドレスストローブ信号が能動レベ
    ルのときカラムアドレスストローブ信号が複数回能動レ
    ベルとなるときの書込み制御信号を、前記カラムアドレ
    スストローブ信号の複数の能動レベルのうちの奇数回目
    の能動レベルへの変化前から変化後の所定の期間及び偶
    数回目の能動レベルの後半の所定の期間能動レベルとな
    るようにした請求項1記載の半導体メモリ装置。
JP4074960A 1992-03-31 1992-03-31 半導体メモリ装置 Withdrawn JPH05282858A (ja)

Priority Applications (1)

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JP4074960A JPH05282858A (ja) 1992-03-31 1992-03-31 半導体メモリ装置

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JP4074960A JPH05282858A (ja) 1992-03-31 1992-03-31 半導体メモリ装置

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Publication Number Publication Date
JPH05282858A true JPH05282858A (ja) 1993-10-29

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ID=13562394

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4074960A Withdrawn JPH05282858A (ja) 1992-03-31 1992-03-31 半導体メモリ装置

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JP (1) JPH05282858A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6529426B1 (en) * 1994-02-14 2003-03-04 Micron Technology, Inc. Circuit and method for varying a period of an internal control signal during a test mode
US6587978B1 (en) 1994-02-14 2003-07-01 Micron Technology, Inc. Circuit and method for varying a pulse width of an internal control signal during a test mode

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6529426B1 (en) * 1994-02-14 2003-03-04 Micron Technology, Inc. Circuit and method for varying a period of an internal control signal during a test mode
US6587978B1 (en) 1994-02-14 2003-07-01 Micron Technology, Inc. Circuit and method for varying a pulse width of an internal control signal during a test mode

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Effective date: 19990608