JPH0526833Y2 - - Google Patents
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- JPH0526833Y2 JPH0526833Y2 JP3580190U JP3580190U JPH0526833Y2 JP H0526833 Y2 JPH0526833 Y2 JP H0526833Y2 JP 3580190 U JP3580190 U JP 3580190U JP 3580190 U JP3580190 U JP 3580190U JP H0526833 Y2 JPH0526833 Y2 JP H0526833Y2
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- physical quantity
- value
- circuit
- register function
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 229910002056 binary alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- Transmitters (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この考案は２進法による物理量設定装置に関す
るものである。
るものである。
［従来の技術］
第１図はこの考案の一実施例を示す回路図であ
るが、第１図におけるCPU100の構成およびその
動作を除いては、従来の装置と同様であり、第１
図を用いて従来の装置を説明する。
るが、第１図におけるCPU100の構成およびその
動作を除いては、従来の装置と同様であり、第１
図を用いて従来の装置を説明する。
第１図において１は位相検出回路、２，３，
４，５はそれぞれコイル、６，７，８，９はそれ
ぞれコイル２〜５に対応するスイツチ、１０は負
荷、１１，１２，１３，１４，１５，１６，１
７，１８はそれぞれキヤパシタ、１９〜２６はそ
れぞれキヤパシタ１１〜１８に対応するスイツチ
である。
４，５はそれぞれコイル、６，７，８，９はそれ
ぞれコイル２〜５に対応するスイツチ、１０は負
荷、１１，１２，１３，１４，１５，１６，１
７，１８はそれぞれキヤパシタ、１９〜２６はそ
れぞれキヤパシタ１１〜１８に対応するスイツチ
である。
コイル２〜５の持つインダクタンスは、２進数
の各桁の値に比例し、例えば0.1μH，0.2μH，
0.4μH，0.8μHであるとし、キヤパシタ１１〜１
４、キヤパシタ１５〜１８の持つ静電容量も同様
に２進数の各桁の値に比例し、例えば10pF，
20pF，40pF，80pFであるとする。
の各桁の値に比例し、例えば0.1μH，0.2μH，
0.4μH，0.8μHであるとし、キヤパシタ１１〜１
４、キヤパシタ１５〜１８の持つ静電容量も同様
に２進数の各桁の値に比例し、例えば10pF，
20pF，40pF，80pFであるとする。
従つてスイツチ６〜９を操作することにより、
この回路のインダクタンスを０から0.1μHステツ
プで1.5μHまでの16種類に変化させることがで
き、同様にコイルの左右のキヤパシタ１１〜１
４，１５〜１８をそれぞれ独立して０から10pF
ステツプで150pFまでの16種類に変化させること
ができる。
この回路のインダクタンスを０から0.1μHステツ
プで1.5μHまでの16種類に変化させることがで
き、同様にコイルの左右のキヤパシタ１１〜１
４，１５〜１８をそれぞれ独立して０から10pF
ステツプで150pFまでの16種類に変化させること
ができる。
第１図に示す回路は、負荷インピーダンスを送
信回路２００の出力インピーダンスに整合する場
合に使用される。すなわち送信回路２００の出力
スンピーダンスと負荷のインピーダンスの値とが
既知であれば、コイルの左右のキヤパシタ１１〜
１４，１５〜１８の静電容量の比が決定され、こ
の比に従つてスイツチ１９〜２６が設定され、そ
の後でこれらのキヤパシタ１１〜１８に同調する
ようにスイツチ６〜９の設定を行う。同調点は位
相検出回路１で位相の反転が検出される点であ
る。
信回路２００の出力インピーダンスに整合する場
合に使用される。すなわち送信回路２００の出力
スンピーダンスと負荷のインピーダンスの値とが
既知であれば、コイルの左右のキヤパシタ１１〜
１４，１５〜１８の静電容量の比が決定され、こ
の比に従つてスイツチ１９〜２６が設定され、そ
の後でこれらのキヤパシタ１１〜１８に同調する
ようにスイツチ６〜９の設定を行う。同調点は位
相検出回路１で位相の反転が検出される点であ
る。
第３図は従来の装置の動作を示すフローチヤー
トで、図において２７〜３３はそれぞれ各プログ
ラムステツプ（以下、混同の恐れのないときは単
にステツプという）を示す。
トで、図において２７〜３３はそれぞれ各プログ
ラムステツプ（以下、混同の恐れのないときは単
にステツプという）を示す。
第３図に示すように従来の装置では、Ｘ＝０か
ら出発し、ステツプ28でＸの増分ΔLを常に最小
単位１に保ちながら、ステツプ31で位相反転が起
こるまでＸを増加して行く。
ら出発し、ステツプ28でＸの増分ΔLを常に最小
単位１に保ちながら、ステツプ31で位相反転が起
こるまでＸを増加して行く。
第４図は第３図に示す動作が実行される場合
の、第１図に示すスイツチ６，７，８，９の開閉
状態の変化を示す図で、図において斜線部分は閉
状態、白抜き部分は開状態を示し、0.1μH×Ｘが
設定されるインダクタンスである。例えば1.3μH
のインダクスンタを設定するためには、ステツプ
０〜13（但し、ステツプ０は初期化のためのステ
ツプ）の14のステツプが必要になる。
の、第１図に示すスイツチ６，７，８，９の開閉
状態の変化を示す図で、図において斜線部分は閉
状態、白抜き部分は開状態を示し、0.1μH×Ｘが
設定されるインダクタンスである。例えば1.3μH
のインダクスンタを設定するためには、ステツプ
０〜13（但し、ステツプ０は初期化のためのステ
ツプ）の14のステツプが必要になる。
［考案が解決しようとする課題］
上記のような従来の物理量設定装置では、各ス
イツチ６〜９の開閉動作が第４図に示すよに行わ
れるため、各スイツチ６〜９の動作回数が均等化
せず、スイツチ６の動作回数が最も多くなること
になり、このスイツチ６の消耗が激しく、このた
め信頼性を欠き装置の寿命が限定されてしまう等
の問題点があつた。
イツチ６〜９の開閉動作が第４図に示すよに行わ
れるため、各スイツチ６〜９の動作回数が均等化
せず、スイツチ６の動作回数が最も多くなること
になり、このスイツチ６の消耗が激しく、このた
め信頼性を欠き装置の寿命が限定されてしまう等
の問題点があつた。
この考案はかかる課題を解決するためになされ
たもので、各スイツチの動作回数をなるべく均等
化して各スイツチの消耗を平均化し、信頼性が高
く帳寿命な物理量設定装置を得ることを目的とし
ている。
たもので、各スイツチの動作回数をなるべく均等
化して各スイツチの消耗を平均化し、信頼性が高
く帳寿命な物理量設定装置を得ることを目的とし
ている。
［課題を解決するための手段］
この考案にかかる物理量設定装置は、Ｘの増分
値ΔLを１，２，４，８，…のように順次かつ循
環的に変化させることにより、各スイツチの動作
回数を均等化することとしたものである。
値ΔLを１，２，４，８，…のように順次かつ循
環的に変化させることにより、各スイツチの動作
回数を均等化することとしたものである。
［作用］
Ｘの初期値Ｌの値をＬ＝０から出発し、Ｘの増
分値ΔLを１，２，４，８，…と変化させながら
Ｘ＝Ｌ＋ΔLによつてＸを設定し、ΔLがその最大
値2kに達しても位相反転が起こらなければＬ＝2k
としてＸの設定を繰り返し、位相反転が起こつた
時点のΔLの値が１でない場合はＬ＝Ｌ＋ΔL／２
としてＸの設定を繰り返し、ΔL＝１である場合
のＸに比例する物理量により位相反転が起こつた
ときは、その時のＸを求める値とすることによ
り、各スイツチの動作回数をほぼ均等にすること
ができる。
分値ΔLを１，２，４，８，…と変化させながら
Ｘ＝Ｌ＋ΔLによつてＸを設定し、ΔLがその最大
値2kに達しても位相反転が起こらなければＬ＝2k
としてＸの設定を繰り返し、位相反転が起こつた
時点のΔLの値が１でない場合はＬ＝Ｌ＋ΔL／２
としてＸの設定を繰り返し、ΔL＝１である場合
のＸに比例する物理量により位相反転が起こつた
ときは、その時のＸを求める値とすることによ
り、各スイツチの動作回数をほぼ均等にすること
ができる。
［実施例］
以下、この考案の実施例を図面を用いて説明す
る。第１図はこの考案の一実施例を示す回路図
で、図においてCPU１００以外の部分は従来の
装置と同様であり、ここでは重複した説明は省略
する。
る。第１図はこの考案の一実施例を示す回路図
で、図においてCPU１００以外の部分は従来の
装置と同様であり、ここでは重複した説明は省略
する。
この実施例におけるCPU１００は、レジスタ
機能Ｌ１０１，レジスタ機能ｎ１０２，レジスタ
機能ΔL１０３，レジスタ機能2k-n，一致検出回
路１４５，１５６，数値１を保持するレジスタ機
能機能１０６を備えたものとする。
機能Ｌ１０１，レジスタ機能ｎ１０２，レジスタ
機能ΔL１０３，レジスタ機能2k-n，一致検出回
路１４５，１５６，数値１を保持するレジスタ機
能機能１０６を備えたものとする。
第２図は第１図に示す回路の動作を表すフロー
チヤートで、図において３５〜６０はそれぞれ各
ステツプを示す。
チヤートで、図において３５〜６０はそれぞれ各
ステツプを示す。
次に動作について説明する。ステツプ37，39は
初期値の設定であり、ステツプ43で位相反転を検
査し、ステツプ41−43−45−47−41のループ（仮
に主ループという）で毎回ΔLを前回の２倍にし
ながらＸを算出し、この算出したＸに比例する物
理量を設定して位相反転を検査する。この主ルー
プ中にステツプ47が含まれてるため各スイツチの
動作回数が均等化される。
初期値の設定であり、ステツプ43で位相反転を検
査し、ステツプ41−43−45−47−41のループ（仮
に主ループという）で毎回ΔLを前回の２倍にし
ながらＸを算出し、この算出したＸに比例する物
理量を設定して位相反転を検査する。この主ルー
プ中にステツプ47が含まれてるため各スイツチの
動作回数が均等化される。
位相反転が検出されるとステツプ56に入り、
ΔL＝１（最低単位）であればステツプ60に入り動
作を終了するが、ΔLが２以上のときはステツプ
58でＬの値を修正し、ステツプ39でΔLの値を修
正して主ループに戻る。
ΔL＝１（最低単位）であればステツプ60に入り動
作を終了するが、ΔLが２以上のときはステツプ
58でＬの値を修正し、ステツプ39でΔLの値を修
正して主ループに戻る。
位相反転が検出されないでステツプ45でΔL＝
2k-oとなると、ステツプ50，52でｎとＬとを修正
し、ステツプ39でΔLを修正して主ループに戻る。
2k-oとなると、ステツプ50，52でｎとＬとを修正
し、ステツプ39でΔLを修正して主ループに戻る。
第５図は第２図に示す動作によりＸ＝13が設定
されるまでの各スイツチ６〜９の開閉動作を、第
４図と同一の表示方法で表示した図であり、第４
図のＸに対応してＸ，Ｌ，ｎ，ΔLの値を示す。
されるまでの各スイツチ６〜９の開閉動作を、第
４図と同一の表示方法で表示した図であり、第４
図のＸに対応してＸ，Ｌ，ｎ，ΔLの値を示す。
第５図のステツプ４と７とでは、第２図に示す
プログラムステツプ45から49−50−51−52−53−
−54−38−39となり、ｎ，Ｌ，ΔLが修正されて
主ループへ戻るが、ステツプ８でＸ＝13に比例す
るインダクタンス1.3μHで位相反転が検出され、
プログラムステツプ55，56に入り、ΔL＝１であ
るのでプログラムステツプ60に至り設定が終了す
る。
プログラムステツプ45から49−50−51−52−53−
−54−38−39となり、ｎ，Ｌ，ΔLが修正されて
主ループへ戻るが、ステツプ８でＸ＝13に比例す
るインダクタンス1.3μHで位相反転が検出され、
プログラムステツプ55，56に入り、ΔL＝１であ
るのでプログラムステツプ60に至り設定が終了す
る。
第６図は第２図に示す動作によりＸ＝６が設定
される経過を示す図で、図に示すステツプ４でＸ
＝８のとき位相反転が検出されるが、このとき
ΔL＝８であり、プログラムステツプ57−58−54
−38に入り、ステツプ６のときＸ＝６となつて再
び位相反転が検出されるが、このときはΔL＝２
であり、再びプログラムステツプ57−58−54−38
に入り、ステツプ７でΔL＝１，Ｌ＝５，Ｘ＝６
となり、プログラムステツプ60で動作を終了す
る。
される経過を示す図で、図に示すステツプ４でＸ
＝８のとき位相反転が検出されるが、このとき
ΔL＝８であり、プログラムステツプ57−58−54
−38に入り、ステツプ６のときＸ＝６となつて再
び位相反転が検出されるが、このときはΔL＝２
であり、再びプログラムステツプ57−58−54−38
に入り、ステツプ７でΔL＝１，Ｌ＝５，Ｘ＝６
となり、プログラムステツプ60で動作を終了す
る。
そして第６図のステツプ６と７とはＸが同一で
あり、スイツチの設定はもとのままとなる。
あり、スイツチの設定はもとのままとなる。
この考案は以上のようにして、従来の装置に比
べスイツチ６の動作回数を著しく減少させること
としている。
べスイツチ６の動作回数を著しく減少させること
としている。
なお上記実施例では、２進ｋビツトで表される
数値に対応してｋ（実施例ではｋ＝４）個のスイ
ツチを有する場合について説明したが、ｋの数が
大きくなれば大きくなる程、従来の装置ではスイ
ツチの動作回数にバラツキが生じるのに比べ、こ
の考案の装置ではｋの数の大きさに関係なく各ス
イツチの動作回数を均等化させることができる。
数値に対応してｋ（実施例ではｋ＝４）個のスイ
ツチを有する場合について説明したが、ｋの数が
大きくなれば大きくなる程、従来の装置ではスイ
ツチの動作回数にバラツキが生じるのに比べ、こ
の考案の装置ではｋの数の大きさに関係なく各ス
イツチの動作回数を均等化させることができる。
また上記実施例では、インダクタンスの合成を
例にして説明しているが、この考案はどのような
物理量の合成に関しても実施することができる。
例にして説明しているが、この考案はどのような
物理量の合成に関しても実施することができる。
［考案の効果］
この考案は以上説明したように、２進数の各桁
の値、すなわち20，21，…2kに比例する物理量を
それぞれ保持する回路素子と、これらの回路素子
の有する物理量を合計回路に接続する各スイツチ
とを用いることにより、合計回路に所望の物理量
を設定する場合の各スイツチの動作回数を均等化
し、装置の信頼性と寿命とを向上させることがで
きるという効果がある。
の値、すなわち20，21，…2kに比例する物理量を
それぞれ保持する回路素子と、これらの回路素子
の有する物理量を合計回路に接続する各スイツチ
とを用いることにより、合計回路に所望の物理量
を設定する場合の各スイツチの動作回数を均等化
し、装置の信頼性と寿命とを向上させることがで
きるという効果がある。
第１図はこの考案の一実施例を示す回路図、第
２図はこの考案の動作を示すフローチヤート、第
３図は従来の装置の動作を示すフローチヤート、
第４図は従来の装置のスイツチの動作状態を示す
図、第５図、第６図はこの考案におけるスイツチ
の動作状態を示す図である。 １は位相検出回路、２，３，４，５はそれぞれ
コイル、６，７，８，９はそれぞれスイツチ。
２図はこの考案の動作を示すフローチヤート、第
３図は従来の装置の動作を示すフローチヤート、
第４図は従来の装置のスイツチの動作状態を示す
図、第５図、第６図はこの考案におけるスイツチ
の動作状態を示す図である。 １は位相検出回路、２，３，４，５はそれぞれ
コイル、６，７，８，９はそれぞれスイツチ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 ２進数の各桁の値、すなわち20，21，…2kに比
例する物理量をそれぞれ保持する各回路素子と、
これら各回路素子の有する物理量を合計回路に接
続する各スイツチとを用いて上記合計回路に所望
の物理量を設定する物理量設定装置において、 上記合計回路の物理量が上記所望の物理量を超
過したときに論理「１」の信号を出力し、それ以
外は論理「０」の信号を出力する検出回路、 この検出回路の出力が入力され、数値１を保持
する最低増分値レジスタ機能と、所期値Ｌを保持
する初期値レジスタ機能と、増分値ΔLを保持す
る増分値レジスタ機能と、Ｘ＝Ｌ＋ΔLの値を保
持するＸレジスタ機能と、ΔLの値が該当時点に
おける許容最大値に達した回数を表す数値ｎを保
持するｎレジスタ機能とを有し、上記Ｘレジスタ
機能の内容に従い上記各回路素子に対応する各ス
イツチを制御し、数値Ｘに比例する物理量を上記
合計回路に設定するCPU、 このCPUの初期設定をＬ＝０，ｎ＝０，ΔL＝
１とし、Ｘ＝Ｌ＋ΔLとしてＸを算出し、算出し
たＸに比例する物理量を設定し、上記検出回路の
出力が論理「０」である間は毎回ΔL＝２×ΔLと
してＸを修正し、ΔL＝2k-nとなつたときはｎ＝
ｎ＋１，Ｌ＝Ｌ＋ΔL，ΔL＝１としてＸの算出お
よびその設定を繰り返す設定手段、 この設定手段で設定したＸに比例する物理量に
対する上記検出回路の出力論理を検定する検定手
段、 この検定手段において上記検出回路の出力論理
が「１」となつたときは、その時点におけるΔL
の内容が１である場合は設定作業を終了し、それ
以外の場合にはＬ＝Ｌ＋ΔL／２，ΔL＝１として
上記設定手段に戻るように制御を行う制御手段、 を備えたことを特徴とする物理量設定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3580190U JPH0526833Y2 (ja) | 1990-04-04 | 1990-04-04 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3580190U JPH0526833Y2 (ja) | 1990-04-04 | 1990-04-04 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03128336U JPH03128336U (ja) | 1991-12-24 |
| JPH0526833Y2 true JPH0526833Y2 (ja) | 1993-07-07 |
Family
ID=31541475
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3580190U Expired - Lifetime JPH0526833Y2 (ja) | 1990-04-04 | 1990-04-04 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0526833Y2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5654679A (en) * | 1996-06-13 | 1997-08-05 | Rf Power Products, Inc. | Apparatus for matching a variable load impedance with an RF power generator impedance |
| EP1514285B1 (en) | 2002-06-05 | 2011-08-10 | Nxp B.V. | Electronic device and method of matching the impedance thereof |
| US9143172B2 (en) | 2009-06-03 | 2015-09-22 | Qualcomm Incorporated | Tunable matching circuits for power amplifiers |
| US8963611B2 (en) | 2009-06-19 | 2015-02-24 | Qualcomm Incorporated | Power and impedance measurement circuits for a wireless communication device |
| US8072272B2 (en) | 2009-08-19 | 2011-12-06 | Qualcomm, Incorporated | Digital tunable inter-stage matching circuit |
| US9559639B2 (en) | 2009-08-19 | 2017-01-31 | Qualcomm Incorporated | Protection circuit for power amplifier |
-
1990
- 1990-04-04 JP JP3580190U patent/JPH0526833Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03128336U (ja) | 1991-12-24 |
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