JPH05235071A - 樹脂封止金型 - Google Patents

樹脂封止金型

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Publication number
JPH05235071A
JPH05235071A JP3653692A JP3653692A JPH05235071A JP H05235071 A JPH05235071 A JP H05235071A JP 3653692 A JP3653692 A JP 3653692A JP 3653692 A JP3653692 A JP 3653692A JP H05235071 A JPH05235071 A JP H05235071A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
mold
lead frame
cavity
tie bar
Prior art date
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Pending
Application number
JP3653692A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Iino
清 飯野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
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Publication date
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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】リードフレームのタイバー部に付着する樹脂ば
りの発生をなくす。 【構成】下型の表面とリードフレーム3のタイバー部4
とリードと囲む空間部に下型7より突出する突起部6を
並べて配置し、キャビティ9に注入される溶融樹脂が前
記空間部に入り込まないように突起部6で阻止する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体素子が搭載された
リードフレームを上型と下型で挟み込み樹脂を注入し半
導体素子を樹脂封止する樹脂封止用金型に関する。
【0002】
【従来の技術】図2(a)及び(b)は従来の樹脂封止
用金型の一例を説明するための下型を示す平面図及び断
面図である。従来、この種の樹脂封止金型は、例えば、
図2に示すように、半導体素子5の樹脂外部体を成形す
るキャビティ9が形成されそのキャビティ9に樹脂を注
入するランナ8が形成される下型7と、図面には示さな
いが、この下型7と恊動してリードフレーム3を挟み、
下型7のキャビティ9と同様のキャビティが形成された
上型で構成されていた。
【0003】この樹脂封止金型で半導体素子5が搭載さ
れたリードフレーム3を樹脂封止する場合は、まず、半
導体素子5が搭載されたリードフレーム3を下型7に載
置する。次に、上型でリードフレーム3を挟み込み、溶
融樹脂をランナ8を介してキャビティ8に注入し、硬化
させてから成形された樹脂外部体を型より取外し、成形
を完了していた。このように樹脂封止する際に、キャビ
ティ8に注入された樹脂はリードフレーム3と型面との
隙間を通して流れ込み、リードフレーム3のタイバー部
4で溶融樹脂の流れを阻止していた。この結果、ハッチ
ングで示すように、樹脂の溜り部が生じ、樹脂ダム部と
称する樹脂ばりがリードフレーム3に付着することにな
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この従来の樹脂封止金
型で形成されるダム部の樹脂ばりは後工程であるタイバ
ー切断工程にて取除かなければならない。しかしながら
このダム部の樹脂ばりがその切断工程で完全に取除くこ
とは困難で、その更に後の工程である外部リード成形工
程で残った樹脂ばりでリードを曲げたり傷をつけたりす
る不具合が発生する。
【0005】本発明の目的は、かかる問題を解消すべ
く、樹脂ダム部における樹脂ばりの発生しない樹脂封止
金型を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の樹脂封止金型
は、半導体素子を樹脂封止する半導体装置の樹脂封止金
型において、リードフレームのタイバー部とリード部で
囲まれ前記下型の面とでなる空間部を塞ぐ複数の突起部
が前記下型の面に並べて形成されることを特徴としてい
る。
【0007】
【実施例】図1(a)及び(b)は本発明の樹脂封止金
型一例を示す平面図及び断面図である。この樹脂封止金
型は、図1に示すように、リードフレーム3のタイバー
部とリードフレーム3のリード部と囲みキャビティと通
ずる上型と下型7との空間部を埋める突起部6をキャビ
ティ8の周辺部に並べて下型7に設けたことである。
【0008】このように突起部6を設けることにより、
上型と下型7とでリードフレーム3を挟み込むときに生
ずるタイバー部4とリードで囲む空間部(樹脂ダム部)
を突起部6で塞ぐことになるのでキャビティ8に注入さ
れた溶融樹脂はこの突起部6に阻止され、リードフレー
ム3の樹脂ダム部に流れ込むことがない。また、この突
起部6を設けることにより、リードフレーム3の位置決
めが出来るので、従来、設けられていたゲートピンを不
要になる。
【0009】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、リードフ
レームのタイバー部とで囲まれキャビティと通ずる空間
部を埋める突起部を型の面上に並べて配置することによ
って、前記キャビティに溶融樹脂を注入する際に、キャ
ビティより流れ込む樹脂を前記突起部で阻止することが
出来るので、樹脂ダム部のばりの発生しない樹脂封止金
型が得られるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の樹脂封止金型の一実施例を説明するた
めの下型を示す平面図及び断面図である。
【図2】従来の樹脂封止金型の一例を説明するための下
型を示す平面図及び断面図である。
【符号の説明】
3 リードフレーム 4 タイバー部 5 半導体素子 6 突起部 7 下型 8 ランナ 9 キャビティ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上型と下型との間に半導体素子が搭載さ
    れたリードフレームを挟み前記半導体素子を樹脂封止す
    る半導体装置の樹脂封止金型において、リードフレーム
    のタイバー部とリード部で囲まれ前記下型の面とでなる
    空間部を塞ぐ複数の突起部が前記下型の面に並べて形成
    されることを特徴とする樹脂封止金型。
JP3653692A 1992-02-24 1992-02-24 樹脂封止金型 Pending JPH05235071A (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5217769A (en) * 1976-08-09 1977-02-09 Toshiba Corp Production method of semi-conductor device
JPS5844840B2 (ja) * 1977-12-29 1983-10-05 ゲウエルクシヤフト・アイゼンヒユツテ・ウエストフア−リア 液力自走支保用歩進機構

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5217769A (en) * 1976-08-09 1977-02-09 Toshiba Corp Production method of semi-conductor device
JPS5844840B2 (ja) * 1977-12-29 1983-10-05 ゲウエルクシヤフト・アイゼンヒユツテ・ウエストフア−リア 液力自走支保用歩進機構

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19980106