JPH05259548A - レーザダイオード電流監視回路の温度補償方法 - Google Patents
レーザダイオード電流監視回路の温度補償方法Info
- Publication number
- JPH05259548A JPH05259548A JP4051529A JP5152992A JPH05259548A JP H05259548 A JPH05259548 A JP H05259548A JP 4051529 A JP4051529 A JP 4051529A JP 5152992 A JP5152992 A JP 5152992A JP H05259548 A JPH05259548 A JP H05259548A
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- JP
- Japan
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- temperature
- laser diode
- current
- circuit
- approximate expression
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明はレーザダイオード電流監視回路の温
度補償方法に関し、比較的少ない温度対電流の測定値よ
り広範囲の温度補償を行なわせるよう改良したレーザダ
イオード電流監視回路の温度補償方法を提供することを
目的とする。 【構成】 レーザダイオードの電流を監視する回路の温
度補償方法であって、レーザダイオードの温度対電流特
性をｎ項以下のｎ次の多項式で近似し、近似した近似式
の項数に等しい温度に対するレーザダイオードの電流を
測定し、測定値を近似式に代入して各項の係数を算出し
て近似式を決定し、決定された近似式に対して誤差が最
小になるよう温度を補償する回路の回路定数を算出して
設定するようにしたことを特徴とするレーザダイオード
電流監視回路の温度補償方法。
度補償方法に関し、比較的少ない温度対電流の測定値よ
り広範囲の温度補償を行なわせるよう改良したレーザダ
イオード電流監視回路の温度補償方法を提供することを
目的とする。 【構成】 レーザダイオードの電流を監視する回路の温
度補償方法であって、レーザダイオードの温度対電流特
性をｎ項以下のｎ次の多項式で近似し、近似した近似式
の項数に等しい温度に対するレーザダイオードの電流を
測定し、測定値を近似式に代入して各項の係数を算出し
て近似式を決定し、決定された近似式に対して誤差が最
小になるよう温度を補償する回路の回路定数を算出して
設定するようにしたことを特徴とするレーザダイオード
電流監視回路の温度補償方法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はレーザダイオードの劣化
などを監視するためのレーザダイオード電流監視回路の
温度補償方法に関する。
などを監視するためのレーザダイオード電流監視回路の
温度補償方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】今日においては、レーザダイオードは、
光ファイバーを使用したディジタル信号の伝送などの搬
送波源として広く使用されている。このようにレーザダ
イオードを搬送波源として使用した場合のレーザダイオ
ードの劣化を検出する方法として、レーザダイオードの
電流を監視する方法が用いられている。
光ファイバーを使用したディジタル信号の伝送などの搬
送波源として広く使用されている。このようにレーザダ
イオードを搬送波源として使用した場合のレーザダイオ
ードの劣化を検出する方法として、レーザダイオードの
電流を監視する方法が用いられている。
【０００３】しかし、レーザダイオードに流れる電流
は、図２に示すように、温度によって大きく変化する。
したがって、レーザダイオードの劣化を検出するには、
温度によって電流が変化しても、一定の電流が出力され
るよう変化分を補償し、補償後の電流値の変化でダイオ
ード劣化度合を判定させている。
は、図２に示すように、温度によって大きく変化する。
したがって、レーザダイオードの劣化を検出するには、
温度によって電流が変化しても、一定の電流が出力され
るよう変化分を補償し、補償後の電流値の変化でダイオ
ード劣化度合を判定させている。
【０００４】このようなダイオード劣化度合を判定させ
るためのレーザダイオード電流監視回路の温度補償方法
としては、従来は、レーザダイオードの電流と温度との
関係を直線的に変化するものとして、電流監視回路の回
路定数を調整して温度補償を行なわせていた。
るためのレーザダイオード電流監視回路の温度補償方法
としては、従来は、レーザダイオードの電流と温度との
関係を直線的に変化するものとして、電流監視回路の回
路定数を調整して温度補償を行なわせていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】前述したように、従来
のレーザダイオード電流監視回路の温度補償方法として
は、ダイオードの電流と温度との関係が直線的に変化す
るものとして電流監視回路の回路定数を調整していた。
のレーザダイオード電流監視回路の温度補償方法として
は、ダイオードの電流と温度との関係が直線的に変化す
るものとして電流監視回路の回路定数を調整していた。
【０００６】しかし、この方法では、例えば、図２に示
すように、温度が０℃〜４０℃の比較的温度変化が少な
い場合は誤差が少なく良い補償値が得られるが、例えば
−３０℃〜７０℃の温度変化が生じる場合では誤差が非
常に多くなり、ダイオードの劣化判定を行なわせること
が不可能となる。
すように、温度が０℃〜４０℃の比較的温度変化が少な
い場合は誤差が少なく良い補償値が得られるが、例えば
−３０℃〜７０℃の温度変化が生じる場合では誤差が非
常に多くなり、ダイオードの劣化判定を行なわせること
が不可能となる。
【０００７】本発明は比較的少ない温度に対応するレー
ザダイオードの電流値の測定結果より広範囲の温度補償
を行なわせるよう改良したレーザダイオード電流監視回
路の温度補償方法を提供することを目的とする。
ザダイオードの電流値の測定結果より広範囲の温度補償
を行なわせるよう改良したレーザダイオード電流監視回
路の温度補償方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
めに本発明が採用した手段を、図１の原理図を参照して
説明する。レーザダイオードの温度対電流特性は、一般
に、 Ｉd ＝Ａn ｔn ＋Ａn-1 ｔn-1 ＋…＋Ａ1t＋Ａ ……（１） ただし、Ｉd ： 電流 ｔ ： 温度 Ａn ，Ａn-1 ，Ａ1 ，Ａ： 係数 で示されるｎ次項より定数項の合計ｎ＋１項の和のｎ次
の多項式で近似することができる。
めに本発明が採用した手段を、図１の原理図を参照して
説明する。レーザダイオードの温度対電流特性は、一般
に、 Ｉd ＝Ａn ｔn ＋Ａn-1 ｔn-1 ＋…＋Ａ1t＋Ａ ……（１） ただし、Ｉd ： 電流 ｔ ： 温度 Ａn ，Ａn-1 ，Ａ1 ，Ａ： 係数 で示されるｎ次項より定数項の合計ｎ＋１項の和のｎ次
の多項式で近似することができる。
【０００９】しかし、本発明の原理は、近似式（１）
を、更にｎ次の項Ａn ｔn を除く他の項のいずれかを無
視した合計ｎ項以下の多項式で近似させる。このように
ｎ次の多項式をｎ項以下の多項式で近似させるようにす
ることにより、ｎ次の多項式の係数の数がｎ＋１個であ
ったのに対して無視した項の数だけ少なくなる。したが
って、近似式の係数を算出するために必要なレーザダイ
オードの温度を変化させた時の電流値の測定回数を少な
くすることがてきる。
を、更にｎ次の項Ａn ｔn を除く他の項のいずれかを無
視した合計ｎ項以下の多項式で近似させる。このように
ｎ次の多項式をｎ項以下の多項式で近似させるようにす
ることにより、ｎ次の多項式の係数の数がｎ＋１個であ
ったのに対して無視した項の数だけ少なくなる。したが
って、近似式の係数を算出するために必要なレーザダイ
オードの温度を変化させた時の電流値の測定回数を少な
くすることがてきる。
【００１０】本発明は上記原理にもとずくものであり、
レーザダイオードの電流を監視する回路の温度補償方法
であって、（ａ）レーザダイオードの温度対電流特性を
ｎ項以下のｎ次の多項式で近似し、（ｂ）近似した近似
式の項数に等しい温度に対するレーザダイオードの電流
を測定し、（ｃ）測定値を近似式に代入して各項の係数
を算出して近似式を決定し、（ｄ）決定された近似式に
対して誤差が最小になるよう温度を補償する回路の回路
定数を算出して設定する。
レーザダイオードの電流を監視する回路の温度補償方法
であって、（ａ）レーザダイオードの温度対電流特性を
ｎ項以下のｎ次の多項式で近似し、（ｂ）近似した近似
式の項数に等しい温度に対するレーザダイオードの電流
を測定し、（ｃ）測定値を近似式に代入して各項の係数
を算出して近似式を決定し、（ｄ）決定された近似式に
対して誤差が最小になるよう温度を補償する回路の回路
定数を算出して設定する。
【００１１】
【作用】まず最初に、レーザダイオードの温度対電流特
性の近似式の次数ｎ；および、式（１）で示されるｎ次
の多項式の中から無視する項を従来の経験から除去して
ｎ項以下のｎ次の多項式で近似する。
性の近似式の次数ｎ；および、式（１）で示されるｎ次
の多項式の中から無視する項を従来の経験から除去して
ｎ項以下のｎ次の多項式で近似する。
【００１２】次に、近似した項数（ｎ項以下）と等し回
数、レーザダイオードの温度を変化させて電流値を測定
する。測定値を近似式に代入して各項の係数を算出して
近似式を決定する。最後に、決定された近似式に対して
誤差が最小となるよう電流監視回路の温度を補償する回
路の回路定数を算出して設定する。
数、レーザダイオードの温度を変化させて電流値を測定
する。測定値を近似式に代入して各項の係数を算出して
近似式を決定する。最後に、決定された近似式に対して
誤差が最小となるよう電流監視回路の温度を補償する回
路の回路定数を算出して設定する。
【００１３】以上のように、レーザダイオードの温度対
電流特性をｎ項以下のｎ次の多項式で近似させるように
したので、近似式を得るためのダイオードの温度に対す
る電流値の測定回数を少なくして良い精度の近似を得る
ことができる。
電流特性をｎ項以下のｎ次の多項式で近似させるように
したので、近似式を得るためのダイオードの温度に対す
る電流値の測定回数を少なくして良い精度の近似を得る
ことができる。
【００１４】
【実施例】本発明の一実施例を図３を参照して説明す
る。何本ものレーザダイオードの温度対電流特性の近似
においては、例えば−３０℃〜７０℃の範囲を Ｉd ＝ａｔ4 ＋ｂｔ＋ｃ ……（２） で近似させても、非常に良い近似が得られている。
る。何本ものレーザダイオードの温度対電流特性の近似
においては、例えば−３０℃〜７０℃の範囲を Ｉd ＝ａｔ4 ＋ｂｔ＋ｃ ……（２） で近似させても、非常に良い近似が得られている。
【００１５】式（２）の係数ａ，ｂおよびｃの値を決め
るには、３組の温度を変化させた時のレーザダイオード
の電流値が必要であり、この３組の値を測定する。測定
値を式（２）に代入して連立方程式の解よりａ，ｂおよ
びｃが求まり、近似式は決定される。
るには、３組の温度を変化させた時のレーザダイオード
の電流値が必要であり、この３組の値を測定する。測定
値を式（２）に代入して連立方程式の解よりａ，ｂおよ
びｃが求まり、近似式は決定される。
【００１６】図３は電流監視回路の具体例を示したもの
であり、１は差動増幅器、２はサーミスタ、３は可変抵
抗、４は固定抵抗であり、差動増幅器１の出力からサー
ミスタ２、可変抵抗器３および固定抵抗４の帰還回路を
構成して入力に帰還して利得の調整を行っている。また
ｒ1 〜ｒ4 は抵抗である。
であり、１は差動増幅器、２はサーミスタ、３は可変抵
抗、４は固定抵抗であり、差動増幅器１の出力からサー
ミスタ２、可変抵抗器３および固定抵抗４の帰還回路を
構成して入力に帰還して利得の調整を行っている。また
ｒ1 〜ｒ4 は抵抗である。
【００１７】このような電流監視回路を構成する差動増
幅器や抵抗は温度が−３０℃〜７０℃の範囲内において
は特性の変化は無く、唯一、サーミスタ２のみが変化す
る。サーミスタ２の抵抗値の温度特性は、 Ｒ1 ＝Ｒ2 exp ｛Ｂ（１／Ｔ1 −１／Ｔ2 ）｝ ……（３） ただし、Ｒ1 ：温度Ｔ1 （°Ｋ）の抵抗値 Ｒ2 ：温度Ｔ2 （°Ｋ）の抵抗値 Ｂ： サーミスタによって決まる定数で表わされる。
幅器や抵抗は温度が−３０℃〜７０℃の範囲内において
は特性の変化は無く、唯一、サーミスタ２のみが変化す
る。サーミスタ２の抵抗値の温度特性は、 Ｒ1 ＝Ｒ2 exp ｛Ｂ（１／Ｔ1 −１／Ｔ2 ）｝ ……（３） ただし、Ｒ1 ：温度Ｔ1 （°Ｋ）の抵抗値 Ｒ2 ：温度Ｔ2 （°Ｋ）の抵抗値 Ｂ： サーミスタによって決まる定数で表わされる。
【００１８】したがって、式（２）で近似した温度ｔな
るときの電流Ｉd が抵抗ｒ1 に流れたものとして、差動
増幅器１の出力に表われる電圧は計算によって求めるこ
とができる。そこで、近似式（２）のｔを変化させてＩ
d を求め、このＩd に対応する差動増幅器１の出力値を
算出し、算出された値が、ｔを変化しても一定値が得ら
れる可変抵抗器３の抵抗値を変化させて繰返し計算を行
い、最適値を決定する。
るときの電流Ｉd が抵抗ｒ1 に流れたものとして、差動
増幅器１の出力に表われる電圧は計算によって求めるこ
とができる。そこで、近似式（２）のｔを変化させてＩ
d を求め、このＩd に対応する差動増幅器１の出力値を
算出し、算出された値が、ｔを変化しても一定値が得ら
れる可変抵抗器３の抵抗値を変化させて繰返し計算を行
い、最適値を決定する。
【００１９】このようにして決定された抵抗値となるよ
う、可変抵抗器３の抵抗値を設定する。なお、実施例で
の近似は４次式で近似したが、 Ｉd ＝ａｔ3 ＋ｂｔ＋ｃ または Ｉd ＝ａｔ5 ＋ｂｔ＋ｃ で近似させた場合も、良い近似が得られ、一般にｎ次の
近似式で近似することも可能である。
う、可変抵抗器３の抵抗値を設定する。なお、実施例で
の近似は４次式で近似したが、 Ｉd ＝ａｔ3 ＋ｂｔ＋ｃ または Ｉd ＝ａｔ5 ＋ｂｔ＋ｃ で近似させた場合も、良い近似が得られ、一般にｎ次の
近似式で近似することも可能である。
【００２０】また、電流監視回路の具体例を図３で示し
たが、電流監視回路はこの具体例に限定されるものでは
なく、各種変形が可能である。
たが、電流監視回路はこの具体例に限定されるものでは
なく、各種変形が可能である。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
の効果が得られる。レーザダイオードの温度対電流特性
をｎ項以下のｎ次の多項式で近似させるようにしたの
で、近似式を得るためのダイオードの温度に対する電流
値の測定回数を少なくして良い精度の近似を得ることが
できる。
の効果が得られる。レーザダイオードの温度対電流特性
をｎ項以下のｎ次の多項式で近似させるようにしたの
で、近似式を得るためのダイオードの温度に対する電流
値の測定回数を少なくして良い精度の近似を得ることが
できる。
【図１】本発明の原理図である。
【図２】レーザダイオードの温度対電流の関係説明図で
ある。
ある。
【図３】電流監視回路の具体例である。
１ 差動増幅器 ２ サーミスタ ３ 可変抵抗器 ４ 固定抵抗
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 平尾 昌彦 北海道札幌市中央区北一条西２−１ 富士 通北海道デジタルテクノロジ株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 レーザダイオードの電流を監視する回路
の温度補償方法であって、 （ａ）レーザダイオードの温度対電流特性をｎ項以下の
ｎ次の多項式で近似し、 （ｂ）近似した近似式の項数に等しい温度に対するレー
ザダイオードの電流を測定し、 （ｃ）測定値を近似式に代入して各項の係数を算出して
近似式を決定し、 （ｄ）決定された近似式に対して誤差が最小になるよう
温度を補償する回路の回路定数を算出して設定する ようにしたことを特徴とするレーザダイオード電流監視
回路の温度補償方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4051529A JPH05259548A (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | レーザダイオード電流監視回路の温度補償方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4051529A JPH05259548A (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | レーザダイオード電流監視回路の温度補償方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05259548A true JPH05259548A (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=12889550
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4051529A Withdrawn JPH05259548A (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | レーザダイオード電流監視回路の温度補償方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05259548A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100765361B1 (ko) * | 2004-09-14 | 2007-10-09 | 한국정보통신대학교 산학협력단 | 자동 온도 보상기능을 갖는 레이저 다이오드 구동회로 및구동 방법 |
| WO2008152752A1 (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-18 | Sokkia Co., Ltd. | ロータリエンコーダの角度補正方法 |
| JP6704534B1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-06-03 | 三菱電機株式会社 | 劣化診断装置および光トランシーバの劣化診断方法 |
-
1992
- 1992-03-10 JP JP4051529A patent/JPH05259548A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100765361B1 (ko) * | 2004-09-14 | 2007-10-09 | 한국정보통신대학교 산학협력단 | 자동 온도 보상기능을 갖는 레이저 다이오드 구동회로 및구동 방법 |
| WO2008152752A1 (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-18 | Sokkia Co., Ltd. | ロータリエンコーダの角度補正方法 |
| JP2008309689A (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Sokkia Topcon Co Ltd | ロータリエンコーダの角度補正方法 |
| US8330097B2 (en) | 2007-06-15 | 2012-12-11 | Sokkia Topcon Co., Ltd. | Angular correction method for rotary encoder |
| JP6704534B1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-06-03 | 三菱電機株式会社 | 劣化診断装置および光トランシーバの劣化診断方法 |
| WO2020217355A1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-10-29 | 三菱電機株式会社 | 劣化診断装置および光トランシーバの劣化診断方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990518 |