JPH05240699A - 後方散乱光の測定装置 - Google Patents

後方散乱光の測定装置

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JPH05240699A
JPH05240699A JP4043038A JP4303892A JPH05240699A JP H05240699 A JPH05240699 A JP H05240699A JP 4043038 A JP4043038 A JP 4043038A JP 4303892 A JP4303892 A JP 4303892A JP H05240699 A JPH05240699 A JP H05240699A
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Toshio Kurashima
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 効率的にフェージング雑音を低減することが
できるOTDRの提供、並びに後方ブリリュアン散乱光
用の経済的なOTDR(BOTDR)の提供。 【構成】 OTDRとしては、内部に光増幅器4、周波
数シフタ5及び光スイッチ6を含んだ光ループ回路13
を用いて、参照光及び測定光の周波数を周波数変調する
ことにより、広範囲に亘って規則的に周波数掃引してフ
ェージング雑音を効果的に低減し、BOTDRとしては
上記と同様な光ループ回路により測定光の周波数をブリ
リュアンシフト分だけ予め高めにシフトしておくことに
より、後方ブリリュアン散乱光と参照光との周波数差を
小さくして低雑音なコヒーレント検波を経済的に実現す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光ファイバ中の後方散乱
光、特に、後方レーリー散乱光、後方ブリリュアン散乱
光それぞれの測定に適した測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光パルス試験器あるいはOTDR(Opti
cal Time Domain Reflectometer)は、光ファイバ伝送路
の障害点探索や損失分布測定に広く使用されている。
【0003】〔OTDRについて〕OTDRは、被測定
光ファイバに光パルスを入射し、これが散乱点で後方散
乱されて戻ってくるまでに要した時間から散乱点の位置
を求めたり、損失を求めるものである。この場合の具体
的な後方散乱光としては、後方レーリー散乱光、後方ラ
マン散乱光、後方ブリリュアン散乱光が挙げられる。し
かし、光ファイバの低損失性から予想されるように、こ
れらの後方散乱光の強度は極めて弱いから、非常に高感
度な光検波(受信)技術が必要とされる。
【0004】現在最も高感度な光検波技術は、コヒーレ
ント検波(受信)であり、その有効性は既に実証されて
いる。
【0005】ところがコヒーレント検波をOTDRに適
用した場合、フェージング雑音と呼ばれる新たな問題が
生じ、測定精度を低下させてしまう。フェージング雑音
は、分布した多数の散乱体によって後方散乱された光波
間の干渉によって引き起されるものであり、これら後方
散乱光波間の位相関係が光ファイバの長手方向に沿って
ランダムに変化するため、測定される後方散乱光の強度
に揺らぎが生じる。この強度の揺らぎのため、損失測定
の精度、障害点探索の精度が著しく低下してしまう。
【0006】このようなフェージング雑音を低減するた
めには、狭線幅の光源の周波数を広い範囲で変化させな
がら測定を行い、そのようにして得られた種々の周波数
の光に対応した多数の測定値を平均化加算処理すること
が必要である。
【0007】具体的には、(半導体レーザの)外部共振
器として光ファイバを用い、この光ファイバ中の後方レ
ーリー散乱光をフィードバックさせて狭線幅化した半導
体レーザを光源として測定を行う。この場合、外部共振
器としての光ファイバの不安定性により、フィードバッ
ク光の周波数が或る時間の間は一定に保たれ、その後は
ランダムに変化するという、いわゆる周波数ホッピング
を繰り返し、このため周波数の変化が自動的に行われ
る。更に、広い範囲で周波数を変化させるためには、半
導体レーザの温度制御も同時に行われる。
【0008】しかし、これらの方法は、周波数の制御性
に乏しく、また周波数が一定に保たれる時間間隔もラン
ダムであるため、コヒーレント受信の局発光と、これに
対して被測定光ファイバの往復時間に相当する時間差を
持つ後方散乱光との周波数差が、コヒーレント受信系の
受信帯域幅の中に常に収まっているとは限らないという
問題を有している。また、温度による半導体レーザの発
振周波数の制御には時間がかかるという問題を有してい
る。これらは、測定における平均化の効率を妨げる要因
となる。
【0009】〔BOTDRについて〕以上では、後方レ
ーリー散乱光をコヒーレント検波により測定するOTD
Rを例にとり、その問題点を説明した。一方、後方散乱
光の測定には、後方レーリー散乱光を測定するOTDR
の他に、後方ブリリュアン散乱光を測定するOTDR
(以後これをBOTDRと呼び、後方レーリー散乱光を
測定するOTDRを単にOTDRと呼ぶことにする)も
提案されている。
【0010】後方ブリリュアン散乱は光ファイバ中にお
ける光波と音波との相互作用により生じ、後方ブリリュ
アン散乱された光波の周波数は、入射した光波の周波数
に対して、波長にも依存するが10〜13GHz程シフ
トする。このブリリュアンシフト量は光ファイバの構成
材料や、光ファイバに発生した歪、及び温度に依存して
いるため、BOTDRにより歪もしくは温度の分布測定
が可能である。
【0011】しかしながら、後方ブリリュアン散乱光の
強度は後方レーリー散乱光より更に2〜3桁弱いため、
その測定にはコヒーレント検波を行うことが望ましい。
また、後方レーリー散乱の場合と異なり、後方ブリリュ
アン散乱では、散乱光の性質上、フェージング雑音の問
題は生じない。
【0012】ところで、後方ブリリュアン散乱光を、予
め分岐された参照光を局発光としてコヒーレント検波す
る場合、約十数GHzの高周波信号を受信することにな
るが、このような高周波信号を低雑音で受信することは
光検出器や電気回路の作成上非常に困難であり、コヒー
レント検波による低雑音性を有効に利用するためには、
何らかの工夫が必要である。例えば、後方ブリリュアン
散乱光と局発光との周波数差が小さくなるように、局発
光用光源の周波数を制御する方法が考えられるが、これ
には狭線幅の周波数安定化光源を2台必要とするため、
経済的ではない。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
従来技術の状況に鑑み、後方レーリー散乱光を測定する
ためのフェージング雑音を充分効率的に低減した測定装
置を提供すること、また、後方ブリリュアン散乱光を測
定するための経済的、そのうえ高速且つ高性能な測定装
置を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の発明の構成は、(1)狭線幅をもつ光源
と、(2)該光源からの出射光をパルス光にするための
第1の光パルス変調器と、(3)第1、第2の入力ポー
ト及び第1、第2の出力ポートをもち、前記パルス光を
第1の入力ポートに入力し、第2の出力ポートからの出
力光を第2の入力ポートへの入力とする光ループ回路を
構成する光方向性結合器と、(4)該光ループ回路中に
含まれた周波数シフタ及び光増幅器と、(5)前記光方
向性結合器の第1の出力ポートからの出力光を参照光と
測定光に分岐するための光分岐器と、(6)該測定光を
パルス光にするための第2の光パルス変調器と、(7)
該第2の光パルス変調器の出力光を被測定光ファイバに
入射し、且つ該被測定光ファイバ中で後方散乱された後
方散乱光を分岐するための光分岐器と、(8)該後方散
乱光を、前記参照光を局発光として、コヒーレント受信
するための受信系と、(9)前記第1及び第2の光パル
ス変調器の変調信号を同期制御するための制御系と、
(10)前記受信系の出力を平均化加算処理する信号処
理系とを具備することを特徴とするものである。
【0015】また請求項2の発明は後方ブリリュアン散
乱光用の測定装置であり、その構成は、(1)狭線幅を
もつ光源と、(2)該光源からの出射光を参考光と測定
光に分岐するための光分岐器と、・(3)測定光をパル
ス光にするための第1の光パルス変調器と、(4)第
1、第2の入力ポート及び第1、第2の出力ポートをも
ち、前記パルス光を第1の入力ポートに入力し、第2の
出力ポートからの出力光を第2の入力ポートへの入力と
する光ループ回路を構成する光方向性結合器と、(5)
該光ループ回路中に含まれた周波数シフタ及び光増幅器
と、(6)前記光方向性結合器の第1の出力ポートから
の出力光をパルス光にするための第2の光パルス変調器
と、(7)該第2の光パルス変調器の出力光を被測定光
ファイバに入射し、且つ該被測定光ファイバ中で後方ブ
リリュアン散乱された後方ブリリュアン散乱光を分岐す
るための光分岐器と、(8)該後方ブリリュアン散乱光
を、前記参照光を局発光として、コヒーレント受信する
ための受信系と、(9)前記第1及び第2の光パルス変
調器の変調信号を同期制御するための制御系と、(1
0)前記受信系の出力を平均化加算処理する信号処理系
とを具備することを特徴とするものである。
【0016】
【作用】請求項1の発明では、第1の光パルス変調器か
らのパルス光は光方向性結合器で分岐して光ループ回路
に入り、その中の周波数シフタを通る毎に周波数シフタ
で定まる周波数ずつ周波数シフトして循環し、光方向性
結合器を通る毎に分岐して光ループ回路外に出る。その
ため、光方向性結合器の第1の出力ポートからの出力光
は階段状に周波数掃引されたものとなる。なお、第1の
光パルス変調器からのパルス光のパルス長と光ループ回
路の光路長とを等しくしておけば、等価的な連続光とな
る。また、光ループ回路に光スイッチを設けておき、第
1の光パルス変調器がパルス光を周期的に出力する場合
は、新たなパルス光が光ループ回路に入る毎に、既に光
ループ回路中にある光波を光スイッチでカットすること
により、鋸歯状に周期的に周波数掃引された光波が光方
向性結合器の第1の出力ポートから出力される。上述し
た周波数掃引された出力光は光分岐器で参照光と測定光
に分岐し、測定光は第2の光パルス変調器によりOTD
Rのプローブパルス光に適した幅と異なる周波数をもつ
パルス光列になり、光分岐器を通して被測定光ファイバ
に入射される。被測定光ファイバ中で後方散乱された光
は光分岐器により分岐されて受信系に入射し、参照光を
局発光としてコヒーレント受信される。受信系の出力は
周波数掃引されており、信号処理系の平均化加算処理に
より、フェージング雑音が効果的に低減される。
【0017】請求項2の発明では、光源からの出射光は
光分岐器により参照光と測定光に分岐し、参照光は受信
系に入り、測定光は第1の光パルス変調器に入りパルス
化される。第1の光パルス変調器からのパルス光は光方
向性結合器で分岐して光ループ回路に入り、その中の周
波数シフタを通る毎に周波数シフタで定まる周波数ずつ
周波数シフトして循環し、光方向性結合器を通る毎に分
岐して光ループ回路外に出る。そのため、光方向性結合
器の第1の出力ポートからの出力光は階段状に周波数掃
引されたものとなる。なお、第1の光パルス変調器から
のパルス光のパルス長と光ループ回路の光路長とを等し
くしておけば、等価的な連続光となる。また、光ループ
回路に光スイッチを設けておき、第1の光パルス変調器
がパルス光を周期的に出力する場合は、新たなパルス光
が光ループ回路に入る毎に、既に光ループ回路中にある
光波を光スイッチでカットすることにより、鋸歯状に周
期的に周波数掃引された光波が光方向性結合器の第1の
出力ポートから出力される。上述した周波数掃引された
出力光は第2の光パルス変調器により再びパルス化さ
れ、BOTDRのプローブパルス光に適した幅と参照光
に対してブリリュアンシフト量に見合う周波数シフトを
もつパルス光となり、光分岐器を通して被測定光ファイ
バに入射される。被測定光ファイバ中で後方ブリリュア
ン散乱された光は光分岐器により分岐されて受信系に入
射し、参照光を局発光としてコヒーレント受信される。
この場合、参照光に対して被測定光ファイバに入射する
光波の周波数が予めブリリュアン周波数シフト量に対応
する程度にシフトするので、後方ブリリュアン散乱光と
参照光との周波数差が小さくなり、1つの光源でも低雑
音のコヒーレント検波が可能となる。
【0018】
【実施例】以下、図1〜図8を参照して本発明の後方散
乱光の測定装置における実施例を説明する。
【0019】〔実施例1〕まず、請求項1の発明におけ
る実施例の一例を図1〜図4により説明する。図1は実
施例に係る測定装置の構成を示し、1は狭線幅をもつ光
源、2は光源1からの出射光をパルス化するための音響
光学素子等の第1の光パルス変調器、3は入力ポートP
in1、Pin2と出力ポートPout 1、Pout 2をもち、
第1の光パルス変調器2からのパルス光を入力ポートP
in1への入力とする第1の光方向性結合器である。4は
出力ポートPout 2の出力を入力とする光増幅器、5は
光増幅器4の出力光に周波数シフトfを与えるための音
響光学素子等の周波数シフタ、6は周波数シフタ5の出
力光のON,OFFを制御する光スイッチであり、光ス
イッチ6の出力光を光方向性結合器3の入力ポートPin
2への入力として光ループ回路13を組み、光方向性結
合器3の出力ポートPout 1から出力光を得ている。7
はこの出力光を参照光と測定光に分岐するための光分岐
器として用いた第2の光方向性結合器である。8は測定
光を再びパルス化するための音響光学素子等の第2の光
パルス変調器、9はこの光パルス変調器8の出力パルス
光を被測定光ファイバ14に入射し、且つ光ファイバ1
9中で後方レーリー散乱された光を分岐するための第3
の光方向性結合器である。10はコヒーレント受信系で
あり、光分岐器7からの参照光を局発光として後方レー
リー散乱光をコヒーレント受信するためのものである。
11は第1,第2の光パルス変調器2,8の変調信号及
び光スイッチ6のON,OFF状態を同期制御するため
の外部制御系、12は受信系10の出力信号を平均化加
算処理する機能をもつ信号処理系である。
【0020】ここで、図2に示すように、第1の光パル
ス変調器2はパルス長LPの矩形パルスを周期的に切出
すものとし、光ループ回路13の光路長LRはパルス長
LPに等しいものとしている。また、パルス長LPは被
測定光ファイバ14の往復長以上となるように設定し、
パルス間の間隔はパルス長LPのn倍例えば約1000
倍としている。更に、同期制御としては、光ループ回路
13中の光スイッチ6のOFF状態と周期的な矩形パル
ス光とを、当該光スイッチ6の入射端において矩形パル
ス光が光スイッチ6のOFF状態に対して1パルス分だ
け遅れるように同期させている。
【0021】上記条件下では、光方向性結合器3の出力
ポートPout 1から出力される光は、図3(a)に示す
ように、周波数シフタ5の周波数シフト量fを単位とし
て階段状に周波数掃引された等価的な連続光となり、且
つ掃引周波数範囲はf・nで与えられてこれが繰返され
る。f=100MHzとすると、f・n=100GHz
になる。
【0022】このような連続光が第2の光パルス変調器
8により、OTDRのプローブパルス光に適当な幅にパ
ルス化される。これにより、周波数が規則的に且つ広い
範囲に亘って掃引された光パルス列を発生することがで
きる。但し、図3(b)に示すように、各周波数ステッ
プの先頭部分を出力パルスとして切出すように、第1と
第2の光パルス変調器2,8の変調信号間を同期させて
いる。
【0023】測定に際して、被測定光ファイバ19には
図4(a)に示すように周波数がfずつシフトした測定
パルス光f1 ,f2 ,f3 …が入射されるが、パルス間
隔が被測定光ファイバ14の最大往復時間以上であるか
ら、図4(b)に示すように被測定光ファイバ14のど
の点(A,B)からの後方レーリー散乱光も参照光と同
じ周波数になっている。
【0024】具体例として、10mの距離分解能を有す
るコヒーレント検波によるOTDRの設計を考えてみ
る。被測定光ファイバ14の長さが10Kmであると
き、第1の光パルス変調器2では20Kmのパルス長
(時間にして0.2ms)のパルス光が切出される。こ
のパルス光の周期は、その1000倍の0.2sとす
る。光ループ回路13のループ長LRはパルス長に等し
く20Kmとし、具体的には光ファイバで構成する。光
スイッチ6のON,OFF状態のパルス光との同期制御
は、図3(a)に示したように、fを単位として100
0・fまで階段状に周波数掃引された等価的な連続光と
なるように調整する。この場合、或る一定周波数が保た
れる時間は1パルス時間(0.2ms)に等しいから、
後方レーリー散乱光と参照光との時間差が0.2ms以
内であれば、両者の周波数は等しく、狭い受信帯域での
コヒーレント検波が可能である。第2の光パルス変調器
8のパルス切出し時間は、OTDRの距離分解能10m
に対応して0.1μsとしてある。このとき、f=10
0MHzと設定すると、fを単位としてパルス毎に周波
数がシフトし、その結果100GHzまでの周波数掃引
が規則的に行われるため、コヒーレント検波を用いたO
TDRにおいて効率的にフェージング雑音を低減するこ
とが可能である。
【0025】〔実施例2〕請求項2の発明における実施
例の一例を図5〜図8により説明する。図5は実施例に
係る測定装置の構成を示し、21は狭線幅をもつ光源、
22は光源21の出射光を参照光と測定光に分岐するた
めの光分岐器としての第1の光方向性結合器、23は測
定光をパルス化するための音響光学素子等の第1の光パ
ルス変調器、24は入力ポートPin1、Pin2と出力ポ
ートPout 1、Pout 2をもち、第1の光パルス変調器
23からのパルス光を入力ポートPin1への入力とする
第2の光方向性結合器である。25は出力ポートPout
2の出力を入力とする第1の光増幅器、26は光増幅器
25の出力光に周波数シフトFを与えるための音響光学
素子等の第1の周波数シフタ、27は周波数シフタ26
の出力光のON,OFFを制御する第1の光スイッチで
あり、光スイッチ27の出力光を光方向性結合器24の
入力ポートPin2への入力として第1の光ループ回路3
8を組み、光方向性結合器24の出力ポートPout 1か
ら出力光を得ている。28は測定光を再びパルス化する
ための音響光学素子等の第2の光パルス変調器、29は
入力ポートPin1、Pin2と出力ポートPout 1、Pou
t 2をもち、第2の光パルス変調器28からのパルス光
を入力ポートPin1への入力とする第3の光方向性結合
器である。30は出力ポートPout 2の出力を入力とす
る第2の光増幅器、31は光増幅器30の出力光に周波
数シフトfを与えるための音響光学素子等の第2の周波
数シフタ、32は周波数シフタ31の出力光のON,O
FFを制御する第2の光スイッチであり、光スイッチ3
2の出力光を光方向性結合器29の入力ポートPin2へ
の入力として第2の光ループ回路39を組み、光方向性
結合器29の出力ポートPout 1から出力光を得てい
る。33は光方向性結合器29の出力光を再びパルス化
するための音響光学素子等の第3の光パルス変調器、3
4はこの光パルス変調器33の出力パルス光を被測定光
ファイバ14に入射し、且つ光ファイバ14中で後方ブ
リリュアン散乱された光を分岐するための第4の光方向
性結合器である。35はコヒーレント受信系であり、光
分岐器22からの参照光を局発光として後方ブリリュア
ン散乱光をコヒーレント受信するためのものである。3
6は光パルス変調器23,28の変調信号及び光スイッ
チ27,32のON,OFF状態を同期制御するための
外部制御系、37は受信系35の出力信号を平均化加算
処理する機能をもつ信号処理系である。
【0026】ここで図6〜図8により動作を説明する。
図6において、光パルス変調器23により、BOTDR
の距離分解能に相当する繰返しの矩形パルス光を切出
す。このパルス光と光スイッチ27のOFF状態とを、
光スイッチ27の入射端において矩形パルス光がOFF
状態に対して1パルス分だけ遅れるように同期制御する
ことにより、1つの矩形パルス光がn個複製され、第1
の光ループ回路38からの出力光がFを単位として周波
数をF・n〜FB=ブブリュアント周波数シフト〜十数
GHzまで段階状に周波数掃引された等価的な連続光と
なるように、外部制御系36及び光ループ回路38のル
ープ長を調整する。
【0027】更に、図7に示すように、光パルス変調器
28により、周波数FBをもつ1パルスに相当する部分
だけを第2の光ループ回路39への入力パルス光として
切出す。このパルス光と光スイッチ32のOFF状態と
を、光スイッチ32の入射端においてパルス光がOFF
状態に対して1パルス分だけ遅れるように同期制御する
ことにより、1つの矩形パルス光がn個複製され、第2
の光ループ回路39からの出力光の周波数シフトがFB
を最低値としてFBからFB+f・nまで階段状に周波
数掃引された等価的な連続光となるように、外部制御系
36及び光ループ回路39のループ長を調整する。但
し、f=5〜10MHz、nは40〜100程度として
ある。なお、図2に示すように、光パルス変調器23,
28はパルス長LPの矩形パルスを周期的に切出すもの
とし、光ループ回路38,39の光路長LRはパルス長
LPに等しいものとしている。また、パルス長LPは被
測定光ファイバ40の往復長以上となるようにしてい
る。
【0028】このようにして、被測定光ファイバ40に
入射する光波の周波数を、予めブリリュアン周波数シフ
トに相当する程度にシフトさせておくことにより、後方
ブリリュアン散乱光と、局発光として使用する参照光と
の周波数差を小さくし、低雑音なコヒーレント検波が可
能になる。更に、本実施例では、被測定光ファイバ40
に入射する測定光の周波数シフト量を〜1GHz程度の
範囲で規則的に掃引することにより、所望の周波数を有
する測定光を得ることができるため、ブリリュアン周波
数シフトのサーチが容易且つ効率的に行える。
【0029】次に具体例を説明する。光方向性結合器2
2によって分岐された測定光は、光パルス変調器23に
より、例えばパルス長LP=200mのパルスになる
(距離分解能100mのプローブパルス光に相当)。第
1の光ループ回路38の光路長LRは200m以上に調
整される。LP=LRの場合、光パルス変調器23と同
期させられた光スイッチ27により、Fを単位として階
段状に周波数掃引された等価的な連続光が、光ループ回
路38より出力される。またLP<LRの場合には周波
数がFだけ増加した光パルス列が、光ループ回路38に
より出力される。光パルス変調器23により生成した光
パルスのパルス間間隔を0.1msとすると、LP=L
Rのとき、周波数は最大100・Fシフトする(図6参
照)。F=100MHzとすると、これは10GHzと
なり、ブリリュアン周波数シフト量に近い値まで掃引さ
れたことになる。次に光パルス変調器28により、周波
数シフト10GHzをもつ部分だけを切出す。このよう
にして測定パルス光(プローブパルス光)の周波数を、
ブリリュアン周波数シフト量に近くまで、高くシフトさ
せることができる。このような測定光がブリリュアン散
乱された場合、その周波数はブリリュアン周波数シフト
量だけ低くシフトするため、結果として後方ブリリュア
ン散乱光と、局発光として使用する参照光の周波数差を
小さくすることが可能になる。これは低雑音なコヒーレ
ント検波を可能にする。更に単位周波数シフト量f=5
〜10MHzを有する第2の光ループ回路39により、
測定パルス光の周波数シフト量を数MHzの精度で微調
整することができる(図7)。光パルス変調器33で
は、所望の周波数を有する部分を選択して、パルスとし
て取り出す(図8)。このように測定パルス光の周波数
の微調整が容易にできるため測定効率を上げることがで
きる。本実施例では、このように第2の光ループ回路3
9を使用することにより、測定パルス光の周波数の微調
整を行ったが、この光ループ回路39を省略し、第1の
光ループ回路38内の周波数シフタ26における周波数
シフトFを、僅かに変化させることにより、前記測定パ
ルス光の周波数の微調整を行っても良いことは言うまで
もない。
【0030】なお上記実施例1、2において周波数シフ
タ5,26,31として、スイッチング動作も行える音
響光学素子を使用し、周波数シフタに、光ループ回路内
の光スイッチの役割を兼用させ光スイッチ6,27,3
2を省略させることも可能である。
【0031】
【発明の効果】
(1)請求項1の発明では、後方レーリー散乱光を測定
するための、コヒーレント検波を用いたOTDRにおい
て、測定光及び参照光の周波数を、内部に周波数シフタ
と、光増幅器とを含んだ光ループ回路を用いて、周波数
変調することにより、広い範囲に亘って規則的に掃引す
ることが可能となるため、フェージング雑音の効率的な
低減が可能となる。 (2)請求項2の発明では、BOTDR(後方ブリリュ
アン散乱光を用いたOTDR)において、測定光の周波
数を、光ループ回路により変調し、ブリリュアンシフト
分だけ、予めシフトさせておくことにより、後方ブリリ
ュアン散乱光と、局発光として用いる参照光との周波数
差を小さくし、低雑音なコヒーレント検波を可能にす
る。これは、BOTDR測定装置の経済化をもたらす。
また測定光の周波数の掃引が、容易に行われるためBO
TDRの測定を高速化することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1の発明の実施例を示す構成図。
【図2】光ループ回路設定の説明図。
【図3】周波数掃引の説明図。
【図4】後方散乱光測定の説明図。
【図5】請求項2の発明の実施例を示す構成図。
【図6】第1の光ループ回路設定の説明図。
【図7】第2の光ループ回路設定の説明図。
【図8】測定パルス光生成の説明図。
【符号の説明】
1,21 狭線幅光源 2,8,23,28,33 光パルス変調器 3,7,9,22,24,29,34 光方向性結合器 4,25,30 光増幅器 5,26,31 周波数シフタ 6,27,32 光スイッチ 10,35 コヒーレント受信系 11,36 外部制御系 12,37 信号処理系 13,38,39 光ループ回路 14,40 被測定光ファイバ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 倉嶋 利雄 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (1)狭線幅をもつ光源と、 (2)該光源からの出射光をパルス光にするための第1
    の光パルス変調器と、 (3)第1、第2の入力ポート及び第1、第2の出力ポ
    ートをもち、前記パルス光を第1の入力ポートに入力
    し、第2の出力ポートからの出力光を第2の入力ポート
    への入力とする光ループ回路を構成する光方向性結合器
    と、 (4)該光ループ回路中に含まれた周波数シフタ及び光
    増幅器と、 (5)前記光方向性結合器の第1の出力ポートからの出
    力光を参照光と測定光に分岐するための光分岐器と、 (6)該測定光をパルス光にするための第2の光パルス
    変調器と、 (7)該第2の光パルス変調器の出力光を被測定光ファ
    イバに入射し、且つ該被測定光ファイバ中で後方散乱さ
    れた後方散乱光を分岐するための光分岐器と、 (8)該後方散乱光を、前記参照光を局発光として、コ
    ヒーレント受信するための受信系と、 (9)前記第1及び第2の光パルス変調器の変調信号を
    同期制御するための制御系と、 (10)前記受信系の出力を平均化加算処理する信号処
    理系とを具備することを特徴とする後方散乱光の測定装
    置。
  2. 【請求項2】 (1)狭線幅をもつ光源と、(2)該光
    源からの出射光を参照光と測定光に分岐するための光分
    岐器と、(3)測定光をパルス光にするための第1の光
    パルス変調器と、(4)第1、第2の入力ポート及び第
    1、第2の出力ポートをもち、前記パルス光を第1の入
    力ポートに入力し、第2の出力ポートからの出力光を第
    2の入力ポートへの入力とする光ループ回路を構成する
    光方向性結合器と、(5)該光ループ回路中に含まれた
    周波数シフタ及び光増幅器と、(6)前記光方向性結合
    器の第1の出力ポートからの出力光をパルス光にするた
    めの第2の光パルス変調器と、(7)該第2の光パルス
    変調器の出力光を被測定光ファイバに入射し、且つ該被
    測定光ファイバ中で後方ブリリュアン散乱された後方ブ
    リリュアン散乱光を分岐するための光分岐器と、(8)
    該後方ブリリュアン散乱光を、前記参照光を局発光とし
    て、コヒーレント受信するための受信系と、(9)前記
    第1及び第2の光パルス変調器の変調信号を同期制御す
    るための制御系と、(10)前記受信系の出力を平均化
    加算処理する信号処理系とを具備することを特徴とする
    後方散乱光の測定装置。
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