JPH05240443A - 加熱調理器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光センサの汚れ付着等による誤検出を防止す
る。 【構成】 光センサ９からの検出電圧Ｖｄを制御回路１
０により基準電圧Ｖｓと比較して物体の有無を検出す
る。これにより、光センサ９が配設された位置の高さを
検出したり或は調理用の付属品等の有無を検出できる。
そして、光センサ９の光軸Ａを物体が遮光しない状態
で、制御回路１０は、適宜のタイミングで受光素子９ｂ
の検出電圧Ｖｄに基づいてその２分の１の値を新たな基
準電圧ＶｓとしてＲＡＭ１３に記憶する。これにより、
常に、適切な基準電圧Ｖｓにより物体の有無の検出を行
なうことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被調理物の高さや付属
品の有無を検出する光センサを備えた加熱調理器に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】近年、所謂オーブングリルレンジ等の加
熱調理器においては、加熱室内に光センサを配設し、こ
の光センサの光軸を物体が遮光することをもって、加熱
室内に載置された食品等の被調理物の高さを検出した
り、或は中棚等の加熱調理用の付属品の有無を検出可能
にしたものがある。このような検出データは、マイクロ
コンピュータ等の制御回路において各種の調理条件を設
定或は変更等をするために利用される。

【０００３】この場合、光センサとしては、例えば、加
熱室内の対向する壁面部に投光素子および受光素子を対
向状態に設けて構成するもので、受光素子による受光レ
ベルが予め設定された判定レベルよりも低いときに、食
品や付属品等によりその光軸が遮光されたとしてそれら
の有無を判断するようになっている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、加熱室
内で加熱調理を繰り返すうちに、加熱される食品から発
生されるガス等により光センサに汚れが付着すると、投
光素子の投光量が低下したり、或は受光素子への入射光
量が低下することがある。すると、結果として受光素子
の受光レベルが低下することにより、光軸が遮光されて
いないにも拘らず受光レベルが判定レベルよりも低くな
ってしまい、誤検出により物体が存在すると判断してし
まう虞がある。

【０００５】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、光センサに汚れが付着すること等によ
る誤検出を極力低減することができる加熱調理器を提供
するにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は、加熱室内の被
調理物を加熱するための加熱手段と、前記加熱室内に設
けられた光センサと、判定レベルが記憶された判定レベ
ル設定手段と、前記光センサからの信号の受光レベルと
前記判定レベルとを比較することにより前記加熱室内に
載置される被調理物或は加熱調理用の付属品の有無を検
出する制御手段とを具備した加熱調理器を対象とするも
のであり、前記光センサの非検出状態での受光レベルの
高低に追随して前記判定レベルを変更設定する変更設定
手段を設けて構成したところに特徴を有する。

【０００７】

【作用】本発明の加熱調理器によれば、変更設定手段
は、光センサの非検出状態での受光レベルに追随して判
定レベルを変更設定するので、光センサに汚れ等が付着
して受光レベルが低下してきた場合でも、適切な判定レ
ベルが設定されているので、物体の有無を確実に検出す
ることができる。

【０００８】

【実施例】以下、本発明を電子レンジに適用した場合の
一実施例について、図面を参照しながら説明する。

【０００９】図３において、電子レンジ本体は、外箱
（図示せず）の内部に内箱１を配設して構成されてお
り、内箱１の内部を加熱室２としている。この加熱室２
の前面は開口され図示しない扉によって開閉されるよう
になっている。加熱室２の外底部にはターンテーブルモ
ータ３が配設されており、その回転軸３ａは加熱室２内
に突出している。そして、この回転軸３ａの突出端部に
はターンテーブル４が着脱可能に取り付けられている。

【００１０】加熱室２の右側に位置する機械室には加熱
手段たるマグネトロン５が配設され、このマグネトロン
５から発生されるマイクロ波は導波管６を介して加熱室
２内に導かれるようになっている。冷却ファン７は、マ
グネトロン５を冷却すると共に加熱室２内に外気を導入
する。加熱室２の機械室と反対側には排気ダクト８が配
設され、冷却ファン７により加熱室２内に導入された外
気はこの排気ダクト８を介して排出されるようになって
いる。

【００１１】さて、加熱室２の対向する側壁２ａ，２ｂ
には、それぞれ発光素子９ａ，受光素子９ｂが配設され
ており、これらにより透過形の光センサ９が構成されて
いる。この光センサ９は、発光素子９ａと受光素子９ｂ
とにより形成される光軸Ａを物体が遮ると、受光素子９
ｂに発光素子９ａからの光が入射しなくなることをもっ
て物体を検出するものである。

【００１２】従って、被調理物或は加熱調理用の付属品
等の物体により光軸Ａが遮光されると、その光軸Ａの高
さに物体があることが光センサ９により検出できるもの
で、調理条件等を設定するために必要な情報を得るため
に、所定の高さに配設しておくことにより加熱室２内に
載置された物の高さを検出するセンサとしての機能をも
つものである。

【００１３】次に、電気的構成の概略を示す図１におい
て、制御手段たる制御回路１０は、内部にＣＰＵ１１，
ＲＯＭ１２およびＲＡＭ１３を含んだ構成となってお
り、設定手段としての機能を兼ね備えている。制御回路
１０は、予め記憶されたプログラムに基づいて加熱調理
の制御を行なうもので、光センサ９を含んで構成される
センサ回路１４からの検出信号に基づいて物体の高さ或
は物体の有無を検出するようになっている。

【００１４】制御回路１０に接続されるＥＥＰＲＯＭ１
５は、制御回路１０によるデータの読み出しおよび書き
込みが可能な不揮発性メモリであり、判定レベル設定手
段としての機能を有する。表示器１６は、調理状態や条
件等を表示すると共に報知動作を表示により行なうもの
で、その入力端子は制御回路１０の出力端子に接続され
ている。

【００１５】キー入力部１７は、本体右側の前面に配設
されるもので、各種の調理条件設定等の設定入力を行な
うもので、その出力端子は制御回路１０に接続され、各
種信号を制御回路１０に与えるようになっている。ま
た、リレー回路１８は、制御回路１０に接続され、各種
駆動信号に応じて対応するリレーを駆動するようになっ
ている。

【００１６】さて、センサ回路１４は、図２に示すよう
に構成される。即ち、投光回路１４ａは、電源端子１９
から発光ダイオード（ＬＥＤ）等の発光素子９ａ，抵抗
２０，ｎｐｎ形のトランジスタ２０を介してアースされ
ており、トランジスタ２１のベースには制御回路１０か
ら入力端子Ｐを介してオンオフの投光信号が与えられ
る。受光回路１４ｂにおいては、電源端子１９からフォ
トトランジスタ等の受光素子９ｂ，抵抗２２を介してア
ースされており、受光素子９ｂおよび抵抗２２の共通接
続点が出力端子Ｑとして制御回路１０に接続されてい
る。

【００１７】次に、本実施例の作用について図４および
図５を参照して説明する。

【００１８】制御回路１０は、予め記憶されたプログラ
ムに従って各種の調理条件設定や、各種センサからの信
号を受け付けてそのデータに基づいて調理制御を行な
う。そして、光センサ９により加熱室２内の物体つまり
被調理物としての食品や加熱調理用の付属品等の有無を
検出する場合には次のようにして行なう。

【００１９】即ち、制御回路１０はトランジスタ２１の
ベースに投光信号を与え（図４（ａ）参照）発光素子９
ａに通電し、加熱室２内に投光する。このとき、加熱室
２内の光軸Ａが物体によって遮られていない状態であれ
ば、受光素子９ｂに光が入射することにより電流が流
れ、抵抗２２に電圧が発生する。これにより、出力端子
Ｑには図４（ｂ）に示すような検出電圧Ｖｄが現われ、
制御回路１０は、入力される検出電圧Ｖｄが判定レベル
としての基準電圧Ｖｓよりも高いことにより光軸Ａを遮
る物体はないことを判断できる。

【００２０】また、光軸Ａが物体により遮られている状
態であれば、受光素子９ｂには光が入射しないことによ
り図４（ｂ）の右側に示すように検出電圧Ｖｄは現われ
ない。これにより、制御回路１０は、入力される検出電
圧Ｖｄが基準電圧Ｖｓよりも低いことにより光軸Ａを遮
る物体があることを判断できる。

【００２１】尚、基準電圧Ｖｓは予めＥＥＰＲＯＭ１５
に記憶されているもので、その値は、投光素子９ａおよ
び受光素子９ｂが共に汚れ等が付着していない状態にお
いて、光軸Ａを遮光する物体が存在しないときに得られ
る受光素子９ｂの受光レベルの半分の値（図５（ａ）参
照）として記憶されいている。

【００２２】そして、制御回路１０は、ＥＥＰＲＯＭ１
５に記憶されている基準電圧Ｖｓのデータを電源が投入
された時点で読出して、ＲＡＭ１３に一時的に記憶して
おり、光センサ９からの検出電圧Ｖｄと比較する際に
は、ＲＡＭ１３から基準電圧Ｖｓのデータを読出して演
算を実行するようになっている。

【００２３】ところで、図４（ｂ）で示す受光素子９ｂ
が受光したときの検出電圧Ｖｄは、発光素子９ａおよび
受光素子９ｂが共に汚れていない状態のときに発生する
電圧であり、加熱調理を繰り返すことにより加熱室２内
に汚れが付着してくると、発光素子９ａの投光面部，受
光素子９ｂの受光面部も汚れてくる。すると、受光素子
９ｂへの入射光量が減ることになり、例えば、図５
（ｂ）に示すように、検出電圧Ｖｄが低下してくる。

【００２４】そこで、制御回路１０は、加熱室２内に被
調理物或は調理用の付属品等が何もない状態で、光セン
サ９の基準電圧Ｖｓを次のようにして変更する。即ち、
制御回路１０は、適宜のタイミングで、光センサ９によ
り検出された検出電圧Ｖｄを読み込んで、その検出電圧
Ｖｄの値の２分の１の値（図５（ｂ）参照）を新たな基
準電圧Ｖｓ′としてＲＡＭ１３に記憶する。

【００２５】そして、給電が停止されたり、動作電圧が
低下した場合には、制御回路１０は、動作不能となるま
での間に新たに記憶している基準電圧Ｖｓ′をＥＥＰＲ
ＯＭ１５に書き込んでそれまで記憶していた基準電圧Ｖ
ｓに代えて記憶させるようになっている。

【００２６】このような本実施例によれば、制御回路１
０により、初期値として記憶された基準電圧Ｖｓに対し
て、常に、光センサ９の汚れの付着状態に応じた適切な
基準電圧Ｖｓ′を新たに記憶保持するようにしたので、
物体の有無の検出を確実に実施することができる。

【００２７】また、本実施例によれば、給電が停止され
るときには、制御回路１０により、動作電源がなくなる
までの間にＥＥＰＲＯＭ１５に変更された基準電圧Ｖ
ｓ′を更新記憶させるので、次に給電を開始したときで
も光センサ９の汚れ状態に応じた適切な基準電圧Ｖｓ′
に基づいて検出動作が行なえる。

【００２８】尚、上記実施例においては、判定レベル設
定手段としてＥＥＰＲＯＭ１５を用いたが、これに限ら
ず、ＲＯＭ１２に記憶させておくようにしても良いし、
或は電源投入時に制御回路１０にプログラムにより基準
電圧Ｖｓを検出電圧Ｖｄに基づいてＲＡＭ１３に設定記
憶するようにしても良い。

【００２９】また、上記実施例においては、基準電圧Ｖ
ｓ，Ｖｓ′の値を検出電圧Ｖｄの値の２分の１の値とし
て設定するようにしたが、これに限らず、検出電圧Ｖｄ
とゼロの間の適宜な値として設定するようにしても良
い。

【００３０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の加熱調理
器によれば、変更設定手段により、光センサが遮光され
ていない状態での受光レベルに追随して判定レベルを変
更設定するようにしたので、光センサに汚れが付着する
等して受光レベルが低下してきた場合でも、常に適切な
判定レベルにより検出動作を実施でき、従って、物体の
有無を確実に検出できるという優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す電気的構成のブロック
図

【図２】光センサ回路の電気的構成図

【図３】全体構成の概略的な縦断正面図

【図４】光センサの投光信号および受光信号の説明図

【図５】光センサに汚れが付着した場合の受光信号の説
明図

【符号の説明】

１は内箱、２は加熱室、５はマグネトロン（加熱手
段）、９は光センサ、９ａは発光素子、９ｂは受光素
子、１０は制御回路（制御手段、変更設定手段）、１１
はＣＰＵ、１２はＲＯＭ、１３はＲＡＭ、１４はセンサ
回路、１５はＥＥＰＲＯＭ（判定レベル設定手段）であ
る。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 加熱室内の被調理物を加熱するための加
   熱手段と、前記加熱室内に設けられた光センサと、判定
   レベルが記憶された判定レベル設定手段と、前記光セン
   サからの信号の受光レベルと前記判定レベルとを比較す
   ることにより前記加熱室内に載置される被調理物或は加
   熱調理用の付属品の有無を検出する制御手段とを具備し
   た加熱調理器において、前記光センサの非検出状態での
   受光レベルの高低に追随して前記判定レベルを変更設定
   する変更設定手段を具備したことを特徴とする加熱調理
   器。