JPH0526972A - デイジタルダイナミクス試験信号発生装置 - Google Patents
デイジタルダイナミクス試験信号発生装置Info
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- JPH0526972A JPH0526972A JP3205397A JP20539791A JPH0526972A JP H0526972 A JPH0526972 A JP H0526972A JP 3205397 A JP3205397 A JP 3205397A JP 20539791 A JP20539791 A JP 20539791A JP H0526972 A JPH0526972 A JP H0526972A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 音声信号処理に用いるディジタルダイナミク
スの試験用のディジタル試験信号として任意の波形で任
意のタイミングで正確に発生する試験信号発生装置を提
供する。 【構成】 試験信号発生装置１はエクスパンダ，コンプ
レッサおよびリミッタを有するディジタルダイナミクス
部２にこれらの試験，たとえば，アタック時間測定など
測定に必要なディジタル形式の試験信号を出力する。こ
のため，試験信号発生装置１は，タイミング信号発生手
段11，振幅信号発生手段12，バイアス信号発生手段14，
スイッチング手段15および信号加算手段16を有する。振
幅信号発生手段12は設定された振幅を有する振幅信号Ｓ
12を出力する。バイアス信号発生手段14は設定されたバ
イアスを有するバイアス信号Ｓ14を出力する。タイミン
グ信号発生手段11はこれらの回路の動作タイミングを制
御し，スイッチング手段15をオンまたはオフさせる。こ
のスイッチング手段15の動作により振幅信号Ｓ12がオン
またはオフされ，信号加算手段16におけるバイアス信号
Ｓ14に重畳する振幅信号Ｓ12のレベルが変化する。
スの試験用のディジタル試験信号として任意の波形で任
意のタイミングで正確に発生する試験信号発生装置を提
供する。 【構成】 試験信号発生装置１はエクスパンダ，コンプ
レッサおよびリミッタを有するディジタルダイナミクス
部２にこれらの試験，たとえば，アタック時間測定など
測定に必要なディジタル形式の試験信号を出力する。こ
のため，試験信号発生装置１は，タイミング信号発生手
段11，振幅信号発生手段12，バイアス信号発生手段14，
スイッチング手段15および信号加算手段16を有する。振
幅信号発生手段12は設定された振幅を有する振幅信号Ｓ
12を出力する。バイアス信号発生手段14は設定されたバ
イアスを有するバイアス信号Ｓ14を出力する。タイミン
グ信号発生手段11はこれらの回路の動作タイミングを制
御し，スイッチング手段15をオンまたはオフさせる。こ
のスイッチング手段15の動作により振幅信号Ｓ12がオン
またはオフされ，信号加算手段16におけるバイアス信号
Ｓ14に重畳する振幅信号Ｓ12のレベルが変化する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は音の信号処理に使用する
コンプレッサ，エクスパンダおよびリミッタを有するダ
イナミクスを試験する装置に関するものであり，特に，
ディジタルダイナミクスを試験するディジタル形式の任
意の波形，タイミングの試験信号を発生するディジタル
ダイナミクス試験信号発生装置に関する。
コンプレッサ，エクスパンダおよびリミッタを有するダ
イナミクスを試験する装置に関するものであり，特に，
ディジタルダイナミクスを試験するディジタル形式の任
意の波形，タイミングの試験信号を発生するディジタル
ダイナミクス試験信号発生装置に関する。
【０００２】音の信号処理にはエクスパンダ処理，その
逆特性を有するコンプレッサ処理，およびリミッタ処理
などがあり，これらの機能を有するダイナミクスはすで
に使用されている。ダイナミクスの特性は種々の信号形
態を持つ高精度の試験信号を印加して試験する。したが
って，その試験装置も高い周波数で種々の信号形態で試
験信号を出力できる構成を有する必要がある。従来は専
用のアナログ試験信号発生装置が使用されてきたが，こ
のようなダイナミクスは最近，ディジタル化されてきて
おり，そのようなディジタルダイナミクスにはディジタ
ルの試験信号を入力する必要がある。
逆特性を有するコンプレッサ処理，およびリミッタ処理
などがあり，これらの機能を有するダイナミクスはすで
に使用されている。ダイナミクスの特性は種々の信号形
態を持つ高精度の試験信号を印加して試験する。したが
って，その試験装置も高い周波数で種々の信号形態で試
験信号を出力できる構成を有する必要がある。従来は専
用のアナログ試験信号発生装置が使用されてきたが，こ
のようなダイナミクスは最近，ディジタル化されてきて
おり，そのようなディジタルダイナミクスにはディジタ
ルの試験信号を入力する必要がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら，従来の
アナログ式ダイナミクスに使用している試験装置は交流
の試験信号を出力するものであり，ディジタルダイナミ
クスを試験する信号としてはそのまま使用できない。か
かるアナログ試験信号を発生する試験装置を，離散的な
ディジタル信号を発生させる装置に変更することは困難
であり，ディジタルダイナミクスを正確にかつ効率よく
試験可能なディジタルダイナミクス試験信号発生装置が
要望されている。特に，ディジタルダイナミクスの試験
には種々の信号形態で試験を行う必要があるから，その
ディジタルダイナミクス試験信号発生装置もかかるニー
ズを満足させる構成になっている必要がある。
アナログ式ダイナミクスに使用している試験装置は交流
の試験信号を出力するものであり，ディジタルダイナミ
クスを試験する信号としてはそのまま使用できない。か
かるアナログ試験信号を発生する試験装置を，離散的な
ディジタル信号を発生させる装置に変更することは困難
であり，ディジタルダイナミクスを正確にかつ効率よく
試験可能なディジタルダイナミクス試験信号発生装置が
要望されている。特に，ディジタルダイナミクスの試験
には種々の信号形態で試験を行う必要があるから，その
ディジタルダイナミクス試験信号発生装置もかかるニー
ズを満足させる構成になっている必要がある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するた
め，本発明のディジタルダイナミクス試験信号発生装置
は，バイアス信号を発生する手段と，このバイアス信号
に重畳される所定の振幅を有する信号を発生する手段
と，この振幅信号を所定のタイミングでオンまたはオフ
するスイッチング手段と，スイッチング手段でオン・オ
フされた振幅信号をバイアス信号に加算する信号加算手
段を有する。
め，本発明のディジタルダイナミクス試験信号発生装置
は，バイアス信号を発生する手段と，このバイアス信号
に重畳される所定の振幅を有する信号を発生する手段
と，この振幅信号を所定のタイミングでオンまたはオフ
するスイッチング手段と，スイッチング手段でオン・オ
フされた振幅信号をバイアス信号に加算する信号加算手
段を有する。
【０００５】
【作用】バイアス信号発生手段は設定されたバイアス設
定値に応じたバイアス信号を発生する。振幅信号発生手
段も設定された振幅信号を発生する。スイッチング手段
は設定されたタイミングで振幅信号をオンまたはオフす
る。信号加算手段がスイッチング手段でオンまたはオフ
された振幅信号をバイアス信号に加算する。信号加算手
段からの信号がディジタル形式で，ディジタルダイナミ
クス部に入力され，ディジタルダイナミクス部内のコン
プレッサ，エクスパンダ，リミッタなどの試験信号とし
て使用される。
定値に応じたバイアス信号を発生する。振幅信号発生手
段も設定された振幅信号を発生する。スイッチング手段
は設定されたタイミングで振幅信号をオンまたはオフす
る。信号加算手段がスイッチング手段でオンまたはオフ
された振幅信号をバイアス信号に加算する。信号加算手
段からの信号がディジタル形式で，ディジタルダイナミ
クス部に入力され，ディジタルダイナミクス部内のコン
プレッサ，エクスパンダ，リミッタなどの試験信号とし
て使用される。
【０００６】
【実施例】図１に本発明のディジタルダイナミクス試験
用信号発生装置の実施例の構成と試験対象となるディジ
タルダイナミクス部２との接続関係を示す試験構成図を
示す。ディジタルダイナミクス部２はコンプレッサ，エ
クスパンダ，リミッタなどを有している。ディジタルダ
イナミクス部２にディジタル形式の試験信号を出力する
試験信号発生装置１は，タイミング信号発生手段１１，
振幅信号発生手段１２，バイアス信号発生手段１４，ス
イッチング手段１５，および，信号加算手段１６を有し
ている。
用信号発生装置の実施例の構成と試験対象となるディジ
タルダイナミクス部２との接続関係を示す試験構成図を
示す。ディジタルダイナミクス部２はコンプレッサ，エ
クスパンダ，リミッタなどを有している。ディジタルダ
イナミクス部２にディジタル形式の試験信号を出力する
試験信号発生装置１は，タイミング信号発生手段１１，
振幅信号発生手段１２，バイアス信号発生手段１４，ス
イッチング手段１５，および，信号加算手段１６を有し
ている。
【０００７】タイミング信号発生手段１１はタイミング
設定値に基づいて後述するタイミング信号を振幅信号発
生手段１２，バイアス信号発生手段１４およびスイッチ
ング手段１５に出力する。振幅信号発生手段１２は振幅
設定値に基づいた一定レベルの振幅ＡＭＰＬを有する振
幅信号Ｓ１２を出力する。バイアス信号発生手段１４は
バイアス設定値に基づいた一定レベルのバイアスＢＩＡ
Ｓを有するバイアス信号Ｓ１４を出力する。スイッチン
グ手段１５はタイミング信号発生手段１１からのタイミ
ング信号に基づいて振幅信号Ｓ１２をオンまたはオフし
て信号加算手段１６に出力する。信号加算手段１６はバ
イアス信号Ｓ１４に，スイッチング手段１５でオンまた
はオフされた振幅信号Ｓ１２を加算する。
設定値に基づいて後述するタイミング信号を振幅信号発
生手段１２，バイアス信号発生手段１４およびスイッチ
ング手段１５に出力する。振幅信号発生手段１２は振幅
設定値に基づいた一定レベルの振幅ＡＭＰＬを有する振
幅信号Ｓ１２を出力する。バイアス信号発生手段１４は
バイアス設定値に基づいた一定レベルのバイアスＢＩＡ
Ｓを有するバイアス信号Ｓ１４を出力する。スイッチン
グ手段１５はタイミング信号発生手段１１からのタイミ
ング信号に基づいて振幅信号Ｓ１２をオンまたはオフし
て信号加算手段１６に出力する。信号加算手段１６はバ
イアス信号Ｓ１４に，スイッチング手段１５でオンまた
はオフされた振幅信号Ｓ１２を加算する。
【０００８】試験信号発生装置１の一般的な動作を図２
のタイミング図を参照して述べる。振幅設定値およびバ
イアス設定値は予め振幅信号発生手段１２およびバイア
ス信号発生手段１４に設定されている。タイミング信号
発生手段１１にも，信号発生開始時間ｔA , および, 振
幅信号発生手段１２からの振幅信号Ｓ１２を信号発生開
始時間ｔA から所定時間経過後のオン時間ｔB において
オンにする時間が設定されている。
のタイミング図を参照して述べる。振幅設定値およびバ
イアス設定値は予め振幅信号発生手段１２およびバイア
ス信号発生手段１４に設定されている。タイミング信号
発生手段１１にも，信号発生開始時間ｔA , および, 振
幅信号発生手段１２からの振幅信号Ｓ１２を信号発生開
始時間ｔA から所定時間経過後のオン時間ｔB において
オンにする時間が設定されている。
【０００９】タイミング信号発生手段１１は信号発生開
始時間ｔA になると，スイッチング手段１５を消勢して
開放状態にし，振幅信号発生手段１２を起動して振幅信
号Ｓ１２を発生させ，バイアス信号発生手段１４を起動
してバイアス信号Ｓ１４を発生させる。信号加算手段１
６はバイアス信号発生手段１４からのバイアス信号Ｓ１
４にスイッチング手段１５の出力信号を加算するが，ス
イッチング手段１５はオフ状態であるから振幅信号発生
手段１２で発生している振幅信号Ｓ１２はバイアス信号
Ｓ１４には重畳されず，バイアスＢＩＡＳの試験信号Ｓ
１がディジタルダイナミクス部２に入力される。オン時
間ｔB に到達すると，タイミング信号発生手段１１はス
イッチング手段１５を付勢して閉成状態にする。その結
果，オン時間ｔB において，振幅信号Ｓ１２が信号加算
手段１６に印加され，信号加算手段１６からの試験信号
Ｓ１はバイアスＢＩＡＳに振幅信号Ｓ１２の振幅ＡＭＰ
Ｌを重畳した振幅となり，この信号がディジタルダイナ
ミクス部２に印加される。
始時間ｔA になると，スイッチング手段１５を消勢して
開放状態にし，振幅信号発生手段１２を起動して振幅信
号Ｓ１２を発生させ，バイアス信号発生手段１４を起動
してバイアス信号Ｓ１４を発生させる。信号加算手段１
６はバイアス信号発生手段１４からのバイアス信号Ｓ１
４にスイッチング手段１５の出力信号を加算するが，ス
イッチング手段１５はオフ状態であるから振幅信号発生
手段１２で発生している振幅信号Ｓ１２はバイアス信号
Ｓ１４には重畳されず，バイアスＢＩＡＳの試験信号Ｓ
１がディジタルダイナミクス部２に入力される。オン時
間ｔB に到達すると，タイミング信号発生手段１１はス
イッチング手段１５を付勢して閉成状態にする。その結
果，オン時間ｔB において，振幅信号Ｓ１２が信号加算
手段１６に印加され，信号加算手段１６からの試験信号
Ｓ１はバイアスＢＩＡＳに振幅信号Ｓ１２の振幅ＡＭＰ
Ｌを重畳した振幅となり，この信号がディジタルダイナ
ミクス部２に印加される。
【００１０】タイミング信号発生手段１１には，時間ｔ
C において振幅信号Ｓ１２をオフするように設定される
こともできる。この場合，時間ｔC においてスイッチン
グ手段１５が消勢され，振幅信号発生手段１２から信号
加算手段１６に入力されている振幅信号Ｓ１２の出力を
禁止し，試験信号Ｓ１は再びバイアスＢＩＡＳのレベル
信号としてディジタルダイナミクス部２に入力される。
なお，タイミング信号発生手段１１には所定周期でスイ
ッチング手段１５をオン・オフさせるように設定するこ
とができ，バイアス信号Ｓ１４に重畳される振幅信号Ｓ
１２は所定周期でオン・オフさせることができる。
C において振幅信号Ｓ１２をオフするように設定される
こともできる。この場合，時間ｔC においてスイッチン
グ手段１５が消勢され，振幅信号発生手段１２から信号
加算手段１６に入力されている振幅信号Ｓ１２の出力を
禁止し，試験信号Ｓ１は再びバイアスＢＩＡＳのレベル
信号としてディジタルダイナミクス部２に入力される。
なお，タイミング信号発生手段１１には所定周期でスイ
ッチング手段１５をオン・オフさせるように設定するこ
とができ，バイアス信号Ｓ１４に重畳される振幅信号Ｓ
１２は所定周期でオン・オフさせることができる。
【００１１】以下，ディジタルダイナミクス部２の動作
態様に応じたより具体的な試験信号発生について述べ
る。図３はリミッタの動特性を示す図である。このリミ
ッタはのアタックタイムｔa を試験する場合，図４に示
すように，スレショルドレベル，この例では＋６ｄＢに
相当するＤＣ電圧を数秒間入力させ，さらに＋６ｄＢ増
加に相当するＤＣ電圧，すなわち，＋１２ｄＢを瞬時に
変化させ，圧縮９０％完了までのアタックタイムｔa を
測定する。このため，試験信号発生装置１においては，
バイアス設定値＝＋６ｄＢがバイアス信号発生手段１４
に設定され，振幅設定値＝＋６ｄＢが振幅信号発生手段
１２に設定され，タイミング信号発生手段１１にはスイ
ッチング手段１５の初期状態じオフ状態であり，信号発
生開始時間ｔA からのオン時間ｔB として数秒の時間が
設定される。上記設定条件によって試験信号発生装置１
から発生される試験信号Ｓ１は図４（Ａ）に示す信号波
形となる。この試験信号によってディジタルダイナミク
ス部２内のリミッタからの結果信号をディジタル／アナ
ログ変換器３でアナログ信号に変換し，オシロスコープ
４で測定する。オシロスコープ４の測定波形は図４
（Ｂ）に示すようになり，レベル圧縮完了９０％までの
アタックタイムｔa をオシロスコープ４で測定する。
態様に応じたより具体的な試験信号発生について述べ
る。図３はリミッタの動特性を示す図である。このリミ
ッタはのアタックタイムｔa を試験する場合，図４に示
すように，スレショルドレベル，この例では＋６ｄＢに
相当するＤＣ電圧を数秒間入力させ，さらに＋６ｄＢ増
加に相当するＤＣ電圧，すなわち，＋１２ｄＢを瞬時に
変化させ，圧縮９０％完了までのアタックタイムｔa を
測定する。このため，試験信号発生装置１においては，
バイアス設定値＝＋６ｄＢがバイアス信号発生手段１４
に設定され，振幅設定値＝＋６ｄＢが振幅信号発生手段
１２に設定され，タイミング信号発生手段１１にはスイ
ッチング手段１５の初期状態じオフ状態であり，信号発
生開始時間ｔA からのオン時間ｔB として数秒の時間が
設定される。上記設定条件によって試験信号発生装置１
から発生される試験信号Ｓ１は図４（Ａ）に示す信号波
形となる。この試験信号によってディジタルダイナミク
ス部２内のリミッタからの結果信号をディジタル／アナ
ログ変換器３でアナログ信号に変換し，オシロスコープ
４で測定する。オシロスコープ４の測定波形は図４
（Ｂ）に示すようになり，レベル圧縮完了９０％までの
アタックタイムｔa をオシロスコープ４で測定する。
【００１２】上記リミッタのリリースタイムｔr を測定
する場合は，試験信号発生装置１からは図５（Ａ）に示
す試験信号Ｓ１を出力する。すなわち，スレショルドレ
ベルである＋６ｄＢよりも６ｄＢ高いＤＣ電圧を数秒間
リミッタに印加した状態で瞬時にスレショルドレベルま
で低下させる。この場合，タイミング信号発生手段１１
にはスイッチング手段１５を初期状態においてオンさせ
る条件に設定し，オン時間ｔB においてスイッチング手
段１５をオフさせる条件に設定する。すなわち，図４
（Ａ）の場合と逆動作状態にする。リリースタイムｔr
は図４（Ｂ）に示すように，一旦急激に低下したレベル
が９０％に復帰した時間で規定され，その時間がオシロ
スコープ４で測定される。
する場合は，試験信号発生装置１からは図５（Ａ）に示
す試験信号Ｓ１を出力する。すなわち，スレショルドレ
ベルである＋６ｄＢよりも６ｄＢ高いＤＣ電圧を数秒間
リミッタに印加した状態で瞬時にスレショルドレベルま
で低下させる。この場合，タイミング信号発生手段１１
にはスイッチング手段１５を初期状態においてオンさせ
る条件に設定し，オン時間ｔB においてスイッチング手
段１５をオフさせる条件に設定する。すなわち，図４
（Ａ）の場合と逆動作状態にする。リリースタイムｔr
は図４（Ｂ）に示すように，一旦急激に低下したレベル
が９０％に復帰した時間で規定され，その時間がオシロ
スコープ４で測定される。
【００１３】図６はコンプレッサの動特性を示す。たと
えば，＋８ｄＢの入力に対して＋８ｄＢまでは直線状に
出力され，その後は，信号のレベルが増加しても比例し
た出力は得られず，１／８の比率で増加する。コンプレ
ッサのアタックタイムｔa の測定のための試験信号発生
装置１からの試験信号Ｓ１は，図４（Ａ）と同様な信号
波形となる。ただし，試験信号Ｓ１は＋８ｄＢのバイア
スＢＩＡＳから開始し，数秒後，＋１４ｄＢに瞬時に増
加する。コンプレッサのリリースタイムｔr の測定のた
めの試験信号発生装置１からの試験信号Ｓ１も，図５
（Ａ）に示したと同様の信号波形となる。ただし，＋１
４ｄＢから開始し，数秒後，スイッチング手段１５の消
勢して＋８ｄＢに瞬時に低下させる。コンプレッサの場
合さらに，図７（Ｂ）に示すアタックディレータイムｔ
adをオシロスコープ４で測定する。このため，図７
（Ａ）に示すように，試験信号発生装置１から−６０ｄ
Ｂに相当するＤＣ電圧を数秒間出力し，次にスイッチン
グ手段１５を付勢してスレショルドレベルである＋８ｄ
Ｂよりも６ｄＢ高いレベルに相当するＤＣ電圧を瞬時に
変化させる。オシロスコープ４において，アタック動作
開始までの時間の２倍の時間をアタックディレータイム
ｔadとして測定する。
えば，＋８ｄＢの入力に対して＋８ｄＢまでは直線状に
出力され，その後は，信号のレベルが増加しても比例し
た出力は得られず，１／８の比率で増加する。コンプレ
ッサのアタックタイムｔa の測定のための試験信号発生
装置１からの試験信号Ｓ１は，図４（Ａ）と同様な信号
波形となる。ただし，試験信号Ｓ１は＋８ｄＢのバイア
スＢＩＡＳから開始し，数秒後，＋１４ｄＢに瞬時に増
加する。コンプレッサのリリースタイムｔr の測定のた
めの試験信号発生装置１からの試験信号Ｓ１も，図５
（Ａ）に示したと同様の信号波形となる。ただし，＋１
４ｄＢから開始し，数秒後，スイッチング手段１５の消
勢して＋８ｄＢに瞬時に低下させる。コンプレッサの場
合さらに，図７（Ｂ）に示すアタックディレータイムｔ
adをオシロスコープ４で測定する。このため，図７
（Ａ）に示すように，試験信号発生装置１から−６０ｄ
Ｂに相当するＤＣ電圧を数秒間出力し，次にスイッチン
グ手段１５を付勢してスレショルドレベルである＋８ｄ
Ｂよりも６ｄＢ高いレベルに相当するＤＣ電圧を瞬時に
変化させる。オシロスコープ４において，アタック動作
開始までの時間の２倍の時間をアタックディレータイム
ｔadとして測定する。
【００１４】エクスパンダについても上記同様に試験信
号Ｓ１を出力してそのアタックタイムｔa およびリリー
スタイムｔr を測定する。図８はエクスパンダＥＸＰ
と，コンプレッサＣＯＭＰと，リミッタＬＩＭとを合成
した動特性図を示す。エクスパンダＥＸＰの特性はたと
えば，４／３，コンプレッサＣＯＭＰの特性はたとえ
ば，２／３，リミッタＬＩＭの特性は１／（無限大）で
ある。このダイナミクスにおいて，リミッタＬＩＭにつ
いて，アタックタイムｔa の測定には，スレショルドレ
ベルを０ｄＢとし，上記リミッタの試験と同様の試験信
号で測定する。リリースタイムｔr の測定もこのアタッ
クタイムｔa の測定と同じスレショルドレベルとする。
ただし，振幅信号Ｓ１２のオン・オフタイミングは逆で
ある。コンプレッサＣＯＭＰはスレショルドレベルを−
２１ｄＢとして，上記コンプレッサについての試験と同
様に試験して，アタックタイムｔa ，リリースタイムｔ
r およびアタックディレータイムｔadを測定する。
号Ｓ１を出力してそのアタックタイムｔa およびリリー
スタイムｔr を測定する。図８はエクスパンダＥＸＰ
と，コンプレッサＣＯＭＰと，リミッタＬＩＭとを合成
した動特性図を示す。エクスパンダＥＸＰの特性はたと
えば，４／３，コンプレッサＣＯＭＰの特性はたとえ
ば，２／３，リミッタＬＩＭの特性は１／（無限大）で
ある。このダイナミクスにおいて，リミッタＬＩＭにつ
いて，アタックタイムｔa の測定には，スレショルドレ
ベルを０ｄＢとし，上記リミッタの試験と同様の試験信
号で測定する。リリースタイムｔr の測定もこのアタッ
クタイムｔa の測定と同じスレショルドレベルとする。
ただし，振幅信号Ｓ１２のオン・オフタイミングは逆で
ある。コンプレッサＣＯＭＰはスレショルドレベルを−
２１ｄＢとして，上記コンプレッサについての試験と同
様に試験して，アタックタイムｔa ，リリースタイムｔ
r およびアタックディレータイムｔadを測定する。
【００１５】エクスパンダＥＸＰのアタックタイムｔa
測定用試験信号波形はその動特性を図９に示す。アタッ
クタイムｔa 測定には，スレショルドレベルを−２１ｄ
Ｂとし，初期状態としてスイッチング手段１５を消勢し
てこのスレショルドレベルよりも６ｄＢ低い−２７ｄＢ
に相当するＤＣ電圧を数秒間出力し，その後，スイッチ
ング手段１５を付勢してスレショルドレベルの−２１ｄ
Ｂまで瞬時に変化させ，レベル伸張（復帰）９０％完了
でのアタックタイムｔa をオシロスコープ４で測定す
る。試験信号発生装置１は上述した特性の試験信号Ｓ１
を出力する。図９（Ｂ）にエクスパンダのアタックタイ
ムｔa 測定の特性図を示す。エクスパンダＥＸＰのリリ
ースタイムｔr の測定用試験波形とその動特性を図１０
に示す。試験信号Ｓ１の波形は図９（Ａ）に示したアタ
ックタイムｔa 試験用の信号とは逆の波形になる。リリ
ースタイムｔr の測定も上記したリリースタイムｔr と
同様，９０％復帰完了までの時間を測定する。
測定用試験信号波形はその動特性を図９に示す。アタッ
クタイムｔa 測定には，スレショルドレベルを−２１ｄ
Ｂとし，初期状態としてスイッチング手段１５を消勢し
てこのスレショルドレベルよりも６ｄＢ低い−２７ｄＢ
に相当するＤＣ電圧を数秒間出力し，その後，スイッチ
ング手段１５を付勢してスレショルドレベルの−２１ｄ
Ｂまで瞬時に変化させ，レベル伸張（復帰）９０％完了
でのアタックタイムｔa をオシロスコープ４で測定す
る。試験信号発生装置１は上述した特性の試験信号Ｓ１
を出力する。図９（Ｂ）にエクスパンダのアタックタイ
ムｔa 測定の特性図を示す。エクスパンダＥＸＰのリリ
ースタイムｔr の測定用試験波形とその動特性を図１０
に示す。試験信号Ｓ１の波形は図９（Ａ）に示したアタ
ックタイムｔa 試験用の信号とは逆の波形になる。リリ
ースタイムｔr の測定も上記したリリースタイムｔr と
同様，９０％復帰完了までの時間を測定する。
【００１６】なお，試験信号発生装置１はその条件設定
により，特に，タイミング信号発生手段１１への条件設
定により，試験信号Ｓ１としては振幅信号Ｓ１２が周期
的に変動する出力することができる。試験信号発生装置
１としては，パンコンまたはマイクロコンピュータを用
いて上記信号を容易に発生させることができる。勿論，
コンピュータによらないで，ハードウエア回路で上記し
た機能を有する試験信号発生装置１を構成することもで
きる。
により，特に，タイミング信号発生手段１１への条件設
定により，試験信号Ｓ１としては振幅信号Ｓ１２が周期
的に変動する出力することができる。試験信号発生装置
１としては，パンコンまたはマイクロコンピュータを用
いて上記信号を容易に発生させることができる。勿論，
コンピュータによらないで，ハードウエア回路で上記し
た機能を有する試験信号発生装置１を構成することもで
きる。
【００１７】
【発明の効果】以上述べたように，本発明のディジタル
ダイナミクス試験信号発生装置によれば，任意の信号波
形で任意のタイミングの正確なディジタルダイナミクス
用試験信号を発生することができる。
ダイナミクス試験信号発生装置によれば，任意の信号波
形で任意のタイミングの正確なディジタルダイナミクス
用試験信号を発生することができる。
【図１】本発明のディジタルダイナミクス試験信号発生
装置を用いたディジタルダイナミクス試験形態図であ
る。
装置を用いたディジタルダイナミクス試験形態図であ
る。
【図２】図１のディジタルダイナミクス試験信号発生装
置によって発生される試験信号波形例を示す図である。
置によって発生される試験信号波形例を示す図である。
【図３】ディジタルダイナミクスのうちのリミッタの動
作特性を示す図である。
作特性を示す図である。
【図４】図１のリミッタのアタック特性を示す図であ
る。
る。
【図５】図１のリミッタのリリース特性を示す図であ
る。
る。
【図６】ディジタルダイナミクスのうちのコンプレッサ
の動作特性を示す図である。
の動作特性を示す図である。
【図７】図６に示したコンプレッサのアタック・ディレ
ー特性を示す図である。
ー特性を示す図である。
【図８】エクスパンダ，コンプレッサおよびリミッタを
含むディジタルダイナミクスの特性図である。
含むディジタルダイナミクスの特性図である。
【図９】エクスパンダのアタックタイムを測定する試験
信号波形とその動特性を示す図である。
信号波形とその動特性を示す図である。
【図１０】エクスパンダのリリースタイムを測定する試
験信号波形とその動特性を示す図である。
験信号波形とその動特性を示す図である。
１・・試験信号発生装置，２・・ディジタルダイナミク
ス部，３・・ディジタル／アナログ変換器，４・・オシ
ロスコープ，１１・・タイミング信号発生手段，１２・
・振幅信号発生手段，１４・・バイアス信号発生手段，
１５・・スイッチング手段，１６・・信号加算手段。
ス部，３・・ディジタル／アナログ変換器，４・・オシ
ロスコープ，１１・・タイミング信号発生手段，１２・
・振幅信号発生手段，１４・・バイアス信号発生手段，
１５・・スイッチング手段，１６・・信号加算手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 バイアス信号を発生する手段，このバイ
アス信号に重畳される所定の振幅を有する信号を発生す
る手段，この振幅信号を所定のタイミングでオンまたは
オフするスイッチング手段，このスイッチング手段でオ
ンまたはオフされた振幅信号をバイアス信号に加算する
手段を有し，エクスパンダ，コンプレッサおよびリミッ
タを有するディジタルダイナミクスを試験するディジタ
ル形式の試験信号を発生するディジタルダイナミクス試
験信号発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3205397A JPH0526972A (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | デイジタルダイナミクス試験信号発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3205397A JPH0526972A (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | デイジタルダイナミクス試験信号発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0526972A true JPH0526972A (ja) | 1993-02-05 |
Family
ID=16506158
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3205397A Pending JPH0526972A (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | デイジタルダイナミクス試験信号発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0526972A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006138143A1 (en) | 2005-06-15 | 2006-12-28 | Amprotein Corporation | Suspension culture vessels |
| CN102122433A (zh) * | 2010-11-24 | 2011-07-13 | 中广核工程有限公司 | 一种核电站数字信号通道在线测试装置及其方法 |
-
1991
- 1991-07-22 JP JP3205397A patent/JPH0526972A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006138143A1 (en) | 2005-06-15 | 2006-12-28 | Amprotein Corporation | Suspension culture vessels |
| CN102122433A (zh) * | 2010-11-24 | 2011-07-13 | 中广核工程有限公司 | 一种核电站数字信号通道在线测试装置及其方法 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20040210 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Effective date: 20041001 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051202 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051206 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060328 |