JPH05225567A

JPH05225567A - 光ディスク装置及びその製造方法

Info

Publication number: JPH05225567A
Application number: JP4022241A
Authority: JP
Inventors: Masahiko Ishihara; 正彦石原; Hiroyuki Mukumoto; 裕之椋本
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1992-02-07
Filing date: 1992-02-07
Publication date: 1993-09-03

Abstract

(57)【要約】【目的】レーザダイオード特性のばらつき等に起因し
て、光ディスク装置によって光ディスクに記録するマー
クがばらつくことを防止し、光ディスク装置に依存しな
い均質な記録再生特性を得ることを目的とする。【構成】光ディスク装置の記録再生特性を均一にする
ため、光ディスク装置内に光ディスク装置のばらつきを
補正するための補正係数を記憶すメモリ２３を設け、こ
こに記憶した係数を用いて、光ディスクに情報を記録す
るレーザ光のパワーやパルス幅を補正することにより、
均質な記録再生特性を得られる様にした。【効果】光ディスク装置に依存しない記録再生特性を
得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク装置及び
その製造方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図８は、田中邦麿監修、トリケップス社
発行、「光記録における信号処理技術」の１０頁に記載
された光ディスク装置の全体回路である。図において、
１は光ディスクであり、ディスクサーボ３により駆動さ
れるモータ２によって、回転する。４は、光ディスク１
の特定の位置に光を照射するためにフォーカスサーボと
トラッキングサーボ用のＦＳ／ＴＳアクチュエータであ
り、ヘッドアンプ６出力をを入力しフォーカスサーボを
かけるフォーカスサーボ１２回路と同じく、ヘッドアン
プ６出力を入力してトラッキングサーボをかけるトラッ
キングサーボ１３回路により駆動される。９は、光ヘッ
ドキャリッジであり、内部に前記のＦＳ／ＴＳアクチュ
エータ４、ヘッドアンプ６、レーザダイオード（以下Ｌ
Ｄと略す）７、光検知器８を収納する。この光ヘッドキ
ャリッジ９は、内部コントローラ１７によって制御され
るラジアル送りサーボ１４回路により駆動されるリニア
モータ５により、光ディスク１の半径方向にシークす
る。前記ＬＤ７は、ＬＤパワー制御１５回路で設定した
パワーのレーザ光２７を発する。このレーザ光２７は、
レンズ等の光学系を通過し、光ディスク１に照射され
る。照射されたレーザ光２７は、光ディスク１で反射さ
れ、再度光学系を通ってヘッドアンプ６に到達し、電気
信号に変換される。ＬＤパワー制御１５では、大出力の
レーザ光２７を発生する様、ＬＤ７を制御し、光ディス
ク１に情報を記録する他、小出力のレーザ光２７を発生
する様、ＬＤ７を制御する。この時、ヘッドアンプ６に
到達したレーザ光２７を電気信号に変換し、光ディスク
１に記録されていた情報を再生する。ヘッドアンプ６で
再生された電気信号は、フォーカスサーボ１２回路やト
ラッキングサーボ１３回路に出力され、おのおのフォー
カスサーボやトラッキングサーボをかけるための情報と
して利用される他、データセパレータ１６に送られ、光
ディスク１に記録されていた情報を再生する。１０は、
光ディスク１に情報を記録再生する場合に必要な磁界を
発生させるための励磁コイルであり、後述の内部コント
ローラ１７からの指令で動作する励磁コイルドライバ１
１により駆動され、光ディスク１に記録再生用の磁界を
印加する。１７は、励磁コイルドライバ１１、ＬＤパワ
ー制御１５、ラジアル送りサーボ１４、ＯＤＤ側のＥＳ
ＤＩドライバ／レシーバ１８等、ＯＤＤ部を制御する内
部コントローラである。１８は、ＯＤＤ側とＯＤＣ側と
をインターフェイスするＯＤＤ側のＥＳＤＩドライバ／
レシーバであり、１９は、ＯＤＤ側とＯＤＣ側とをイン
ターフェイスするＯＤＣ側のＥＳＤＩドライバ／レシー
バである。２０は、ＬＤパワー制御１５で光ディスク１
に記録する情報を例えば、２，７ＲＬＬコードに変調す
る他、前記データセパレータ１６で再生された信号、例
えば、２，７ＲＬＬコードをデジタルデータに復調する
変復調回路である。２１は、変復調回路２０で変調する
データに誤り訂正符号を付加したり、変復調回路２０で
復調されたデータの誤りを訂正するＥＤＡＣ回路であ
る。２２は、ホストコンピュータ２６から送信される情
報を光ディスク１に記録するまでの間、一時的に記憶し
ておく他、光ディスク１から読み出された情報をホスト
コンピュータ２６に送信するまで一時的に記憶しておく
バッファメモリである。２４は、ホストコンピュータ２
６とＯＤＣ部をインタフェースするためのＳＣＳＩドラ
イバ／レシーバである。２５は、ＯＤＣ側のＥＳＤＩド
ライバ／レシーバ１９、変復調回路２０、ＥＤＡＣ回路
２１、バッファメモリ２２、ＳＣＳＩドライバ／レシー
バ２４等を制御するコントローラであり、ＯＤＣ側のＥ
ＳＤＩドライバ／レシーバ１９とＯＤＤ側のＥＳＤＩド
ライバ／レシーバ１８を介して内部コントローラ１７と
も情報を送受信する。

【０００３】次に動作について説明する。図８に示した
従来の光ディスク装置の一般的動作は、前述のトリケッ
プス社発行、「光記録における信号処理技術」等の文献
に記載されている様に公知であるので省略する。ここで
は、本発明に関係の深い記録回路系の動作についてのみ
詳述する。光ディスク１に情報を記録する場合、当該情
報は、ホストコンピュータ２６からＳＣＳＩドライバ／
レシーバ２４、バッファメモリ２２、ＥＤＡＣ回路２
１、変復調回路２０、ＯＤＣ側のＥＳＤＩドライバ／レ
シーバ１９、ＯＤＤ側のＥＳＤＩドライバ／レシーバ１
８を経由してＬＤパワー制御１５回路に入力される。Ｌ
Ｄパワー制御１５回路に入力された情報は、内部コント
ローラ１７からの指令に基づき予め設定された値になる
様ＬＤパワー制御１５回路で制御されたパワーを持つレ
ーザ光２７となって光ディスク１に記録される。この
時、オーム社発行、電子情報通信学会編、ニューメディ
ア技術シリーズ「光ディスク」の２９〜３０頁に記載さ
れている様に、光ディスク１に記録される情報は、照射
されたレーザ光２７の熱エネルギーにより、光ディスク
１のレーザ光２７が照射された領域が変形または、変質
し、マークを形成することにより記録される。光ディス
ク１上の露光分布Ｅ（ｘ，ｙ）は、レーザ光２７のスポ
ット分布＝Ｉ（ｘ，ｙ）、光ディスク１回転の周速度＝
ｖ、光パルスの波形＝Ｓ（ｔ）とすると、Ｅ（ｘ，ｙ）＝∫Ｉ（ｘ−ｖｔ，ｙ）Ｓ（ｔ）ｄｔ（式１）によってきまる。前記、オーム社発行、電子情報通信学
会編、ニューメディア技術シリーズ「光ディスク」に記
載の様に前記マークの大きさがレーザ光２７の露光分布
Ｅ（ｘ，ｙ）の特定のしきい値で決まる。このしきい値
は、レーザ光２７の特性が一定である場合、光ディスク
１の特性と温度に依存する。よって、特定の大きさのマ
ークを光ディスク１に記録しようとする場合のパラメー
タは、（１）レーザ光２７のスポット分布、（２）光デ
ィスク１回転の周速度、（３）光パルスの波形、（４）
光ディスク１の特性、（５）温度である。（２）の光デ
ィスク１回転の周速度は、情報を記録する光ディスク１
の位置により変化する。この変化を相殺する場合、
（１）のレーザ光２７のスポット分布と、（４）の光デ
ィスク１の特性と、（５）の温度は、光ディスク１回転
の周速度に合わせて変化させることはできないので、
（３）の光パルスの波形を光ディスク１回転の周速度に
合わせて制御していた。デジタル記録の場合、光パルス
の波形は、近似的に矩形波であるが、波高値とパルス幅
が可変要素であり、従来の光ディスク装置では、光ディ
スク１に情報を記録するトラックによって、光パルスの
波高値すなわち、光パワーを可変制御するか、光パルス
のパルス幅を可変制御するか、あるいは、光パワーの可
変制御とパルス幅の可変制御を組み合わせるかの何れか
の制御を行っていた。また、（５）の温度によるマーク
の大きさの変化を相殺する場合も同様であり、媒体の温
度を検出し、予め既知の温度相殺特性を持つ様、光パワ
ーを可変制御するか、光パルスのパルス幅を可変制御す
るか、あるいは、光パワーの可変制御とパルス幅の可変
制御を組み合わせるかの何れかの制御を行っていた。レ
ーザ光２７の光パワーをＰＯ、または、光パルス幅をＰ
Ｗ、光ディスク特性に因ってきまる定数Ｍ、光スポット
の分布に因って決まる定数Ｓ、温度をｔ、温度依存性を
Ｄ（ｔ）、光ディスク１の記録トラック位置に対する依
存性をＲ（ｒ）とすると、ＰＯ、または、ＰＷ＝Ｍ＊Ｓ＊Ｄ（ｔ）＊Ｒ（ｒ）（式２）に従い制御するのが一般的であった。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来の光ディスク装置
では、光ディスク１の特性については、コントロールト
ラックの記載された情報を読み出すことにより、式２に
おける光ディスク特性に依存する常数Ｍを決定してい
た。また、前述の様に光ディスク１の記録位置や温度を
検出し、レーザ光２７のパワーＰＯやパルス幅ＰＷを制
御することができた。しかし、光スポットの分布がばら
ついた場合、従来の光ディスクでは、光スポットの分布
を検出できないため、光ディスク１への記録特性にばら
つきを生じ、光ディスクの基本的記録再生特性であるキ
ャリア／ノイズ比、分解能などが光ディスク装置によっ
てばらつくという問題があった。

【０００５】この発明は上記のような問題を解消するた
めになされたもので、光ディスク装置に因らない均質な
光ディスク１の記録再生特性を得られる光ディスク装置
を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】光ディスク装置内で直接
計測困難な光スポットの分布を計測する代わりに予め特
定の条件下で光ディスク１の記録再生特性の１つである
分解能を測定し、この分解能が一定になる様にレーザ光
２７のパワー、あるいは、パルス幅を制御するための係
数Ｋを決定する方式を導入したものであり、請求項１に
係る光ディスク装置は以下の要素を有するものである。
（ａ）所定の係数を記録するメモリ、（ｂ）上記メモリ
に記録された係数に基づいて少なくともレーザ光の光パ
ワーとパルス幅のいずれか一方を制御する制御手段、
（ｃ）上記制御手段の制御に基づいてレーザ光を生成し
て情報を記録する記録手段。

【０００７】また、請求項２に係る光ディスク装置の製
造方法は以下の要素を有するものである。（ａ）所定の
係数をメモリに記録するメモリ工程、（ｂ）特定の条件
のもとで、係数を用いて得られるレーザ光の出力が一定
になるように、係数を変更する係数変更工程、（ｃ）上
記係数変更工程により決定された係数をメモリに記録す
る係数決定工程。

【０００８】

【作用】レーザ光２７の光スポット分布のばらつきは、
光ディスク１に記録されるマークの大きさがばらつく原
因となるが、このマークのばらつきにより、分解能もば
らつく。最終結果としての分解能のばらつきを抑制する
ためにメモリに係数Ｋを記憶させ、レーザ光２７のパワ
ー、あるいは、パルス幅をこの係数Ｋを用いて制御する
ので、光ディスク装置により、レーザ光２７の光スポッ
トの分布がばらついた場合でも光ディスク装置依存性の
無い記録再生特性が得られる。

【０００９】

【実施例】

実施例１．図１は、本発明よる光ディスク装置の一実施
例を示した図である。以下、図について説明する。本発
明による光ディスク装置の主たる構成は、図８に示した
従来の光ディスク装置例と同じであるが、内部コントロ
ーラ１７が管理する不揮発メモリ２３を付加した点に特
徴がある。本実施例では、不揮発メモリ２３にＥＥＰＲ
ＯＭを用いた。次に本発明の特徴的な動作について説明
する。本発明による光ディスク装置の主たる構成の動作
は、図８で示した従来のディスク装置と同じである。本
発明による光ディスク装置の特徴的動作は、光ディスク
１に記録するためのレーザ光２７のパワーの設定方法に
ある。すなわち、光ディスク１の特性、光ディスク１の
記録トラックにおける周速度、および、温度を検出し
て、記録用レーザ光２７の光パルスの波形を決定する
が、これは、従来のディスク装置と同様である一方、本
発明による光ディスク装置では、レーザ光２７の光スポ
ット分布の光ディスク装置に依存するばらつきを吸収
し、光ディスク１の基本的記録再生特性である分解能が
一定になる様な係数を設け、従来と同様にして決められ
た前記光パルスの波形に掛け合わせることにより、算出
されたパワーを持つレーザ光２７を発振させ、光ディス
ク１に情報を記録する。レーザ光２７の光パワーを設定
する時の手法について、図２、図３を用いて詳細に説明
する。図３は、図２に示す内部コントローラ１７の動作
を説明する図で、図３において、光ディスク１の周速度
は、記録トラック番号で代用でき、また、光ディスク１
の特性は、コントロールトラック情報で代用できる。そ
こで、内部コントローラ１７は、記録トラック番号とコ
ントロールトラック情報、および、温度を検出して光パ
ワーＡを設定する。次に予め不揮発メモリ２３に記憶さ
れていた係数Ｋを掛け合わせて光パワーＢを算出する。
算出された光パワーＢは、図２に示すように、光パルス
信号の波高値として内部コントローラ１７のＩ／Ｏ回路
３１からＬＤパワー制御１５回路内部のＤ／Ａ変換器３
２に出力される。Ｄ／Ａ変換器３２のアナログ出力に基
づきＬＤ７からレーザ光２７が出力される。

【００１０】次に、前記、不揮発メモリ２３に記憶する
係数を設定する方法について、図４に基づき説明する。
２７は、分解能測定回路３７であり、通常、オシロスコ
ープやスペクトルアナライザで構成される。分解能測定
回路３７は、ＧＰＩＢ−Ｉ／Ｆでホストコンピュータ２
６に接続され制御される。ホストコンピュータ２６は、
レーザ光２７のパワーやパルス幅を調整するための係数
として、１．０を不揮発メモリ２３に記録した後、予め
用意された光ディスク１の予め設定された特定トラック
に予め設定した特定温度条件下で分解能を測定できる情
報を記録する。この記録した情報を再生するヘッドアン
プ６の出力を分解能測定回路３７で計測し、分解能を求
める。ここで、分解能測定回路の動作について述べる。
分解能とは、リード信号のうち、（最高周波数で記録し
た情報のリード波形の振幅）を（最低周波数で記録した
情報のリード波形の振幅）で除した値で定義される。例
えば、２，７ＲＬＬで変調した場合、図５（ａ）に示す
ように前者を３Ｔ信号、後者を８Ｔ信号と呼び、分解能
をηとすると、 η＝３Ｔ信号の振幅Ｖ_3T／８Ｔ信号の振幅Ｖ_8T×１００
(％) である。実際は、図５（ｂ）に示すように、図５（ａ）
の波形をデジタルオシロスコープで読みとり、読み込ん
だデータをワークステーションＥＷＳに送り、３Ｔ区間
の波形振幅＝Ｖ_3Tと８Ｔ区間の波形振幅＝Ｖ_8Tとを求め
ている。次に、ホストコンピュータ２６は、前記の係数
を変化させ、再度、分解能の測定を行う。求めた分解能
が所定の値になった時点で不揮発メモリ２３には、所定
の分解能を得るための係数が記憶される。

【００１１】なお、フロッピーディスク装置ＦＤＤや固
定ディスク装置ＦＸＤにおいて、各装置の出力が一定に
なるように、メーカーが出荷前調整を行う場合がある
が、これらの磁気記録装置の調整作業とこの発明に係る
光ディスク装置ＯＤＤの調整作業は以下の点で異なる。
ＦＤＤやＦＸＤでは、リード回路中にＡＧＣ（オートマ
ティックゲインコントローラ）回路が採用されており、
アナログ回路出力の振幅を一定にしている。これは、こ
の発明に係るＯＤＤでも同じである。本件は、異なるＯ
ＤＤ間の分解能を一定にしようとするものであり、単
に、振幅を一定にする事とは、本質的に異なる。また、
分解能を例えば６０％を８０％にするなどの補正をする
ために、イコライザ回路等も用いられるが（ＦＸＤ、Ｏ
ＤＤ、一部のＦＤＤにも採用）、これは装置の分解能を
改善するためのものであり、本件の様に１台１台のドラ
イブの分解能をそろえようとするものとは、本質的に異
なる。

【００１２】実施例２．上記実施例１では、光パワーを
制御する場合を示したが、レーザ光２７のパルス幅を制
御する場合も同様に動作する。ただし、不揮発メモリ２
３には、パルス幅を調整するための係数を記憶してお
く。実施例１のように光パワーを調整する場合、低パワ
ー側では、信号のＳ／Ｎ比が悪化する。一方、高パワー
側では、光の発生源であるレーザダイオードの寿命が悪
化する。ただし、現実的には、光パワーの調整範囲は少
々であり、これらのデメリットが致命的な量になる様な
範囲では使用しない。一方、この実施例２におけるパル
ス幅の調整方式では、上記デメリットはない。しかし、
パルス幅の設定範囲にも限界がある。パルス幅を小さく
する方向では、特に重大な問題はないが、幅を大きくす
る方向では、以下の２点が問題となる。（１）転送レートの制限例えば、転送レート１０Ｍｂｐｓで、２，７ＲＬＬ変調
方式の場合、最小パルス間隔は、１５０ｎｓでありパル
ス幅をこれ以上広くする訳にはいかない。（２）波形のなまりまた、パルス幅を広くすると図６の様にリード波形の上
部が台形状になるため、リードしたアナログ信号をデジ
タルに変換する回路が複雑になる。回路によっては、デ
ジタル信号のジッタ（ゆらぎ）の原因となり再生データ
の誤り率を悪化させる。

【００１３】実施例３．不揮発メモリ２３は、内部コン
トローラ１７に接続する場合について、実施例を示した
が、不揮発メモリ２３は、コントローラ２５に接続され
る構成であっても同様な効果を得ることができる。この
場合、コントローラ２５に付属する不揮発メモリ２３に
記憶された補正係数は、ＯＤＣ側のＥＳＤＩドライバ／
レシーバ１９とＯＤＤ側のＥＳＤＩドライバ／レシーバ
１８を介して内部コントローラ１７に送られる。内部コ
ントローラ１７は、送られて来た補正係数を元に実施例
１、２と同じ動作を行う。

【００１４】実施例４．内部コントローラ１７とコント
ローラ２５は、同一のコントローラであっても良い。

【００１５】実施例５．ＯＤＣ側のＥＳＤＩドライバ／
レシーバ１９とＯＤＤ側のＥＳＤＩドライバ／レシーバ
１８は、ＯＤＣとＯＤＤが同一の基板上にある場合や各
々の距離の短い場合など省略した形であっても良い。

【００１６】実施例６．本発明で特徴的な不揮発メモリ
２３は、内部コントローラ１７用のプログラムが内蔵さ
れている記憶手段であっても同様な効果を得ることがで
きる。この場合、補正係数Ｋを決定するまでは、不揮発
メモリ２３の代用に内部コントローラ１７用の主記憶を
利用し、補正係数が決定後は、前記内部コントローラ１
７用のプログラムが内蔵されている記憶手段に補正係数
を記憶する。

【００１７】実施例７．不揮発メモリ２３として、ＥＥ
ＰＲＯＭを使用することにより、ホストコンピュータ２
６からのＳＣＳＩコマンドにより、不揮発メモリ２３に
記憶した補正係数を容易に変更できる構成であっても良
い。

【００１８】実施例８．実施例７のＥＥＰＲＯＭは、バ
ッテリーバックアップされたＲＡＭであっても良い。ま
た、ワンタイムの（フューズ）ＲＯＭであっても良い。

【００１９】実施例９．分解能測定回路は、ドライブ内
部に内蔵された構成であっても良い。この場合、図５
（ｂ）で説明した様なデジタルオシロスコープを用い
ず、図７に示すように、ピークレベル検出回路やエンベ
ロープ検出回路を用いる。あるいは、Ａ／Ｄ変換回路を
用いても良い。この時は、コントローラで振幅を求め
る。

【００２０】以上のように、上記実施例１〜９では、光
ディスク装置において、光ディスクへ情報を記録する場
合、光ディスクの特性や記録トラック、および、温度等
の情報を基に、予め設定された光出力が得られる様、記
録再生用半導体レーザの光出力を制御するが、この時、
特定の温度環境下で特定の光ディスクの特定のトラック
で測定する分解能が、光ディスク装置に因らず一定にな
る様、記録再生用半導体レーザの光出力を調整する機能
を具備したことを特徴とする光ディスク装置を説明し
た。また、前記記録再生用半導体レーザの光出力を調整
する機能は、予め既知の調整量を記録した記憶手段を具
備し、この記憶手段に記録した調整量を基に前記記録再
生用半導体レーザの光出力を調整することを特徴とする
光ディスク装置を説明した。また、前記記憶手段に記録
する調整量は、光ディスク装置に接続するホストコンピ
ュータからのコマンドで書換え可能であることを特徴と
する光ディスク装置を説明した。さらに、前記記録再生
用半導体レーザの光出力を調整する機能は、前記記録再
生用半導体レーザの光出力のパルス幅を調整する機能の
であることを特徴とする光ディスク装置を説明した。

【００２１】

【発明の効果】本発明によれば、レーザダイオードの特
性のばらつきに起因して、レーザ光の分布特性がばらつ
いた場合であっても、光ディスク装置に因らず均質な記
録再生特性を持つ光ディスク装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光ディスク装置の構成を示す図で
あり、従来の光ディスク装置の構成に不揮発メモリを付
加した図である。

【図２】本発明による光ディスク装置における記録回路
の詳細な構成を示した図である。

【図３】本発明による光ディスク装置で特徴的な記録時
のレーザ光２７の光パワー、あるいは、パルス幅を調整
する係数を求める手法の構成を示す図である。

【図４】本発明による光ディスク装置において特徴的な
記録時のレーザ光２７の光パワーを設定する場合、従来
の手法により設定した光パワーに調整係数を掛け合わせ
る手法について説明する図である。

【図５】分解能を説明する図である。

【図６】本発明の実施例２におけるリード波形とパルス
幅の関係を示す図である。

【図７】本発明の実施例９における分解能測定方法を示
す図である。

【図８】従来の光ディスク装置の構成を示す図である。

【符号の説明】

１光ディスク２モータ３ディスクサーボ４ＦＳ／ＴＳアクチュエータ５リニアモータ６ヘッドアンプ７レーザダイオード（ＬＤと略す）８光検知器９光ヘッドキャリッジ１０励磁コイル１１励磁コイルドライバ１２フォーカスサーボ１３トラッキングサーボ１４ラジアル送りサーボ１５ＬＤパワー制御１６データセパレータ１７内部コントローラ１８ＯＤＤ側のＥＳＤＩドライバ／レシーバ１９ＯＤＣ側のＥＳＤＩドライバ／レシーバ２０変復調回路２１ＥＤＡＣ回路２２バッファメモリ２３不揮発メモリ２４ＳＣＳＩドライバ／レシーバ２５コントローラ２６ホストコンピュータ２７レーザ光２８レーザ駆動電流２９レーザ出力監視信号３０半導体レーザ３１Ｉ／Ｏ回路３２Ｄ／Ａ変換器３３差動アンプ３４変調回路３５増幅器３６高周波発振器３７分解能測定回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】以下の要素を有する光ディスク装置（ａ）所定の係数を記録するメモリ、（ｂ）上記メモリに記録された係数に基づいて少なくと
もレーザ光の光パワーとパルス幅のいずれか一方を制御
する制御手段、（ｃ）上記制御手段の制御に基づいてレーザ光を生成し
て情報を記録する記録手段。
【請求項２】以下の工程を有する光ディスク装置の製
造方法（ａ）所定の係数をメモリに記録するメモリ工程、（ｂ）特定の条件のもとで、係数を用いて得られるレー
ザ光の出力が一定になるように、係数を変更する係数変
更工程、（ｃ）上記係数変更工程により決定された係数をメモリ
に記録する係数決定工程。