JPH0522860B2 - - Google Patents
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- JPH0522860B2 JPH0522860B2 JP59134182A JP13418284A JPH0522860B2 JP H0522860 B2 JPH0522860 B2 JP H0522860B2 JP 59134182 A JP59134182 A JP 59134182A JP 13418284 A JP13418284 A JP 13418284A JP H0522860 B2 JPH0522860 B2 JP H0522860B2
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- optical
- fiber assembly
- light
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 61
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 25
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 12
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 8
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は一次元ないしは二次元に配列された光
フアイバ集合体を構成する光フアイバの光伝送損
失斑を検査する装置に関するものである。
フアイバ集合体を構成する光フアイバの光伝送損
失斑を検査する装置に関するものである。
一次元ないしは二次元に配列された光フアイバ
集合体の光伝送損失を該光フアイバの形態を破壊
することなく測定することは光の迷光等のため、
従来測定が非常に困難であつた。そこで光フアイ
バ集合体の両端を単一光フアイバに分離して光伝
送損失斑を測定する方法がとられていたが、この
方法は該光フアイバ集合体を構成する単一光フア
イバの数量が多くなると各光フアイバを１本ずつ
に分離するために多大の時間を費すと共に１本ず
つに分離する際にステツプインデツクス型光フア
イバにおいては、その界面を破壊する虞があり、
また１本１本の光フアイバの端面を測定誤差が大
きくならないように同じ状態に仕上げるのは非常
に困難であつた。
集合体の光伝送損失を該光フアイバの形態を破壊
することなく測定することは光の迷光等のため、
従来測定が非常に困難であつた。そこで光フアイ
バ集合体の両端を単一光フアイバに分離して光伝
送損失斑を測定する方法がとられていたが、この
方法は該光フアイバ集合体を構成する単一光フア
イバの数量が多くなると各光フアイバを１本ずつ
に分離するために多大の時間を費すと共に１本ず
つに分離する際にステツプインデツクス型光フア
イバにおいては、その界面を破壊する虞があり、
また１本１本の光フアイバの端面を測定誤差が大
きくならないように同じ状態に仕上げるのは非常
に困難であつた。
本発明が解決しようとする問題点は一次元ない
しは二次元に配列された光フアイバ集合体の構成
光フアイバの光伝送損失斑を効率よくしかも高精
度で測定できる検査装置を提供することにある。
しは二次元に配列された光フアイバ集合体の構成
光フアイバの光伝送損失斑を効率よくしかも高精
度で測定できる検査装置を提供することにある。
本発明の光フアイバ集合体の検査装置は一次元
ないしは二次元に配列された光フアイバ集合体１
の両端部の構成光フアイバの並びの順番を一致さ
せて把持する把持装置２と該把持装置を光フアイ
バ集合体の構成光フアイバ単位毎に移動しうる移
動機構５と投光器３および受光器４からなり、投
光器光軸３０１と受光器光軸４０１の間隔を、両
端部の構成光フアイバの間隔Ｌと一致させ、投光
器の絞り機構により構成光フアイバの１本のみを
照射するようにして端面より光束を入射させ、他
端面より出射した光束を受光器で受光し、投光器
３が光フアイバ集合体１の入射側端面の光照射の
状態を肉眼により確認できる光学系を有すること
を特徴とするものである。
ないしは二次元に配列された光フアイバ集合体１
の両端部の構成光フアイバの並びの順番を一致さ
せて把持する把持装置２と該把持装置を光フアイ
バ集合体の構成光フアイバ単位毎に移動しうる移
動機構５と投光器３および受光器４からなり、投
光器光軸３０１と受光器光軸４０１の間隔を、両
端部の構成光フアイバの間隔Ｌと一致させ、投光
器の絞り機構により構成光フアイバの１本のみを
照射するようにして端面より光束を入射させ、他
端面より出射した光束を受光器で受光し、投光器
３が光フアイバ集合体１の入射側端面の光照射の
状態を肉眼により確認できる光学系を有すること
を特徴とするものである。
以下、本発明の光フアイバ集合体の検査装置の
構成につき図面により説明する。
構成につき図面により説明する。
第１図は本発明の光フアイバ集合体の検査装置
の一例を示す斜視図である。本検査装置を構成す
る投光器３の構成を第２図にもとづき説明する。
定電圧装置３７を介して点灯されたランプ３１か
ら発した光は集光レンズ３２により視野絞り３３
の位置に集光されてからコリメーターレンズ３８
により平行光にされ、対物レンズ３５で再び集光
され被測定単一光フアイバに照射される。この視
野絞り３３を操作することによつて被測定光フア
イバ集合体１への光の照射面積を変えることがで
きる。
の一例を示す斜視図である。本検査装置を構成す
る投光器３の構成を第２図にもとづき説明する。
定電圧装置３７を介して点灯されたランプ３１か
ら発した光は集光レンズ３２により視野絞り３３
の位置に集光されてからコリメーターレンズ３８
により平行光にされ、対物レンズ３５で再び集光
され被測定単一光フアイバに照射される。この視
野絞り３３を操作することによつて被測定光フア
イバ集合体１への光の照射面積を変えることがで
きる。
また、光が平行光で進行する途中に絞り機構３
９を挿入して開口数を変化させることができる
が、これは対物レンズ３５を焦点距離の異なるも
のに交換することでも可能である。
９を挿入して開口数を変化させることができる
が、これは対物レンズ３５を焦点距離の異なるも
のに交換することでも可能である。
また、開口絞り３９と対物レンズ３５の間には
ハーフミラー３４が設けられ、被測定光フアイバ
の端面での光の照射具合を肉眼により確認できる
構造となつている。
ハーフミラー３４が設けられ、被測定光フアイバ
の端面での光の照射具合を肉眼により確認できる
構造となつている。
本光学的構成は一般に金属顕微鏡に使用されて
いるものである。
いるものである。
次に受光器４の構成につき第３図により説明す
ると、受光器４は光電変換素子４１および電圧計
４２又は電流計で構成される。光電変換素子４１
として一般にはフオトダイオード及びフオトマル
チプライヤーが使用されるが要は被測定光フアイ
バの開口数と出射端面からの距離によつて決定さ
れる照射面積よりも広ければよく、又受光面は感
度斑のできるだけ少ないものが望ましい。なお、
装置の周辺からの迷光が入らないよう測定は暗室
で行なうのが好ましい。
ると、受光器４は光電変換素子４１および電圧計
４２又は電流計で構成される。光電変換素子４１
として一般にはフオトダイオード及びフオトマル
チプライヤーが使用されるが要は被測定光フアイ
バの開口数と出射端面からの距離によつて決定さ
れる照射面積よりも広ければよく、又受光面は感
度斑のできるだけ少ないものが望ましい。なお、
装置の周辺からの迷光が入らないよう測定は暗室
で行なうのが好ましい。
把持装置２は光フアイバ集合体の両端部の構成
光フアイバの並びの順番を一致させて把持するこ
とによつて、全ての構成光フアイバの両端面の間
隔Ｌを同間隔にできうる構造になつており移動機
構５に固定されている。また、入射端と出射端の
間には遮光部品６があり、入射側の光の反射によ
る光電変換素子への入射を防いで測定誤差を少な
くしている。また、この把持装置２は移動機構５
への着脱が容易な構造が望ましく、光フアイバを
セツトして研磨するのにも利用される。ここで集
合体を同条件で研磨するので端面の仕上がり状態
がほぼ等しいものが得られる。
光フアイバの並びの順番を一致させて把持するこ
とによつて、全ての構成光フアイバの両端面の間
隔Ｌを同間隔にできうる構造になつており移動機
構５に固定されている。また、入射端と出射端の
間には遮光部品６があり、入射側の光の反射によ
る光電変換素子への入射を防いで測定誤差を少な
くしている。また、この把持装置２は移動機構５
への着脱が容易な構造が望ましく、光フアイバを
セツトして研磨するのにも利用される。ここで集
合体を同条件で研磨するので端面の仕上がり状態
がほぼ等しいものが得られる。
実際に光フアイバ集合体の光伝送損失斑を測定
する手順について記す、まず被測定光フアイバ集
合体１の構成光フアイバの並びの順番を一致させ
て把持装置２に固定する。この際、投光器光軸３
０１と受光器光軸４０１の間隔に構成光フアイバ
の両端部の間隔Ｌが等しくなるように把持装置を
把持する。あるいは、光フアイバ集合体を把持装
置に取り付けた後、投光器光軸３０１と受光器光
軸４０１の間隔を調整して両端部の間隔Ｌに一致
させててもよい。光フアイバ集合体を把持装置に
固定するためには接着剤を用いてもよいが、単に
ボルトナツトの機械的な締め付けでもよい。次に
両端面を研磨して移動機構５にセツトしたのちハ
ーフミラーを利用した光学系を利用して入射側端
面を肉眼で確認しながら移動機構５を作動させ、
順次測定を行う。測定に際し、測定しようとする
単一光フアイバ以外の光フアイバに光が照射しな
いように照射光を絞る必要がある。
する手順について記す、まず被測定光フアイバ集
合体１の構成光フアイバの並びの順番を一致させ
て把持装置２に固定する。この際、投光器光軸３
０１と受光器光軸４０１の間隔に構成光フアイバ
の両端部の間隔Ｌが等しくなるように把持装置を
把持する。あるいは、光フアイバ集合体を把持装
置に取り付けた後、投光器光軸３０１と受光器光
軸４０１の間隔を調整して両端部の間隔Ｌに一致
させててもよい。光フアイバ集合体を把持装置に
固定するためには接着剤を用いてもよいが、単に
ボルトナツトの機械的な締め付けでもよい。次に
両端面を研磨して移動機構５にセツトしたのちハ
ーフミラーを利用した光学系を利用して入射側端
面を肉眼で確認しながら移動機構５を作動させ、
順次測定を行う。測定に際し、測定しようとする
単一光フアイバ以外の光フアイバに光が照射しな
いように照射光を絞る必要がある。
以上の測定でアウトプツトされたデータは手書
きで記録してもよいが、マイコンに接続してイン
プツトしておくとデータの整理が容易になり、ま
た、グラフ状にデータを書き直すのにも都合が良
く便利である。
きで記録してもよいが、マイコンに接続してイン
プツトしておくとデータの整理が容易になり、ま
た、グラフ状にデータを書き直すのにも都合が良
く便利である。
光フアイバ集合体を検査するには従来技術で述
べたように、今までは多大の時間を費やしていた
が、本発明により、光フアイバ集合体の構成光フ
アイバの両端部の間隔Ｌが投光器光軸３０１およ
び受光器光軸４０１の間隔に一致させて把持する
ようにしたこと、投光器の照射面積を肉眼で観察
しながら調節し、１本の構成光フアイバにのみ投
光器の光束を入射させるようにしたことによつ
て、各々の構成光フアイバの入射端面へ光束が確
実に入射するように注意すれば、光フアイバを透
過した入射した光は自動的に受光器に光軸に一致
して受光され、しかも、受光器の感度斑などの受
光条件がどの構成光フアイバについても同条件に
なるので高精度で迅速に光フアイバ集合体の光伝
送損失斑を測定することが可能になつた。
べたように、今までは多大の時間を費やしていた
が、本発明により、光フアイバ集合体の構成光フ
アイバの両端部の間隔Ｌが投光器光軸３０１およ
び受光器光軸４０１の間隔に一致させて把持する
ようにしたこと、投光器の照射面積を肉眼で観察
しながら調節し、１本の構成光フアイバにのみ投
光器の光束を入射させるようにしたことによつ
て、各々の構成光フアイバの入射端面へ光束が確
実に入射するように注意すれば、光フアイバを透
過した入射した光は自動的に受光器に光軸に一致
して受光され、しかも、受光器の感度斑などの受
光条件がどの構成光フアイバについても同条件に
なるので高精度で迅速に光フアイバ集合体の光伝
送損失斑を測定することが可能になつた。
第１図は本発明の光フアイバ集合体の検査装置
の一例を示す斜視図、第２図は投光器の構成の説
明図、第３図は受光器の構成の説明図である。 １……光フアイバ集合体、２……把持装置、３
……投光器、４……受光器、５……移動機構、６
……遮光板、３３……視野絞り、３４……ハーフ
ミラー、３５……対物レンズ、３６……接眼レン
ズ、３９……開口絞り。
の一例を示す斜視図、第２図は投光器の構成の説
明図、第３図は受光器の構成の説明図である。 １……光フアイバ集合体、２……把持装置、３
……投光器、４……受光器、５……移動機構、６
……遮光板、３３……視野絞り、３４……ハーフ
ミラー、３５……対物レンズ、３６……接眼レン
ズ、３９……開口絞り。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 一次元ないしは二次元に配列された光フアイ
バ集合体１の両端部の構成光フアイバの並びの順
番を一致させて把持する把持装置２と該把持装置
を光フアイバ集合体の構成光フアイバ単位毎に移
動しうる移動機構５と投光器３および受光器４か
らなり、投光器光軸３０１と受光器光軸４０１の
間隔を、両端部の構成光フアイバの間隔Ｌと一致
させ、投光器の絞り機構により構成光フアイバの
１本のみを照射するようにして端面より光束を入
射させ、他端面より出射した光束を受光器で受光
し、投光器３が光フアイバ集合体１の入射側端面
の光照射の状態を肉眼により確認できる光学系を
有することを特徴とする光フアイバ集合体の検査
装置。 ２ 光フアイバ集合体１の入射側端面の光照射の
状態を肉眼により確認できる光学系が、ハーフミ
ラーを介して肉眼により確認できる光学系である
特許請求の範囲第１項記載の光フアイバ集合体の
検査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59134182A JPS6113130A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 光フアイバ集合体の検査装置 |
| US06/749,422 US4639130A (en) | 1984-06-29 | 1985-06-27 | Inspection apparatus for optical fiber assembly |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59134182A JPS6113130A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 光フアイバ集合体の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6113130A JPS6113130A (ja) | 1986-01-21 |
| JPH0522860B2 true JPH0522860B2 (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=15122353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59134182A Granted JPS6113130A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 光フアイバ集合体の検査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4639130A (ja) |
| JP (1) | JPS6113130A (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3735399A1 (de) * | 1987-10-20 | 1989-05-03 | Philips Patentverwaltung | Messanordnung zur pruefung einer mehrzahl von lichtwellenleitern |
| US4830446A (en) * | 1987-11-03 | 1989-05-16 | Photon Devices, Ltd. | Production initializer for fiber optic document scanner |
| US4812646A (en) * | 1987-11-03 | 1989-03-14 | Photon Devices, Ltd. | Optical fiber initialization method and apparatus |
| JP2722666B2 (ja) * | 1989-05-26 | 1998-03-04 | 住友電気工業株式会社 | クロストーク測定機 |
| US5127725A (en) * | 1990-09-24 | 1992-07-07 | Photon Kinetics, Inc. | Method and apparatus for testing multiple optical fibers |
| CA2073720C (en) * | 1991-07-15 | 1997-06-24 | Isamu Kinoshita | Method and apparatus for assembly and inspection of optical fiber connectors |
| DE59307929D1 (de) * | 1992-10-20 | 1998-02-12 | Siemens Ag | Verfahren und Einrichtung für Messungen an mehreren Lichtwellenleitern |
| JPH07234341A (ja) * | 1994-02-23 | 1995-09-05 | Nec Corp | 半導体レーザと光ファイバの結合構造 |
| US6369883B1 (en) | 2000-04-13 | 2002-04-09 | Amherst Holding Co. | System and method for enhanced mass splice measurement |
| US7448991B2 (en) * | 2002-11-14 | 2008-11-11 | Philip Morris Usa Inc. | Process and system for monitoring a continuous element being incorporated within a cigarette filter |
| WO2011140352A1 (en) * | 2010-05-05 | 2011-11-10 | Afl Telecommunications, Llc | Fiber optic connector inspection microscope with integral optical power measurement |
| EP2795298A4 (en) * | 2011-12-22 | 2015-08-19 | Honeywell Int Inc | FIBER TRANSPARENCY TESTS AND DEVICE |
| CN107219559B (zh) * | 2017-05-24 | 2023-03-03 | 西安工业大学 | 适合用于高精度、需探测微小物体场合的光电传感器 |
| CN110967164B (zh) * | 2018-09-28 | 2021-07-20 | 梅州达士通精密工业有限公司 | 一种网线故障检测分析装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5744831A (en) * | 1980-08-29 | 1982-03-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Device for exciting multiple core optical fiber |
| JPS58205118A (ja) * | 1982-05-26 | 1983-11-30 | Nec Corp | 光伝送体接続端末部材形状測定方法及び装置 |
-
1984
- 1984-06-29 JP JP59134182A patent/JPS6113130A/ja active Granted
-
1985
- 1985-06-27 US US06/749,422 patent/US4639130A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6113130A (ja) | 1986-01-21 |
| US4639130A (en) | 1987-01-27 |
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