JPH05273002A - センサを監視するため及び故障の位置をつきとめるための方法及び装置 - Google Patents

センサを監視するため及び故障の位置をつきとめるための方法及び装置

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JPH05273002A
JPH05273002A JP4268563A JP26856392A JPH05273002A JP H05273002 A JPH05273002 A JP H05273002A JP 4268563 A JP4268563 A JP 4268563A JP 26856392 A JP26856392 A JP 26856392A JP H05273002 A JPH05273002 A JP H05273002A
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JP4268563A
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D Andrea Angel
アンジェル・ダンドレア
Kiener Philippe
フィリペ・キーネール
Philippe Denis
デニス・フィリペ
Puissant Alain
アラン・ピュイッサン
Ragot Jose
ジョセ・ラゴ
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Sollac SA
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B9/00Safety arrangements
    • G05B9/02Safety arrangements electric
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B21MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21BROLLING OF METAL
    • B21B33/00Safety devices not otherwise provided for; Breaker blocks; Devices for freeing jammed rolls for handling cobbles; Overload safety devices

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  • Alarm Systems (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Control Of Conveyors (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 製品を最初の状態Y0から最終の状態Ynに
変換するための基本的工程P1乃至Pnを備え、各工程
PiがパラメータAi、Bi、・・・Xiで、そして製
品の各状態Yiがパラメータai、bi、・・・xiで
特徴付けされる工業プロセスにおけるセンサの機能の検
査及び故障の位置を突き止める方法及び装置を提供す
る。 【構成】 製品の最終の状態Ynを表すパラメータを測
定するステップ、偏差を決定するために、製品の最終の
状態を表す測定されたパラメータの値と計算されたパラ
メータの値を比較するステップ、及び測定されたパラメ
ータの値と許容ブラケットを比較しそして計算された偏
差と許容スレッショルドを比較し、不適合が起きた場合
に、少なくとも1つのセンサと少なくともプロセスの1
つの工程との両方又は何れかが正しく機能していないと
決定するステップ、を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、工業プロセスにおい
て、センサを監視(monitoring)するための及び故障
(fault)の位置をつきとめるための方法及び装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】オートメーションが多くの重要な部分を
担っている工業において、そして特に鉄鋼工業におい
て、工業プロセス、すなわち製品を変換するためのオペ
レーション又は基本的工程のシーケンスをオートメーシ
ョン化するのが一般的になってきており、製品又は材料
エレメントはこのシーケンスを通じて初期状態から特定
的最終状態にされるように作用される。
【0003】この目的のために、例えば、幾つかの圧延
スタンドを通じて行われる熱間圧延プロセスにおける金
属シートの厚さ、長さ、及び温度のような、工業プロセ
スの多種の段階における製品のパラメータを検査するセ
ンサがプロセスの各基本的工程の後に配置される。各セ
ンサによって送られるデータは、次にコンピュータに入
力され、コンピュータはこのデータの値に依存してこの
プロセスが実施されることを可能にするように多種の装
置に作用する。
【0004】よって、例えば熱間圧延の場合、金属シー
トの厚さの突然の減少は、自動的反応を通じて、後のロ
ールのセパレーションを変更することによって、前の圧
延スタンドの制御パラメータに介在をもたらす。
【0005】今日、工業プロセスの自動的調節は信頼性
があり、そしてセンサによって送られたデータによって
生じる修正動作は実質的に即時であると見なされてい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】オペレータが、調節が
正しく機能することを監視するときに面している問題
は、多種のセンサの信頼性にある。
【0007】実際、センサによって与えられたデータが
真の状況を反映していないことが起こり得る。これはこ
のセンサの誤動作又は漸進的ドリフティングに起因し得
る。この場合、調節手段は、センサによって送られたデ
ータは正確であると見なすので、そのプロセスが実施さ
れるように装置に修正動作を行い、その修正動作は製品
の最終状態に送られ、そして後における欠陥となる。
【0008】よって、例えば圧延の場合、ドリフトし、
そしてコンピュータに増加したデータを供給する厚さセ
ンサは、現実とは関係なく、自動的に前の圧延スタンド
のロールを収束させる。
【0009】更に、監視される工業プロセスの各工程に
検査用センサを置くと、多数のセンサが設置されて維持
されるようになり、これによってコストが高くなり、か
つ結果を通訳するのが大変複雑になる。
【0010】従って、本発明の目的は、工業プロセスに
おいてセンサの機能を検査するための及び故障の位置を
つきとめるための、簡単な、信頼性のある方法及び装置
であり、速く、低コストで実施できる方法及び装置を提
供することによって、これらの問題を解決することであ
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】このための、本発明の主
題は工業プロセスにおいてセンサの機能を検査するため
の及び故障の位置をつきとめるための方法であり、この
方法は、製品を初期状態Y0から最終状態Ynに変換す
るための連続の基本的工程P1乃至Pnを備えており、
各工程Piは表示パラメータAi、Bi、・・・Xiを
特徴とし、製品の各状態Yiは表示パラメータai、b
i、・・・xiを特徴とし、そして、以下のステップを
備えることを特徴とする。
【0012】− プロセスの工程P1乃至工程Pnの各
工程Piについて、製品の状態Yiを表すパラメータ
が、その工程の前の製品の状態Yi−1を表すパラメー
タから及び工程Piを表すパラメータから、前記工程を
表す数学的モデルFiに援助されて計算されるステップ − 製品の最終状態Ynを表すパラメータが測定される
ステップ − 製品の最終状態を表す計算及び測定されたパラメー
タの値が、それらから偏差(deviation)を決定するた
めに比較されるステップ − 不適合の場合に、少なくとも1つのセンサ及び/又
はプロセスの少なくとも1つの工程が正しく機能してい
ないことを決定するために、測定されたパラメータの値
が許容ブラケット(tolerance bracket)と比較され、
そして計算された偏差が許容スレッショルドと比較され
るステップ
【0013】よって、もし製品の最終状態Ynを表すパ
ラメータの測定された値が対応する許容ブラケット内で
あり、そしてもし計算された偏差が対応する許容スレッ
ショルドより少なければ、センサ及びプロセスの多種の
工程は正しく機能していると見なされる。
【0014】対照的に、もし製品の状態Ynを表す少な
くとも1つのパラメータの測定値が対応する許容ブラケ
ットを越え、そしてもし関連した偏差が対応する許容ス
レッショルドよりも少なければ、対応するセンサが原因
ではなくプロセスの1つ又はそれ以上の工程が原因で正
しく機能していないと見なされる。
【0015】最後に、もし計算された偏差が対応する許
容スレッショルドを越えると、対応するセンサは正しく
機能していないと見なされるか、又は故障は工業プロセ
スの1つ又はそれ以上の工程に影響すると見なされるか
のいずれかである。
【0016】他の見地にしたがうと、本発明の目的はま
た、前記の方法を実施するための装置である。
【0017】本発明は、以下の一実施例の説明及び添付
の図面を参照してより理解されるであろう。
【0018】
【実施例】図1で見られるように、工業プロセスは、こ
の図において参照符号P1、P2、P3、及びPnで表
された基本的工程のシーケンスである。各工程は、最初
の工程P1及び最終の工程Pnを除き、少なくとも1つ
の前の工程及び少なくとも1つの後の工程とリンクされ
ている。
【0019】各工程Piは工程パラメータAi、Bi、
・・・、Xiによって特徴付けられる。よって、例え
ば、工程P1はパラメータA1、B1、・・・、X1、
そして工程PnはAn、Bn、・・・、Xnによって特
徴付けられる。
【0020】Piを表す各パラメータAi、Bi、・・
・、Xiは、工業プロセスを追跡することを確実にする
従来の形式のセンサの援助をもって測定される。これら
のセンサは参照符号C1、C2、・・・、Cnで表され
る。
【0021】このように、多種の工程の間のこの工業プ
ロセスのにおいて変換される製品は、最初の状態Y0か
ら状態の中間シーケンスを通して最終の状態Ynまで通
過する。この製品の各状態Yiは、パラメータai、b
i、・・・、xiによって特徴付けられる。
【0022】本発明に従った方法を実施するために、製
品の最初の状態Y0のパラメータa0、b0、・・・、
x0、及び製品の最終の状態Ynのパラメータan、b
n、・・・、xnのみが、従来の形式のセンサの援助を
もって測定され、そしてそれぞれ参照符号c0及びcn
で表される。
【0023】図2に見られるように、これらの多種のセ
ンサは参照符号1で表された中央データ処理及び計算ユ
ニットに結合されている。このユニットは例えばマイク
ロプロセッサアッセンブリからなる。このユニットは、
記憶手段2に及びデータ表示手段3に結合され、そして
以下に説明する計算、比較、及び決定のオペレーション
を行う。
【0024】この中央計算ユニットの機能及び関連のエ
レメントの機能は図3を参照して説明される。
【0025】この図3に見られるように、最初の状態Y
0を表すパラメータa0、b0、・・・x0の測定値か
ら開始し、そしてプロセスの工程P1を表すパラメータ
A1、B1、・・・、X1から、以下でより詳細に説明
される数学的モデルの援助をもって、工程P1の後の製
品の状態Y1を表すパラメータa1、b1、・・・x1
を、以下の公式を通して、計算することが可能である。 (a1,b1,・・・ x1) = F1 (a0,b0,・・・ x0,A1,B1,・・・ X1)
【0026】工程P2の後の製品の状態Y2を表すパラ
メータは、次に、製品の状態Y1に対応するこの方法の
前の工程で計算された表示パラメータから、そして工程
P2を表すパラメータから、数学的モデルF2の援助を
もって同じ方法で計算され、それは以下の公式を与え
る。 (a2,b2,・・・ x2) = F2 (a1,b1,・・・ x1,A2,B2,・・・ X2)
【0027】製品の最終の状態Ynを表すパラメータま
での、製品の多種の状態Yiを表すすべてのパラメータ
ai、bi、・・・xiは、このように計算される。後
のパラメータは、以下の公式に従って製品の状態Yn−
1を表すパラメータから及び工程Pnを表すパラメータ
から、数学的モデルFnの援助をもって計算される。 (an,bn,・・・ xn) = Fn (an-1,bn-1,・・・ xn-1,An,Bn,・・・ Xn)
【0028】これら多種の計算は図3において図的に説
明されている。参照符号4で表されたブロックは、製品
がプロセスの第1の工程を通過する前のその製品の最初
の状態Y0を表すパラメータのセンサc0の援助をもっ
ての測定、であると認識される。工程P1を表すパラメ
ータは5で測定され、そして7で製品の状態Y1を表す
パラメータの計算を得るために、数学的モデルF1の援
助をもっての計算が6で提供される。8で工程P2を表
すパラメータの測定が与えられ、そして9で製品の状態
Y2を表すパラメータの計算が、数学的モデルF2の援
助をもって与えられる。これら多種のオペレーションは
工業プロセスの最終の工程Pnまで続けられる。
【0029】この最後の計算の間に、この工程Pnを表
すパラメータは10で測定され、そして11で数学的モ
デルFnの援助をもって計算され、12でプロセスの最
後での製品の状態Ynを表すパラメータを得られるよう
にする。
【0030】製品の状態Ynを表す計算されたパラメー
タは、次に、前に説明したセンサcnの援助をもって1
3で測定されたこれらのパラメータの値と比較される。
【0031】この比較は14で与えられ、そして15で
偏差za、zb、・・・zxが推定されることを可能に
する。
【0032】これらの偏差za、zb、・・・zxは次
に16で、工程17によって送られ且つ例えばオペレー
タによって固定された許容スレッショルドZa、Zb、
・・・Zxと比較される。
【0033】また、オペレータは18で、製品の最終の
状態Ynのパラメータに対する許容ブラケットを固定す
ることができる。これらのブラケットは工程19の間
に、工程13の間に測定された製品の最後の状態を表す
パラメータと比較される。
【0034】次に、幾つかのケースが起こり得る。
【0035】実際に、もし製品の最終の状態Ynを表す
パラメータan、bn、・・・xnの値が対応する許容
ブラケット内にあり、そしてもし偏差za、zb、・・
・zxが対応する許容スレッショルドZa、Zb、・・
・Zxよりも少なければ、多種のセンサ及びプロセスの
多種の工程は正しく機能していると見なされる。
【0036】対照的に、もし製品の最終の状態Ynを表
すパラメータan、bn、・・・xnの少なくとも1つ
の測定値が対応する許容ブラケットを越え、そしてもし
関連の偏差za、zb、・・・zxが対応する許容スレ
ッショルドよりも少なければ、このパラメータを測定す
るためのセンサは正しく機能していると見なされ、そし
て不適合は工業プロセスの少なくとも1つの工程が正し
く機能していないことに起因すると見なされる。
【0037】最後に、もし計算された偏差za、zb、
・・・zxが対応する許容スレッショルドZa、Zb、
・・・Zxを越えると、適切なパラメータの測定を行う
センサが正しく機能していないと見なされるか、又は故
障は工業プロセスの1つ又はそれ以上の工程P1からP
nに影響すると見なされるかの何れかである。
【0038】よって、計算ユニットの利点によって、正
しく機能していない部分が現れた工程Piの位置を突き
止めるように、製品の各状態Yiのパラメータai、b
i、・・・xiの値を監視することが可能となる。
【0039】以下で詳細に説明される圧延の場合には、
例えば、これは各工程の数学的バランスの検査を通して
行われる。
【0040】図4において、この方法及び装置の、圧延
機のトレインの機能の監視への応用が実際に示されてい
る。
【0041】この場合、工業プロセスの各工程は圧延ス
タンドを通して実施される。工業処理されるこの製品は
ストリップの形態であり、その代表的パラメータは幅l
i、送り速度Vi、厚さei、及び温度tiである。各
工程Piを表すパラメータは、圧延スタンドのロールの
ストリップによって出された力Fi、このスタンドのロ
ールの回転率Ni、ロールのための駆動モータに流れる
電流Ii、及びこれらのロールのための調整ねじの位置
Miである。
【0042】圧延プロセスの上流では、このストリップ
は厚さe0、第1の圧延スタンドの先の送り速度V0、
温度t0、及び幅l0を有する。これらの値e0、V
0、t0、l0は、前以て知られているか又は図1を参
照して説明されたセンサc0のようなセンサを用いて測
定されている。
【0043】もちろん、これらの多種のセンサはそれ自
体知られた形式のものであり、よってそれらについて詳
細に説明しない。
【0044】第1の圧延スタンドの出口での圧延された
ストリップの厚さは、以下の公式のによって計算され
る。 e1=f(M1,F1,l0)
【0045】更に、送り速度V1もまた、例えば工程P
1の材質バランスから計算することができる。 V1=g(e0,e1,N1)
【0046】このように幾つかの数学的モデルを用いる
ことにより、製品の多種のパラメータが計算される。
【0047】この製品のパラメータは、次に、値en、
Vn、tn及びlnが得られる各工程に対してその最後
まで計算される。
【0048】計算ユニット1は次にこれらの計算値と、
図1で表されたセンサcnによって測定された値とを比
較する。
【0049】よって、例えば、この計算ユニット1は厚
さセンサによって測定された値enと、enの計算され
た値とを比較する。
【0050】もしこれらの値が類似であり、そしてもし
測定値enが圧延に関係する基準を充分に与えているな
らば、即ち、それは対応する許容ブラケット内にあり、
プロセスとセンサとの組み合わせは正しく機能している
と見なされる。
【0051】もし2つの値のen、測定値及び計算値、
が類似であれば、そしてもし測定値enが対応する許容
ブラケット内にこなければ、厚さを測定するためのセン
サは正しく機能しており且つ1つ又はそれ以上の圧延ス
タンドの段階で正しく機能していない、ということがそ
れらから推定される。
【0052】計算ユニットは次に問題のスタンドを推定
するために各工程の材質バランスを検査する。
【0053】最後に、もしenの測定値がenの計算値
と異なれば、厚さenを測定するセンサの故障か、又は
製品の多種の状態を表すパラメータを計算するための数
学的モデルに含まれているもの以外の変数に影響してい
るプロセスの機能不良と推断する。
【図面の簡単な説明】
【図1】工業プロセスの多種の工程を表す図である。
【図2】本発明に従った方法を実施するための装置のブ
ロック図である。
【図3】図2の装置の機能を表すフローチャートであ
る。
【図4】ストリップ圧延トレインへの本発明に従った方
法の応用を示す図である。
【符号の説明】
1 中央データ処理及び計算ユニット 2 記憶手段 3 データ表示手段
フロントページの続き (72)発明者 デニス・フィリペ フランス共和国 54600 ヴィリエール・ レ・ナンシー,リュー・デュ・レオモン 38 (72)発明者 アラン・ピュイッサン フランス共和国 57110 ユッツ,リュ ー・ルーズヴェルト 103 (72)発明者 ジョセ・ラゴ フランス共和国 54600 ヴィリエール・ レ・ナンシー,リュー・ド・ラバイエ・ ド・クレイリュー 22

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 製品を最初の状態Y0から最終の状態Y
    nに変換するための連続する基本的工程P1乃至Pnを
    備え、その各工程Piが代表するパラメータAi、B
    i、・・・Xiで特徴付けされそして製品の各状態Yi
    が代表するパラメータai、bi、・・・xiで特徴付
    けされる工業プロセスにおけるセンサの機能の検査及び
    故障の位置を突き止める方法において、 前記プロセスの前記工程P1乃至工程Pnの各工程Pi
    について、該工程の前の製品の状態Yi−1を表すパラ
    メータから及び工程Piを表すパラメータから、該工程
    を表す数学的モデルFiの援助をもって、製品の状態Y
    iを表すパラメータが計算されるステップと、 製品の最終の状態Ynを表すパラメータが測定されるス
    テップと、 偏差を決定するために、製品の最終の状態を表す測定さ
    れたパラメータの値と計算されたパラメータの値が比較
    されるステップと、 測定されたパラメータの値が許容ブラケットと比較され
    そして計算された偏差が許容スレッショルドと比較さ
    れ、不適合が起きた場合に、少なくとも1つのセンサと
    少なくとも前記プロセスの1つの工程との両方又は何れ
    かが正しく機能していないと決定するステップと、を備
    えることを特徴とするセンサの機能の検査及び故障の位
    置を突き止める方法。
  2. 【請求項2】 もし前記製品の前記最終の状態Ynを表
    す前記パラメータの前記測定された値が対応する許容ブ
    ラケット内にあり、そしてもし前記計算された偏差が対
    応する許容スレッショルドよりも少なければ、前記セン
    サ及び前記プロセスの多種の前記工程は正しく機能しい
    てると見なされることを特徴とする請求項1に記載の方
    法。
  3. 【請求項3】 もし前記製品の前記状態Ynを表すパラ
    メータの少なくとも1つの測定された値が対応する許容
    ブラケットを越え、そしてもし関連する偏差が対応する
    許容スレッショルドよりも少なければ、機能の不良は対
    応するセンサから生じているのではなくプロセスの1つ
    又はそれ以上の工程から生じていると見なされることを
    特徴とする請求項1又は2に記載の方法。
  4. 【請求項4】 もし計算された偏差が対応する許容スレ
    ッショルドを越えると、対応するセンサは正しく機能し
    ていないと見なされるか、又は故障は工業プロセスの1
    つ又はそれ以上の工程に影響していると見なされるかの
    何れかであることを特徴とする請求項1、2又は3に記
    載の方法。
  5. 【請求項5】 機能の不良が現れているプロセスの工程
    Piを位置を突き止めるように、前記製品の各状態Yi
    のパラメータの値は監視されることを特徴とする請求項
    3又は4に記載の方法。
  6. 【請求項6】 前記工業プロセスはストリップを圧延す
    るプロセスであり且つそこにおいて各工程Piは圧延ス
    タンドを通して実施されることを特徴とする請求項1、
    2、3、4又は5に記載の方法。
  7. 【請求項7】 前記ストリップの状態Yiを表す前記パ
    ラメータai、bi、・・・xiは、ストリップの幅l
    i、このストリップの送り速度Vi、その厚さei、及
    びその温度tiであることを特徴とする請求項6に記載
    の方法。
  8. 【請求項8】 工程Piを表す前記パラメータAi、B
    i、・・・Xiは、圧延スタンドのロールのストリップ
    によって出される力Fi、該圧延スタンドのロールの回
    転率Ni、該スタンドの該ロールのための駆動モータの
    電流Ii、及び該圧延スタンド該ロールのための調節ね
    じの位置Miであることを特徴とする請求項6又は7に
    記載の方法。
  9. 【請求項9】 製品を最初の状態Y0から最終の状態Y
    nに変換するための連続する基本的工程P1乃至Pnを
    備え、その各工程Piが代表するパラメータAi、B
    i、・・・Xiで特徴付けされそして製品の各状態Yi
    が代表するパラメータai、bi、・・・xiで特徴付
    けされる工業プロセスにおけるセンサの機能の検査及び
    故障の位置を突き止める方装置において、 プロセスの工程P1乃至工程Pnの各工程Piについ
    て、該工程の前の製品の状態Yi−1を表すパラメータ
    から及び工程Piを表すパラメータから、該工程を表す
    数学的モデルFiの援助をもって、製品の状態Yiを表
    すパラメータを計算する手段と、 前記製品の最終の状態Ynを表すパラメータを測定する
    手段と、 偏差を決定するために、製品の最終の状態を表す測定さ
    れたパラメータの値と計算されたパラメータの値を比較
    する手段と、 測定されたパラメータの値を許容ブラケットと比較しそ
    して計算された偏差を許容スレッショルドと比較し、不
    適合が起きた場合に、少なくとも1つのセンサと少なく
    とも前記プロセスの1つの工程との両方又は何れかが正
    しく機能していないと決定する手段と、を備えることを
    特徴とする装置。
  10. 【請求項10】 前記計算する手段、前記測定されたパ
    ラメータの値と計算されたパラメータの値を比較する手
    段、及び前記測定されたパラメータの値を許容ブラケッ
    トと比較しそして計算された偏差を許容スレッショルド
    と比較する手段は、マイクロプロセッサ中央処理及び計
    算ユニットからなることを特徴とする請求項9に記載の
    装置。
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FR9112323A FR2682208B1 (fr) 1991-10-07 1991-10-07 Procede et dispositif de surveillance de capteurs et de localisation de pannes d'un processus industriel.
FR9112323 1991-10-07

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