JPH0527714U - 透過型共焦点用光スキヤナ - Google Patents
透過型共焦点用光スキヤナInfo
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- JPH0527714U JPH0527714U JP7405091U JP7405091U JPH0527714U JP H0527714 U JPH0527714 U JP H0527714U JP 7405091 U JP7405091 U JP 7405091U JP 7405091 U JP7405091 U JP 7405091U JP H0527714 U JPH0527714 U JP H0527714U
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- Japan
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- substrate
- light
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- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 調整箇所が少ない透過型共焦点用光スキャナ
を実現する。 【構成】 光軸に対して平行な同一回転軸を有し回転軸
及び光軸に対して直角方向の平面内の2次元位置及び回
転方向の位置合わせを調整された複数のピンホ−ルが形
成された第1,第2のピンホ−ル基板と、2枚のピンホ
−ル基板を一定速度で回転させる手段と、2枚のピンホ
−ル基板の間に試料を挟んで配置された同一焦点面を有
する第1,第2の対物レンズと、第1のピンホ−ル基板
の所定の区域を照明する為に第1のピンホ−ル基板に対
して対物レンズとは反対側に配置された光源とを備え、
光源の出射光は回転手段により回転される第1のピンホ
−ル基板を通って第1の対物レンズを介して試料上を走
査され、試料を透過した光は第2の対物レンズを介して
回転手段により第1のピンホ−ル基板に同調して回転さ
れる第2のピンホ−ル基板を通って出射するように構成
したもの。
を実現する。 【構成】 光軸に対して平行な同一回転軸を有し回転軸
及び光軸に対して直角方向の平面内の2次元位置及び回
転方向の位置合わせを調整された複数のピンホ−ルが形
成された第1,第2のピンホ−ル基板と、2枚のピンホ
−ル基板を一定速度で回転させる手段と、2枚のピンホ
−ル基板の間に試料を挟んで配置された同一焦点面を有
する第1,第2の対物レンズと、第1のピンホ−ル基板
の所定の区域を照明する為に第1のピンホ−ル基板に対
して対物レンズとは反対側に配置された光源とを備え、
光源の出射光は回転手段により回転される第1のピンホ
−ル基板を通って第1の対物レンズを介して試料上を走
査され、試料を透過した光は第2の対物レンズを介して
回転手段により第1のピンホ−ル基板に同調して回転さ
れる第2のピンホ−ル基板を通って出射するように構成
したもの。
Description
【0001】
本考案は、共焦点顕微鏡などに用いるピンホ−ル基板を走査する共焦点用光ス キャナに関し、特に透過型の共焦点用光スキャナに関するものである。
【0002】
近年、生物医学用光学顕微鏡として共焦点走査型光学顕微鏡が進歩し、注目を 集めている。この共焦点顕微鏡は、従来の光学顕微鏡に対し、対物レンズの焦点 の合っていない面からの影響を受けずに画像が得られるという大きな利点をもっ ている。これは共焦点光学系において、光源と試料とピンホ−ル面が全て結像位 置にあるため、試料の中のフォ−カス面からの光は、完全に検出器に受光される 。しかし、デフォ−カス面からの光は、ピンホ−ル面で結像せず広がるため、ご く一部の光しか検出器に受光されない。したがって、試料の深さ方向のスライス 像を高い分解能で光量変化として得ることができるためである。
【0003】 また、共焦点顕微鏡は大きく分けて反射型と透過型に分類される。反射型は試 料からの反射光を利用するのに対し、透過型は試料を透過した光から試料の像を 得るようにしている。しかしながら、従来、透過型の共焦点顕微鏡は、反射型の ものに比べて、試料を透過した光に対しても共焦点光学系を構成するための第2 のピンホ−ルが必要であり、光軸方向および光軸に対して直角方向での微妙なピ ンホ−ルの位置調整が非常に困難であるため、反射型の共焦点顕微鏡が主流であ った。しかしながら、生物医学用として、反射型の共焦点顕微鏡を使用する場合 、試料からの反射率が極めて低いため、螢光顕微鏡だけに限定されて使用されて いた。
【0004】
本考案は上記従来技術の課題を踏まえて成されたものであり、透過型の共焦点 顕微鏡を構成する共焦点用光スキャナにおいて、共焦点用光スキャナを構成する ピンホ−ル基板を2枚1組にすることにより、調整箇所を減少でき、光学部品数 も少ない透過型の共焦点用光スキャナを提供することを目的としたものである。
【0005】
上記課題を解決するための本考案の構成は、ピンホ−ル基板を回転させ、この ピンホ−ル基板を通過した照射光を試料に対して走査する共焦点用光スキャナで あって、 光軸に対して平行な同一回転軸を有し、この回転軸および光軸に対して直角方 向の平面内の2次元位置および回転方向の位置合わせを調整された複数のピンホ −ルが形成された第1,第2の2枚のピンホ−ル基板と、 この2枚のピンホ−ル基板を一定速度で回転させる手段と、 前記2枚のピンホ−ル基板の間に試料を挟んで配置された同一焦点面を有する 第1,第2の2つの対物レンズと、 前記第1のピンホ−ル基板の所定の区域を照明するために、前記第1のピンホ −ル基板に対して前記対物レンズとは反対側に配置された光源とを備え、 この光源の出射光は、前記回転手段により回転される前記第1のピンホ−ル基 板を通って、前記第1の対物レンズを介して、前記試料上を走査され、この試料 を透過した光は、前記第2の対物レンズを介して、前記回転手段により前記第1 のピンホ−ル基板に同調して回転される前記第2のピンホ−ル基板を通って出射 するように構成したことを特徴とするものであり、 また、前記光源側、かつ、前記第1のピンホ−ル基板がその焦点位置となる位 置に形成されると共に、前記第1および第2のピンホ−ル基板とは、光軸に対し て平行な同一回転軸を有し、この回転軸および光軸に対して直角方向の平面内の 2次元位置および回転方向の位置合わせを調整された複数のマイクロレンズが形 成された集光基板を備え、前記光源からの出射光をこの集光基板で前記第1のピ ンホ−ル基板に集光させるようにしたことを特徴とするものであり、 さらに、前記第1のピンホ−ル基板の代わりに、前記第2のピンホ−ル基板と は光軸に対して平行な同一回転軸を有し、この回転軸および光軸に対して直角方 向の平面内の2次元位置および回転方向の位置合わせを調整された複数のマイク ロレンズが形成された集光基板を備え、前記光源からの出射光をこの集光基板を 介して前記第1の対物レンズに入射させるようにしたことを特徴とするものであ る。
【0006】
本考案によれば、同一回転軸を有し、光軸に対し、x,y,θ位置を調整され た複数のピンホ−ルが形成されたピンホ−ル基板を2枚1組として構成し、同時 に2枚のピンホ−ル基板を回転させて共焦点効果を得るようにしているため、調 整箇所を減少できる。
【0007】
以下、本考案を図面に基づいて説明する。 図1は本考案の透過型共焦点用光スキャナを用いた共焦点顕微鏡の一実施例を 示す構成図である。図1において、1はレ−ザ光源、2は複数のピンホ−ルが形 成された第1のピンホ−ル基板、3は第1のピンホ−ル基板2と同様に複数のピ ンホ−ルが形成された第2のピンホ−ル基板であり、第1のピンホ−ル基板2と 第2のピンホ−ル基板3とは同一の回転軸を有し、回転軸と光軸は平行である。 また、この回転軸および光軸の2軸に対し、第1のピンホ−ル基板2および第2 のピンホ−ル基板3に形成された複数のピンホ−ルは、光軸(または回転軸)に 対して直角方向の平面内でのx方向およびy方向の位置と回転方向θの位置は同 一となるように、位置合わせが調整されている。したがって、図示しない回転手 段により、同時に2枚のピンホ−ル基板2,3を回転させることになる。4,5 は2枚のピンホ−ル基板2,3の内側に配置された同一焦点面を有する第1,第 2の対物レンズ、6は2つの対物レンズ4,5の間に配置された試料であり、こ の試料6は対物レンズ4,5の同一焦点面に配置されている。7は接眼レンズ、 8はCCDカメラである。
【0008】 また、9は複数のマイクロレンズが形成された集光基板であり、この集光基板 9により、より多くの光を第1のピンホ−ル基板2のピンホ−ルに集光させるた めに設けたものである。この集光基板9は、第1のピンホ−ル基板2とは同一の 回転軸と光軸を有し、この2軸に対し、集光基板9に形成された複数のマイクロ レンズと第1のピンホ−ル基板2に形成された複数のピンホ−ルは、その直角平 面内でのx方向およびy方向の位置と回転方向θの位置は同一となるように、位 置合わせが調整されていると共に、その焦点位置に第1のピンホ−ル基板2が配 置されるように設置されている。したがって、図示しない回転手段により、同時 に2枚のピンホ−ル基板2,3および集光基板9を回転させることになる。
【0009】 このような構成において、レ−ザ光源1から出射したレ−ザ光は、集光基板9 に形成されたマイクロレンズにより絞られ、その焦点位置に設置されたピンホ− ル基板2のピンホ−ルに入射する。この時、集光基板9とピンホ−ル基板2(お よびピンホ−ル基板3)は一定速度で回転しており、ピンホ−ル基板2に形成さ れた複数のピンホ−ルによりレ−ザ光は走査され、対物レンズ4に入射し、その 焦点面に置かれた試料6を透過し、その同一面を焦点面とする対物レンズ5によ り集光される。集光されたレ−ザ光は、対物レンズ5の後ろ側焦点に設置された ピンホ−ル基板3のピンホ−ルを通って、接眼レンズ7を介して、CCDカメラ 8で試料6の像が観察される。
【0010】 ここで、ピンホ−ル基板2とピンホ−ル基板3とは、同一回転軸を有し、回転 軸と光軸は平行であり、その2軸に対し、2枚のピンホ−ル基板2,3に形成さ れた複数のピンホ−ルは、x,y,θ方向の位置合わせが調整されている。した がって、同時に2枚のピンホ−ル基板を回転させることにより、共焦点効果が得 られている。
【0011】 なお、上記実施例において用いた集光基板9は、光利用効率を向上させるため のものであり、集光基板9が無い構成であっても良い。また、集光基板9の集光 特性が良好であれば、ピンホ−ル基板2は無くても良い。この場合、集光基板9 の集光位置と第1の対物レンズ4の中間結像位置に両者が配置される構成であれ ば、CCDカメラ8にて観察される試料6の像が最も鮮明になる。更に、光源と して用いたレ−ザ光源1は、白色光源であっても良い。
【0012】 このように、本考案の透過型共焦点用光スキャナによれば、同一回転軸を有し 、光軸に対し、x,y,θ方向の位置合わせが調整された複数のピンホ−ルが形 成された2枚のピンホ−ル基板を2枚1組として同時に回転させる構成としてい る。したがって、光源とピンホ−ル基板と試料との共焦点光学系の微妙な位置調 整箇所を減少でき、調整を容易としている。
【0013】
以上、実施例と共に具体的に説明したように、本考案によれば、調整箇所が少 なく、光学部品数も少ない透過型共焦点用光スキャナを実現できる。
【図1】本考案の透過型共焦点用光スキャナを用いた共
焦点顕微鏡の一実施例を示す構成図である。
焦点顕微鏡の一実施例を示す構成図である。
1 光源 2,3 ピンホ−ル基板 4,5 対物レンズ 6 試料 9 集光基板
Claims (3)
- 【請求項1】 ピンホ−ル基板を回転させ、このピンホ
−ル基板を通過した照射光を試料に対して走査する共焦
点用光スキャナであって、 光軸に対して平行な同一回転軸を有し、この回転軸およ
び光軸に対して直角方向の平面内の2次元位置および回
転方向の位置合わせを調整された複数のピンホ−ルが形
成された第1,第2の2枚のピンホ−ル基板と、 この2枚のピンホ−ル基板を一定速度で回転させる手段
と、 前記2枚のピンホ−ル基板の間に試料を挟んで配置され
た同一焦点面を有する第1,第2の2つの対物レンズ
と、 前記第1のピンホ−ル基板の所定の区域を照明するため
に、前記第1のピンホ−ル基板に対して前記対物レンズ
とは反対側に配置された光源とを備え、 この光源の出射光は、前記回転手段により回転される前
記第1のピンホ−ル基板を通って、前記第1の対物レン
ズを介して、前記試料上を走査され、この試料を透過し
た光は、前記第2の対物レンズを介して、前記回転手段
により前記第1のピンホ−ル基板に同調して回転される
前記第2のピンホ−ル基板を通って出射するように構成
したことを特徴とする透過型共焦点用光スキャナ。 - 【請求項2】 請求項1記載の透過型共焦点用光スキャ
ナにおいて、前記光源側、かつ、前記第1のピンホ−ル
基板がその焦点位置となる位置に形成されると共に、前
記第1および第2のピンホ−ル基板とは、光軸に対して
平行な同一回転軸を有し、この回転軸および光軸に対し
て直角方向の平面内の2次元位置および回転方向の位置
合わせを調整された複数のマイクロレンズが形成された
集光基板を備え、前記光源からの出射光をこの集光基板
で前記第1のピンホ−ル基板に集光させるようにしたこ
とを特徴とする透過型共焦点用光スキャナ。 - 【請求項3】 請求項1記載の透過型共焦点用光スキャ
ナにおいて、前記第1のピンホ−ル基板の代わりに、前
記第2のピンホ−ル基板とは光軸に対して平行な同一回
転軸を有し、この回転軸および光軸に対して直角方向の
平面内の2次元位置および回転方向の位置合わせを調整
された複数のマイクロレンズが形成された集光基板を備
え、前記光源からの出射光をこの集光基板を介して前記
第1の対物レンズに入射させるようにしたことを特徴と
する透過型共焦点用光スキャナ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7405091U JPH0527714U (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | 透過型共焦点用光スキヤナ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7405091U JPH0527714U (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | 透過型共焦点用光スキヤナ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0527714U true JPH0527714U (ja) | 1993-04-09 |
Family
ID=13535972
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7405091U Pending JPH0527714U (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | 透過型共焦点用光スキヤナ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0527714U (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0280906A (ja) * | 1988-08-03 | 1990-03-22 | Wild Leitz Gmbh | 光学像コントラストを発生させる装置 |
JPH03168713A (ja) * | 1989-11-29 | 1991-07-22 | Fuji Photo Film Co Ltd | 走査型顕微鏡 |
JPH03189601A (ja) * | 1989-12-19 | 1991-08-19 | Yokogawa Electric Corp | ピンホール基板及びその作製方法 |
-
1991
- 1991-09-13 JP JP7405091U patent/JPH0527714U/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0280906A (ja) * | 1988-08-03 | 1990-03-22 | Wild Leitz Gmbh | 光学像コントラストを発生させる装置 |
JPH03168713A (ja) * | 1989-11-29 | 1991-07-22 | Fuji Photo Film Co Ltd | 走査型顕微鏡 |
JPH03189601A (ja) * | 1989-12-19 | 1991-08-19 | Yokogawa Electric Corp | ピンホール基板及びその作製方法 |
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