JPH05233130A - 座標読取装置 - Google Patents
座標読取装置Info
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- JPH05233130A JPH05233130A JP3461092A JP3461092A JPH05233130A JP H05233130 A JPH05233130 A JP H05233130A JP 3461092 A JP3461092 A JP 3461092A JP 3461092 A JP3461092 A JP 3461092A JP H05233130 A JPH05233130 A JP H05233130A
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- JP
- Japan
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- coordinate
- reading device
- pen
- coil
- conductor loop
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ペン１の傾きによって、読み取り位置ずれが
生じない座標読み取り装置を提供する。 【構成】 発振源としてのコイルを内蔵したペンと、上
記ペンの指示位置を検出する為に入力平面に平行して設
けられた複数の導体ループ群からなるタブレット基板を
有し、入力平面をタブレット基板からある適当な高さの
位置に配する。入力平面とタブレット基板の距離はペン
の先端からコイルまでの距離と検出ループの大きさとに
よって決定される。
生じない座標読み取り装置を提供する。 【構成】 発振源としてのコイルを内蔵したペンと、上
記ペンの指示位置を検出する為に入力平面に平行して設
けられた複数の導体ループ群からなるタブレット基板を
有し、入力平面をタブレット基板からある適当な高さの
位置に配する。入力平面とタブレット基板の距離はペン
の先端からコイルまでの距離と検出ループの大きさとに
よって決定される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は座標指示器であるペンの
傾きの影響を受けない座標読取装置に関するものであ
る。
傾きの影響を受けない座標読取装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】 近年、座標読取装置の中
でも電磁誘導方式のものが分解能等の面で注目されてい
る。
でも電磁誘導方式のものが分解能等の面で注目されてい
る。
【０００３】この電磁誘導方式の座標読取装置の外観は
図１０に示すように位置を指示するためのペン１とこの
ペン１によって生じた磁界を検出するタブレット基板４
とから構成される。ペン１の内部に内蔵されるコイル２
はペン先から１〜２cm程度のところに設けられているた
めに、ペン１の傾斜角度によってタブレット基板４上の
磁束は変化する。このときのタブレット基板４上での磁
束の様子は図１１に示すように、そのピーク位置はペン
１を傾けた方向にその角度に応じて移動する。このた
め、最大出力を指示位置とする方法では、検出位置と指
示位置の間にずれを生じていた。
図１０に示すように位置を指示するためのペン１とこの
ペン１によって生じた磁界を検出するタブレット基板４
とから構成される。ペン１の内部に内蔵されるコイル２
はペン先から１〜２cm程度のところに設けられているた
めに、ペン１の傾斜角度によってタブレット基板４上の
磁束は変化する。このときのタブレット基板４上での磁
束の様子は図１１に示すように、そのピーク位置はペン
１を傾けた方向にその角度に応じて移動する。このた
め、最大出力を指示位置とする方法では、検出位置と指
示位置の間にずれを生じていた。
【０００４】従来は、このペンの傾きによる位置ずれを
解決するために、補正を行うことによって正しい指示位
置を得る工夫が為されていた。
解決するために、補正を行うことによって正しい指示位
置を得る工夫が為されていた。
【０００５】例えば、特開昭６１−１２０２３１号公報
のように、同一使用者においてはペンの傾きはさほど変
化しないと仮定して、表示位置と指示位置との差を予め
補正しておき、検出位置からこの位置ずれ量を差し引く
ことによって指示位置と表示位置を一致させるようにし
たものがある。
のように、同一使用者においてはペンの傾きはさほど変
化しないと仮定して、表示位置と指示位置との差を予め
補正しておき、検出位置からこの位置ずれ量を差し引く
ことによって指示位置と表示位置を一致させるようにし
たものがある。
【０００６】また、特開平２ー２３０３１２号公報のよ
うに、２つのコイルを内蔵したペンを用いて、各コイル
による磁束を検出して得られたデータをもとに、ペン先
座標を算定する事により、ペン傾きによる位置ずれを補
正したものもある。
うに、２つのコイルを内蔵したペンを用いて、各コイル
による磁束を検出して得られたデータをもとに、ペン先
座標を算定する事により、ペン傾きによる位置ずれを補
正したものもある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記第
１の従来例のような方法をとる場合、使用を始めるに際
して表示位置とペン先が一致するように位置補正を行う
必要がある。このことは操作性の面において問題を残
す。
１の従来例のような方法をとる場合、使用を始めるに際
して表示位置とペン先が一致するように位置補正を行う
必要がある。このことは操作性の面において問題を残
す。
【０００８】また、第２の従来例のように得られたデー
タを用いて傾きによる位置ずれを補正する方法では、そ
の位置の補正のために更に余分な回路が必要となる。
タを用いて傾きによる位置ずれを補正する方法では、そ
の位置の補正のために更に余分な回路が必要となる。
【０００９】本発明は上記課題に鑑み、何等の調整無し
で、また位置ずれのための補正回路を必要としない座標
読取装置を提供するものである。
で、また位置ずれのための補正回路を必要としない座標
読取装置を提供するものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の座標読取装置は、座標指示器として使用され
るコイルを内蔵したペンと、計測対象軸方向と直行する
短冊状の導体ループを複数配したタブレット基板をペン
の先端の移動する入力平面と平行に置いたタブレットと
によって構成される電磁誘導型の座標読取装置におい
て、入力平面とタブレット基板との間に空隙を設け、こ
の空隙の幅をペンの先端から実質的なコイル中心までの
距離と計測対象軸方向の導体ループの幅とによって決定
する。
に本発明の座標読取装置は、座標指示器として使用され
るコイルを内蔵したペンと、計測対象軸方向と直行する
短冊状の導体ループを複数配したタブレット基板をペン
の先端の移動する入力平面と平行に置いたタブレットと
によって構成される電磁誘導型の座標読取装置におい
て、入力平面とタブレット基板との間に空隙を設け、こ
の空隙の幅をペンの先端から実質的なコイル中心までの
距離と計測対象軸方向の導体ループの幅とによって決定
する。
【００１１】
【作用】本発明は上記した構成によって検出される信号
のピーク位置がペンの角度とは無関係にペン先の座標と
一致する。このため、特別な補正手段を必要とする事な
くペン先の座標を得ることができる。
のピーク位置がペンの角度とは無関係にペン先の座標と
一致する。このため、特別な補正手段を必要とする事な
くペン先の座標を得ることができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明による第１の実施例の座標読取
装置について説明する。
装置について説明する。
【００１３】図１が本実施例の模式図である。構成上は
従来の位置読取装置とは、入力平面３とセンサー面の間
に適当な空隙を設けた点が異なる。
従来の位置読取装置とは、入力平面３とセンサー面の間
に適当な空隙を設けた点が異なる。
【００１４】本発明の座標読取装置は次のように動作す
る。ペン１内のコイル２に発振器６により交流電流を流
し、交流磁界を発生させる。タブレット基板４上の複数
の導体ループを順にアクセスして導体ループ内に生じる
誘導電流を検出器５によって測定し、導体ループ内を貫
く磁束の大きさを検出する。指示位置は測定点中の最大
点位置となる。
る。ペン１内のコイル２に発振器６により交流電流を流
し、交流磁界を発生させる。タブレット基板４上の複数
の導体ループを順にアクセスして導体ループ内に生じる
誘導電流を検出器５によって測定し、導体ループ内を貫
く磁束の大きさを検出する。指示位置は測定点中の最大
点位置となる。
【００１５】ここでは、本発明の特徴である入力平面３
とタブレット基板４の間に適当な空隙を設けることによ
って位置ずれの生じない座標読取装置が構成できること
を、図１及び図２を用いて説明する。
とタブレット基板４の間に適当な空隙を設けることによ
って位置ずれの生じない座標読取装置が構成できること
を、図１及び図２を用いて説明する。
【００１６】図１において、ペン１の先端を原点とし、
入力平面３をｘ−ｚ平面、ｘ−ｙ平面内にペン１を含む
座標系を座標系ｘｙｚとする。タブレット基板４内の導
体ループはｚ軸方向に長く延びているものとする。ｘ−
ｚ平面からみたペン１の仰角をθ、ペン１の先端からコ
イル２までの距離をｒ、入力平面３からタブレット基板
４までの距離をｈ、導体ループのｘ方向の長さを２ｗと
する。
入力平面３をｘ−ｚ平面、ｘ−ｙ平面内にペン１を含む
座標系を座標系ｘｙｚとする。タブレット基板４内の導
体ループはｚ軸方向に長く延びているものとする。ｘ−
ｚ平面からみたペン１の仰角をθ、ペン１の先端からコ
イル２までの距離をｒ、入力平面３からタブレット基板
４までの距離をｈ、導体ループのｘ方向の長さを２ｗと
する。
【００１７】また計算を進める上で、センサー面上に任
意に１点Ｐ（ｘ，ｙ，ｚ）をとり、コイル２の中心と点
Ｐからなる直線とペン１との為す角度をφとする。
意に１点Ｐ（ｘ，ｙ，ｚ）をとり、コイル２の中心と点
Ｐからなる直線とペン１との為す角度をφとする。
【００１８】更に式を簡略化するため、原点Ｏをコイル
２の中心Ｃに平行移動した座標系ＸＹＺを設定して計算
を進める。
２の中心Ｃに平行移動した座標系ＸＹＺを設定して計算
を進める。
【００１９】まず、タブレット基板４上の任意の点Ｐ
（Ｘ，Ｙ，Ｚ）のコイル２による磁位Ｕ は、
（Ｘ，Ｙ，Ｚ）のコイル２による磁位Ｕ は、
【００２０】
【数４】
【００２１】として表すことができる。ここに示したＫ
は、コイルに流す電流Ｉと、コイルの作る面積ｄＳによ
って与えられる定数であるが、簡単の為、以下１として
扱う。
は、コイルに流す電流Ｉと、コイルの作る面積ｄＳによ
って与えられる定数であるが、簡単の為、以下１として
扱う。
【００２２】この勾配がその点における磁界強度である
ので、センサー面と垂直なＹ方向磁界成分 Ｈy は、
ので、センサー面と垂直なＹ方向磁界成分 Ｈy は、
【００２３】
【数５】
【００２４】となる。導体ループを通過する磁束を求め
るには、導体ループによって囲まれる面において磁束密
度を積分すればよい。Ｚ軸方向に −∞ 〜 ＋∞、Ｘ軸
方向に Ｘ−ｗ〜 Ｘ＋ｗ の範囲で積分を行うものとす
る。
るには、導体ループによって囲まれる面において磁束密
度を積分すればよい。Ｚ軸方向に −∞ 〜 ＋∞、Ｘ軸
方向に Ｘ−ｗ〜 Ｘ＋ｗ の範囲で積分を行うものとす
る。
【００２５】磁束をΦにて表すことにすれば、
【００２６】
【数６】
【００２７】となる。なお、座標系ｘｙｚと座標系ＸＹ
Ｚの間には
Ｚの間には
【００２８】
【数７】
【００２９】の関係があるので（数６）にて得られた結
果にこれを代入することによってペン１の先端を原点と
した座標系ｘｙｚにて磁束を表すことができる。
果にこれを代入することによってペン１の先端を原点と
した座標系ｘｙｚにて磁束を表すことができる。
【００３０】導体ループ幅の半分の長さｗをｒと等しく
し、入力平面３とタブレット基板４の距離ｈをｒの１．
２５倍として、導体ループを通過する磁束Φのペンの傾
き角度θ依存性を示したものが図２である。
し、入力平面３とタブレット基板４の距離ｈをｒの１．
２５倍として、導体ループを通過する磁束Φのペンの傾
き角度θ依存性を示したものが図２である。
【００３１】この結果からも判断できるように入力平面
３とタブレット基板４の距離ｈとｗとを適当な値に設定
することによって、ペンの先端の指す座標がペン１の傾
きに余り依存しなくなる。
３とタブレット基板４の距離ｈとｗとを適当な値に設定
することによって、ペンの先端の指す座標がペン１の傾
きに余り依存しなくなる。
【００３２】通常、鉛筆やペンを用いて記入する際、そ
の角度は人によって様々であるが、その多くは３０度か
ら７０度程度の角度で記入する。ここでは、この範囲内
で標準傾き角度を設定して、次式を満足するｒ、ｈ、ｗ
に設定する。
の角度は人によって様々であるが、その多くは３０度か
ら７０度程度の角度で記入する。ここでは、この範囲内
で標準傾き角度を設定して、次式を満足するｒ、ｈ、ｗ
に設定する。
【００３３】
【数８】
【００３４】傾き角度θ＝６０度、ψ＝０度とした場合
の、ｈ／ｒ、ｗ／ｒの関係を図３の実線で示す。θは３
０度から７０度の任意の範囲で選べば良いが、最も標準
的と思われる６０度にて調べた。
の、ｈ／ｒ、ｗ／ｒの関係を図３の実線で示す。θは３
０度から７０度の任意の範囲で選べば良いが、最も標準
的と思われる６０度にて調べた。
【００３５】以上のように本実施例によれば、磁界発生
源としてのコイルを内蔵したペンと、上記ペンの指示位
置を検出する為に入力平面に平行して設けられた複数の
導体ループ群からなるタブレット基板から構成される座
標読取装置において、入力平面とタブレット基板との間
に適当な空隙を設けることによって、ペンの傾きに依存
することなく、検出する磁束のピーク位置とペンの先端
部の指す位置を一致させることできる。
源としてのコイルを内蔵したペンと、上記ペンの指示位
置を検出する為に入力平面に平行して設けられた複数の
導体ループ群からなるタブレット基板から構成される座
標読取装置において、入力平面とタブレット基板との間
に適当な空隙を設けることによって、ペンの傾きに依存
することなく、検出する磁束のピーク位置とペンの先端
部の指す位置を一致させることできる。
【００３６】さて図３において、ｗの取り得る範囲が広
範囲にわたっていることがわかるが図中左の部分を使う
ほどに読取対象領域外に配置しなければならない導体ル
ープの面積を小さく制限することが可能になる。即ち、
タブレット基板の置かれる位置を入力平面に対して深く
することによって、導体ループの幅ｗを短くすることが
できる。但し、コイルと検出導体ループの距離が大きく
なること、また導体ループの面積が小さくなることから
信号強度が弱くなるので注意する必要がある。
範囲にわたっていることがわかるが図中左の部分を使う
ほどに読取対象領域外に配置しなければならない導体ル
ープの面積を小さく制限することが可能になる。即ち、
タブレット基板の置かれる位置を入力平面に対して深く
することによって、導体ループの幅ｗを短くすることが
できる。但し、コイルと検出導体ループの距離が大きく
なること、また導体ループの面積が小さくなることから
信号強度が弱くなるので注意する必要がある。
【００３７】以上のように信号強度が十分と思われる範
囲内でｗを小さく設定することによって有効面積比の非
常に大きいタブレットを得ることができる。
囲内でｗを小さく設定することによって有効面積比の非
常に大きいタブレットを得ることができる。
【００３８】また逆に、座標読取有効領域外にスイッチ
などの部品を配置するとした場合、ｗをその大きさ程度
に設定することによって、省電力、かつ小型の座標読取
装置を得ることができる。
などの部品を配置するとした場合、ｗをその大きさ程度
に設定することによって、省電力、かつ小型の座標読取
装置を得ることができる。
【００３９】次に、本発明による第２の実施例による座
標読取装置について説明する。図４が第２の実施例によ
る座標読取装置の構成図である。２次元の座標を検出す
るためにこの座標入力装置は第１の実施例で述べたタブ
レット基板が２枚平行に配置される。
標読取装置について説明する。図４が第２の実施例によ
る座標読取装置の構成図である。２次元の座標を検出す
るためにこの座標入力装置は第１の実施例で述べたタブ
レット基板が２枚平行に配置される。
【００４０】２次元の座標入力装置の場合、原理的にｘ
座標を検出するためのタブレット基板４１とｙ座標を検
出するためのタブレット基板４２の入力平面からの距離
は異なる。ペン１の先端からコイル２までの距離は変わ
らないので、２つのタブレット基板上の導体ループ幅２
ｗを同じにすると位置ずれが生じてしまう。入力面に近
いタブレット基板上に配置された導体ループの幅２ｗを
もう一方のそれより長くする。
座標を検出するためのタブレット基板４１とｙ座標を検
出するためのタブレット基板４２の入力平面からの距離
は異なる。ペン１の先端からコイル２までの距離は変わ
らないので、２つのタブレット基板上の導体ループ幅２
ｗを同じにすると位置ずれが生じてしまう。入力面に近
いタブレット基板上に配置された導体ループの幅２ｗを
もう一方のそれより長くする。
【００４１】以上のように導体ループの幅を上下のタブ
レット基板で変えることによって、位置ずれの小さい２
次元の座標読取装置を得ることができる。
レット基板で変えることによって、位置ずれの小さい２
次元の座標読取装置を得ることができる。
【００４２】尚、１枚の基板の表裏に導体ループを構成
する事も可能である。次に、本発明による第３の実施例
の座標読取装置について説明する。
する事も可能である。次に、本発明による第３の実施例
の座標読取装置について説明する。
【００４３】概略図を図５に掲げる。このような２次元
の座標読取装置の場合には、必ずと言ってよいほどペン
１はｘ−ｙ平面に対して傾いている。ペンをｘ−ｚ平面
に投影した直線とｘ−ｙ平面の為す角度をψとすると
き、導体ループにて検出される磁束Φは
の座標読取装置の場合には、必ずと言ってよいほどペン
１はｘ−ｙ平面に対して傾いている。ペンをｘ−ｚ平面
に投影した直線とｘ−ｙ平面の為す角度をψとすると
き、導体ループにて検出される磁束Φは
【００４４】
【数９】
【００４５】となる。２次元の座標読取装置の場合、ｘ
軸とｙ軸の双方のことを考えてψ＝４５度においてこの
位置ずれが最小になるようにすると、全体として位置ず
れの小さい座標読取装置を得ることができる。
軸とｙ軸の双方のことを考えてψ＝４５度においてこの
位置ずれが最小になるようにすると、全体として位置ず
れの小さい座標読取装置を得ることができる。
【００４６】この場合のｒ、ｈ、ｗは次式に従う。
【００４７】
【数１０】
【００４８】図３点線にて、θ＝６０度、ψ＝４５度と
した場合のｈ／ｒ、ｗ／ｒの関係を記す。
した場合のｈ／ｒ、ｗ／ｒの関係を記す。
【００４９】以上のように本実施例によれば、ｘ−ｙ面
に対して４５度傾いた平面内にペンがあるものと仮定し
てｈ、ｗ、ｒの値を決定することによって総合的に位置
ずれの小さい座標読取装置を得ることができる。
に対して４５度傾いた平面内にペンがあるものと仮定し
てｈ、ｗ、ｒの値を決定することによって総合的に位置
ずれの小さい座標読取装置を得ることができる。
【００５０】次に、第４の実施例の座標読取装置につい
て説明する。この実施例の構成図は図６のようになり、
入力平面３とタブレット基板４の間に適当な空隙が設け
られる。ほぼ第１の実施例と似ているが、検出器５と発
振器６の位置が入れ替わる。まず、タブレット基板４上
の複数の導体ループを順次選択して、発振器５により電
流を流す。この交流電流によってペン１を貫く磁束が変
化し、この磁束変化を検出器５にて検出することによっ
てペンの指示する座標を検出する。
て説明する。この実施例の構成図は図６のようになり、
入力平面３とタブレット基板４の間に適当な空隙が設け
られる。ほぼ第１の実施例と似ているが、検出器５と発
振器６の位置が入れ替わる。まず、タブレット基板４上
の複数の導体ループを順次選択して、発振器５により電
流を流す。この交流電流によってペン１を貫く磁束が変
化し、この磁束変化を検出器５にて検出することによっ
てペンの指示する座標を検出する。
【００５１】以下、空隙を加えることによって、指示位
置と検出位置に差が生じないことを示す。
置と検出位置に差が生じないことを示す。
【００５２】座標系は第１の実施例と同様にとる。する
と、導体ループの発生する磁界は、
と、導体ループの発生する磁界は、
【００５３】
【数１１】
【００５４】のようになる。よってペン内のコイルを貫
く磁束Φは、
く磁束Φは、
【００５５】
【数１２】
【００５６】となる。適当な空隙を設けた場合とそうで
ない場合の磁束Φのペン傾き角度依存性を図７に示す。
図７（ｂ）は本実施例の座標読取装置の出力の特性図、
図７（ａ）は入力面ガラスの厚さ等により定められた従
来の座標読取装置の一例の出力の特性図である。
ない場合の磁束Φのペン傾き角度依存性を図７に示す。
図７（ｂ）は本実施例の座標読取装置の出力の特性図、
図７（ａ）は入力面ガラスの厚さ等により定められた従
来の座標読取装置の一例の出力の特性図である。
【００５７】この場合も同様に入力平面３とタブレット
基板４の距離ｈとｗとを適当な値に設定することによっ
て検出する信号のピーク位置をペンの傾き角度θとは無
関係にペンの先端の指す座標に合わせることができる。
基板４の距離ｈとｗとを適当な値に設定することによっ
て検出する信号のピーク位置をペンの傾き角度θとは無
関係にペンの先端の指す座標に合わせることができる。
【００５８】この場合のｒ、ｈ、ｗは次式に従う。
【００５９】
【数１３】
【００６０】更に、本発明による第５の実施例について
説明する。本実施例の座標読取装置の構成図を図８に示
す。入力平面３とタブレット基板４の間には適当な空隙
が設けられる。導体ループを駆動ループと検出ループの
両方に使用し、これを選択するための選択器６を設けた
点が第１の実施例と異なる。
説明する。本実施例の座標読取装置の構成図を図８に示
す。入力平面３とタブレット基板４の間には適当な空隙
が設けられる。導体ループを駆動ループと検出ループの
両方に使用し、これを選択するための選択器６を設けた
点が第１の実施例と異なる。
【００６１】まず、タブレット基板４上の複数の導体ル
ープを順次選択して、発振器６によって電流を流す。こ
の交流電流によってペン１を貫く磁束が変化し、この磁
束変化によってコイル２に誘導電流が生じる。次に選択
器６を切り替えて、導体ループに電流を流すのを止め
る。例えばコイル２で共振回路が組まれており、導体ル
ープの電流を止めた後も共振により電流は流れ続ける。
コイル２を流れる電流による導体ループの磁束変化を検
出し、その最大位置をもって指示位置とする。
ープを順次選択して、発振器６によって電流を流す。こ
の交流電流によってペン１を貫く磁束が変化し、この磁
束変化によってコイル２に誘導電流が生じる。次に選択
器６を切り替えて、導体ループに電流を流すのを止め
る。例えばコイル２で共振回路が組まれており、導体ル
ープの電流を止めた後も共振により電流は流れ続ける。
コイル２を流れる電流による導体ループの磁束変化を検
出し、その最大位置をもって指示位置とする。
【００６２】このとき、導体ループを貫く磁束Φは、
（数６）及び（数１０）の積となる。同じように、適当
な空隙を設けた場合と設けない場合の磁束Φのペン傾き
角度依存性を図９に示す。図７（ｂ）は本実施例の座標
読取装置の出力の特性図、図７（ａ）が入力面ガラスの
厚さ等により定められた従来の座標読取装置の一例の出
力の特性図である。
（数６）及び（数１０）の積となる。同じように、適当
な空隙を設けた場合と設けない場合の磁束Φのペン傾き
角度依存性を図９に示す。図７（ｂ）は本実施例の座標
読取装置の出力の特性図、図７（ａ）が入力面ガラスの
厚さ等により定められた従来の座標読取装置の一例の出
力の特性図である。
【００６３】この場合も同様に入力平面３とタブレット
基板４の距離ｈとｗとを適当な値に設定することによっ
て検出する信号のピーク位置をペンの傾き角度θとは無
関係にペンの先端の指す座標に合わせることができる。
基板４の距離ｈとｗとを適当な値に設定することによっ
て検出する信号のピーク位置をペンの傾き角度θとは無
関係にペンの先端の指す座標に合わせることができる。
【００６４】また、ピーク位置の検出に際しては、単に
最大値を示す点をピーク位置とする事ができるが、最大
点付近の３点から計算することによって、高精度な座標
検出をする事もできる。
最大値を示す点をピーク位置とする事ができるが、最大
点付近の３点から計算することによって、高精度な座標
検出をする事もできる。
【００６５】例えばピーク値付近では２次曲線とみなす
ことができ、 Φ（ｘ）＝α＋βｘ2 で表されるものとする。中心点から最大点までの位置の
ずれをｔ、計測点間隔をδ、測定値をΦ-1、Φ0、Φ1と
すれば、この位置ずれｔは、
ことができ、 Φ（ｘ）＝α＋βｘ2 で表されるものとする。中心点から最大点までの位置の
ずれをｔ、計測点間隔をδ、測定値をΦ-1、Φ0、Φ1と
すれば、この位置ずれｔは、
【００６６】
【数１４】
【００６７】にて示すことができる。このようにして、
検出点間隔よりも小さい精度にて高精度に座標の検出を
行うことも可能である。
検出点間隔よりも小さい精度にて高精度に座標の検出を
行うことも可能である。
【００６８】更に、この生じた空隙を利用してペンの軌
跡を表示するためのＬＣＤ等をおくことによって、更に
使い勝手のよい座標検出装置を得ることができる。
跡を表示するためのＬＣＤ等をおくことによって、更に
使い勝手のよい座標検出装置を得ることができる。
【００６９】
【発明の効果】以上のように本発明は、座標指示器とし
て使用されるコイルを内蔵したペンと、計測対象軸方向
と直行する短冊状の導体ループを複数配したタブレット
基板をペンの先端の移動する入力平面と平行に置いたタ
ブレットとによって構成される電磁誘導型の座標読取装
置において、上記ペンの先端から実質的な上記コイル中
心までの距離ｒに応じて、上記入力平面と上記タブレッ
ト基板の距離ｈと、計測対象軸方向の上記導体ループの
幅２ｗを適当な値に設定することによって、ペンの傾き
に依存することなく、正しい指示位置を得ることができ
る。
て使用されるコイルを内蔵したペンと、計測対象軸方向
と直行する短冊状の導体ループを複数配したタブレット
基板をペンの先端の移動する入力平面と平行に置いたタ
ブレットとによって構成される電磁誘導型の座標読取装
置において、上記ペンの先端から実質的な上記コイル中
心までの距離ｒに応じて、上記入力平面と上記タブレッ
ト基板の距離ｈと、計測対象軸方向の上記導体ループの
幅２ｗを適当な値に設定することによって、ペンの傾き
に依存することなく、正しい指示位置を得ることができ
る。
【図１】本発明の座標読取装置の模式図
【図２】本発明の第１の実施例の座標読取装置から得ら
れる出力の特性図
れる出力の特性図
【図３】位置ずれのないｒ、ｈ、ｗの関係を示す図
【図４】本発明の第２の実施例の座標読取装置の構成図
【図５】本発明の第３の実施例の座標読取装置の構成図
【図６】本発明の第４の実施例の座標読取装置の構成図
【図７】（ａ）は従来の座標読取装置から得られる出力
の特性図 （ｂ）は本発明の第４の実施例の座標読取装置から得ら
れる出力の特性図
の特性図 （ｂ）は本発明の第４の実施例の座標読取装置から得ら
れる出力の特性図
【図８】本発明の第５の実施例の座標読取装置の構成図
【図９】（ａ）は従来の座標読取装置から得られる出力
の特性図 （ｂ）は本発明の第５の実施例の座標読取装置から得ら
れる出力の特性図
の特性図 （ｂ）は本発明の第５の実施例の座標読取装置から得ら
れる出力の特性図
【図１０】従来の座標読取装置の概略図
【図１１】従来の座標読取装置から得られる出力の特性
図
図
【符号の説明】 １ ペン ２ コイル ３ 入力平面 ４ タブレット基板
Claims (8)
- 【請求項１】 コイルを内蔵した座標指示器の先端の移
動する入力平面に対して平行に置いた、計測対象軸方向
と直交する複数の短冊状導体ループを有するタブレット
基板から構成される電磁誘導型の座標読取装置におい
て、上記座標指示器の先端から実質的な上記コイル中心
までの距離ｒと、上記入力平面と上記タブレット基板の
距離ｈと、計測対象軸方向の上記導体ループの幅２ｗの
間に 【数１】 の関係を満足するように構成したことを特徴とする座標
読取装置。 - 【請求項２】 導体ループの幅２ｗを、座標読取装置の
検出対象領域外に配置される部分の大きさの範囲内に設
定することを特徴とする請求項１記載の座標読取装置。 - 【請求項３】 タブレット基板を２組重ね合わせて２次
元の座標検出を行う座標読取装置において、入力平面に
近い方のタブレット基板上の導体ループ幅を入力平面か
ら遠いタブレット基板上の導体ループ幅よりも長くした
ことを特徴とする請求項１記載の座標読取装置。 - 【請求項４】 タブレット基板を２組重ね合わせて２次
元の座標検出を行う座標読取装置において、座標指示器
の先端から実質的なコイル中心までの距離ｒと、入力平
面とタブレット基板の距離ｈと、計測対象軸方向の導体
ループの幅２ｗの間に 【数２】 の関係を満足するように構成したことを特徴とする座標
読取装置。 - 【請求項５】 座標指示器内のコイルを磁界発生源と
し、コイルによる誘導電流を導体ループを用いて検出す
ることを特徴とする請求項１記載の座標読取装置。 - 【請求項６】 座標指示器として使用される誘導電流を
検出するためのコイルを内蔵した座標指示器と、座標指
示器の先端の移動する入力平面に対して平行に置いた、
計測対象軸方向と直交する複数の短冊状導体ループを有
するタブレット基板から構成される電磁誘導型の座標読
取装置において、上記座標指示器の先端から実質的な上
記コイル中心までの距離ｒと、上記入力平面と上記タブ
レット基板の距離ｈと、計測対象軸方向の上記導体ルー
プの幅２ｗの間に 【数３】 の関係を満足するように構成したことを特徴とする座標
読取装置。 - 【請求項７】 導体ループに電流を流して磁界を発生さ
せ、座標指示器内のコイルに給電した後に、この給電さ
れたコイルから放射される磁束を先の導体ループを用い
て検出することを特徴とする請求項１記載の座標読取装
置。 - 【請求項８】 入力平面とタブレット基板の間にできる
空隙にＬＣＤ等の表示装置をおいたことを特徴とする請
求項１記載の座標読取装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3461092A JPH05233130A (ja) | 1992-02-21 | 1992-02-21 | 座標読取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3461092A JPH05233130A (ja) | 1992-02-21 | 1992-02-21 | 座標読取装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05233130A true JPH05233130A (ja) | 1993-09-10 |
Family
ID=12419139
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3461092A Pending JPH05233130A (ja) | 1992-02-21 | 1992-02-21 | 座標読取装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05233130A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009239410A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Brother Ind Ltd | 画像処理装置 |
-
1992
- 1992-02-21 JP JP3461092A patent/JPH05233130A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009239410A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Brother Ind Ltd | 画像処理装置 |
| JP4600501B2 (ja) * | 2008-03-26 | 2010-12-15 | ブラザー工業株式会社 | 画像処理装置 |
| US8319740B2 (en) | 2008-03-26 | 2012-11-27 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Display control apparatus |
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