JPH05234926A - 半導体装置の拡散・反応装置 - Google Patents

半導体装置の拡散・反応装置

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JPH05234926A
JPH05234926A JP7016492A JP7016492A JPH05234926A JP H05234926 A JPH05234926 A JP H05234926A JP 7016492 A JP7016492 A JP 7016492A JP 7016492 A JP7016492 A JP 7016492A JP H05234926 A JPH05234926 A JP H05234926A
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JP
Japan
Prior art keywords
furnace core
core tube
tube
diffusion
heater
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Pending
Application number
JP7016492A
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English (en)
Inventor
Satoshi Kamino
聡 神埜
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP7016492A priority Critical patent/JPH05234926A/ja
Publication of JPH05234926A publication Critical patent/JPH05234926A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 炉芯管内壁への析出物の発生を抑え、排気管
が詰まるのも防ぐ。 【構成】 炉芯管2の排気側のキャップ8に炉芯管2の
内径よりも小さい外径をもち、ヒータ10にまで到達す
る長さの内管20を設け、炉芯管2と内管20の隙間に
は不活性ガス供給口22から不活性ガスを供給する。未
反応の混合ガス成分は内管20に析出し、炉芯管2には
発生しなくなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体ウエハに不純物を
拡散させたり、半導体膜や絶縁膜を堆積させるのに使用
する拡散・反応装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の拡散・反応装置は、図1に示され
るように炉芯管2の一端にガス流入口4、他端に排気管
6を有するキャップ8が設けられている。炉芯管2の外
側にはヒータ10が配置されており、炉芯管2内に半導
体ウエハ12が置かれ、ガス流入口4から導入される混
合ガスによってウエハ12に不純物が拡散したり、半導
体膜や絶縁膜が堆積させられる。
【0003】ヒータ10は炉芯管2の全長にわたって設
けられているのではなく、キャップ8をヒータ10を作
動させた状態で開閉してウエハ12を出し入れできるよ
うにするために、キャップ8がヒータ10から離れるよ
うに炉芯管2のキャップ8側はヒータ10から露出する
ように設計されている。
【0004】図1の拡散・反応装置では、炉芯管2のう
ちヒータ10から露出している部分の内壁に未反応の混
合ガス成分が析出物14として発生する。この析出物1
4はウエハ12上に異物が発生する原因となり、またキ
ャップ8が析出物14により炉芯管2に固着して外れな
くなるなどの問題が生じる。そこで、炉芯管内壁に析出
物が発生するのを防ぐために、図2に示されるように拡
散や薄膜堆積用の主ヒータ10以外に、炉芯管2のキャ
ップ8側部分を加熱する補助ヒータ16を更に設けるこ
とが提案されている(特開平2−306619号公報参
照)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】図2のように補助ヒー
タ16を設けた装置では、炉芯管2の内壁に析出物が発
生したりキャップ8が析出物で炉芯管2に固着する問題
はなくなるが、今度は析出物14はキャップ8に設けら
れている排気管6に発生して排気管6が詰まったり、キ
ャップ8が高温になるためにウエハ12を出し入れする
際のキャップ8の開閉操作をする上で問題が生じてく
る。本発明は炉芯管内壁への析出物の発生を抑えるとと
もに、排気管が詰まったりキャップの取扱いに問題が生
じるのを防ぐことのできる拡散・反応装置を提供するこ
とを目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明では、炉芯管のガ
ス排出側を炉芯管と内管との二重管構造とし、内管をガ
ス排出口のキャップからヒータ部分にまで到達する長さ
とする。好ましい態様では、炉芯管と内管の間に炉芯管
内の混合ガスの流れの方向と反対方向に不活性ガスを流
す。さらに好ましい態様では、内管の先端開口部が炉芯
管の壁面方向へ広がっている。
【0007】
【作用】炉芯管のガス排出側が二重管構造になっている
と、未反応の混合ガス成分の析出物は内管に発生し、炉
芯管には発生しなくなる。内管に発生した析出物は内管
とともに除去することができる。炉芯管と内管の間に不
活性ガスを流すと、炉芯管と内管との間に未反応の混合
ガスが侵入するのを防いで、炉芯管への析出物の発生を
一層効果的に防ぐことができる。内管の先端開口部が炉
芯管の壁面方向へ広がっていると、内管の先端で炉芯管
と内管のすき間が狭くなって不活性ガスの流速が速くな
り、炉芯管と内管との間に未反応の混合ガスが侵入する
のをさらに効果的に防ぐことができる。
【0008】
【実施例】図3は第1の実施例を表わす。図1と同一部
分には同一の記号を用いる。炉芯管2の一端にガス流入
口4、他端に排気管6を有するキャップ8が設けられて
いる。炉芯管2の外側にはヒータ10が配置されてお
り、炉芯管2内に半導体ウエハ12が置かれ、ガス流入
口4から導入される混合ガスによってウエハ12に不純
物が拡散したり、半導体膜や絶縁膜が堆積させられる。
【0009】炉芯管2の排気側はヒータ10から露出し
ている。キャップ8には炉芯管2の内径よりも小さい外
径をもち、ヒータ10にまで到達する長さの内管20が
設けられている。内管20が設けられている部分の炉芯
管2には不活性ガス供給口22が設けられ、炉芯管2と
内管20のすき間に窒素やアルゴンなどの不活性ガスが
供給される。その不活性ガスは炉芯管2内を流れる混合
ガスと逆方向に流れてウエハ12よりも排気管側で未反
応の混合ガスと合流して排気管6から排気される。
【0010】炉芯管2内に配置された半導体ウエハ12
にリンを拡散する場合を例にすると、ガス流入口4から
はPOCl3が窒素及び酸素とともに供給され、ウエハ
12の付近の温度はヒータ10によって900℃程度に
加熱される。炉芯管2のうちヒータ10から露出してい
る排気側部分の温度はウエハ部分に比べて低くなってい
るため、排気側部分では未反応の混合ガス成分が析出物
14として析出するが、炉芯管2と内管20のすき間に
は不活性ガスが流れているので、析出物14は炉芯管2
の内壁には発生せず、内管20の内壁に発生する。
【0011】ウエハ12に対する拡散や薄膜堆積終了
後、ウエハ12を取り出すときはキャップ8とともに内
管20も取り外されるので、ウエハ12や、ウエハ12
を保持しているボートに析出物14が付着することはな
い。内管20に生成した析出物14はキャップ8ととも
に炉芯管2から取り外した状態で洗浄することができる
ので、洗浄は容易である。内管20が取りつけられたキ
ャップ8を複数個用意しておけば、汚れた内管20を洗
浄している間は他の内管付きのキャップを使用するよう
にすることにより、析出物14のない状態で拡散や薄膜
堆積を続けることができる。不活性ガス流入口22から
供給する不活性ガスの流量は、炉芯管2内でガス流入口
4から供給される混合ガスよりも小さく、ウエハ12付
近の混合ガスの流れを乱さない程度とする。
【0012】図4は他の実施例を示したものである。図
3の実施例と比較すると、内管20の先端開口部24が
炉芯管2の壁面方向へ広がっている点で相違している。
内管20の開口部24がこのように炉芯管内壁方向へ広
がることにより、その先端開口部24では炉芯管2と内
管20のすき間が狭くなって不活性ガスの流速が速くな
り、未反応の混合ガスが炉芯管2と内管20とのすき間
へ侵入することがより少なくなって炉芯管内壁への析出
物発生をより有効に阻止することができる。また、不活
性ガス流量を小さくすることもできるので、不活性ガス
の消費量が少なくてすむ。
【0013】
【発明の効果】本発明では炉芯管内で析出物が発生する
部分に内管を設け、析出物を内管に発生させるようにし
たので、炉芯管には析出物は発生せず、半導体ウエハへ
の異物発生の原因を除くことができる。炉芯管と排気側
キャップとの接触部への析出物の発生もなくなるため、
キャップが炉芯管に固着することもない。排気管に析出
物が発生することもなく、排気管が詰まる問題も起こら
ない。ヒータにより高温に加熱されるのは内管の先端部
のみであり、キャップ全体が高温に加熱されることはな
いので、キャップの取扱いに支障をきたすこともない。
炉芯管と内管の間に不活性ガスを流すと、炉芯管と内管
との間に未反応の混合ガスが侵入するのを防いで、炉芯
管への析出物の発生を一層効果的に防ぐことができる。
内管の先端開口部が炉芯管の壁面方向へ広がっている
と、内管の先端で炉芯管と内管のすき間が狭くなって不
活性ガスの流速が速くなり、炉芯管と内管との間に未反
応の混合ガスが侵入するのをさらに効果的に防ぐことが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の拡散・反応装置を示す概略断面図であ
る。
【図2】提案されている拡散・反応装置を示す概略断面
図である。
【図3】本発明の一実施例を示す概略断面図である。
【図4】本発明の他の実施例を示す概略断面図である。
【符号の説明】
2 炉芯管 4 ガス流入口 6 排気管 8 キャップ 10 ヒータ 12 半導体ウエハ 14 析出物 20 内管 22 不活性ガス流入管 24 内管先端開口部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ヒータにより加熱される炉芯管内に半導
    体材料が設置され、前記炉芯管の一端から混合ガスが供
    給されて前記半導体材料への不純物拡散又は薄膜堆積が
    行なわれる拡散・反応装置において、前記炉芯管内のガ
    ス排出側には排気口が設けられているキャップに取りつ
    けられ、炉芯管の内径よりも小さい外径をもち、前記ヒ
    ータ部分にまで到達する長さの内管を設けたことを特徴
    とする拡散・反応装置。
  2. 【請求項2】 前記炉芯管と前記内管の間に、炉芯管内
    の混合ガスの流れの方向と反対方向に前記混合ガスの侵
    入を防ぐ不活性ガスを流す請求項1に記載の拡散・反応
    装置。
  3. 【請求項3】 前記内管の先端開口部が炉芯管の壁面方
    向へ広がっている請求項2に記載の拡散・反応装置。
JP7016492A 1992-02-19 1992-02-19 半導体装置の拡散・反応装置 Pending JPH05234926A (ja)

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JP7016492A JPH05234926A (ja) 1992-02-19 1992-02-19 半導体装置の拡散・反応装置

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JP7016492A JPH05234926A (ja) 1992-02-19 1992-02-19 半導体装置の拡散・反応装置

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JPH05234926A true JPH05234926A (ja) 1993-09-10

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ID=13423641

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JP7016492A Pending JPH05234926A (ja) 1992-02-19 1992-02-19 半導体装置の拡散・反応装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013500391A (ja) * 2009-07-30 2013-01-07 タタ、スティール、アイモイデン、ベスローテン、フェンノートシャップ 超低炭素鋼スラブ、ストリップ又はシートの製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2013500391A (ja) * 2009-07-30 2013-01-07 タタ、スティール、アイモイデン、ベスローテン、フェンノートシャップ 超低炭素鋼スラブ、ストリップ又はシートの製造方法

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