JPH05261067A - 眼内長さ測定装置 - Google Patents

眼内長さ測定装置

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Publication number
JPH05261067A
JPH05261067A JP4063048A JP6304892A JPH05261067A JP H05261067 A JPH05261067 A JP H05261067A JP 4063048 A JP4063048 A JP 4063048A JP 6304892 A JP6304892 A JP 6304892A JP H05261067 A JPH05261067 A JP H05261067A
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JP
Japan
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optical path
light
length
mirror
path length
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Application number
JP4063048A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Koizumi
浩 小泉
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Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Filing date
Publication date
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    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/1005Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for measuring distances inside the eye, e.g. thickness of the cornea

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 参照光路の光路長の変換を高速で繰り返し行
うことのできる眼内長さ測定装置を提供する。 【構成】 被検眼103内を経由する測定光路200と装置内
部に光路長が可変可能な参照光路210とを形成し、前記
測定光路を経て眼内測定対象物から反射した光と前記参
照光路を経た光とを干渉させるとともに前記参照光路の
光路長を変えて干渉縞を形成させ、この干渉縞が形成さ
れる参照光路長に基づいて眼内長さを求める眼内長さ測
定装置であって、参照光路210の光路長を回転角に応じ
て変換する光路長変換部材151を回転可能に設け、光路
長変更部材151を回転させて参照光路210の光路長を連続
的に変換させる回転手段153を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、測定光路を経た光と
参照光路を経た光とを干渉させ、この干渉によって干渉
縞が生成される参照光路長に基づいて眼内長さを求める
眼内長さ測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】被検眼内を経由する測定光路と装置内部
に参照光路とを形成し、前記測定光路を経て眼内測定対
象物から反射した光と前記参照光路を経た光とを干渉さ
せるとともに、参照光路に設けたレファレンスミラーを
光軸方向に移動して参照光路長を変えてその干渉による
干渉縞を生成させ、この干渉縞が生成される参照光路長
を基にして眼内測定対象物位置を求め、別の手段で角膜
位置を求める眼内長さ測定装置を特開平4−35637
号公報に示した。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記眼
内長さ測定装置にあっては、レファレンスミラーを光軸
方向に移動させて参照光路長を変えているので、そのレ
ファレンスミラーの動きは往復直線運動のため、高速で
レファレンスミラーを繰り返し移動させるのは困難であ
り、また全ストローク中移動速度を一定にすることは出
来ない。このため次のような問題点があった。
【0004】(1)光路長変換を高速で繰り返し行うこと
ができないので、測定光学系の光路長と参照光学系の光
路長とが等しくなる位置で繰り返し干渉縞を発生させる
ことができない。このため、被検眼に対する器械のアラ
イメントや視度調節を、フォトセンサーで干渉縞の明暗
の振幅を観察しながら最適な位置に追い込む事ができな
いので、アライメントや視度調節の確認を行った後、レ
ファレンスミラーを動かして干渉縞を観察することにな
る。
【0005】しかし、この方法ではアライメントや視度
調節を一度最適な位置に合わせても、実際に干渉縞が発
生するかどうかはレファレンスミラーを動かしてみなけ
れば分からず、またレファレンスミラーが干渉縞の発生
する位置まで移動する間にアライメントがずれてしまう
ことも考えられ、特に白内障眼のように測定しずらい対
象では干渉縞が得られないことも多く、測定できる確率
が低下してしまう。
【0006】(2)また、フォトセンサーで観察される干
渉縞の移動による明暗の繰り返し周波数は、光源の波長
とレファレンスミラーの移動速度(参照光学系光路長が
変化する速度)から決定される(2(移動速度)/(波
長))。したがって、レファレンスミラーの移動速度が
ストローク中で変動してしまうと、観察される干渉縞の
移動による明暗の周波数も変化してしまい、受光回路の
周波数特性を幅広く設計しなければならない。ところ
が、周波数特性を幅広くするとノイズ成分を分離する事
が難しく、高S/Nを実現する事ができなくなり、結果
として、白内障眼のように被検眼眼底からの反射光量の
損失が大きくてS/Nの悪い測定対象では測定できない
ことが大きくなってしまう等の問題があった。
【0007】この発明は、上記問題点に鑑みてなされた
もので、その目的は、参照光路の光路長の変換を高速で
繰り返し行うことのできる眼内長さ測定装置を提供する
ことにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記目的を
達成するため、コヒーレント長の短い光源と、被検眼内
を経由する測定光路と装置内部に参照光路とを形成し、
前記光源からの光束を該測定定光路と該参照光路に導く
ビームスプリッタと、前記測定光路を経て眼内測定対象
物から反射した光と前記参照光路を経た光とを干渉さ
せ、その干渉光を受け取る第1受光部と、前記参照光路
の光路長と前記第1受光部からの信号のピーク位置とか
ら測定光路と参照光路との光路差を求める測定対象物位
置測定部と、被検眼角膜に光束を照射する照射光学系
と、前記被検眼角膜からの反射光を第2受光部に導く受
光光学系と、該第2受光部の出力から前記被検眼角膜の
位置を求める角膜位置測定部とを有する眼内長さ測定装
置であって、前記参照光路の光路長を回転角に応じて変
えていく光路長可変部材を回転可能に設け、前記光路長
可変部材を回転させて前記参照光路の光路長を連続的に
変えていく回転手段を設けたことを特徴とする。
【0009】
【作用】この発明は、上記のように構成したので、回転
手段が光路長可変部材を回転させ、この光路長可変部材
の回転によって、参照光路の光路長が光路長可変部材の
回転角に応じて変換されていく。
【0010】
【実施例】以下、この発明に係る眼内長さ測定装置の実
施例を図面に基づいて説明する。
【0011】第1図において、100は角膜距離測定系、1
01は干渉光学系、102は被検眼103の角膜120に光束を照
射するリング状光源投影部、104は対物レンズである。
角膜距離測定系100は第1光路105と第2光路106とを有
している。
【0012】第1光路105は第2受光部としての二次元
イメージセンサ107、結像レンズ108、ハーフミラー10
9、絞り110、レンズ111、全反射ミラー112、レンズ11
3、ハーフミラー114、ダイクロイックミラー115、対物
レンズ104から大略構成されている。第2光路106はハー
フミラー116、レンズ117、全反射ミラー118、119、絞り
124から大略構成されている。
【0013】リング状光源投影部102は、リング状光源
とパターン板(図示を略す)とからなり、ここでは、メ
リジオナル断面光線が平行であるような照明光を被検眼
に投影するものとなっているが、放射照明光を投影して
もよい。この照明光を被検眼103に向かって照射する
と、被検眼103の角膜120にはリング状の虚像121が形成
される。ここで、リング状光源投影部102の照明光の波
長は900nm〜1000nmである。ダイクロイックミラー115
は、その照明光を透過し、後述する近赤外光の波長を反
射する役割を果たす。
【0014】角膜120による反射光は、対物レンズ104、
ダイクロイックミラー115を介してハーフミラー114に導
かれ、第1光路105と第2光路106とに分岐される。第1
光路105へ導かれた反射光はレンズ113に基づき一旦リン
グ状の空中像122として結像され、さらに、全反射ミラ
ー112、レンズ111、絞り110、ハーフミラー109、結像レ
ンズ108を経由して二次元イメージセンサ107にリング像
2(第2図参照)として結像される。なお、このリン
グ像i2の結像倍率は、ここでは、0.5倍とする。
【0015】第2光路106に導かれた反射光は全反射ミ
ラー119により反射され、対物レンズ104に基づき一旦空
中像123として結像され、全反射ミラー118、レンズ11
7、ハーフミラー116、絞り124、ハーフミラー109、結像
レンズ108を経由して、二次元イメージセンサ107にリン
グ像i1として結像される。なお、このリング像i1の結
像倍率は、リング像i2の結像倍率よりも大きく設定さ
れている。
【0016】絞り110は、第2絞りとしての役割を果た
し、レンズ111、レンズ113によって対物レンズ104の後
方焦点位置付近にリレーされ、第1光学系100は、物側
に略テレセントリックである。絞り124は、第1絞りと
しての役割を果たし、レンズ117によって被検眼103の前
方にリレーされ、ここでは、共役像(実像)126が被検
眼の前方25mm〜50mmの箇所に形成される。
【0017】ここで、対物レンズ104と絞り110、124と
の関係を模式的に示す図3および図4を参照しつつ説明
する。
【0018】いま、絞り124の共役像126が形成される光
軸O上での位置を原点Gとして、原点Gから光軸方向に
距離L1だけ離れた箇所に基準位置Yを定める。この基
準位置Yはリング像i1、i2がピンボケしない程度に決
める。そして、この基準位置Yに物体高がhの物体(リ
ング像iの半径に相当する)を置く。このとき、第2光
路106によって観察面127(二次元イメージセンサ107の
位置)に形成される像高をy1、第1光路105によって観
察面127に形成される像高をy2とする。
【0019】次に、この既知の物体を距離X0だけ移動
させ、このときの像高をy1′、y2′とする。また、観
察面127から点Zまでの距離をL1′とし、基準位置Yか
ら点Z′までの距離をL2、絞り110から観察面127まで
の距離をL2′とする。さらに、絞り126を点Zへリレー
する倍率をβ1,絞り110を点Z′へリレーする倍率をβ
2とする。
【0020】すると、以下の式が得られる。
【0021】 h/L1=y1・β1/L1 (1) h/(L1+X0)=(y1′・β1)/L1′ (2) h/L2=y2/(β2・L2) (3) h/(L2+X0)=y2′/(β2・L2′) (4) (1)式、(2)式において倍率β1、距離L1、L1′が定数
であるとし、 K1=(β1・L1)/L1′ K2=β1/L1′ と置くと、(1)式、(2)式は、以下の式に変形される。
【0022】 h=K1・y1 (5) h=K1・y1′+K2・y1′・X0 (6) また、(3)式、(4)式において倍率β2、距離L2、L2
が定数であるとし、 K3=L2/(L2′・β2) K4=1/(L2′・β2) と置くと、(3)式、(4)式は、以下の式に変形される。
【0023】 h=K3・y2 (7) h=K3・y2′+K4・y2′・X0 (8) ここで、定数K1、K2、K3、K4は、物体高h、像高y
を実測することにより、決定可能である。すなわち、
(5)、(6)式を変形することにより、下記の式が得られ
る。
【0024】 K1=h/y1 (9) K2=(h/y1)・(y1-y1′)/(y1′・X0) (10) K3=h/y2 (11) K4=(h/y2)・(y2-y2′)/(y2′・X0) (12) よって、既知の物体の物体高hとその像高とを実測する
ことによって、定数K1、K2、K3、K4が求められる。
【0025】次に、像高h、基準位置Yからの距離Xが
未知の場合の測定について説明する。
【0026】この場合には、(2)式、(4)式において、距
離X0の代わりに距離Xとおく。また、y1′、y2′を
1、y2と置き換える。
【0027】すると、下記の式が得られる。
【0028】 h=K1・y1+K2・y1・X (14) h=K3・y2+K4・y2・X (15) 上記の連立方程式を、距離X、物体高hについて連立し
て解くと、 X=(K3・y2-K1・y1)/(K2・y1-K4・y2) (16) h=K1・y1+K2・y1・X =(K2・K3-K1・K4)y1・y2/(K2・y1−K4・y2) (17) となる。
【0029】従って、像高y1、y2を測定することによ
って、基準位置Yから物体までの距離Xを測定できるこ
とになる。
【0030】次に、角膜曲率半径Rとその頂点位置の測
定について図5を参照しつつ説明する。
【0031】図5において、リング像iの半径(楕円近
似した場合の楕円の長径又は短径)を物体高hとする。
このとき、物体高hはメリジオナル光線によって決定さ
れる。
【0032】リング像の直径が3mm程度であるとする
と、角度φは20°程度となり、下記に記載する近軸計算
式を用いることができない。
【0033】h=(R・sin φ)/2 そこで、距離L2を充分に大きくとって、角度φが常に
一定となるようにし、物体高hとして絞り124を通る第
2光路106で測定されたものを使用すれば、下記の反射
法則に基づく式を用いることができる。
【0034】h=R・sin(φ/2) 上記式を変形すれば、 R=h/sin(φ/2) (18) となる。
【0035】ところで、図5に示すように、角膜頂点12
0P位置は基準位置Yからの距離PXとすれば、 PX=X−(R−h/tanφ) (19) となる。
【0036】そして、(17)式によって得られた物体高h
を上記(18)式に代入してRを求め、このRと、hと、(1
7)式から求めるXとを(19)式に代入すれば、基準位置Y
から角膜頂点までの距離PXが求まる。
【0037】すなわち、二次元イメージセンサ107に形
成されるリング像i1,i2の径から距離PXを求めること
ができる。この演算は図示しない演算装置によって行な
うものである。
【0038】なお、第5図において、O′は角膜曲率中
心、A1は法線、A2は角膜120を球面とみなした場合の
球面光軸、A3は角膜120への入射光線である。
【0039】次に、第1図を参照しつつ干渉光学系につ
いて説明する。
【0040】干渉光学系101は、レーザーダイオード13
0、レンズ131、ピンホール132、ビームスプリッタ133、
レンズ134、合焦レンズ(視度調節レンズ)135、全反射
ミラー136、レンズ137、全反射ミラー138、139、140、
回転ミラー(光路長可変部材)151、固定ミラー152、全
反射ミラー142、ピンホール143、レンズ144、点開口の
ホトセンサ145等を有する。
【0041】レーザーダイオード130は低コヒーレント
長のものであり、そのコヒーレント長は、例えば、0.0
5mm〜1mm程度である。その波長は近赤外であり、防眩
効果がある。
【0042】レーザーダイオード130を出射されたレー
ザー光はレンズ131によってピンホール132に集光され
る。ピンホール132は二次点光源としての役割を果た
す。なお、光源としてはレーザーダイオードの代わりに
スペクトル幅の狭いLEDを用いてもよい。
【0043】ピンホール132を通過したレーザー光は、
ビームスプリッタ133によってレンズ134に向かう光束と
レンズ137に向かう光束とに分割される。レンズ134は、
レンズ135、全反射ミラー136、ダイクロイックミラー11
5と共に測定光路200を構成している。レンズ137は、全
反射ミラー138、139、140、回転ミラー151、固定ミラー
152と共に参照光路210を構成している。
【0044】回転ミラー151は、図6に示すように、筒
本体151aに螺旋状の反射面151bが形成されており、反射
面151bの傾斜は図7に示すように筒本体151aを展開する
と直線となるようになっている。
【0045】この回転ミラー151は、図8に示すよう
に、筒本体151aの軸線151cが光軸210aと平行となってい
るとともに、反射面151bの一部が光軸210aと一致されて
配置され、モータ(回転手段)153によって軸線151cを
中心にして回転されるようになっている。また、回転ミ
ラー151が回転してもその反射面151bは、光軸210aから
外れないように設定されており、光軸210aから入射する
参照光を固定ミラー152へ向けて反射させる。
【0046】この参照光はできる限り細いビームにして
反射面151bに入射させる。これは、回転ミラー151の反
射面151bは平面ではなく曲面になるので参照光をできる
だけ細いビームで回転ミラー151へ入射させないと、ビ
ームが拡がってしまい損失が大きくなってしまうからで
ある。
【0047】回転ミラー151は、その回転角によって反
射面151bによる参照光の反射位置を光軸210aに沿って変
わっていくことにより、参照光路210の光路長を変えて
いくものである。この回転ミラー151の回転角はロータ
リエンコーダ154によって検出される。
【0048】固定ミラー152は、入射する参照光と直交
する位置に配置されており、参照光を入射してきた方向
へ反射させるように調整されている。固定ミラー152に
位相共役鏡を用いれば、必ず入射してきた方向に参照光
が反射されるので、精密な調整の必要がない。
【0049】レンズ134、137はピンホール132を通過し
たレーザー光をコリメートする役割を果たす。レンズ13
4によってコリメートされたレーザー光は、合焦レンズ1
35によってレンズ135の焦点位置146にスポットを形成す
る。この焦点位置146は対物レンズ104に関して眼底147
と共役とされている。焦点位置146にスポットを形成す
るレーザー光は全反射ミラー136、ダイクロイックミラ
ー115、対物レンズ104を経由して被検眼103に導かれ、
眼底147にスポットを形成する。ここで、眼底147と焦点
位置146とは、対物レンズ104に関して共役であるので、
測定装置の光軸(対物レンズの光軸O)が被検眼103の
光軸と同軸となっていなくとも、眼底反射光が焦点位置
146に像を形成することになる。
【0050】ピンホール143は、レンズ134の焦点位置に
設置され、このピンホール143は眼底147と共役である。
レンズ135は眼底反射光をコリメートする機能を果た
し、そのコリメートとされた眼底反射光はレンズ134に
よってビームスプリッタ133、全反射ミラー142を経由し
て、ピンホール143にリレーされる。ピンホール143はピ
ンホール132とビームスプリッタ133の反射面に関して共
役となり、更にピンホール132と眼底上のスポット光147
は共役であるから、被検眼に対して測定装置のアライメ
ントが多少ずれても眼底反射光は、ピンホール143を通
過できる。
【0051】レンズ137によってコリメートされたレー
ザー光は、ミラー138、139、140によって回転ミラー151
に導かれる。
【0052】回転ミラー151に導かれた参照光は、反射
面151bで反射して固定ミラー152に導かれる。固定ミラ
ー152は入射する参照光と直交する向きに配置されてい
るので、参照光は正確に入射してきた方向へ反射されて
参照光路210を逆に進み、ビームスプリッター133に到達
する。ここで、参照光と被検眼眼底147から反射してき
た測定光とが重ね合わせられてフォトセンサ145へ入射
する。そして参照光路210の光路長が変化する途中で測
定光路200と参照光路210の光路長がほぼ等しくなったと
きに、フォトセンサ145上に干渉縞が生成され、参照光
路210の光路長の変化とともにその干渉縞が移動する。
【0053】このときフォトセンサ145では、干渉縞の
移動が明暗の繰り返しとして観察される。明暗の繰り返
しの周波数は、光源の波長と参照光路210光路長の変化
の速度から決定される。
【0054】回転ミラー151が回転すると、回転ミラー1
51の回転角に応じて反射面151bにおける参照光の反射位
置210bが図1に示す光軸上のΔX区間を走査するように
移動する。反射位置がΔX変化すると、反射位置と固定
ミラー152との間隔もΔX変化するので、参照光路の光
路長が2ΔX変化する。
【0055】回転ミラー151を展開すると、図7に示す
ように反射面151bの勾配が直線になっているので、回転
ミラー151の回転角と光路長の変化量とは線形な関係と
なる。したがって、回転ミラー151が等速回転すると、
参照光路210の光路長も一定速度で変化することにな
り、フォトセンサ145で観察される干渉縞の移動による
明暗の周波数も一定になる。これをバンド幅の狭いバン
ドパスフィルターを通して高S/Nの信号として検出す
る。
【0056】干渉縞の明暗の振幅が最大となったときの
回転ミラー151の反射面151bにおける反射位置210bが測
定光路200と参照光路210の光路長が等しくなった位置で
あり、このときの回転ミラー151の回転角度をロータリ
ーエンコーダー154により検出することで、光軸方向に
おける反射位置210bが求まり、この反射位置210bから参
照光路210の光路長が求まる。
【0057】この場合、回転ミラーが定角速度で回転し
ているので、ロータリーエンコーダーを使わずに、回転
ミラー151の初期位置が、ある基準位置(例えば参照光
が当たる位置)を通過してから干渉縞の明暗の振幅が最
大になるまでの時間から参照光路の光路長を求めること
もできる。
【0058】また、固定ミラー152の反射位置は回転ミ
ラー151の回転により図1の破線で示すように移動する
ので、この反射位置をラインセンサ等の手段で検出する
ことから求めることもできる。
【0059】つまり、ビームスプリッタ133から測定光
路200に設定した基準位置(図示せず)までの距離と、ビ
ームスプリッタ133から回転ミラー151の初期位置におけ
る反射面151bの反射位置210cとを一致させておけば、そ
の基準位置から被検眼眼底までの距離Laは、回転ミラ
ー151の初期位置における反射面151bの反射位置210cか
ら反射位置210bまでの距離として求めることができる。
【0060】そして、測定光路200の基準位置と角膜距
離測定系100の基準位置Yとを一致させておけば、前記
距離Laから角膜距離測定系100で測定した角膜頂点120
Pまでの距離PXを差し引けば眼内長さLbが求まる。こ
れら演算は図示しない演算装置によって行なうものであ
る。
【0061】このように、回転ミラー151はモータ154に
よって等速で回転させることができるので、回転ミラー
151の反射面151bにおける反射位置210bが光軸に沿って
等速で繰り返し移動させることができる。すなわち、参
照光路210の光路長を等速で繰り返し変えることがで
き、これにより干渉縞を繰り返し発生させることができ
る。
【0062】そして、この干渉縞を観察しながらアライ
メントや視度調整を最適な位置へ追い込むことができる
ので、測定時間の短縮を図ることができる。
【0063】また、白内障眼の場合にも干渉縞が得られ
るか否かが回転ミラー151を回転させるだけで分かるの
で、無駄な測定をしないで済み、測定できる確率を向上
させることができる。
【0064】さらに、干渉縞の振幅を観察しながら被検
眼に対する器械のアライメントや視度調節が行えるの
で、他にアライメント状態や視度調節の確認手段を設け
る必要がない。
【0065】また、回転ミラー151の反射面151bにおけ
る反射位置210bが光軸に沿って等速で繰り返し移動させ
ることができるので、フォトセンサ145で観察される干
渉縞の移動による明暗の周波数を一定にさせることがで
き、これをバンド幅の狭いバンドパスフィルターを通し
て高S/Nの信号として検出することができる。このた
め、眼底からの反射光量の少ない白内障眼をも測定する
ことができることとなる。
【0066】図9には第2実施例を示す。この実施例で
は、回転ミラー151の代わりにサーキュラーウェッジ160
を使用したもので、このサーキュラーウェッジ160の厚
さの変化によって光路長を変えるものである。
【0067】161はサーキュラーウェッジ160を透過して
きた参照光を、正確に入射してきた方向に反射するよう
に位置決めされた固定ミラーである。サーキュラーウェ
ッジ160は、図10に示すように、連続的に厚さが変化
するように円筒状の光学部材であり、その円筒体160aの
軸方向の厚みは回転角度に対して線形に変化するように
できている。
【0068】したがってサーキュラーウェッジ160を一
定角速度で回転すれば、光路長も一定速度で変化するこ
とになり、前記回転ミラー151と同様な効果がある。光
路長の変化の大きさは、サーキュラーウェッジ160の素
材の光源の波長に対する屈折率と、厚さの変化の大きさ
から決定される。屈折率の高い素材を使うほど、また厚
さの変化が大きいほど光路長の変化が大きくなる。
【0069】サーキュラーウェッジ160は回転ミラー151
と同様にモーター(図示せず)によって回転させるもの
で、その回転角度は図示しないロータリーエンコーダー
で検出するものである。
【0070】図11は第3実施例を示す。これは第2実
施例に偏光ビームスプリッター170、1/4波長板171と
固定ミラー173を追加したものである。偏光ビームスプ
リッター170では参照光のうち紙面に平行な成分のみ透
過する。したがって透過した光は紙面に平行な直線偏光
の光として1/4波長板171に入射し、1/4波長板171を
透過すると位相が90°ずれるので円偏光の光となり、サ
ーキュラーウェッジ160を透過してから固定ミラー172で
正確にもと来た方向に反射され、再びサーキュラーウェ
ッジ160を透過する。
【0071】そして次に1/4波長板171を透過するとき
に再度位相が90°ずらされ、今度は紙面に垂直な直線
偏光の光として偏光ビームスプリッター170に入射し、
固定ミラー173の方向に反射される。固定ミラー173も入
射してきた光を正確にもと来た方向に反射するように位
置決めされているので、参照光は再び偏光ビームスプリ
ッター170で反射されて、1/4波長板171、サーキュラ
ーウェッジ160、固定ミラー172、サーキュラーウェッジ
160、1/4波長板171を経て、今度は紙面に平行な直線
偏光の光として偏光ビームスプリッター170を透過し、
フォトセンサー145に導かれる。この例では参照光路途
中でサーキュラーウェッジ160を2回透過するので、光
路長の変化を第2実施例の2倍とれる利点がある。
【0072】図12は第4実施例を示したもので、この
実施例では回転ミラー151の代わりに渦巻状ミラー180を
使用したものである。
【0073】渦巻状ミラー180は、図13に示すよう
に、所定の厚さの円板体180aで形成され、この円板180a
の周端面に反射面180bを形成したもので、その反射面18
0bはその接線が常に一定の角度になるように設定されて
いる。この場合、参照光路長が一定の速度では変化しな
いが、変動の割合は小さいので、他の実施例と同様の効
果が得られる。
【0074】図12に示す偏光ビームスプリッター18
1、1/4波長板182の働きは第3実施例と同じである。
【0075】偏光ビームスプリッター181と1/4波長板
182を透過した参照光は、凸のシリンドリカルレンズ183
の作用で紙面に水平な方向で集光されつつ渦巻状ミラー
180に入射し、渦巻状ミラー180の反射面で反射されて入
射してきた方向に戻される。このとき反射光を有効に戻
すためには、渦巻状ミラー180が参照光の光軸がその反
射面180bに垂直になるよう、またシリンドリカルレンズ
183もその焦点Fが渦巻状ミラー180の反射面180bの曲率
の中心になるよう配置されている必要がある。ところが
実際には渦巻状ミラー180の反射面180bの曲率は一定で
はないので、この条件を満足することは不可能である。
【0076】しかし、シリンドリカルレンズ183の焦点
距離を参照光のビーム径に対し十分大きく、また渦巻状
ミラー180の反射面の曲率を渦巻状ミラー180の半径の変
化量に対し十分大きくすることで、効率よく反射光を戻
すことができる。
【0077】この実施例では偏光ビームスプリッター18
1と1/4波長板182を使用しているが、これらを使用し
なくても光路長の変化が半分になるだけであり、その機
能は満足する。
【0078】また、渦巻状ミラー180は図示しないモー
タによって回転されるものであり、その回転角度は図示
しないロータリーエンコーダーで検出する。
【0079】
【効果】この発明は、以上説明したように、参照光路の
光路長を回転角に応じて変えていく光路長可変部材を回
転可能に設け、前記光路長可変部材を回転させて前記参
照光路の光路長を連続的に変えていく回転手段を設けた
ものであるから、参照光路の光路長を高速で繰り返し変
えていくことができる。このため、干渉縞を繰り返し発
生させることができ、この干渉縞を観察しながらアライ
メントや視度調整を最適な位置へ追い込むことができる
ので、測定時間の短縮を図ることができる。
【0080】また、白内障眼の場合にも干渉縞が得られ
るか否かが光路長可変部材を回転させるだけで分かるの
で、無駄な測定をしないで済み、測定できる確率を向上
させることができる。
【0081】さらに、参照光路の光路長を等速で繰り返
し変えることができるので、観察される干渉縞の移動に
よる明暗の周波数を一定にさせることができ、この結果
ノイズ等の影響による測定誤差を少なくすることがで
き、眼底からの反射光量の少ない白内障眼をも測定する
ことができることとなる。
【0082】また、干渉縞の振幅を観察しながら被検眼
に対する器械のアライメントや視度調節が行えるので、
他にアライメント状態や視度調節の確認手段を設ける必
要がない。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係わる眼科装置の光学系の配置を示
した光学配置図、
【図2】図1の二次元イメージセンサに形成されるリン
グ像を示す図、
【図3】図1に示す角膜距離測定光学系の作用を模式的
に説明するための説明図、
【図4】図1に示す角膜距離測定光学系の作用を模式的
に説明するための説明図、
【図5】角膜頂点位置検出を説明するための説明図、
【図6】回転ミラーの形状を示した斜視図
【図7】回転ミラーの反射面の傾斜状態を示した説明
図、
【図8】回転ミラーの正面図、
【図9】第2実施例の光学系の配置を示した光学配置
図、
【図10】サーキュラーウェッジの形状を示した斜視
図、
【図11】第3実施例の光学系の配置を示した光学配置
図、
【図12】第4実施例の光学系の配置を示した光学配置
図である。
【図13】渦巻状ミラーの形状を示した斜視図である。
【符号の説明】
103 被検眼 151 回転ミラー(光路長可変部材) 153 モータ(回転手段) 210 参照光路 200 測定光路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コヒーレント長の短い光源と、被検眼
    内を経由する測定光路と装置内部に参照光路とを形成
    し、前記光源からの光束を該測定定光路と該参照光路に
    導くビームスプリッタと、 前記測定光路を経て眼内測定対象物から反射した光と前
    記参照光路を経た光とを干渉させ、その干渉光を受け取
    る第1受光部と、 前記参照光路の光路長と前記第1受光部からの信号のピ
    ーク位置とから測定光路と参照光路との光路差を求める
    測定対象物位置測定部と、 被検眼角膜に光束を照射する照射光学系と、 前記被検眼角膜からの反射光を第2受光部に導く受光光
    学系と、 該第2受光部の出力から前記被検眼角膜の位置を求める
    角膜位置測定部とを有する眼内長さ測定装置であって、 前記参照光路の光路長を回転角に応じて変えていく光路
    長可変部材を回転可能に設け、 前記光路長可変部材を回転させて前記参照光路の光路長
    を連続的に変えていく回転手段を設けたことを特徴とす
    る眼内長さ測定装置。
JP4063048A 1992-03-19 1992-03-19 眼内長さ測定装置 Pending JPH05261067A (ja)

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US08/033,549 US5329321A (en) 1992-03-19 1993-03-18 Intraocular length measuring instrument with rotary optical path length variator

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010184049A (ja) * 2009-02-12 2010-08-26 Nidek Co Ltd 眼寸法測定装置
JP2011115302A (ja) * 2009-12-02 2011-06-16 Nidek Co Ltd 眼寸法測定装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10042751A1 (de) * 2000-08-31 2002-03-14 Thomas Hellmuth System zur berührungslosen Vermessung der optischen Abbildungsqualität eines Auges
DE10349230A1 (de) * 2003-10-23 2005-07-07 Carl Zeiss Meditec Ag Gerät zur interferometrischen Augenlängenmessung mit erhöhter Empfindlichkeit
US7400410B2 (en) * 2005-10-05 2008-07-15 Carl Zeiss Meditec, Inc. Optical coherence tomography for eye-length measurement
JP4864516B2 (ja) * 2006-04-07 2012-02-01 株式会社トプコン 眼科装置
JP5172141B2 (ja) * 2006-12-26 2013-03-27 株式会社ニデック 眼軸長測定装置
EP2519141B1 (en) * 2009-12-30 2018-09-05 Brockman Holdings LLC System, device, and method for determination of intraocular pressure

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0753151B2 (ja) * 1986-07-17 1995-06-07 株式会社トプコン 眼科測定装置
US5042938A (en) * 1989-05-09 1991-08-27 Kabushiki Kaisha Topcon Apparatus for measuring length of visual line length, depth of anterior chamber, thickness of crystal lens, etc.
JP2849447B2 (ja) * 1990-05-31 1999-01-20 株式会社トプコン 眼内長さ測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010184049A (ja) * 2009-02-12 2010-08-26 Nidek Co Ltd 眼寸法測定装置
JP2011115302A (ja) * 2009-12-02 2011-06-16 Nidek Co Ltd 眼寸法測定装置

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